多路晶体管阵列测试辅助装置的制作方法

本实用新型涉及晶体管阵列测试，具体而言是多路晶体管阵列测试辅助装置。

背景技术：

随着现代电子元器件生产工艺水平的提高和型号产品小型化、低成本的需要，晶体管阵列被设计生产并广泛应用于信号控制线路中。晶体管阵列一般是将同极性(同为NPN或同为PNP)或不同极性(分别为NPN或者PNP)的2个或2个以上的多个三极管封装在双列直插的一个管壳内，从而实现多路信号传输，达到缩小体积和降低成本的目的。晶体管阵列在投入使用前，为了判断其可靠性，必须进行参数检测。但测试起来比单个晶体管困难得多，特别是不同极性的晶体管阵列实现筛选难度更大。目前，对于不能实现多路自动测试的类型晶体管进行程序开发验证时，一般可采用测试夹子进行单个器件的测试，其弊端如下：一是测试夹子为了保证接触良好通常啮合力较大，而晶体管阵列的引脚又比较脆弱，操作时容易夹伤器件的引脚；二是夹子接触面较小，对大电流的器件影响测试精度；三是多路晶体管阵列采用这种方法单个进行测试时，因为引脚很多、分辨复杂，存在极性测错的隐患；四是无法同时实现阵列间参数比对，需要另行手工计算，同时会受环境温度影响而产生偏差；五是每个单管分别测试，耗费大量人工成本，工作效率低下；六是晶体管阵列种类繁多，如果定制专门的测试夹具，不仅价格昂贵，而且周期很长。因此，设计出结构简单、使用方便、既能保证测试精度又能提高工效和降低成本并且不损伤被测对象的多路晶体管阵列测试辅助装置十分必要。

技术实现要素：

本实用新型的目的是提供一种结构简单、使用方便、既能保证测试精度又能提高工效和降低成本并且不损伤被测对象的多路晶体管阵列测试辅助装置。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：多路晶体管阵列测试辅助装置，包括母板和子板，其特征是还包括转换器，转换器包括夹具、面包板和印制板，夹具的上部设置有待测器件仓和仓盖，夹具的底部设置有第一插针，面包板上开设有第一通孔和第二通孔，第一通孔和第二通孔均带有焊盘，第二通孔上焊接有第二插针，第一通孔和第二通孔一一对应并且通过导线连接，印制板上开设有第三通孔和第四通孔，第三通孔和第四通孔均带有焊盘，第四通孔上焊接有第三插针，第三通孔和第四通孔一一对应并且通过印刷线路连接，面包板通过第一通孔与第一插针的配合同夹具连接，面包板通过第二插针与第三通孔的配合同印制板连接，子板上设置有与第三插针配合的第二插座、第四插针、第五通孔和第六通孔，第五通孔和第六通孔均带有焊盘，第五通孔与插座的引脚一一对应并且通过印刷线路连接，第六通孔与第四插针一一对应并且通过印刷线路连接，第五通孔和第六通孔均按待测多路晶体管阵列分为多组，每组对应一个晶体管，相应的第五通孔和第六通孔之间通过飞线连接，母板上设置有与第四插针配合的第一插座、与测试系统输出端配合的输入端和引出端，第一插座通过印刷线路分别与输入端和引出端连接，子板通过第二插座与第三插针的配合同印制板连接，子板通过第四插针与第一插座的配合同母板连接。

进一步地，所述相应第五通孔和第六通孔之间的飞线上套接有磁环。

进一步地，所述第二插座为双排8芯插座，所述第四插针为双排16芯插针，所述输入端为25芯插座。

采用本实用新型，可根据待测器件的不同封装类型来确定是否使用夹具，根据待测器件的不同封装形式来选取不同的夹具，根据待测器件的不同引脚数量来选取不同芯数的排针，根据待测器件的不同原理对子板选取不同的跳线方式，而面包板、印制板、母板和子板空白板的线路结构、子板与转换器和母板之间的连接方式及信号传输方式则固定不变，因此，能够方便地对各种各样的晶体管阵列进行多路自动测试。本实用新型结构简单、既能保证测试精度又能提高工效和降低成本并且不损伤被测对象。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型的转换器结构示意图；

图3是本实用新型的面包板结构示意图；

图4是本实用新型的印制板结构示意图；

图5是本实用新型的子板结构示意图；

图6是本实用新型的母板结构示意图；

图7是本实用新型一个实施例的子板与晶体管阵列对应关系示意图。

图中：1-母板；1.1-第一插座；1.2-输入端；1.3-引出端；2-子板；2.1-第二插座；2.2-第四插针；2.3-第五通孔；2.4-第六通孔；3-转换器；3.1-夹具；3.1.1-第一插针；3.2-面包板；3.2.1-第一通孔；3.2.2-第二通孔；3.2.3-第二插针；3.3-印制板；3.3.1-第三通孔；3.3.2-第四通孔；3.3.3-第三插针。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步的说明，但该实施例不应理解为对本实用新型的限制。

