JTAG调试器的调试方法、调试器及系统与流程

本发明属于JTAG器件技术领域，具体涉及一种JTAG调试方法、调试器及系统。

背景技术：

JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动组)是一种国际标准测试协议(IEEE 1149.1兼容)，主要用于芯片内部测试。现今多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA、ARM、部分单片机器件等。标准的JTAG接口是4条线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。相关JTAG引脚的定义为：TCK为测试时钟输入；TDI为测试数据输入，数据通过TDI引脚输入JTAG接口；TDO为测试数据输出，数据通过TDO引脚从JTAG接口输出；TMS为测试模式选择，TMS用来设置JTAG接口处于某种特定的测试模式；TRST为测试复位，输入引脚，低电平有效。

请参见图1和图2，图1为现有技术中的JTAG调试方法的原理图，图2为现有技术中SVF文件一行数据对应的信号波形示意图；其中，现有的JTAG调试技术是通过在PC上解析SVF(Serial Vector Format,简称串行向量格式)文件生成对应的端口操作数据，并通过USB通道传输端口操作数据控制JTAG的端口电平，其中，SVF文件的一行数据对应一系列的JTAG端口操作，但是USB通道一次只能完成一个端口操作数据的传输，如图2所示的一行SVF对应的信号波形图需要26次USB通讯才能把数据发送给测试芯片，因此，造成了USB通道通讯数据量过大，限制了JTAG调试的速度。

因此，如何给出一种高速的JTAG调试方法已经成为研究的热点问题。

技术实现要素：

为了解决现有技术中存在的上述问题，本发明提供了一种JTAG调试方法、调试器及系统。

本发明要解决的技术问题通过以下技术方案实现：

本发明的一个实施例提供一种JTAG调试方法，包括：

(a)接收上位机传输的SVF文件；

(b)解析所述SVF文件并生成调试信号；

(c)输出所述调试信号。

在本发明的一个实施例中，所述调试信号包括：TCK信号、TMS信号、TDI信号。

在本发明的一个实施例中，步骤(b)包括：

(b1)解析所述SVF文件并生成时序参数、JTAG状态机数据、TCK数据、TDI数据；

(b2)将所述时序参数、JTAG状态机数据、所述TCK数据、所述TDI数据转换形成时序控制信号、所述TMS信号、所述TCK信号、所述TDI信号。

在本发明的一个实施例中，步骤(c)之后还包括：

(x1)读取TDO信号并生成TDO数据；

(x2)将所述TDO数据与SVF文件的期望值进行对比产生对比结果；

(x3)输出所述对比结果和所述TDO数据。

本发明的另一个实施例提供了一种JTAG调试器，包括：

接收芯片，用于接收从上位机传输的SVF文件；

解析芯片，与所述接收芯片连接，用于解析所述SVF文件并输出调试信号。

在本发明的一个实施例中，所述调试信号包括：TCK信号、TMS信号、TDI信号。

在本发明的一个实施例中，所述解析芯片包括：

SVF解析模块，用于解析所述SVF文件并产生调试数据；

JTAG状态机模块，用于产生所述TMS信号；

TCK产生模块，用于产生所述TCK信号；

TDI数据输出模块，用于产生所述TDI信号；

TDO数据读取模块，用于读取TDO信号；

时序参数模块，用于产生时序控制信号。

在本发明的一个实施例中，所述JTAG调试器通过USB端口或网口或串口或wifi或蓝牙或ZigBee连接所述上位机。

在本发明的一个实施例中，所述JTAG调试器同时测试一个或多个测试芯片。

本发明的另一个实施例提供了一种JTAG调试系统，包括：上位机和上述实施例中任一项所述的JTAG调试器。

与现有技术相比，本发明的有益效果：

本发明实施例无需通过USB端口控制JTAG端口电平，而采用了在JTAG调试器中直接解析SVF文件并生成对应的调试信号，大大提高了JTAG调试器的调试效率。

附图说明

图1为现有技术中的JTAG调试方法的原理图；

图2为现有技术中SVF文件一行数据对应的信号波形示意图；

图3为本发明实施例提供的一种JTAG调试器的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的一种JTAG调试器的调试方法流程示意图；

图5为本发明实施例提供的一种JTAG调试器的调试原理示意图；

图6(a)为本发明实施例提供的采用现有技术的JTAG调试器的调试方法的TCK时钟频率波形示意图；

图6(b)为本发明实施例提供的采用本发明实施例的JTAG调试器的调试方法的TCK时钟频率波形示意图；

图7为本发明实施例提供的另一种JTAG调试器的调试原理示意图。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本发明做进一步详细的描述，但本发明的实施方式不限于此。

