多用途芯片测试系统的制作方法

文档序号:14212593阅读:来源:国知局
技术总结
本实用新型公开一种多用途芯片测试系统,其横梁上表面安装有2个上竖直气缸,此上竖直气缸的活塞杆穿过横梁的通孔,此活塞杆的末端安装有一位于横梁下方的圆盘;2个电性检测机构中另一个电性检测机构通过位于底部的2个第二滑块分别与2个第二导轨滑动连接,一升降板位于电性检测机构和上竖直气缸之间;空腔壳体内水平地设置有一活动块和连接锲块,所述活动块和连接锲块均嵌入水平导向槽内,一笔形水平气缸位于空腔壳体内并位于活动块和连接锲块上方,所述笔形水平气缸的推杆末端与连接锲块的上端连接。本实用新型在保证高可靠性的前提下,提升了产能,节省了人力,且确保了测试压头所受压力的稳定性、测试压头的形变一致性,也就保证了所需测试产品在同一测试条件下的测试可信度。

技术研发人员:王海昌;陈东;张成;位贤龙;姜海光
受保护的技术使用者:江苏凯尔生物识别科技有限公司
文档号码:201720707231
技术研发日:2017.06.16
技术公布日:2018.04.17

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