多电路板的中央处理单元差分测试系统及其方法与流程

本发明涉及一种测试系统及其方法，尤其是指一种提供不同电路板彼此之间的中央处理单元进行差分测试的系统及其方法。

背景技术：

现有对于电路板上中央处理单元彼此之间的差分测试，仅能提供在单一电路板上进行，若是电路板彼此之间通过超级通道互连连接器相互连接，不同电路板彼此之间的中央处理单元并无法进行差分测试。

综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在不同电路板彼此之间的中央处理单元无法进行差分测试的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此问题。

技术实现要素：

鉴于现有技术存在不同电路板彼此之间的中央处理单元无法进行差分测试的问题，本发明遂说明一种多电路板的中央处理单元差分测试系统及其方法，其中：

本发明所说明的多电路板的中央处理单元差分测试系统，其包含：主电路板、至少一次级电路板以及控制器。

主电路板具有至少一第一中央处理单元、至少一第一超级通道互连(ultrapathinterconnect，upi)连接器以及第一控制器连接器，每一个第一中央处理单元与第一超级通道互连连接器其中之一电性连接。

至少一次级电路板具有至少一第二中央处理单元、至少一第二超级通道互连连接器以及第二控制器连接器，每一个第二中央处理单元与第二超级通道互连连接器其中之一电性连接，第二超级通道互连连接器对应插接于第一超级通道互连连接器，每一个第一中央处理单元通过相互电性连接的第一超级通道互连连接器以及每一个第二中央处理单元通过相互电性连接的第二超级通道互连连接器形成扫描链。

控制器通过第一控制器连接器与主电路板形成电性连接，控制器通过第二控制器连接器与次级电路板形成电性连接，控制器用以执行下列步骤：

控制器分别取得扫描链的预设值(default)；控制器依据扫描链的预设值并配合差分测试算法生成至少一差分测试数据；控制器通过第二控制器连接器推送差分测试数据至第二中央处理单元以由扫描链推送至第一中央处理单元进行差分测试，以通过第一控制器连接器从第一中央处理单元接收结果数据；及控制器依据差分测试数据与结果数据判断差分测试结果。

本发明所说明的多电路板的中央处理单元差分测试方法，其包含下列步骤：

首先，提供具有至少一第一中央处理单元、至少一第一超级通道互连(ultrapathinterconnect，upi)连接器以及第一控制器连接器的主电路板，每一个第一中央处理单元与第一超级通道互连连接器其中之一电性连接；接着，提供具有至少一第二中央处理单元、至少一第二超级通道互连连接器以及第二控制器连接器的至少一次级电路板，每一个第二中央处理单元与第二超级通道互连连接器其中之一电性连接，第二超级通道互连连接器对应插接于第一超级通道互连连接器，每一个第一中央处理单元通过相互电性连接的第一超级通道互连连接器以及每一个第二中央处理单元通过相互电性连接的第二超级通道互连连接器形成扫描链；接着，提供控制器，控制器通过第一控制器连接器与主电路板形成电性连接，控制器通过第二控制器连接器与次级电路板形成电性连接；接着，控制器分别取得扫描链的预设值(default)；接着，控制器依据扫描链的预设值并配合差分测试算法生成至少一差分测试数据；接着，控制器通过第二控制器连接器推送差分测试数据至第二中央处理单元以由扫描链推送至第一中央处理单元进行差分测试，以通过第一控制器连接器从第一中央处理单元接收结果数据；最后，控制器依据差分测试数据与结果数据判断差分测试结果。

本发明所说明的系统及方法如上，与现有技术之间的差异在于主电路板与次级电路板通过超级通道互连连接器电性连接，主电路板与次级电路板通过超级通道互连连接器形成各自的扫描链，控制器分别进行各自扫描链预设值的取得并生成差分测试数据，再推送差分测试数据至各自的扫描链以进行差分测试。

