一种多点同步测量方法和测量系统、以及存储介质与流程

本发明实施例涉及电路板加工设备领域，尤其涉及一种多点同步测量方法和测量系统、以及存储介质。

背景技术：

在工业生产过程中，pcb板(printedcircuitboard，印制电路板)通常采用机械钻孔机进行打孔加工操作。

发明人在研究本申请的过程中发现，在生产过程中，六轴的pcb机械钻孔机做点位运动，此时，工作台的定位精度直接影响钻孔精度。由于在实际情况下，工作台的刚度不可能无穷大、工作台两侧不完全对称、导轨安装有偏差、电机推动力不在绝对中心等原因，导致工作台的各个部位的定位精度的不一致。反应到整机精度上时，即为多个轴的加工精度会各不相同，导致工作台两侧定位精度具有较大的偏差，所以在设备研发和验证阶段必须准确把握工作台不同位置点的定位精度情况。因此，如何实现加工设备的工作台多个部位的精度测试，取得准确直观的测试结果，成为亟待解决的问题。

技术实现要素：

本发明的实施例所要解决的技术问题是，实现加工设备的工作台多个部位的精度测试，取得准确直观的测试结果。

为了解决上述技术问题，本发明实施例采用了以下的技术方案：

一方面，一种多点同步测量方法，包括：

控制待测试设备按照预定测试间距的一个或者多个测试点进行移动，控制一个或多个激光头组件发出一束或者多束激光束，使得每束激光束分割为两束次级激光束，其中一束次级激光束照射在待测试设备上，另一束次级激光束返回激光头组件内；

采集照射在测试设备上返回的一束或者多束激光束，根据待测试设备返回的激光束和分割出来的另一束次级激光束得出待测试设备上各个反射点的位移值；

根据待测试设备在一个或者多个测试点移动得到的一个或者多个位移值，并得出数据曲线。

在本发明的一个或者多个实施例中，每个激光头组件发出激光束后，将激光束分割为相同强度的两束次级激光束。

在本发明的一个或者多个实施例中，通过干涉原理比较每束待测试设备反射的激光束和分割出来的另一束次级激光束，换算得出待测试设备在当前测试点上各个反射点所移动的位移值。

在本发明的一个或者多个实施例中，所述控制一个或多个激光头组件发出一束或者多束激光束，具体为：分别在待测试设备前方分别设置有三个激光头组件，且所述激光头组件分别固定在待测试设备的两端和中部的前方，并使得每个激光头组件在同一时刻被触发，统一进行被反射的激光束的采集。

在本发明的一个或者多个实施例中，通过待测试设备的两端和中部的反射的激光束，得到待测试设备左端对应的第一位移值、待测试设备右端对应的第二位移值、以及待测试设备中部对应的第三位移值；

另一方面，一种测量系统，用于实现所述的多点同步测量方法，包括：一个或多个激光头组件、一个或多个分光组件、一个或多个反光组件、触发器和处理器；

所述处理器控制待测试设备按照预定测试间距的一个或者多个测试点进行移动，并控制一个或多个激光头组件发出一束或者多束激光束，一个或多个分光组件使得每束激光束分割为两束次级激光束，其中一束次级激光束照射在待测试设备上，另一束次级激光束返回激光头组件内；

一个或多个激光头组件采集照射在测试设备上返回的一束或者多束待测试设备反射的激光束，并根据待测试设备返回的激光束和分割出来的另一束次级激光束得出待测试设备上各个反射点的位移值；

所述处理器根据待测试设备在一个或者多个测试点移动得到的一个或者多个位移值，并得出数据曲线。

在本发明的一个或者多个实施例中，每个激光头组件发出激光束后，分光组件将激光束分割为相同强度的两束次级激光束。

在本发明的一个或者多个实施例中，所述激光头组件通过干涉原理比较每束待测试设备反射的激光束和分割出来的另一束次级激光束，换算得出待测试设备在当前测试点上各个反射点所移动的位移值。

在本发明的一个或者多个实施例中，分别在待测试设备前方分别设置有三个激光头组件，且所述激光头组件分别固定在待测试设备的两端和中部的前方，并使得每个激光头组件在同一时刻被触发，统一进行被反射的激光束的采集；

