一种检测电缆导体连接性能的装置的制作方法

文档序号:15147632发布日期:2018-08-10 20:38阅读:322来源:国知局

本实用新型涉及测试技术领域,并且更具体地,涉及一种检测电缆导体连接性能的装置。



背景技术:

在实际应用中,两根电缆连接时需要通过接头,而安装接头中非常关键的一个步骤为导体连接,即采用适当规格的导体连接管,将两段电缆导体通过机械压力的方式永久连接在一起。导体连接处的状态好坏将决定电缆是否可以在正常负荷状态的温度下长期工作,GB/T 9327—2008规定电缆导体连接处的电阻率应低于相同截面的电缆导体的电阻率。反之,若导体连接处的电阻率高于电缆导体的电阻率时,在电缆正常负荷下运行时,导体连接处的温度会更高,降低电缆载流量,严重时还会导致电缆击穿或火灾。

型式试验中通过对连接好的电缆导体和连接金具试验回路施加大电流进行热循环试验来测试和考核连接金具的电阻率,但是施工现场却没有测试方法来检验导体连接处是否合格,目前电缆导体在压接好之后一般只通过外观检查看连接处是否正常,因此,无法保证导体连接的可靠性。



技术实现要素:

为了解决背景技术存在的在施工现场无法验证电缆导体连接可靠性的问题,本实用新型提供一种检测电缆导体连接性能的装置,所述装置包括:

对比导体,其通过连接单元与待测试样品的一端串联,用于比较其与待测试样品两端电压的大小,其中,所述待测试样品是包含压接的两根导体的一部分的连接管;

电源单元,其通过连接单元与待测试样品和对比导体串联,形成测试回路,所述电源单元用于为测试回路提供低压直流电流;

电压测量单元,其分别与待测试样品和对比导体连接,用于在所述测试回路中流过低压直流电流时,分别测量待测试样品和对比导体两端的电压;

多个连接单元,其用于将待测试样品、对比导体和电源单元串联。

电源开关,其与电源单元串联,用于控制测试回路中低压直流电流的开关。

进一步地,所述对比导体两端的电压测量点之间的长度与待测试样品两端的电压测量点之间的长度相等,且所述对比导体与待测试样品的截面相同。

进一步地,所述装置还包括可调电阻,其与电源单元连接,用于调整电源单元输出的电流的值。

进一步地,所述电压测量单元采用数字式采集卡,其中,所述数字式采集卡可同步测量待测试样品和对比导体两端之间的电压。

进一步地,所述每个连接单元包括1根连接导线和2个连接金具,其中,所述连接导线的每一端与一个连接金具固定连接,所述每个连接金具分别与电源单元、待测试样品和对比导体的一端固定连接。

进一步地,所述连接导线是截面不少于25mm2的软铜线。

进一步地,所述连接金具采用软铜带加螺栓坚固的方式。

进一步地,所述软铜带宽5mm,厚5mm。

进一步地,所述软铜带和连接导线之间采用焊接方式连接。

进一步地,所述电源单元为测试回路提供的低压直流电流的范围为10A~20A。

本实用新型所述检测电缆连接导体性能的装置的检测方法如下:

将待测试样品与对比导体通过连接单元进行固定连接,将电源单元分别与待测试样品和对比导体的一端通过连接单元进行固定连接,形成测试回路;

将待测试样品与对比导体两端的电压测量点分别与电压测量单元连接;

所述电源开关闭合,电源单元为测试回路提供低压直流电流;

通过电压测量单元测量待测试样品和对比导体两端的电压;

当待测试样品两端的电压小于等于对比导体两端的电压时,由于流经测试回路的电流相同,则待测试样品的直流电阻小于等于对比导体的直流电阻,可判定待测试样品两端的电缆连接性可靠,当待测试样品两端的电压大于对比导体两端的电压时,由于流经测试回路的电流相同,则待测试样品的直流电阻大于对比导体的直流电阻,可判定待测试样品两端的电缆连接性不可靠,