通过上述的技术手段，本发明可以达成提供不同电路板彼此之间的中央处理单元进行差分测试的技术功效。

附图说明

图1示出了本发明多电路板的中央处理单元差分测试系统的系统方框图。

图2a以及图2b示出了本发明多电路板的中央处理单元差分测试方法的方法流程图。

图3a至图3d示出了本发明多电路板的中央处理单元差分测试方法的详细流程图。

图4示出了本发明多电路板的中央处理单元差分测试的系统架构示意图。

【附图标记列表】

10主电路板

11第一中央处理单元

12第一超级通道互连连接器

13第一控制器连接器

20次级电路板

21第二中央处理单元

22第二超级通道互连连接器

23第二控制器连接器

30控制器

41第一扫描链

42第二扫描链

主电路板次级电路板主电路板次级电路板

具体实施方式

以下将配合图式及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。

接着，以下将以一个实施例来说明本发明实施例的操作系统与方法，并请同时参考图1、图2a、图2b、图3a至图3d以及图4所示，图1示出了本发明多电路板的中央处理单元差分测试系统的系统方框图；图2a以及图2b示出了本发明多电路板的中央处理单元差分测试方法的方法流程图；图3a至图3d示出了本发明多电路板的中央处理单元差分测试方法的详细流程图；图4示出了本发明多电路板的中央处理单元差分测试的系统架构示意图。

本发明所说明的多电路板的中央处理单元差分测试系统，其包含：主电路板10、至少一次级电路板20以及控制器30。

主电路板10具有至少一第一中央处理单元11、至少一第一超级通道互连(ultrapathinterconnect，upi)连接器12以及第一控制器连接器13，每一个第一中央处理单元11与第一超级通道互连连接器12其中之一电性连接(步骤110)，在图4中主电路板10具有两个第一中央处理单元11以及两个第一超级通道互连连接器12，并且两个第一中央处理单元11与相同的第一超级通道互连连接器12电性连接，在此仅为示意说明，并不以此局限本发明的应用范畴。

至少一次级电路板20具有至少一第二中央处理单元21、至少一第二超级通道互连连接器22以及第二控制器连接器23，每一个第二中央处理单元21与第二超级通道互连连接器22其中之一电性连接，第二超级通道互连连接器22对应插接于第一超级通道互连连接器12，每一个第一中央处理单元11通过相互电性连接的第一超级通道互连连接器12以及每一个第二中央处理单元21通过相互电性连接的第二超级通道22互连连接器形成扫描链(步骤120)。

在图4中具有一个次级电路板20，且次级电路板20具有两个第二中央处理单元21以及两个第二超级通道互连连接器22，并且两个第二中央处理单元21分别与不相同的第二超级通道互连连接器22电性连接，且两个第二超级通道互连连接器22与两个第一超级通道互连连接器12分别形成电性连接，借以分别形成第一扫描链41以及第二扫描链42，在此仅为示意说明，并不以此局限本发明的应用范畴。

控制器30通过第一控制器连接器13与主电路板10形成电性连接，控制器30通过第二控制器连接器23与次级电路板20形成电性连接(步骤130)，控制器30分别取得第一扫描链41以及第二扫描链42的预设值(default)(步骤140)，其过程如下：

