本发明属于dcs系统机柜晶须检测技术领域，具体涉及一种用于仪控机柜的晶须检测装置。
背景技术
锌晶须是一种直径仅2μm左右的须状锌结晶，在镀锌材料表面自然生长，经过数年至10几年后其长度可达数mm。在电力系统dcs系统的电子设备间中存在这种大量的镀锌材料，电子设备房的机柜以及房间的送排风系统管道一般都做过电镀锌处理。这些都是锌晶须产生的温床。
电镀锌容易产生晶须的原因在于在接近室温条件下会出现镀膜再结晶现象。由于再结晶的出现，镀锌材料在使用过程中小晶粒就会逐渐结合，同时其内部应力也会逐渐增大。然后会向镀膜外推出锌晶须，据称这就是晶须产生的原因。当受到某种因素的影响晶须折断进入计算机内部或者电子模件的电路板上时，会使印刷电路板的端子之间发生短路现象，给dcs系统的稳定运行带来了很大的安全隐患。
目前，市场上可以采购到普通电子显微镜，安装在操作台上，可以对大多数物体进行检测观察，但对于电力系统的dcs系统来说，受到锌晶须影响的电路板主要有两种：上层服务器的主板和下层控制模件的电路板。使用普通电子显微镜有两个制约因素，一方面是因为晶须固有特性，轻微振动就可以破坏晶须使其掉落；另一方面，服务器一般均为水平放置，相应的电路板也为水平放置，而模件一般为垂直安装，电路板也为垂直布置。市场上直接采购的电子显微镜无法同时满足上述使用需求。
技术实现要素：
本发明目的在于提出了一种用于仪控机柜的晶须检测装置，解决了使用现有电子显微镜无法检测机柜晶须情况的技术问题。
本发明的技术方案是：
一种用于仪控机柜的晶须检测装置，包括：高倍电子显微镜、低倍电子显微镜、电路板固定台架、显微镜滑轨装置、电缆接口、传输电缆和上位机；所述电路板固定台架包括：台面、立柱、电路板夹和导轨b；所述显微镜滑轨装置包括：导轨a、滑动横杆、滑动吊杆、移动旋钮a、移动旋钮b和移动旋钮c；所述台面的四角上分别焊接有四根立柱，导轨b焊接在台面上表面中央，导轨b的两端设置有电路板夹；所述导轨a平行焊接在相邻两根立柱的上端，滑动横杆水平设置在两导轨a之间；滑动吊杆通过移动旋钮b垂直设置在滑动横杆上，所述高倍电子显微镜通过移动旋钮c设置在滑动吊杆上，低倍电子显微镜设置在其中一根立柱上，所述高倍电子显微镜和低倍电子显微镜上连接有传输电缆，所述上位机通过传输电缆与电缆接口连接。
如上所述滑动横杆一端设置有移动旋钮a，滑动横杆通过旋转移动旋钮a可沿导轨a方向滑动。
如上所述滑动横杆设置滑动吊杆的一侧面设置有螺纹滑轨，通过移动旋钮b使滑动吊杆可沿滑动横杆方向滑动。
如上所述滑动吊杆的一侧面设置有螺纹滑轨，高倍电子显微镜通过旋转移动旋钮c可沿滑动吊杆方向滑动。
如上所述设置低倍电子显微镜的立柱上设置有套筒。
如上所述电缆接口固定在设置低倍电子显微镜的立柱上。
如上所述电路板夹可在导轨b上滑动。
本发明的有益效果是：
1)通过本发明设计的检测装置，可以检测各种尺寸的电路板晶须情况，可以实现对电路板的可靠固定，解决了以往需要手动移动电路板导致电路板晶须被破坏的问题，尽量保证电路板的现状，提高了检测装置的可靠性和准确性；
2)本发明设计的检测装置可以在工业现场直接使用，一方面避免了电路板二次运输导致的损坏，节约了送检所需的高昂费用，另一方面，现场直接检测节省了检测时间，达到了快速检测的目的；
3)本发明设计的检测装置实现了在工业现场对仪控机柜的检测，操作简单，使用方便，极大地提高了晶须检测的工作效率；
