一种检测粒子纱上粒子脱落率的装置的制作方法

本实用新型属于纱线检测领域，具体涉及一种检测粒子纱上粒子脱落率的装置。

背景技术：

粒子纱以其新颖的纱线结构、立体的外观效果，迎合了人们追求时尚、个性的着装心理。由于纺纱工艺不同，不同粒子纱中的粒子在纱线上的结合力也有差异，在织造过程中粒子会产生脱落现象，粒子脱落的数量会直接影响最终成品的外观效果。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种检测粒子纱上粒子脱落率的装置，用于检测粒子纱上的粒子脱落率，以保证粒子面料的外观效果稳定。

本实用新型的目的通过如下技术方案实现。

一种检测粒子纱上粒子脱落率的装置，由底座、卷绕部分、摩擦部分以及控制部分组成；

所述卷绕部分以及摩擦部分均在底座上；

所述卷绕部分包括第一摇纱框和第二摇纱框；所述第一摇纱框与第二摇纱框分别设在底座的两端；

所述摩擦部分，由第一摇纱框至第二摇纱框的方向，依次包括第一导纱孔、第二导纱孔、第一导纱杆、第三导纱孔、第二导纱杆、第四导纱孔、第三导纱杆以及第五导纱孔；

所述第一导纱杆和第三导纱杆上均设有张力控制装置，用于控制粒子纱的摩擦张力；

所述第二导纱杆上装有弧形的导纱瓷管，用于对粒子纱进行摩擦；

所述控制部分包括两套独立的数显可控设备，分别控制卷绕部分的第一摇纱框和第二摇纱框的转向、转数以及转速。

进一步地，所述第二导纱孔、第一导纱杆、第三导纱孔、第二导纱杆、第四导纱孔、第三导纱杆以及第五导纱孔设置在第一摇纱框与第二摇纱框之间；所述第一导纱孔设置在第一摇纱框远离第二摇纱框的一侧。

进一步地，所述张力控制装置为垫圈加压式张力装置，通过增加或减少张力垫圈来调节加压重量，控制粒子纱的张力变大或减小，从而调节粒子纱的摩擦张力，粒子纱越细，张力垫圈的加压重量越轻。

进一步地，所述装置在操作时，先将粒子纱由筒子上退绕，经第一导纱孔卷绕到第一摇纱框，然后依次穿过第二导纱孔、第一导纱杆上的张力控制装置、第三导纱孔、第二导纱杆上的导纱瓷管、第四导纱孔、第三导纱杆上的张力控制装置以及第五导纱孔，最终固定到第二摇纱框上；

启动数显可控设备控制第二摇纱框旋转，牵引粒子纱依次经过第一导纱孔、第二导纱孔、第一导纱杆上的张力控制装置、第三导纱孔、第二导纱杆上的导纱瓷管、第四导纱孔、第三导纱杆上的张力控制装置以及第五导纱孔的摩擦，缠绕到第二摇纱框上，达到设计的测试圈数时停止转动，将绞纱取下，称重；

然后再将取下的绞纱放回第二摇纱框上，启动数显可控设备控制第一摇纱框沿与第二摇纱框转向相反的方向旋转，将绞纱经过摩擦后缠绕到第一摇纱框上，将绞纱取下称重；

反复将粒子纱循环来回缠绕在第二摇纱框和第一摇纱框上，直到同一来回中，在两个摇纱框上取下的绞纱测试重量差异不超过3%为止。

与现有技术相比，本实用新型具有如下优点和有益效果：

本实用新型装置结构简单、操作简便，工作稳定，能够对粒子纱上的粒子脱落率进行测量，以保证粒子面料的外观效果稳定。

附图说明

图1为本实用新型装置具体检测粒子纱上的粒子脱落率的测试示意图。

具体实施方式

以下结合具体实施例及附图对本实用新型的技术方案作进一步的详细说明，但本实用新型的保护和实施范围不限于此。

具体实施方式中，本实用新型装置具体检测粒子纱上的粒子脱落率的测试示意图如图1所示，装置由底座13、卷绕部分、摩擦部分以及控制部分组成；

卷绕部分以及摩擦部分均在底座13上；底座13为木板，长、宽、高规格分别150cm、40cm、2cm；

卷绕部分包括第一摇纱框4和第二摇纱框12；第一摇纱框4与第二摇纱框12分别设在底座13的两端；第一摇纱框4和第二摇纱框12的外周长均为1m，两个摇纱框的中心距为97cm，第一摇纱框4和第二摇纱框12的中心与底座13的距离均为26.5cm；