通过待测试设备的两端和中部的反射的激光束，得到待测试设备左端对应的第一位移值、待测试设备右端对应的第二位移值、以及待测试设备中部对应的第三位移值。

另一方面，一种存储介质，所述存储介质中存储有指令，所述指令被处理器执行时使得所述处理器执行所述多点同步测量方法。

与现有技术相比，本发明实施例具有以下有益效果：

本发明实施例所述的多点同步测量方法包括：控制待测试设备按照预定测试间距的一个或者多个测试点进行移动，控制一个或多个激光头组件发出一束或者多束激光束，使得每束激光束分割为两束次级激光束，其中一束次级激光束照射在待测试设备上，另一束次级激光束返回激光头组件内；采集照射在测试设备上返回的一束或者多束激光束，根据待测试设备返回的激光束和分割出来的另一束次级激光束得出待测试设备上各个反射点的位移值；根据待测试设备在一个或者多个测试点移动得到的一个或者多个位移值，并得出数据曲线。通过调试待测试设备进行在测试点内的移动，并通过一个或多个激光头组件进行测试的方式，实现待测试设备在预定数量的测试点上进行移动并测试，从而得出待测试设备上多个部位的位移值，从而直观的获得待测试设备的状态。综上所述，本发明实施例所述的多点同步测量方法实现加工设备的工作台多个部位的精度测试，取得准确直观的测试结果，提高了设备的测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明的实施例的技术方案，下面将对各实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本发明实施例中多点同步测量方法的示意图；

图2为本发明实施例中测量系统的安装示意图；

图3为本发明实施例中测量系统的示意图；

图4为本发明实施例中触发器的示意图。

附图标记说明：100-激光头组件、200-分光组件、300-反光组件、400-触发器、500-处理器。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反的，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本申请的权利要求书、说明书以及说明书附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。

实施例一：

参考图1，为本发明实施例中多点同步测量方法的示意图。本发明实施例中多点同步测量方法，包括：

步骤101：控制待测试设备按照预定测试间距的一个或者多个测试点进行移动，控制一个或多个激光头组件发出一束或者多束激光束，使得每束激光束分割为两束次级激光束，其中一束次级激光束照射在待测试设备上，另一束次级激光束返回激光头组件内。

步骤102：采集照射在测试设备上返回的一束或者多束待测试设备反射的激光束，根据待测试设备返回的激光束和分割出来的另一束次级激光束得出待测试设备上各个反射点的位移值。

步骤103：根据待测试设备在一个或者多个测试点移动得到的一个或者多个位移值，并得出数据曲线。其中，进一步，根据所述一个或者多个位移值，相应换算得出待测试设备在当前测试点的两端的位移差值。

在本发明实施例中，每个激光头组件发出激光束后，将激光束分割为相同强度的两束次级激光束。分割为相同强度的两束次级激光束，有利于进行分裂后两束次级激光束的对比。

在本发明实施例中，通过干涉原理比较每束待测试设备反射的激光束和分割出来的另一束次级激光束，换算得出待测试设备在当前测试点上各个反射点所移动的位移值。即是：在待测试设备进行预设的测试点的移动时，在移动一个测试点后，进行待测试设备的测试。待测试设备在该测试点停止移动，通过激光头组件发射分割后的其中一束次级激光束在待测试设备上，待测试设备对所述次级激光束进行反射。此时，当前反射激光束的反射点移动的位移值，即是反射的激光束和与其匹配的分割出来的另一束返回激光头组件的次级激光束进行对比换算得到的位移值。

在本发明实施例中，所述控制一个或多个激光头组件发出一束或者多束激光束，具体为：分别在待测试设备前方分别设置有三个激光头组件，且所述激光头组件分别固定在待测试设备的两端和中部的前方，并使得每个激光头组件在同一时刻被触发，统一进行被反射的激光束的采集。

在本发明实施例中，通过待测试设备的两端和中部的反射的激光束，得到待测试设备左端对应的第一位移值、待测试设备右端对应的第二位移值、以及待测试设备中部对应的第三位移值。其中，在本发明实施例中可选的采用两端的位移值和中部的位移值得到两端的位移差值。由于采用的待测试设备为驱动电机位于设备中部的加工设备，因此，以驱动电机位于中部对应采取第三位移值为基准值，通过第一位移值减去第三位移值得到左端位移差值的矢量值、第二位移值减去第三位移值得到右端位移差值的矢量值。通过左端位移差值加上或者减去右端位移差值的方式得到两端的位移差值。即是，在得出数据曲线中，存在待测试设备在一个或者多个测试点上移动时采集的一个或者多个部位的位移值，并通过得到的一个或者多个部位的位移值进一步换算在数据曲线中标识设备两端的位移差值的变化，方便测试人员对设备性能的把控。

