多器身串联变压器测试方法、总成及测试系统与流程

本发明属于变压器技术领域，更具体地说，是涉及一种多器身串联变压器测试方法、总成及测试系统。

背景技术：

多器身串联变压器多见于变频整流变压器，此类变压器的高压绕组分布于多个器身，多个器身对应的高压绕组依次串联连接，三相首头由套管引出，这种变压器每个器身的高压绕组电压只占该变压器高压额定电压的一部分，每个器身的低压绕组各自独立，而且每个低压绕组相对于高压绕组的相位差可能不一致。

在对多器身串联变压器进行测试时，受铁芯剩磁等因素的影响，容易造成高压绕组的串联段分压不均匀，从而导致二次感应电压不一致，最终使得测试结果不准确。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种多器身串联变压器测试方法、总成及测试系统，旨在解决现有技术中多器身串联变压器测试不准确的技术问题。

为实现上述目的，本发明实施例提供一种多器身串联变压器测试方法，包括：

将测试装置的高压线与变压器的高压绕组连接，所述测试装置的低压线与待测试器身的低压绕组连接；

将变压器中除所述待测试器身以外的其它器身的低压绕组分别短接；

利用所述测试装置对所述待测试器身进行测试。

进一步地，将测试装置的高压线与变压器的高压绕组连接，所述测试装置的低压线与待测试器身的低压绕组连接，包括：

将测试装置的高压线中的三根测试线与高压绕组的三根引线一一对应连接；

将所述测试装置的低压线中的三根测试线与所述待测试器身的低压绕组的三根引线一一对应连接。

进一步地，将变压器中除所述待测试器身以外的其它器身的低压绕组分别短接，包括：

针对所述其它器身中的每一个器身，执行如下操作：将该器身的低压绕组的三根引线短接。

进一步地，利用所述测试装置对所述待测试器身进行测试，包括：

利用所述测试装置对所述待测试器身对应的变比进行测试；

利用所述测试装置对所述待测试器身对应的联接组别进行测试。

进一步地，利用所述测试装置对所述待测试器身对应的变比进行测试，包括：

确定所述变压器中器身的个数以及所述变压器的标称变比；

根据所述变压器中器身的个数以及所述变压器的标称变比，利用所述测试装置确定所述待测试器身对应的变比的误差。

进一步地，根据所述变压器中器身的个数以及所述变压器的标称变比，利用所述测试装置确定所述待测试器身对应的变比的误差，包括：

将所述变压器的标称变比除以所述变压器中器身的个数，得到所述待测试器身对应的标准变比；

将所述标准变比输入至所述测试装置，利用所述测试装置测试所述待测试器身对应的变比的误差。

本发明实施例还提供一种多器身串联变压器总成，包括多器身串联变压器以及短接装置；

所述多器身串联变压器包括多个器身；

所述短接装置用于将变压器中除待测试器身以外的其它器身的低压绕组分别短接。

进一步地，所述短接装置为导线；

所述导线的个数大于或等于所述变压器中器身的个数的两倍。

本发明还提供一种多器身串联变压器测试系统，包括测试装置以及短接装置；

所述测试装置包括高压线和低压线；

所述高压线用于与多器身串联变压器的高压绕组连接，所述低压线用于与所述多器身串联变压器中的待测试器身的低压绕组连接；

所述短接装置用于将变压器中除待测试器身以外的其它器身的低压绕组分别短接。

进一步地，所述测试装置为变比组别测试仪；所述短接装置为导线。

本发明实施例提供的多器身串联变压器测试方法、总成及测试系统的有益效果在于：本发明实施例提供的多器身串联变压器测试方法、总成及测试系统，通过将测试装置的高压线与变压器的高压绕组连接，所述测试装置的低压线与待测试器身的低压绕组连接，将变压器中除所述待测试器身以外的其它器身的低压绕组分别短接，并利用所述测试装置对所述待测试器身进行测试，测试时其它器身中不会有磁通产生，能够有效消除铁芯剩磁的影响，提高了测试结果的准确性。