实施例一

被测对象：表贴式晶体管阵列，含四个晶体管。

如图所示的多路晶体管阵列测试辅助装置，包括母板1和子板2，还包括转换器3，转换器3包括夹具3.1、面包板3.2和印制板3.3，夹具3.1的上部设置有待测器件仓和仓盖，夹具3.1的底部设置有第一插针3.1.1，面包板3.2上开设有第一通孔3.2.1和第二通孔3.2.2，第一通孔3.2.1和第二通孔3.2.2均带有焊盘，第二通孔3.2.2上焊接有第二插针3.2.3，第一通孔3.2.1和第二通孔3.2.2一一对应并且通过导线连接，印制板3.3上开设有第三通孔3.3.1和第四通孔3.3.2，第三通孔3.3.1和第四通孔3.3.2均带有焊盘，第四通孔3.3.2上焊接有第三插针3.3.3，第三通孔3.3.1和第四通孔3.3.2一一对应并且通过印刷线路连接，面包板3.2通过第一通孔3.2.1与第一插针3.1.1的配合同夹具3.1连接，面包板3.2通过第二插针3.2.3与第三通孔3.3.1的配合同印制板3.3连接，子板2上设置有与第三插针3.3.3配合的第二插座2.1、第四插针2.2、第五通孔2.3和第六通孔2.4，第五通孔2.3和第六通孔2.4均带有焊盘，第五通孔2.3与插座2.1的引脚一一对应并且通过印刷线路连接，第六通孔2.4与第四插针2.2一一对应并且通过印刷线路连接，第五通孔2.3和第六通孔2.4均按待测多路晶体管阵列分为多组，每组对应一个晶体管，相应的第五通孔2.3和第六通孔2.4之间通过飞线连接，母板1上设置有与第四插针2.2配合的第一插座1.1、与测试系统输出端配合的输入端1.2和引出端1.3，第一插座1.1通过印刷线路分别与输入端1.2和引出端1.3连接，子板2通过第二插座2.1与第三插针3.3.3的配合同印制板3.3连接，子板2通过第四插针2.2与第一插座1.1的配合同母板1连接。

采用上述辅助装置，将第五通孔2.3和第六通孔2.4各自分为四组，并按表1通过飞线连接相应的第五通孔2.3和第六通孔2.4，

表1

然后，将子板2分别与印制板3.3和母板1连接，将被测对象放入夹具3.1的待测器件仓，关闭仓盖，进行测试。

实施例二

优选的实施例是：在实施例一的方案中，所述相应第五通孔2.3和第六通孔2.4之间的飞线上套接有磁环2.5。

实施例三

优选的实施例是：在实施例一或实施例二的方案中，所述第二插座2.1为双排8芯插座，所述第四插针2.2为双排16芯插针，所述输入端1.2为25芯插座。

实施例四

被测对象：直插式晶体管阵列，含六个晶体管。

如图所示的多路晶体管阵列测试辅助装置，包括母板1和子板2，还包括转换器3，转换器3包括面包板3.2和印制板3.3，面包板3.2上开设有第一通孔3.2.1和第二通孔3.2.2，第一通孔3.2.1和第二通孔3.2.2均带有焊盘，第二通孔3.2.2上焊接有第二插针3.2.3，第一通孔3.2.1和第二通孔3.2.2一一对应并且通过导线连接，印制板3.3上开设有第三通孔3.3.1和第四通孔3.3.2，第三通孔3.3.1和第四通孔3.3.2均带有焊盘，第四通孔3.3.2上焊接有第三插针3.3.3，第三通孔3.3.1和第四通孔3.3.2一一对应并且通过印刷线路连接，面包板3.2通过第一通孔3.2.1与第一插针3.1.1的配合同夹具3.1连接，面包板3.2通过第二插针3.2.3与第三通孔3.3.1的配合同印制板3.3连接，子板2上设置有与第三插针3.3.3配合的第二插座2.1、第四插针2.2、第五通孔2.3和第六通孔2.4，第五通孔2.3和第六通孔2.4均带有焊盘，第五通孔2.3与插座2.1的引脚一一对应并且通过印刷线路连接，第六通孔2.4与第四插针2.2一一对应并且通过印刷线路连接，第五通孔2.3和第六通孔2.4均按待测多路晶体管阵列分为多组，每组对应一个晶体管，相应的第五通孔2.3和第六通孔2.4之间通过飞线连接，母板1上设置有与第四插针2.2配合的第一插座1.1、与测试系统输出端配合的输入端1.2和引出端1.3，第一插座1.1通过印刷线路分别与输入端1.2和引出端1.3连接，子板2通过第二插座2.1与第三插针3.3.3的配合同印制板3.3连接，子板2通过第四插针2.2与第一插座1.1的配合同母板1连接。

采用上述辅助装置，将第五通孔2.3和第六通孔2.4各自分为六组，并按表2通过飞线连接相应的第五通孔2.3和第六通孔2.4，

表2

然后，将子板2分别与印制板3.3和母板1连接，将被测对象插入面包板3.2，进行测试。

实施例五

优选的实施例是：在实施例四的方案中，所述相应第五通孔2.3和第六通孔2.4之间的飞线上套接有磁环2.5。

实施例六

优选的实施例是：在实施例四或实施例五的方案中，所述第二插座2.1为双排8芯插座，所述第四插针2.2为双排16芯插针，所述输入端1.2为25芯插座。

本说明书中未作详细描述的内容，属于本领域技术人员公知的现有技术。