本发明的实施例所述的多点同步测量方法，主要有以下技术效果：

本发明的实施例所述的多点同步测量方法包括：控制待测试设备按照预定测试间距的一个或者多个测试点进行移动，控制一个或多个激光头组件发出一束或者多束激光束，使得每束激光束分割为两束次级激光束，其中一束次级激光束照射在待测试设备上，另一束次级激光束返回激光头组件内；采集照射在测试设备上返回的一束或者多束激光束，根据待测试设备返回的激光束和分割出来的另一束次级激光束得出待测试设备上各个反射点的位移值；根据待测试设备在一个或者多个测试点移动得到的一个或者多个位移值，并得出数据曲线。通过调试待测试设备进行在测试点内的移动，并通过一个或多个激光头组件进行测试的方式，实现待测试设备在预定数量的测试点上进行移动并测试，从而得出待测试设备上多个部位的位移值，从而直观的获得待测试设备的状态。综上所述，本发明实施例所述的多点同步测量方法实现加工设备的工作台多个部位的精度测试，取得准确直观的测试结果，提高了设备的测试效率。

实施例二：

参考图2、图3和图4。在本发明实施例中所述的测量系统，用于实现所述的多点同步测量方法，包括：用于发出激光束的一个或多个激光头组件100、用于对激光束进行分割的一个或多个分光组件200、用于反射激光束的一个或多个反光组件300、用于触发一个或者多个激光头组件100的触发器400和用于读取激光头组件100内的数据的处理器500。通过触发器400完成一个或多个激光头组件100的触发，并使用处理器500采集一个或多个激光头组件100的数据，并进行数据的统计。

所述处理器500控制待测试设备按照预定测试间距的一个或者多个测试点进行移动，并控制一个或多个激光头组件100发出一束或者多束激光束，一个或多个分光组件200使得每束激光束分割为两束次级激光束，其中一束次级激光束照射在待测试设备上，另一束次级激光束返回激光头组件内。一个或多个激光头组件100采集照射在测试设备上返回的一束或者多束待测试设备反射的激光束，并根据待测试设备返回的激光束和分割出来的另一束次级激光束得出待测试设备上各个反射点的位移值。所述处理器500根据待测试设备在一个或者多个测试点移动得到的一个或者多个位移值，并得出数据曲线。

在本发明的一些实施例中，每个激光头组件100发出激光束后，分光组件200将激光束分割为相同强度的两束次级激光束，使得其中一束次级激光束垂直照射在待测试设备上，另一束次级激光束返回激光头组件100内。分割为相同强度的两束次级激光束，有利于进行分裂后两束次级激光束的对比。

在本发明的一些实施例中，所述激光头组件100通过比较每束待测试设备反射的激光束和分割出来的另一束次级激光束的强度，换算得出待测试设备在当前测试点上各个反射点所移动的位移值。即是：在待测试设备进行预设的测试点的移动时，在移动一个测试点后，进行测试点的测试。待测试设备在该测试点停止移动，通过激光头组件100发射分割的其中一束次级激光束在待测试设备上，待测试设备对所述次级激光束进行反射。此时，当前反射激光的反射点移动的位移值，即为反射的激光束和另一束返回激光头组件100的激光束进行对比换算得到的位移值。

在本发明的一些实施例中，优选的分别在待测试设备前方分别设置有三个激光头组件100，且所述激光头组件100分别固定在待测试设备的两端和中部的前方，并使得每个激光头组件100在同一时刻被触发，统一进行被反射的激光束的采集。通过待测试设备的两端和中部的反射的激光束，得到待测试设备左端对应的第一位移值、待测试设备右端对应的第二位移值、以及待测试设备中部对应的第三位移值。其中，在本发明实施例中可选的采用两端的位移值和中部的位移值得到两端的位移差值。由于采用的待测试设备为驱动电机位于设备中部的加工设备，因此，以驱动电机位于中部对应采取第三位移值为基准值，通过第一位移值减去第三位移值得到左端位移差值的矢量值、第二位移值减去第三位移值得到右端位移差值的矢量值。通过左端位移差值加上或者减去右端位移差值的方式得到两端的位移差值。即是，在得出数据曲线中，存在待测试设备在一个或者多个测试点上移动时采集的一个或者多个部位的位移值，并且通过得到的一个或者多个部位的位移值进一步换算在数据曲线中标识设备两端的位移差值的变化，方便测试人员对设备性能的把控。