附图说明

图1为本发明实施例一提供的多器身串联变压器测试方法的流程图；

图2为本发明实施例一提供的多器身串联变压器测试方法中变压器的结构示意图；

图3为本发明实施例一提供的多器身串联变压器测试方法中变压器与测试装置的连接关系示意图。

附图标记：

1-测试装置2-变压器21-高压绕组22-低压绕组

具体实施方式

为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

实施例一

本发明实施例一提供一种多器身串联变压器测试方法。图1为本发明实施例一提供的多器身串联变压器测试方法的流程图。如图1所示，本实施例中的方法，可以包括：

步骤101、将测试装置1的高压线与变压器2的高压绕组21连接，所述测试装置1的低压线与待测试器身的低压绕组22连接。

步骤102、将变压器2中除所述待测试器身以外的其它器身的低压绕组22分别短接。

本实施例中，测试装置1可以是任意能够测试变压器2的变比的装置，如变比仪或者变比组别测试仪等。所述测试装置1包括高压线和低压线，其中，高压线是指用于与变压器2的高压绕组21相连的连接线，低压线是指用于与变压器2的低压绕组22相连的连接线。

本实施例中的变压器2可以是指多器身串联变压器。为了便于理解，本实施例以变压器2中器身的个数为3个为例进行描述。在实际应用中，变压器2中器身的个数也可以大于或小于3个。

图2为本发明实施例一提供的多器身串联变压器测试方法中变压器2的结构示意图。如图2所示，大的虚线框框起来的是变压器2，中间三个小的虚线框框起来的是变压器2的三个器身。每个器身均包含高压绕组21和低压绕组22；多个器身的高压绕组21串联，各个器身的低压绕组22互相独立。

高压绕组21包括三根引线，分别记为a、b、c，引线可以通过导线引出，也可以通过高压套管等引出。每个器身的低压绕组22也包括三根引线，第一个器身的低压绕组22的三根引线分别记为a1、b1、c1，第二个器身的低压绕组22的三根引线分别记为a2、b2、c2，第三个器身的低压绕组22的三根引线分别记为a3、b3、c3。

在需要对变压器2进行测试时，可以将测试装置1的高压线与变压器2的高压绕组21连接，所述测试装置1的低压线与所述待测试器身的低压绕组22连接。

具体的，将测试装置1的高压线与变压器2的高压绕组21连接，所述测试装置1的低压线与所述待测试器身的低压绕组22连接，可以包括：将测试装置1的高压线中的三根测试线与高压绕组21的三根引线一一对应连接；将所述测试装置1的低压线中的三根测试线与所述待测试器身的低压绕组22的三根引线一一对应连接。

图3为本发明实施例一提供的多器身串联变压器测试方法中变压器2与测试装置1的连接关系示意图。其中，待测试器身为变压器2中的第一个器身。

如图3所示，测试装置1左侧引出的为高压线，右侧引出的为低压线。测试装置1的高压线包括三根测试线，分别与高压绕组21的三根引线a、b、c一一对应连接。测试装置1的低压线包括三根测试线，分别与待测试器身即第一个器身低压绕组22的三根引线a1、b1、c1一一对应连接。

除了将测试装置1的高压线与变压器2的高压绕组21连接、低压线与待测试器身的低压绕组22连接以外，还可以将变压器2中除所述待测试器身以外的其它器身的低压绕组22分别短接。具体的，针对所述其它器身中的每一个器身，可以执行如下操作：将该器身的低压绕组22的三根引线短接。

如图2所示，除了待测试的第一个器身以外，变压器2中的其它器身(第二个器身和第三个器身)的低压绕组22分别进行短接，将第二个器身的低压绕组22的三根引线a2、b2、c2用导线短接，第三个器身的低压绕组22的三根引线a3、b3、c3也用导线短接。

