一种贴片式LED高温老化实验装置的制作方法

实用新型涉及LED检测设备技术领域，具体涉及一种贴片式LED高温老化实验装置。

背景技术：

LED作为第四代新型光源，因其具备高光效，显色性好，寿命长等特性，被广泛运用到照明，背光，等领域，但因LED所使用的环境与条件不同，故LED灯珠在封装完毕后都需进行信赖性实验来验证其性能可否具备使用，在评估LED灯珠性能的时候，寿命测试是其重要的一个环节：因LED需经受长时间点亮，其本身会聚集大量热量而造成温度过高，如若周围环境环境温度也一样过高，势必会对LED的寿命造成一定的影响，故LED器件的寿命测试一般要经历高温老化实验验证，常规的实验方案是 将贴片式LED灯珠焊接在六边形铝基板上，再通过导线将多个六边形铝基板串联或并联起来，然后通上额定电压并将其放置到烤箱中，设置一定的温度，让其进行高温点亮老化，在老化到相应的时间段后，观察是否有死灯情况，并对老化后的每颗LED灯珠进行光通量、色温、电压等参数的测定，对比测试数据来评估LED灯珠性能的优劣。目前高温老化实验在老化过程中需要将贴片LED灯珠焊接在六角铝基板上，并需手动将导线在铝基板之间进行电路焊线联接，比较浪费时间，而进行光电参数测试时还需将导线取掉，再次老化时仍需将导线焊接上去，此过程重复起来相当麻烦。由于现有测试仪器多为积分球，受治具限制，在测试过程中，只能单颗测试，不能进行整体测试。而LED灯具往往是将LED灯珠进行模组化点亮使用，故此种老化实验测试不能客观的反应出模组化灯珠高温老化的结果，亟待改进。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足，提供一种结构简单，设计合理、使用方便的贴片式LED高温老化实验装置，简化高温老化实验的繁琐过程，提升实验效率，同时客观的模拟出灯珠模组化的老化结果，实用性更强。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：它包含老化装置和测试装置；所述的老化装置由圆形铝基板与散热器材构成，所述的圆形铝基板表面开设多个LED贴片焊盘，多个LED贴片焊盘串联后，与一个2PIN母头端子并联，该2PIN母头端子与公头端子线配合连接；每个LED贴片焊盘的正、负极的引出线路与数个多PIN母头端子并联；所述的散热器材的上端设置有圆柱形状铝材，圆柱形状铝材的表面开设有与圆形铝基板上下两侧锁孔相配合的螺丝孔，圆柱形状铝材的下表面设置有多个整列分布的散热片；所述的测试装置由测试夹头、开关控制器、电源连接线构成；所述的测试夹头上端面开设有与圆形铝基板相配合的卡槽，卡槽的下方设置有按压装置，按压装置的边缘设置出线孔位，出线孔位中穿设有多PIN公头端子线，该多PIN公头端子线与多PIN母头端子配合连接；所述的多PIN公头端子线穿过测试夹头底部后，与开关控制器连接，开关控制器上开设有多个开关，每个开关与一个LED贴片焊盘对应闭合；所述的开关控制器由电源连接线与电源连接。

进一步地，所述的卡槽的两侧设置有T形限位挡块。

采用上述结构后，本实用新型有益效果为：本实用新型所述的一种贴片式LED高温老化实验装置，简化高温老化实验的繁琐过程，提升实验效率，同时客观的模拟出灯珠模组化的老化结果，实用性更强，本实用新型具有结构简单，设置合理，制作成本低等优点。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型中圆形铝基板的结构示意图。

图2是本实用新型中散热器材的结构示意图。

图3是本实用新型中测试夹头的结构示意图。

图4是本实用新型中老化装置的结构示意图。

图5是本实用新型中测试装置的结构示意图。

附图标记说明：

老化装置1、测试装置2、圆形铝基板1-1、LED贴片焊盘1-1-1、2PIN母头端子1-1-2、多PIN母头端子1-1-3、散热器材1-2、圆柱形状铝材1-2-1、散热片1-2-2、螺丝孔1-2-3、公头端子线1-3、测试夹头2-1、卡槽2-1-1、T形限位挡块2-1-2、按压装置2-1-3、出线孔位2-1-4、多PIN公头端子线2-1-5、开关控制器2-2、开关2-2-1、电源连接线2-3。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。