控制器30是通过第二控制器连接器23以边界扫描(boundaryscan)技术推送取样(sample)指令至第一扫描链41以及第二扫描链42以通过第一控制器连接器13获得第一扫描链41以及第二扫描链42的初始数值(步骤141)，控制器30再通过第二控制器连接器23以边界扫描技术推送第一扫描链41以及第二扫描链42的初始数值至第一扫描链41以及第二扫描链42(步骤142)，控制器30再次通过第二控制器连接器23以边界扫描技术推送第一扫描链41以及第二扫描链42的初始数值至第一扫描链41以及第二扫描链42(步骤143)，控制器30通过第二控制器连接器23以边界扫描技术推送extest指令至第一扫描链41以及第二扫描链42(步骤144)，控制器30再次通过第二控制器连接器23以边界扫描技术推送第一扫描链41以及第二扫描链42的初始数值至第一扫描链41以及第二扫描链42(步骤145)，控制器30储存第一扫描链41以及第二扫描链42的初始数值为预设值(步骤146)，控制器30通过第一控制器连接器13获得结果值(步骤147)，控制器30通过第二控制器连接器23以边界扫描技术推送结果值至第一扫描链41以及第二扫描链42(步骤148)，控制器30通过第二控制器连接器23以边界扫描技术推送extest_pulse指令至第一扫描链41以及第二扫描链42(步骤149)，控制器30再次通过第一控制器连接器13获得结果值(步骤1410)，控制器30再次通过第二控制器连接器23以边界扫描技术推送结果值至第一扫描链41以及第二扫描链42，并回到上一个步骤，并重复n次为止，其中n为正整数(步骤1411)，上述过程是为了确保第一中央处理单元11以及第二中央处理单元21的状态更为稳定，避免差分信号差分测试不稳定的状况产生。

控制器30依据第一扫描链41以及第二扫描链42的预设值并配合差分测试算法生成至少一差分测试数据(步骤150)。

控制器30通过第二控制器连接器23推送差分测试数据至第二中央处理单元21以分别由第一扫描链41以及第二扫描链42推送至第一中央处理单元11进行差分测试，以通过第一控制器连接器13从第一中央处理单元11接收结果数据(步骤160)，其过程如下：

控制器30通过第二控制器连接器23推送差分测试数据至第二中央处理单元21以通过第一扫描链41以及第二扫描链42推送至第一中央处理单元11(步骤161)，控制器30通过第二控制器连接器23再次推送差分测试数据至第二中央处理单元21以通过第一扫描链41以及第二扫描链42推送至第一中央处理单元11，控制器30通过第一控制器连接器13从第一中央处理单元11读取并储存第一扫描链41以及第二扫描链42的差分测试结果(步骤162)。

上述控制器30通过第二控制器连接器23推送两次差分测试数据至第二中央处理单元21以通过第一扫描链41以及第二扫描链42推送至第一中央处理单元11，其目的在于多链差分测试的取样时间不同步，通过将测试数据推送两次，借以确保第一扫描链41以及第二扫描链42皆完成运算后，再由控制器30通过第一控制器连接器13从第一中央处理单元11读取并储存第一扫描链41以及第二扫描链42的差分测试结果。

控制器30依据差分测试数据与结果数据判断差分测试结果(步骤170)，具体而言，假设差分测试数据为1，而差分测试结果为0，则表示差分测试结果成功，假设差分测试数据为1，而差分测试结果为1，则表示差分测试结果失败。

除此之外，控制器30还包含执行恢复第一扫描链41以及第二扫描链42初始状态的步骤(步骤180)，其过程如下：

控制器30通过第二控制器连接器23以边界扫描技术推送extest指令至第一扫描链41以及第二扫描链42(步骤181)，控制器30通过第二控制器连接器23以边界扫描技术推送第一扫描链41以及第二扫描链42的初始数值至第一扫描链41以及第二扫描链42(步骤182)。

综上所述，可知本发明与现有技术之间的差异在于主电路板与次级电路板通过超级通道互连连接器电性连接，主电路板与次级电路板通过超级通道互连连接器形成各自的扫描链，控制器分别进行各自扫描链预设值的取得并生成差分测试数据，再推送差分测试数据至各自的扫描链以进行差分测试。

借由此技术手段可以来解决现有技术所存在不同电路板彼此之间的中央处理单元无法进行差分测试的问题，进而达成提供不同电路板彼此之间的中央处理单元进行差分测试的技术功效。

虽然本发明所说明的实施方式如上，惟所述的内容并非用以直接限定本发明的专利保护范围。任何本发明所属技术领域中的技术人员，在不脱离本发明所说明的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作些许的更动。本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定者为准。