步骤103、利用所述测试装置1对所述待测试器身进行测试。

在将测试装置1的高压线与变压器2的高压绕组21连接、低压线与待测试器身的低压绕组22连接，同时将变压器2中除所述待测试器身以外的其它器身的低压绕组22分别短接之后，可以利用测试装置1对变压器2中的待测试器身进行测试。

具体的，利用所述测试装置1对所述待测试器身进行测试，可以包括：利用所述测试装置1对所述待测试器身对应的变比进行测试；利用所述测试装置1对所述待测试器身对应的联接组别进行测试。

利用测试装置1对变压器2的变比和联接组别进行测试的方法属于现有技术，此处不再赘述。对于某些型号的测试装置来说，变比和联接组别可以分别测得；对于另外一些型号的测试装置来说，变比和联接组别也可以同时测得。

进一步地，利用所述测试装置1对所述待测试器身对应的变比进行测试，可以包括：确定所述变压器2中器身的个数以及所述变压器2的标称变比；根据所述变压器2中器身的个数以及所述变压器2的标称变比，利用所述测试装置1确定所述待测试器身对应的变比的误差。

具体的，根据所述变压器2中器身的个数以及所述变压器2的标称变比，利用所述测试装置1确定所述待测试器身对应的变比的误差，可以包括：将所述变压器2的标称变比除以所述变压器2中器身的个数，得到所述待测试器身对应的标准变比；将所述标准变比输入至所述测试装置1，利用所述测试装置1测试所述待测试器身对应的变比的误差。

假设变压器2中器身的个数为n，变压器2的标称变比为k，则所述待测试器身的标准变比为k/n。以图2和图3为例，变压器2的器身个数为3个，则对其中一个器身进行测试时，输入至测试装置1的变比应为变压器2标称变比的1/3。

在实际应用中，在针对变压器2第一个器身进行测试时，测试装置1的高压线接至变压器2高压绕组21的a、b、c相，低压线接至第一个器身对应的低压绕组22，然后将第二个器身和第三个器身的低压绕组22全部用短接线短路。

在测试装置1加电时，由于第二个器身和第三个器身对应的低压绕组22均已短路，所以在这两个器身的铁芯中没有磁通，由于三器身的高压绕组21属串联关系，测试装置1在第一个器身的高压绕组21中产生的激磁电流需流过第二个器身和第三个器身的高压绕组21，但这个激磁电流非常小，在第二个器身和第三个器身上形成的阻抗电压可以忽略不计，可以认为测试装置1输出的电压全部加载到第一个器身的高压绕组21上了，这就实现了对第一个器身的独立测量。

由于变压器2高压标称电压为三器身串联电压，因此每个器身的变比应该为标称变比的1/3，在测试装置1参数设定时需输入正确变比。同理，可分别完成第二个器身和第三个器身的变比及联接组别的测量。本领域技术人员可以理解的是，本实施例提供的方法不限于三器身变压器2的测量，所有多器身串联变压器2的测量均可以使用本实施例提供的方法。

本实施例中方法的关键技术点在于对一个器身进行测量时，短路其它器身的低压绕组22，以实现非待测试器身的磁通强制为零，从而到达测试变压器2变比及联接组别的目的。测试装置1的接线方法与测量普通变压器2时的接线方法一致，对于低压绕组22有移相绕组时，需采用具有三相对称电压输出同时具有鉴相功能的测试装置1进行测量。采用本实施例中方法进行测量时，需要注意输入的变比参数应为每个器身中高压绕组21与低压绕组22的电压比，出厂试验报告需注明该测量方法，以保证用户能够准确测量。

本实施例提供的多器身串联变压器测试方法，通过将测试装置1的高压线与变压器2的高压绕组21连接，所述测试装置1的低压线与待测试器身的低压绕组22连接，将变压器2中除所述待测试器身以外的其它器身的低压绕组22分别短接，并利用所述测试装置1对所述待测试器身进行测试，测试时其它器身中不会有磁通产生，能够有效消除铁芯剩磁的影响，提高了测试结果的准确性。