实施例1：

请参见图3及图4，图3为本发明实施例提供的一种JTAG调试器的结构示意图，图4为本发明实施例提供的一种JTAG调试器的调试方法流程示意图。该JTAG调试器10可以包括接收芯片200和解析芯片100，其中接收芯片200用于接收上位机(PC机)发送来的SVF文件并传输给解析芯片100，解析芯片100用于解析SVF文件形成用于测试待测芯片的测试信号。

相应地，本发明的调试方法可以包括：

(a)接收上位机传输的SVF文件；

(b)解析所述SVF文件并生成调试信号；

(c)输出所述调试信号。

本发明实施例，通过在JTAG调试器中增加解析芯片，将现有技术中由上位机解析SVF文件的工作转移至该解析芯片完成，即解析芯片直接解析SVF文件并生成对应的调试信号，降低了上位机解析SVF文件导致传输时间较长的问题，大大提高了JTAG调试器的调试效率。

实施例2：

请参见图5，图5为本发明实施例提供的一种JTAG调试器的调试原理示意图。本实施例，在上述实施例的基础上，对本发明的工作原理进行详细描述如下：

其中，上述接收芯片200例如为PHY芯片、DVI接口、HDMI接口、VGA接口、网口等；解析芯片100例如为MCU芯片等。本实施例以接收芯片200为PHY芯片，解析芯片100为MCU芯片为例。

该JTAG调试器10可以产生的调试信号包括：TMS信号、TCK信号、TDI信号。

具体的调试过程如下：

首先，用户通过PC机20下达测试指令，由PC机20形成SVF文件201，之后由PC机20通过端口将SVF文件201发送至JTAG调试器10，JTAG调试器10的PHY芯片200接收该SVF文件201并发送至JTAG调试器10中的MCU芯片100，MCU芯片100的SVF解析模块101对SVF文件201进行解析生成时序参数、JTAG状态机数据、TCK数据和TDI数据并分别传输给时序参数模块106、JTAG状态机模块102、TCK产生模块103、TDI数据输出模块104。其中，时序参数用于生成时序控制信号控制下行时钟的频率，指令之间延时等。时序参数模块106输出时序控制信号给SVF解析模块101，SVF解析模块101在时序控制信号的控制下下发指令控制JTAG状态机模块102、TCK产生模块103、TDI数据输出模块104按序分别产生TCK、TMS、TDI信号，并由TDO数据读取模块105读入TDO信号，将TDO信号转换为TDO数据传输给SVF解析模块100并与SVF文件201的期望值对比生成对比结果，SVF解析模块101再通过PHY芯片200进而通过USB端口将对比结果返回给PC。

其中，SVF文件的期望值为SVF文件解析模块在解析SVF文件时已经存储在该模块之中。

请参考图6(a)和图6(b)，图6(a)为本发明实施例提供的采用现有技术的JTAG调试器的调试方法的TCK时钟频率波形示意图；图6(b)为本发明实施例提供的采用本发明实施例的JTAG调试器的调试方法的TCK时钟频率波形示意图；采用本发明实施例的JTAG调试器的调试方法后，TCK时钟频率由从1MHz提高到8.3MHz，也即调试速度提升了8倍。

实施例3：

请参见图7，图7为本发明实施例提供的另一种JTAG调试器的调试原理示意图，在上述内容的基础上，下面详细介绍了另一种JTAG调试器10的调试方法，该JTAG调试器10可以连接多个测试芯片进行同时调试；

其中，所述测试芯片例如包括依次串接的第一测试芯片、第二测试芯片、第三测试芯片，其中，所述JTAG调制器解析SVF文件后产生TCK信号、TMS信号和TDI信号，TCK信号和TMS信号分别传输至第一测试芯片、第二测试芯片、第三测试芯片，TDI信号传输至第一测试芯片TDI接口并通过第一测试芯片的TDO接口输出，同理依次经过第二测试芯片和第三测试芯片，最终从第三测试芯片的TDO接口输出TDO信号至JTAG调试器。

本发明实施例在JTAG调试器中直接解析SVF文件生成对应的调试数据进而生成对应的调试信号，同时将接收的TDO信号与SVF文件进行对比，反馈对比结果，同步测试多个测试芯片，大大提高了JTAG调试器的调试效率。

实施例4：

请再次参见图5，本发明实施例详细介绍了一种JTAG调试系统，所述JTAG调试系统可以包括：上位机20和JTAG调试器10，所述JTAG调试器为上述任一实施例所涉及的JTAG调试器。

当然，本实施例的USB端口可以置换为其他有线接口，例如网口、串口等其他通用接口；也可以置换为无线接口，例如wifi、蓝牙或ZigBee等。

本发明实施例的JTAG调试系统，PC的SVF文件通过USB端口一次传输给JTAG调试器，通过JTAG调试器中的MCU芯片执行SVF文件解析并产生调试信号，提高了整个调试系统的效率。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。