在本发明的可选实施例中，在待测试设备中部设置激光头组件100以及和其配套使用的分光组件200和反光组件300，并在所述中部设置的激光头组件100两侧设置多组配套的激光头组件100，且两侧设置的激光头组件100数量相等。

在本发明的一些实施例中，所述触发器400包括：二极管d1、二极管d2、二极管d3、二极管d4、二极管d5、二极管d6、电阻r2、电阻r1和开关s1。其中，所述开关s1的一端接地，并连接所述二极管d2的负极。所述二极管d2的正极与所述电阻r2串联后连接所述电阻r1，且所述电阻r2和所述电阻r1的一端连接端处接入电源。所述电阻r1的另一端上连接有所述二极管d3的正极。所述二极管d3、所述二极管d4、所述二极管d5和所述二极管d6串联。所述二极管d6的负极与所述二极管d1的正极相连，所述二极管d1的负极与所述开关s1的另一端相连。其中，在待测试设备在测试中，要求在测试过程中的数据精确的前提下，本发明优选采取触发器400的方式进行多个激光头组件100的触发工作，从而可以快速的进行多个激光头组件100的控制，有利于对多个激光头组件100同时触发，增加测试的精确性。

本发明实施例中所述的测量系统的工作原理如下：

将本发明实施例中所述多个激光头组件装设在待测试机器的前方，并与之对应装设所述多个分光组件于工作台上或者位于工作台与所述多个激光头组件之间。并使得所述多个反光组件装设在待测试设备的活动部件上。在测试过程中，保持激光头组件处于发射激光束，才去分光组件将激光束分割为两束次级激光束，其中一束次级激光束垂直照射在待测试设备上，另一束按照原光路返回至激光头组件内。其中，将所述触发器和所述处理器分别连接所述多个激光头组件。当所述多个激光头组件受到所述触发器的触发时，进行对反射的激光束进行采集。当激光头组件收到照射在待测试设备上返回的激光束时，通过干涉原理进行两束激光束的比对，换算为待测试设备移动的位移值。处理器通过采集所述多个激光头组件内的数值，将数值记录。可选的，以待测试设备中的驱动电机所在的激光头组件的取值为基准值，通过两端激光头组件内的位移值的相加或者相减的方式，得到位移差值。

本发明的实施例所述的测量系统，主要有以下技术效果：

本发明的实施例所述的测量系统包括：用于发出激光束的一个或多个激光头组件100、用于对激光束进行分割的一个或多个分光组件200、用于反射激光束的一个或多个反光组件300、用于触发一个或者多个激光头组件100的触发器400和用于读取激光头组件100内的数据的处理器500。通过触发器400完成一个或多个激光头组件100的触发，并使用处理器500采集一个或多个激光头组件100的数据，并进行数据的统计。所述处理器500控制待测试设备按照预定测试间距的一个或者多个测试点进行移动，并控制一个或多个激光头组件100发出一束或者多束激光束，一个或多个分光组件200使得每束激光束分割为两束次级激光束，其中一束次级激光束照射在待测试设备上，另一束次级激光束返回激光头组件内。一个或多个激光头组件100采集照射在测试设备上返回的一束或者多束待测试设备反射的激光束，并根据待测试设备返回的激光束和分割出来的另一束次级激光束得出待测试设备上各个反射点的位移值。所述处理器500根据待测试设备在一个或者多个测试点移动得到的一个或者多个位移值，并得出数据曲线。通过调试待测试设备进行在测试点内的移动，并通过一个或多个激光头组件进行测试的方式，实现待测试设备在预定数量的测试点上进行移动并测试，从而得出待测试设备上多个部位的位移值，从而直观的获得待测试设备的状态。综上所述，本发明实施例所述的多点同步测量方法和测量系统、以及存储介质实现加工设备的工作台多个部位的精度测试，取得准确直观的测试结果，提高了设备的测试效率。

实施例三：

一种存储介质，所述存储介质中存储有指令，所述指令被处理器执行时使得所述处理器执行本发明实施例中的方法实施例所述的多点同步测量方法。

最后应说明的是：上述实施例为本发明较佳的实施方式，但本发明的实施方式并不受上述实施例的限制，其他的任何未背离本发明的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本发明的保护范围之内。