阵列式测温装置及测温方法与流程

文档序号:14011700阅读:787来源:国知局

本发明涉及一种阵列式测温装置及测温方法,属于红外测温技术领域。



背景技术:

目前已有的红外测温装置,测量时仅针对单个点进行测温量,测量范围小,精度不高,且当被测对象物体移动时,会因为测量范围的失衡,导致测量结果出现较大误差。达到同一时刻,多点测量,从而弥补单摄像头的单点测量的不足



技术实现要素:

鉴于上述原因,本发明的目的在于提供一种阵列式测温装置及测温方法,通过阵列式的测温模组,可对一定范围内的被测对象进行多点测温,扩大测量范围,提高测量精度,能够对移动的被测对象进行测温。

为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:

一种阵列式测温装置,包括阵列式测温模组、并行处理器,

阵列式测温模组,由若干测温检测元件按照n*m阵列形式排列组合而成,n*m个测温检测单元采集的n*m个温度信号并行输入并行处理器,该并行处理器对n*m个温度信号进行处理,得到温度测量值。

利用所述阵列式测温模组多次采集n*m个温度信号,所述并行处理器对每次采集的n*m个温度信号,去除最大极值和最小极值,然后计算平均值,最后对多个平均值进行加和平均,得到所述温度测量值。

所述阵列式测温模组配置于一阵列式镜头,该阵列式镜头由若干镜头模组按照n*m阵列形式排列组合而成,每个测温检测元件对应设置于一个镜头模组。

所述测温检测元件可以是温度传感器、红外温度传感器、测温元件。

基于上述阵列式测温装置实现的测温方法,包括:

对被测对象,利用阵列式测温模组多次采集n*m个温度信号,

利用并行处理器对多次采集的n*m个温度信号处理,得到温度测量值。

对每次采集的n*m个温度信号,去除最大极值和最小极值,然后计算平均值,最后对多个平均值进行加和平均,得到所述温度测量值。

本发明的优点是:

本发明的阵列式测温装置及测温方法,通过阵列式测温模组,扩大了温度采集范围,单位时间采集的温度数据成倍增加,在此基础上,对多次采集的温度数据进行处理,可提高温度测量精度,适用范围广泛,实用性强。

附图说明

图1是本发明的阵列式测温模组的结构框图。

图2是本发明的阵列式测温装置的结构框图。

图3是本发明的阵列式测温装置的测温方法流程图。

具体实施方式

以下结合附图和实施例对本发明作进一步详细的描述。

如图1、2所示,本发明公开的阵列式测温装置包括阵列式测温模组、并行处理器,阵列式测温模组由若干测温检测元件按照n*m阵列形式排列组合而成,各测温检测单元的信号输出端与并行处理器的并行输入端相连接。

组成阵列式测温模组的n*m个测温检测元件同时采集被测对象的温度信号,将n*m个温度信号传输至并行处理器,并行处理器根据采集的多个温度信号,计算平均温度值作为被测对象的温度测量值。

如图3所示,基于阵列式测温装置实现的测温方法包括:对被测对象,利用阵列式测温模组多次采集n*m个温度信号,对于每次采集的n*m个温度信号,去除最大极值和两个最小极值,计算剩余温度信号的平均值;最后,对得到的多个平均值进行加和平均,得到最终的温度测量值。

于优选的实施例中,将阵列式测温模组配置于一阵列式镜头,该阵列式镜头由若干镜头模组按照n*m阵列形式排列组合而成,每个镜头模组对应配置一个测温检测元件,通过阵列式镜头采集被测对象的图像及对应的温度信号,用于后续处理。优势在于,即使阵列式镜头内的被测对象移动位置,也可以通过阵列式镜头在各镜头范围内捕捉被测对象的图像,同时在各测温检测元件的测温范围内测量被测对象的温度信号,再对各测温检测元件多次采集的多个温度信号进行处理,得到具有一定精度的温度测量值。

阵列式测温模组的测温检测元件的数量、两两之间的距离、型号、精度、扩展功能等均可根据实际应用领域及被测对象进行配置,例如,可配置成具有无线传输功能的阵列式测温装置、小型家用阵列式测温装置、大型工业用阵列式测温装置等。

测温检测元件例如是温度传感器、红外温度传感器、基于不同原理实现测温的测温元件等。

以上所述是本发明的较佳实施例及其所运用的技术原理,对于本领域的技术人员来说,在不背离本发明的精神和范围的情况下,任何基于本发明技术方案基础上的等效变换、简单替换等显而易见的改变,均属于本发明保护范围之内。



技术特征:

技术总结
本发明公开一种阵列式测温装置及测温方法,包括阵列式测温模组、并行处理器,阵列式测温模组,由若干测温检测元件按照N*M阵列形式排列组合而成,N*M个测温检测单元采集的N*M个温度信号并行输入并行处理器,并行处理器对每次采集的N*M个温度信号,去除最大极值和最小极值,然后计算平均值,最后对多个平均值进行加和平均,得到温度测量值。阵列式测温模组配置于一阵列式镜头,该阵列式镜头由若干镜头模组按照N*M阵列形式排列组合而成,每个测温检测元件对应设置于一个镜头模组。本发明可扩大温度测量范围、提高温度测量精度,适用范围广泛。

技术研发人员:邹建成;张赛
受保护的技术使用者:北方工业大学
技术研发日:2017.11.02
技术公布日:2018.03.27
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