参看如图1-图5所示，本具体实施方式采用的技术方案是：它包含老化装置1和测试装置2；所述的老化装置1由圆形铝基板1-1与散热器材1-2构成，所述的圆形铝基板1-1表面开设多个LED贴片焊盘1-1-1，多个LED贴片焊盘1-1-1串联后，与一个2PIN母头端子1-1-2并联，该2PIN母头端子1-1-2与公头端子线1-3配合连接；每个LED贴片焊盘1-1-1的正、负极的引出线路与数个多PIN母头端子1-1-3并联；所述的散热器材1-2的上端设置有圆柱形状铝材1-2-1，圆柱形状铝材1-2-1的表面开设有与圆形铝基板1-1上下两侧锁孔相配合的螺丝孔1-2-3，圆柱形状铝材1-2-1的下表面设置有多个整列分布的散热片1-2-2；所述的测试装置2由测试夹头2-1、开关控制器2-2、电源连接线2-3构成；所述的测试夹头2-1上端面开设有与圆形铝基板1-1相配合的卡槽2-1-1，卡槽2-1-1的下方设置有按压装置2-1-3，按压装置2-1-3的边缘设置出线孔位2-1-4，出线孔位2-1-4中穿设有多PIN公头端子线2-1-5，该多PIN公头端子线2-1-5与多PIN母头端子1-1-3配合连接；所述的多PIN公头端子线2-1-5穿过测试夹头2-1底部后，与开关控制器2-2连接，开关控制器2-2上开设有多个开关2-2-1，每个开关2-2-1与一个LED贴片焊盘1-1-1对应闭合；所述的开关控制器2-2由电源连接线2-3与电源连接。

进一步地，所述的卡槽2-1-1的两侧设置有T形限位挡块2-1-2。

本具体实施方式的工作原理：

在高温老化阶段：可直接将多颗贴片LED灯珠以及母头端子同时焊接在圆形铝基板1-1上，并用公头端子线1-3进行对插2PIN母头端子1-1-2，连接到总电源上，再通过螺丝将圆形铝基板1-1锁到散热器材1-2上，最后放置在烤箱中，设置好温度，电压参数，通电进行高温老化，相对于背景技术中的方案，此种老化装置操作起来相对比较简单；

在测试阶段：当高温老化进行到一定时间段后，可将圆形铝基板1-1从散热器材1-2上卸载下来，拔掉接总电源的公头端子线1-3，然后使用测试夹头2-1上的按压装置2-1-3，将圆形铝基板1-1安放到测试夹头2-1的卡槽2-1-1内，并用T形限位挡块2-1-2固定，再将测试夹头2-1上端的多PIN公头端子线2-1-5插到对应的多PIN母头端子1-1-3内，最后将测试夹,2-1插入到积分球测试孔内，再将电源连接线2-3接通到积分球测试仪上，通过操作开关控制器2-2上的开关2-2-1来实现单颗贴片灯珠的闭合，相对于背景技术中的现有方案，此种实验测试装置无需来回拆卸铝基板，可一次性单独测试每颗贴片LED的老化前后数据，大大提升了实验效率，而且可以通过测试装置对圆形铝基板上的所有灯珠进行模组化老化实验测试，对灯具后期的性能评估起到了关键性作用。

采用上述结构后，本具体实施方式有益效果为：本具体实施方式所述的一种贴片式LED高温老化实验装置，简化高温老化实验的繁琐过程，提升实验效率，同时客观的模拟出灯珠模组化的老化结果，实用性更强，本实用新型具有结构简单，设置合理，制作成本低等优点。

以上所述，仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案所做的其它修改或者等同替换，只要不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。