本发明涉及一种背板连接器的测试装置。
背景技术：
随着高速电路技术的快速发展，高速背板作为互连板卡信号的重要部分，其插入损耗、回波损耗、近端串扰、远端串扰、连接器端阻抗、链路阻抗这些硬性指标的好坏严重影响信号完整性的好坏。
为了使系统中高速信号满足相应信号协议规定的信号质量要求，从发端发送的信号正确地被终端接收，高速互连背板链路上的损耗、串扰、阻抗必须满足要求。因此，为了得到具体的性能指标参数，必须引入高速背板连接器测试夹具。
现有的一种背板连接器是6×18pair(对)的安费诺xcede+高速连接器，最多传输108路差分高速信号。但是，当前的背板高速连接器测试夹具无法满足6×18pair(108路差分信号)多路复杂背板连接器测试，不能完成高速背板连接器的信号完整性测试工作。
技术实现要素：
针对相关技术中存在的问题，本发明提出一种背板连接器的测试装置，对于具有多对差分信号(108路差分信号)的背板连接器的测试，能够实现精确高效的测试。
本发明的技术方案是这样实现的：
根据本发明的一个方面，提供了一种背板连接器的测试装置，包括：第一测试板，第一测试板上设置有第一连接器、以及与第一连接器连接的第一输出接头；第二测试板，第二测试板上设置有第二连接器、以及与第二连接器连接的第二输出接头；其中，第一连接器和第二连接器都具有6×18个引脚对；背板连接器具有多个插头端子形成的6×18个差分对，背板连接器划分为三个子连接器，各个子连接器中具有6×6个差分对；子连接器中的3×6个差分对由第一连接器的3×6个引脚对或第二连接器的3×6个引脚对引出。
根据本发明的实施例，子连接器中的3×6个差分对由第一连接器的3×6个引脚对引出时，子连接器中的其余的3×6个差分对由第二连接器的3×6个引脚对引出；或者子连接器中的3×6个差分对由第二连接器的3×6个引脚对引出时，子连接器中的其余的3×6个差分对由第一连接器的3×6个引脚对引出。
根据本发明的实施例，测试装置还包括端接电阻，端接电阻设置在与引出的引脚对相邻的各个引脚对上。
根据本发明的实施例，3×6对信号输出端是彼此相邻的3行信号输出端。
根据本发明的实施例，测试装置还包括校准线部分，校准线部分中的校准线是3.5inch校准线和7inch校准线。
根据本发明的实施例，第一测试板上的走线和第二测试板上的走线均为3.5inch。
根据本发明的实施例，测试装置还用于测试第二背板连接器；当背板连接器的子连接器中的3×6个差分对由第一连接器或第二连接器之中的一个引出时，第二背板连接器的子连接器中的3×6个差分对由第一连接器或第二连接器之中的另一个引出。
根据本发明的实施例，测试装置还包括矢量网络分析仪vna，vna的测试输入端与第一输出接头和第二输出接头连接。
本发明提供了一种6×18pair背板连接器的测试装置，为多对差分信号的连接器测试提供了精确高效的测试配置；测试时仅需要将第一测试板p1的第一连接器的3×6个引脚对和第二测试板p2的第二连接器的3×6个引脚对上的信号用sma接头引出，利用第一测试板p1和第二测试板p2的不同搭配，可完成6×18pair背板连接器链路信号完整性测试。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据本发明实施例的背板连接器的测试装置的示意图；
图2是6×18pair背板连接器的插头端子的布局示意图；
图3是利用第一测试板p1引出子连接器上的信号的配置示意图；
图4是利用第二测试板p2引出子连接器上的信号的配置示意图。
图5至图7是背板连接器的各个子连接器的测试配置的示意图；
图8是6×18pair背板连接器在背板中进行测试的连接示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
如图1所示，根据本发明实施例的背板连接器的测试装置10，包括：第一测试板p1，第一测试板p1上设置有第一连接器12、以及与第一连接器12连接的第一输出接头；第二测试板p2，第二测试板p2上设置有第二连接器14、以及与第二连接器14连接的第二输出接头。第一测试板p1上的第一输出接头和第二测试板p2上的第二输出接头可以都是2.4mmsma接头，测试装置10上的所有信号都通过2.4mmsma接头引出，并通过sma接头与测试仪器相连。
