一种用于化学发光免疫分析仪的时序控制方法与系统与流程

本发明属于生命科学和临床诊断仪器技术领域，特别涉及一种用于化学发光免疫分析仪的时序控制方法与系统。

背景技术：

体液的体外诊断分析仪器，例如全自动生化免疫分析仪、血液细胞分析仪和流式细胞分析仪等，在临床用户的日常应用中常会遇到大量样品的测试，如传染性疾病、甲状腺功能、性激素、优生优育、肿瘤标准物等检测项目，单台仪器日均的检测量能达到数百管样品。对临床用户而言，提高仪器自动化、智能化，降低对操作人员时间的占用，是仪器重要的核心亮点。如何提高仪器的检测速度(通常采用120测试/小时上下)，并减少不同动作间的冲突、保障并行结构各自执行的准确性，成为仪器设计的关键。

全自动化学发光免疫分析仪内部的硬件电子控制单元达70个以上，包括多个旋转电机，垂直电机，位置感应器，液体泵，分配阀，光子计数器等等，涉及样品臂、试剂臂、进管臂、移管臂等多个核心执行机构，以及进管盘孔位、样品盘孔位、试剂盘孔位、反应盘孔位、清洗盘孔位、检测盘孔位、样品清洗池、试剂清洗池、进管臂混匀机构和移管臂混匀机构等10多个主要移动位置。

如申请号为201110243705.2的中国专利所述，通常每一项测试的工作流程，是依次执行以下步骤：1进管手进行抓取反应管、2样品臂加样品、2试剂臂加试剂、3进管臂混匀机构混匀、4反应盘进行孵育、5试剂臂加磁珠、6移管臂混匀机构混匀、7反应盘进行孵育、8移管臂抓取反应管到清洗盘、9清洗盘执行四次清洗、10移管臂抓取反应管到检测盘(一步法)、11检测盘加底物混匀、12读出光信号结果，整个流程约30至50分钟。同时根据反应方法的不同，还需执行不同的操作，如两步法在10步骤前还需再执行一遍2、3、4、8和9步骤；而且不同配套试剂的反应流程还各不相同，如不同加液量、不同的孵育时间等。因此如何通过并行处理和合理的时序控制，在流程内优化时序执行序列，并兼容不同的反应需求，是提升检测速度的关键。

在此专业领域，前人已进行了一些探索，例如专利申请号为201620083122.6的中国专利，提出并公开了一种内外双层盘装置，增加了反应管的装载、运输和孵育数量；如专利申请号为201110005816.X的中国专利，提供了一种全自动生化免疫分析仪以及具体的系统框架，但不涉及流程控制。再如专利申请号为201110452335.3的中国专利，提出了用于全自动生化免疫分析仪的孵育部装置及其控制方法，公开了包含上下两个圆盘和一个主轴的方案。该方案结构简便，还公开了孵育部装置控制方法，提出了对载杯盘和定位盘的转动进行控制，实现了到达磁性清洗分离区域的检测项目恰好完成孵育反应，而开始进行孵育反应的反应杯绝对位置是计算得到的某一固定位置。该专利提出了按固定时间节拍对运行进行控制的方法，但只涉及孵育部装置(即上述4步骤)的控制方法，并未提出全自动化学发光免疫分析仪整体的时序控制方案，仍有很大的改进空间。

同时，已有的轨道式化学发光免疫分析仪的机械结构和时序控制方法，限制了每个模块每个周期都只能完成一部分动作，导致仪器通量的下降，并且随着试剂流程的配置多样性，很难保证每个测试的反应时间准确性，存在超周期的现象。单个反应盘与混匀结构也存在资源占用冲突、周期冲突，且与反应盘关联的动作有加试剂、加样本、加磁珠、进管臂混匀取管、进管臂进管、移管臂取管到清洗盘、移管臂从清洗盘取管放回反应盘等系列动作，也存在时序冲突的难题。

总之，在化学发光免疫分析仪中通过合理的硬件系统布局，并对硬件层进行系统性的、完整的时序控制方法设计，实现底层不同执行机构间的并行控制、无缝衔接和异常处理等功能要求，同时满足临床检验的快速准确、结果可靠的原则，是仪器设计的核心点。

技术实现要素：

本发明着力于解决化学发光免疫分析仪等临床仪器中，针对不同测试项目的需求，自动化进行各自的时序流程控制，将整体的工作流程分解、在统一周期内按最优时序流程进行精确控制，避免流程冲突和延迟，保障结果稳定可靠、提升测试速度。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：一种用于化学发光免疫分析仪的时序控制系统，包括进管模块、检测模块、样品模块、试剂模块、反应盘模块、移管模块、清洗盘模块和液路控制模块；