测试结束后,所述电源开关打开。

在本实用新型中,本实用新型所述的装置和方法通过电源单元提供稳定的低压直流电流,并采用高精度的电压测量单元测量待测试压接好导体的连接管和对比导体两端的电压大小,可以直接判断电缆导体是否连接合格,所述装置具有搞干扰、稳定性强,测量精度高、误差小,以及装置体积小,便于携带等优点,很好地解决了现有技术中存在的无法在施工现在有效判断电缆导体连接可靠性的技术问题。

附图说明

通过参考下面的附图,可以更为完整地理解本实用新型的示例性实施方式:

图1是本实用新型具体实施方式的检测电缆导体连接性能的装置的结构图;

图2是本实用新型另一个具体实施方式的检测电缆导体连接性能的装置的结构图。

具体实施方式

现在参考附图介绍本实用新型的示例性实施方式,然而,本实用新型可以用许多不同的形式来实施,并且不局限于此处描述的实施例,提供这些实施例是为了详尽地且完全地公开本实用新型,并且向所属技术领域的技术人员充分传达本实用新型的范围。对于表示在附图中的示例性实施方式中的术语并不是对本实用新型的限定。在附图中,相同的单元/元件使用相同的附图标记。

除非另有说明,此处使用的术语(包括科技术语)对所属技术领域的技术人员具有通常的理解含义。另外,可以理解的是,以通常使用的词典限定的术语,应当被理解为与其相关领域的语境具有一致的含义,而不应该被理解为理想化的或过于正式的意义。

图1是本实用新型具体实施方式的检测电缆导体连接性能的装置的结构图。如图1所示,本实用新型所述的检测电缆导体连接性能的装置100包括:

对比导体101,其一端C1通过连接单元105与待测试样品102的一端B1串联,其中,所述待测试样品102是包含压接的两根导体的一部分的连接管;

电源单元103,其通过连接单元105分别与待测试样品102的一端A1和对比导体101的一端D1串联,形成测试回路,所述电源单元103用于为测试回路提供低压直流电流,在本实施例中,通过恒流源模块提供试验电流;

电压测量单元104,其分别与待测试样品102的两端A、B和对比导体101的两端C、D连接,用于在所述测试回路中流过低压直流电流时,分别测量待测试样品102两端的电压UAB和对比导体101两端的电压UCD;

多个连接单元105,其用于将待测试样品102、对比导体101和电源单元103串联,

电源开关106,其与电源单元103串联,用于控制测试回路中低压直流电流的开关。

优选地,所述对比导体两端的电压测量点C、D之间的长度LCD与待测试样品两端的电压测量点A、B之间的长度LAB相等,且所述对比导体与待测试样品的截面相同。

优选地,所述装置还包括可调电阻107,其与电源单元103连接,用于调整电源单元103输出的电流的值。

图2是本实用新型另一个具体实施方式的检测电缆导体连接性能的装置的结构图。如图2所示,在本实施方式中,所述电源单元103与可调电阻107连接后再分别与待测试样品102的一端A1和对比导体101的一端D1串联,以用于调整电源单元输出的电流的值。

优选地,所述电压测量单元104采用数字式采集卡,其中,所述数字式采集卡可同步测量待测试样品和对比导体两端之间的电压。

优选地,所述每个连接单元105包括1根连接导线和2个连接金具,其中,所述连接导线的每一端与一个连接金具固定连接,所述每个连接金具分别与电源单元、待测试样品和对比导体的一端固定连接。

优选地,所述连接导线是截面不少于25mm2的软铜线。

优选地,所述连接金具采用软铜带加螺栓坚固的方式。

优选地,所述软铜带宽5mm,厚5mm。

优选地,所述软铜带和连接导线之间采用焊接方式连接。

优选地,所述电源单元为测试回路提供的低压直流电流的大小可通过可调电阻进行调节。

优选地,所述电源单元为测试回路提供的低压直流电流的范围为10A~20A。

通常地,在权利要求中使用的所有术语都根据他们在技术领域的通常含义被解释,除非在其中被另外明确地定义。所有的参考“一个/所述/该【装置、组件等】”都被开放地解释为所述装置、组件等中的至少一个实例,除非另外明确地说明。这里公开的任何方法的步骤都没必要以公开的准确的顺序运行,除非明确地说明。

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