实施例二

本发明实施例二提供一种多器身串联变压器总成，包括：多器身串联变压器以及短接装置；

所述多器身串联变压器包括多个器身；

所述短接装置用于将变压器中除待测试器身以外的其它器身的低压绕组分别短接。

本实施例中的多器身串联变压器总成，可以利用上述实施例提供的多器身串联变压器测试方法来进行测试，具体的实现原理可以参见上述实施例，此处不再赘述。

其中，所述短接装置可以为导线，也可以是其它能够实现短接功能的元件或装置。所述导线的个数可以大于或等于所述变压器中器身的个数的两倍，能够保证实现除待测试器身以外的其它器身的短接。

进一步地，所述多器身串联变压器总成还可以包括：箱体，所述多器身串联变压器固定设置在所述箱体中。所述箱体上开设有容纳腔，所述容纳腔用于放置所述短接装置。

优选的是，所述容纳腔可以设置在所述箱体的顶板或底板上。具体的，所述箱体的顶板或底板向下凹陷形成所述容纳腔，所述容纳腔可以呈长方体状，能够很好地容纳所述短接装置。

进一步地，所述多器身串联变压器总成还可以包括：挡板，所述挡板的形状与所述容纳腔的开口相匹配，在将所述短接装置放进所述容纳腔后，可以用所述挡板封住所述容纳腔的开口，对所述短接装置起到保护作用。

本实施例提供的多器身串联变压器总成，包括多器身串联变压器以及短接装置，所述多器身串联变压器包括多个器身，所述短接装置用于将变压器中除待测试器身以外的其它器身的低压绕组分别短接，从而使用户可以利用测试装置对待测试器身进行测试，由于测试时其它器身中不会有磁通产生，能够有效消除铁芯剩磁的影响，提高了测试结果的准确性。

实施例三

本发明实施例三提供一种多器身串联变压器测试系统，包括测试装置以及短接装置；

所述测试装置包括高压线和低压线；

所述高压线用于与多器身串联变压器的高压绕组连接，所述低压线用于与所述多器身串联变压器中的待测试器身的低压绕组连接；

短接装置用于将变压器中除待测试器身以外的其它器身的低压绕组分别短接。

本实施例中的多器身串联变压器测试系统，可以利用上述实施例提供的多器身串联变压器测试方法来进行测试，具体的实现原理可以参见上述实施例，此处不再赘述。

其中，短接装置用于将器身的低压绕组进行短接，所述短接装置可以为导线，也可以是其它能够实现短接功能的元件或装置。所述导线的个数可以大于或等于所述变压器中器身的个数的两倍，能够保证实现除待测试器身以外的其它器身的短接。

进一步地，所述测试装置可以为变比组别测试仪，能够测量变压器的变比和联接组别。

优选的是，所述测试装置还可以包括壳体，所述壳体上可以设置有悬挂部。所述短接装置可以挂设在所述悬挂部上。

具体的，所述悬挂部可以为支架或弯钩等，所述悬挂部可以设置在所述壳体侧面，在需要对变压器进行测试时，可以从所述悬挂部上取下所述短接装置，并利用短接装置对变压器的低压绕组进行短接，在测试完成后，可以将短接装置重新悬挂在所述悬挂部上，能够对短接装置进行有效规整，提高测试效率。

本实施例提供的多器身串联变压器测试系统，包括测试装置以及短接装置，所述测试装置包括高压线和低压线，所述高压线用于与多器身串联变压器的高压绕组连接，所述低压线用于与所述多器身串联变压器中的待测试器身的低压绕组连接，所述短接装置用于将变压器中除待测试器身以外的其它器身的低压绕组分别短接，从而使用户可以利用测试装置对待测试器身进行测试，由于测试时其它器身中不会有磁通产生，能够有效消除铁芯剩磁的影响，提高了测试结果的准确性。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法，可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。