其中，进管模块包括试管架、进管架电机、抓手、进管臂导轨、进管臂电机和进管混匀机构；

检测模块包括检测盘旋转电机、具有孔位的检测盘、检测盘混匀机构、检测盘弃管机构、PMT读数器和底物泵；

样品模块包括样品盘机构与电机、样品臂垂直电机、样品臂水平旋转电机、样品盘上的样品架、加样臂清洗池、带样品针的样品臂、样品盘条码扫描机构和样品管；

试剂模块包括试剂盘、试剂臂垂直电机、试剂盘水平旋转电机、设置孔位的试剂盒、带试剂针的试剂臂和试剂臂清洗池；

反应盘模块包括外反应盘、内反应盘和反应盘驱动电机；

移管模块包括移管臂垂直电机、移管臂水平旋转电机、移管臂混匀机构和移管臂；

清洗盘模块包括清洗盘孔位旋转电机、设置孔位的清洗盘、抽液泵、打液泵、清洗臂与电机和清洗盘磁铁。

作为优选方式，试管架为用于放置反应管的多孔阵列式试管架；

进管架电机：用于水平移动；

抓手：用于上下移动并抓取、放置进管；

进管臂导轨和进管臂电机：用于前后移动；

进管混匀机构：用于配合进管臂；

液路控制模块还包括样品针注射泵、试剂针注射泵、清洗池泵、废液筒等子组件。

作为优选方式，样品盘由6个样品架组成，每个样品架设有12个样品管位，最多容纳72管样品；

试剂盘设有24个试剂盒孔位，每个试剂盒孔位可放置并固定一个试剂盒，每个试剂盒有4个取样孔，可对应4种不同的组份；其中，第一组份取样孔为磁珠孔位，因磁珠吸取前需要混匀，试剂盒的底部增加旋转混匀机构；

试剂盘和样品盘为双盘同轴、相互独立的结构，节约仪器的占用空间，样品盘处于外圈，样品盘由样品盘机构与电机驱动，试剂盘处于内圈由试剂盘电机驱动，避免试剂臂和样品臂的操作干涉，达到试剂盘与样品盘的独立并行运作；

反应盘模块还包括反应盘温度控制器；反应盘模块是一体化内外双盘同轴装置，外反应盘主要用于进行加样品操作、加试剂操作，起到一个缓冲盘的作用；内反应盘为孵育操作盘，用于加磁珠操作及孵育；外反应盘孔数是85，内反应盘是双层功能相同的结构，内反应盘内层65孔，内反应盘外层75孔，双层结构增加了可同时进行孵育的样本管数目；

清洗盘至少有一个空位的侧壁上设置有清洗盘磁铁。

作为优选方式，设置三个温控器分别对试剂盘、内反应盘和检测模块进行温度控制，并将温度分别控制在2～8℃，35～40℃和25～35℃范围内。

一种用于化学发光免疫分析仪的时序控制方法，对仪器各个部件按照时间节拍进行流水线控制，时序控制部分包括以下几个关键线程，这些线程部分是在不同区域内同时并行完成的；采用固定时序周期T，将仪器在16s的运行动作定义为一个时序周期T，并且每0.5s为一个时钟ticks，简写t，即1T＝32t；

对单个一步法的测试项目整个测试流程如下：

(1)进管臂移动并从管架盘中抓取待用的空反应管，移动并放置到外反应盘A指定位置等待加样；

流程(1)的时序控制为进管线程[0T2t-0T09t]，其中0T2t为触发点；

(2)旋转样品臂到样本架中，由样品针吸取样品，再旋转至外反应盘B指定位置；同时旋转外反应盘到B指定位置，向反应管注入样品；完成后，旋转样品臂到样品针清洗池孔位，对样品针进行清洗；

流程(2)的时序控制为样品线程[0T5t-0T28t]，其中0T5t为触发点；

(3)旋转试剂臂至试剂盘内，并定位至试剂盒的试剂孔(R1/R2/R3)，由试剂针吸取试剂，再旋转至C指定位置；同时旋转外反应盘到C指定位置，向反应管注入试剂；完成后旋转试剂臂到试剂针清洗池孔位，对试剂针进行清洗；

流程(3)的时序控制为试剂线程[0T13t-0T28t]，其中0T13t为触发点；

(4)旋转外反应盘到A指定位置，同时进管臂移动到A指定位置，抓取已添加样品与试剂混合物的反应管，移动并放置到进管混匀机构孔位，进行时长为TA的混匀；计时TA后，计时TA期间执行进管线程，移动进管臂到进管混匀机构，并抓取反应管至D指定位置，同时旋转反应盘内盘到D指定位置，放置反应管，然后进行时长为TB的孵育；

流程(4)的时序控制为进管混匀线程[0T26t-1T21t]，其中0T21t为触发点；

(5)计时TB后，计时TB期间执行下一测试项目，试剂盘混匀机构先对磁珠进行TC混匀；计时TC后，计时TC期间进入试剂线程，旋转试剂臂至试剂盘内，并定位至试剂盒的磁珠孔，吸取磁珠再旋转至E指定位置；同时旋转内反应盘到E指定位置，向反应管注入磁珠；完成后，旋转试剂针到试剂针清洗池孔位进行清洗；