由第一摇纱框4至第二摇纱框12的方向，摩擦部分依次包括第一导纱孔3、第二导纱孔5、第一导纱杆6、第三导纱孔7、第二导纱杆8、第四导纱孔9、第三导纱杆10以及第五导纱孔11；

第二导纱孔5、第一导纱杆6、第三导纱孔7、第二导纱杆8、第四导纱孔9、第三导纱杆10以及第五导纱孔11设置在第一摇纱框4与第二摇纱框12之间；第一导纱孔3与第二导纱孔5、第一导纱杆6、第三导纱孔7、第二导纱杆8、第四导纱孔9、第三导纱杆10以及第五导纱孔11之间的距离分别为43cm、50cm、59cm、70cm、81cm、90cm、97cm；第一导纱孔3、第二导纱孔5、第一导纱杆6、第三导纱孔7、第二导纱杆8、第四导纱孔9、第三导纱杆10以及第五导纱孔11距离底座13的高度分别为40cm、18cm、10cm、12cm、14cm、12cm、10cm、18cm；

第一导纱孔3设置在第一摇纱框4远离第二摇纱框12的一侧，与底座13左侧的距离为5cm；

第一导纱杆6和第三导纱杆10上均设有垫圈加压式张力装置，用于控制粒子纱的摩擦张力，通过增加或减少张力垫圈来调节加压重量，控制粒子纱的张力变大或减小，从而调节粒子纱的摩擦张力，粒子纱越细，张力垫圈的加压重量越轻；

第二导纱杆8上装有圆弧形的导纱瓷管14，用于对粒子纱进行摩擦，导纱瓷管14的内径厚度为0.4cm，导纱瓷管14的圆弧角为30°，导纱瓷管14的圆弧内半径为1.3cm，导纱瓷管14的内外壁厚度为0.15cm；

控制部分包括两套独立的数显可控设备，分别控制卷绕部分的第一摇纱框4和第二摇纱框12的转向、转数以及转速；数显可控设备包括电机、计数器以及显示器。

实施例1

采用上述图1所示的装置检测粒子纱上的粒子脱落率，包括如下步骤：

（1）先将20.82tex的粒子纱2由锭座1上的筒子上退绕，经第一导纱孔3卷绕到第一摇纱框4，然后依次穿过第二导纱孔5、第一导纱杆6上的张力装置、第三导纱孔7、第二导纱杆8上的导纱瓷管14、第四导纱孔9、第三导纱杆10上的张力装置以及第五导纱孔11，最终固定到第二摇纱框12上，张力圈的重量为9g；

（2）启动数显可控设备控制第二摇纱框12向右旋转，牵引粒子纱依次经过第一导纱孔3、第二导纱孔5、第一导纱杆6上的张力装置、第三导纱孔7、第二导纱杆8上的导纱瓷管14、第四导纱孔9、第三导纱杆10上的张力装置以及第五导纱孔11的摩擦，缠绕到第二摇纱框12上，达到设计的测试圈数100圈时停止转动，将绞纱取下，称重；

（3）然后再将取下的绞纱放回第二摇纱框12上，启动数显可控设备控制第一摇纱框4向左旋转，将绞纱经过摩擦后缠绕到第一摇纱框4上，将绞纱取下称重；

（4）反复将粒子纱循环来回缠绕在第二摇纱框和第一摇纱框上，直到同一来回中，在两个摇纱框上取下的绞纱测试重量差异不超过3%为止。

以上所述仅为本实用新型示意性的具体实施方式，并非用以限定本实用新型的范围。任何本领域的技术人员，在不脱离本实用新型的构思和原则的前提下所作出的等同变化与修改，均应属于本实用新型保护的范围。