一种晶片电阻率检测装置的制作方法

本实用新型涉及电阻率检测技术领域，尤其涉及一种晶片电阻率检测装置。

背景技术：

晶片是LED最主要的原物料之一，是LED的发光部件，LED最核心的部分，晶片的好坏将直接决定LED的性能，晶片是由是由Ⅲ和Ⅴ族复合半导体物质构成，在晶片出厂之前都要进行电阻率检测，目前的检测都是通过检测装置直接在外界环境下检测，未考虑到空气湿度、温度、空气杂质对电阻率的影响，因此检测结果具有一定的局限性，为此，我们提出一种晶片电阻率检测装置来解决上述问题。

技术实现要素：

本实用新型的目的是为了解决现有技术中目前的检测都是通过检测装置直接在外界环境下检测，未考虑到空气湿度、温度、空气杂质对电阻率的影响，因此检测结果具有一定的局限性问题，而提出的一种晶片电阻率检测装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种晶片电阻率检测装置，包括壳体，所述壳体的内壁通过第一转动件转动连接有横向设置的第一螺纹杆，且第一螺纹杆贯穿壳体的一侧侧壁设置，所述第一螺纹杆的侧壁套设有两个第一斜齿轮，所述壳体的上端内壁通过第二转动件转动连接有两个竖直设有第二螺纹杆，且两个第二螺纹杆分别位于第一斜齿轮的上方，两个所述第二螺纹杆远离第二转动件的一端均设有与第一斜齿轮匹配的第二斜齿轮，两个所述第二螺纹杆的侧壁均套设有与其匹配的螺母，两个所述螺母之间设有检测台，所述壳体的上端侧壁设有与检测台匹配的开口，所述壳体的上端侧壁还设有两个滑槽，且两个滑槽分别位于开口的两侧，两个所述滑槽均通过滑块滑动连接有封闭板，且两个封闭板位于开口的上方，所述壳体的一侧内壁设有温度控制器，所述壳体的另一侧内壁真空泵，且真空泵贯穿壳体的侧壁设置。

优选的，所述第一螺纹杆贯穿壳体处套设有密封圈。

优选的，所述第一螺纹杆为中空结构，所述第一螺纹杆中设有两个平行设置的拨片，且拨片贯穿第一螺纹杆的一端侧壁设置，两个所述拨片之间通过预设数量的弹簧连接，两个所述拨片远离弹簧的一侧侧壁均设有预设数量的卡杆，且卡杆贯穿第一螺纹杆的侧壁设置，所述壳体的侧壁设有预设数量的与卡杆匹配的卡槽。

优选的，所述第一螺纹杆上包裹有海绵保护套。

优选的，两个所述第一斜齿轮在第一螺纹杆上同向设置。

本实用新型通过将检测台收入壳体中，并将壳体密封起来，使检测台与外界环境隔绝，降低了外界因素对晶片电阻率的影响，提高检测的准确性。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种晶片电阻率检测装置的结构示意图；

图2为图1中A处的结构示意图。

图中：1壳体、2第一转动件、3第一螺纹杆、4第一斜齿轮、5第二转动件、6第二螺纹杆、7第二斜齿轮、8螺母、9检测台、10开口、11滑槽、12滑块、13封闭板、14温度控制器、15真空泵、16拨片、17弹簧、18卡杆、19卡槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

参照图1-2，一种晶片电阻率检测装置，包括壳体1，壳体1的内壁通过第一转动件2转动连接有横向设置的第一螺纹杆3，第一螺纹杆3为中空结构，第一螺纹杆3中设有两个平行设置的拨片16，且拨片16贯穿第一螺纹杆3的一端侧壁设置，两个拨片16之间通过预设数量的弹簧17连接，两个拨片16远离弹簧17的一侧侧壁均设有预设数量的卡杆18，且卡杆18贯穿第一螺纹杆3的侧壁设置，壳体1的侧壁设有预设数量的与卡杆18匹配的卡槽19，此结构可防止第一螺纹杆3自行转动从而造成检测台9在第二螺纹杆6上上下晃动，因此每次转动第一螺纹杆3前，先拨动拨片16，使两个拨片16相互靠近，拨片16之间的弹簧17被压缩，卡杆18与卡槽19分离并缩进第一螺纹杆3中，第一螺纹杆3可以转动，当松开拨片16后，弹簧17的弹力将卡杆18弹进卡槽19中，第一螺纹杆3被固定住，第一螺纹杆3上包裹有海绵保护套，防止转动时手部擦伤，第一螺纹杆3贯穿壳体1处套设有密封圈，防止外界的空气透过贯穿处的缝隙进入到壳体1中，且第一螺纹杆3贯穿壳体1的一侧侧壁设置，第一螺纹杆3的侧壁套设有两个第一斜齿轮4，两个第一斜齿轮4在第一螺纹杆3上同向设置，为了使两个第二螺纹杆6的转动方向相同，从而使螺母8带动检测台9上下移动，壳体1的上端内壁通过第二转动件5转动连接有两个竖直设有第二螺纹杆6，且两个第二螺纹杆6分别位于第一斜齿轮4的上方，两个第二螺纹杆6远离第二转动件5的一端均设有与第一斜齿轮4匹配的第二斜齿轮7，两个第二螺纹杆6的侧壁均套设有与其匹配的螺母8，两个螺母8之间设有检测台9，壳体1的上端侧壁设有与检测台9匹配的开口10，壳体1的上端侧壁还设有两个滑槽11，且两个滑槽11分别位于开口10的两侧，两个滑槽11均通过滑块12滑动连接有封闭板13，且两个封闭板13位于开口10的上方，壳体1的一侧内壁设有温度控制器14，壳体1的另一侧内壁真空泵15，且真空泵15贯穿壳体1的侧壁设置。

本实用新型工作时，先将晶片放在检测台9上，然后转动第一螺纹杆3，第一螺纹杆3带动第一斜齿轮4转动，第一斜齿轮4带动第二斜齿轮7转动，第二斜齿轮7带动第二螺纹杆6转动，由于第二螺纹杆6上的两个螺母8与检测台9连接，因此螺母8可以在第二螺纹杆6上移动，从而带动检测台9上下移动，当检测台9移动到壳体1中后，将两个封闭板13合上，然后温度控制器14开始控制壳体1中的温度，真空泵15在壳体1内部建立一个接近真空的环境，这样在检测台9对晶片进行电阻率检测的时候，受到的干扰因素就减少了，检测的结果更精确。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。