4)对于仪控机柜内部不易到达，或者无法拆卸，或者拆装会破坏物体表面物质的情况，本发明设计的检测装置可以使用低倍电子显微镜实现对以上部位的检测，解决了现有设备无法对其进行检测的问题，使用体积小的低倍电子显微镜极大地扩展了镜头可达区域，增强了检测装置的适用性。
附图说明
图1为本发明所述一种用于仪控机柜的晶须检测装置示意图。
其中:1-台面、2-导轨a、3-立柱、4-电路板夹、5-滑动横杆、6-滑动吊杆、7-移动旋钮a、8-高倍电子显微镜、9-低倍电子显微镜、10-电缆连接口、11-信号传输电缆、12-上位机、13-电路板、14-导轨b、15-移动旋钮b、16-移动旋钮c。
具体实施方式
下面对本发明技术进行进一步描述：
如图1所述，一种用于仪控机柜的晶须检测装置，包括：高倍电子显微镜8、低倍电子显微镜9、电路板固定台架、显微镜滑轨装置、电缆接口10、传输电缆11和上位机12；所述电路板固定台架包括：台面1、立柱3、电路板夹4和导轨b14；所述显微镜滑轨装置包括：导轨a2、滑动横杆5、滑动吊杆6、移动旋钮a7、移动旋钮b15和移动旋钮c16；所述台面1的四角上分别焊接有四根立柱3，导轨b14焊接在台面1上表面中央，导轨b14的两端设置有电路板夹4；所述导轨a2平行焊接在相邻两根立柱3的上端，滑动横杆5水平设置在两导轨a2之间；滑动吊杆6通过移动旋钮b15垂直设置在滑动横杆5上，所述高倍电子显微镜8通过移动旋钮c16设置在滑动吊杆6上，低倍电子显微镜9设置在其中一根立柱3上，所述高倍电子显微镜8和低倍电子显微镜9上连接有传输电缆11，所述上位机12通过传输电缆11与电缆接口10连接。
所述滑动横杆5一端设置有移动旋钮a7，滑动横杆5通过旋转移动旋钮a7可沿导轨a2方向滑动。
所述滑动横杆5设置滑动吊杆6的一侧面设置有螺纹滑轨，通过移动旋钮b15使滑动吊杆6可沿滑动横杆5方向滑动。
所述滑动吊杆6的一侧面设置有螺纹滑轨，高倍电子显微镜8通过旋转移动旋钮c16可沿滑动吊杆6方向滑动。
所述设置低倍电子显微镜9的立柱3上设置有套筒，用于放置低倍电子显微镜9，使用时将低倍电子显微镜9取出即可。
所述电缆接口10固定在设置低倍电子显微镜9的立柱3上。
所述电路板夹4可在导轨b14上滑动，所述电路板夹4用于固定加持电路板13。
本发明的设计结合市场上采购的高倍和低倍电子显微镜，并借鉴医用胃镜以及外科微创手术用显微镜的结构原理，对现有电子显微镜进行适应性修改，使其方便用于仪控机柜的晶须检测。
本发明所设计的晶须检测装置主要有两个功能，一是固定不同尺寸的服务器或者模件的电路板，使其不得移动，以防止电路板上的晶须在移动过程中被破坏，使用高倍电子显微镜8进行检测观察电路板，观察晶须情况，二是使用低倍电子显微镜9，因其体积较小，可手持低倍显微镜9，伸入机柜内部以检测仪控机柜机架等金属表面的晶须情况。
检测装置由高倍电子显微镜8、低倍电子显微镜9、电路板固定台架、显微镜滑轨装置、电缆接口10、传输电缆11和上位机12组成，其中高倍电子显微镜8安装在滑动吊杆6上，通过移动高倍电子显微镜8使其可检测整个电路板13；电路板固定台架将大小不一的电路板13固定，使其不得移动，防止晶须掉落；低倍电子显微镜9安装在立柱3上，高倍电子显微镜8和低倍电子显微镜9的连接电缆11同时连接在电缆连接口10上。
上面结合实施例对本发明作了详细说明，但是本发明并不限于上述实施例，在本领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。本发明中未作详细描述的内容均可以采用现有技术。