图2为6×18pair背板连接器的插头端子的布局示意图，背板连接器具有多个插头端子形成的6×18个差分对。考虑到夹具布局大小，不可能将所有差分信号全部引出。因此，将背板连接器划分为三个子连接器(1-6列、7-12列、13-18列)，从而各个子连接器中具有6×6个差分对，每个子连接器相当于一个6×6pair的连接器。参见图3至图4所示，第一测试板p1上的第一连接器12和第二测试板p2上的第二连接器14都具有6×6个引脚对；子连接器中的3×6个差分对由第一连接器12的3×6个引脚对或第二连接器14的3×6个引脚对引出。以子连接器(13-18列)上的信号分别由测试板p1和p2引出为例，如图3所示，第一测试板p1引出ab、cd和efpair；如图4所示，第二测试板p2引出gh、jk和lmpair。
本发明的上述技术方案，设计了一种6×18pair背板连接器的测试装置10，为多对差分信号的连接器测试提供了精确高效的测试配置；测试时仅需要将第一测试板p1的第一连接器的3×6个引脚对和第二测试板p2的第二连接器的3×6个引脚对上的信号用sma接头引出，利用第一测试板p1和第二测试板p2的不同搭配，可完成6×18pair背板连接器链路信号完整性测试。
在一个实施例中，子连接器中的3×6个差分对由第一连接器12的3×6个引脚对引出时，子连接器中的其余的3×6个差分对由第二连接器14的3×6个引脚对引出；或者子连接器中的3×6个差分对由第二连接器14的3×6个引脚对引出时，子连接器中的其余的3×6个差分对由第一连接器12的3×6个引脚对引出。优选的，3×6对信号输出端是彼此相邻的3行信号输出端。具体的，子连接器(13-18列)的测试配置如图5所示；子连接器(7-13列)的测试配置如图6所示；子连接器(1-6列)的测试配置如图7所示。通过这样的配置方式，可利用第一测试板p1和第二测试板p2完成6×18pair背板连接器的所有插头端子的测试。
测试装置10还包括端接电阻，结合图2和图3所示，端接电阻设置在与引出的引脚对相邻的各个引脚对上。也就是，与引出信号的相邻引脚上采用50欧姆的电阻进行端接处理。
再次参考图1所示，测试装置10还包括校准线部分16，校准线部分16中的校准线是3.5inch校准线和7inch校准线。为了利用测试装置10测试得到背板链路的损耗、阻抗参数，必须将第一测试板p1、第二测试板p2的损耗去嵌掉，因此，利用7inch和3.5inch校准线用来去除测试装置10的损耗。
优选的，第一测试板p1上的走线和第二测试板p2上的走线均为3.5inch。为满足每个测试板(走线和连接器)3db损耗的si要求，选取合适的板材、设计相应叠层文件、设计走线阻抗、合理layout走线、严格控制第一测试板p1和第二测试板p2的走线均在3.5inch。
在一个实施例中，测试装置10还用于测试第二背板连接器；当背板连接器的子连接器中的3×6个差分对由第一连接器12或第二连接器14之中的一个引出时，第二背板连接器的子连接器中的3×6个差分对由第一连接器12或第二连接器14之中的另一个引出。在一个实施例中，测试装置10还包括vna(矢量网络分析仪)，vna的测试输入端与第一输出接头和第二输出接头连接。
具体的，如图8所示，6×18pair背板连接器可应用在背板中，背板上有6个6×18pairxcede+高速连接器(连接器1...连接器6)，其中6个高速连接器两两均处于互连状态。背板端的连接器为公头，测试装置10上的连接器为母头，用来与背板上的连接器对插。
根据实际被测背板的互连情况，选择两个被测背板连接器，图8中示出了两个背板连接器为连接器1和连接器6的情形。根据被测信号所在的插头端子的布局位置，选择图2至图7所示的相应的测试配置。将第一测试板p1上引出差分信号的sma头与vna的端口1、端口3相连，将测试板p2上引出差分信号的sma头与vna的端口2、端口4相连。由此，利用本发明的测试装置10，可以测试相互连通背板连接器链路的插入损耗、近端串扰、远端串扰、链路阻抗控制。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。