流程(5)的时序控制为磁珠线程[0T19t-1T12t]，其中0T19t为触发点；

(6)旋转移管臂到F指定位置，同时旋转内反应盘到F指定位置，抓取反应管，旋转移管臂到移管臂混匀机构孔位，进行混匀时长为TD的混匀；计时TD后，计时TD期间进入移管线程，旋转移管臂并抓取反应管；旋转移管臂到G指定位置，同时旋转反应盘内盘到G指定位置，放置反应管，然后进行时长为TE的孵育；

流程(6)的时序控制为移管混匀线程[0T23t-1T12t]，其中0T23t为触发点；

(7)计时TE后，计时TE期间执行下一测试项目，旋转移管臂到清洗盘孔位，抓取上一测试项目的已清洗反应管，放置到待测孔位，两步法会放置到外反应盘H指定位置；并立即进入移管混匀线程，完成后旋转移管臂到G指定位置，取待洗反应管，旋转到清洗盘孔位，放置反应管；

流程(7)的时序控制为移管线程[0T30t-1T20t]，其中0T24t为触发点；

(8)清洗盘将反应管由G指定位置旋转至第一加液位置，打液液体泵控制第一清洗加液针，向反应管注入清洗液；完成后，清洗混匀装置上升并对反应管进行时长为TE的混匀；计时TE后，旋转清洗盘至第一吸附孔位，并经过TF清洗(通常为T的整数倍)；

流程(8)的时序控制为清洗盘线程[0T27t-1T26t]，其中0T27t为触发点；

(9)经过TF后，清洗盘已旋转至G指定位置，旋转移管臂至G指定位置，并抓取反应管；旋转放置至检测盘孔位进行检测；检测模块中，依次进行加底物、底物混匀、读数、弃管操作；最后将该测试的结果呈现到用户界面上；

流程(9)的时序控制为检测盘线程[0T27t-1T26t]，其中0T27t为触发点；

流程中，涉及“抓取”、“放置”、“吸取”、“注入”、“清洗”的流程步骤，均包括机械臂向下移动执行完动作，再向上移动复位的过程。

作为优选方式，对单个两步法的测试项目整个测试流程需要在单个一步法的流程上进行调整，具体流程包括：

S1：单个一步法中的流程(1)；

S2：单个一步法中的流程(2)；

S3：单个一步法中的流程(3)；

S4：单个一步法中的流程(4)；

S5：单个一步法中的流程(5)；

S6：单个一步法中的流程(6)；

S7：单个一步法中的流程(7)；

S8：单个一步法中的流程(3)；

S9：单个一步法中的流程(4)；

S10：单个一步法中的流程(7)；

S11：单个一步法中的流程(8)；

S12：单个一步法中的流程(9)。

作为优选方式，每个线程均设置了固定的线程触发点，保证化学发光免疫分析仪中各活动部件的周期性的动作节拍；同时为提高核心部件使用效率，还采用了执行机构在不同线程间的复用，具体包括：

1.进管线程和进管混匀线程在同一周期T之内同时用到进管臂，涉及到进管臂的周期分配，进管手的进管线程的起始终止时间为[0T2t-0T9t]，而进管臂混匀线程的起始终止时间为[0T26t-1T21t]；其中进管臂混匀线程在[2t-14t]期间在等待混匀TA，让出进管臂的占有权进入进管线程；其完成后进管臂混匀线程，取回进管臂使用权进一步将已混匀的反应管放回反应盘内盘，从而解决时间上的冲突；

2.磁珠线程与试剂线程共用试剂臂、试剂盘、外反应盘、内反应盘，其中试剂线程在[0T13t-0T28t]执行试剂加样，另外时间段[0T19t-1T12t]为磁珠线程，为避免[0T19t-0T30t]的时间冲突，在这段时间，由试剂盘的混匀电机进行专用磁珠混匀TC，该独立磁珠混匀机构不会占用试剂臂；该合理的线程分配既完成了专用磁珠的混匀问题，同时又避开了试剂线程与磁珠线程的周期冲突问题；

3.移管混匀线程与移管线程共用移管臂、移管臂混匀机构、反应盘内盘，其中移管混匀线程[0T23t-1T12t]，移管线程[0T30t-1T20t]，在[0T30t-1T6t]时间段也利用了移管臂独立的混匀机构混匀TD，不占用移管臂的优势，避免了线程周期冲突的问题。

在不同的线程中均会涉及对内反应盘和外反应盘的操作，通过分时复用，避免了不同线程之间对内反应盘和外反应盘之间的干涉，对同一周期T内内反应盘和外反应盘的联动组合。

在化学发光免疫分析中用时较长的时间段：1加试剂后的孵育TB、2加磁珠后的孵育TE、3反应管在清洗盘的清洗TF，这三个时间段用时通常大于5分钟，在这些时间段将并行进行其他测试项目的其他单个流程。

重复并行的孔位是每个反应管均要依次执行的清洗流程，从第一加液位置再经过时序周期T后经过5个时序周期T后，将到达第二加液位置；清洗盘设有25个孔位，可进行4轮清洗；每个清洗盘孔位的切换均对应一个完整的时序周期T，以保证与其他执行结构的协同并作。

作为优选方式，清洗盘的清洗流程包括，在每个时序周期的27t时刻，会首先判断条件1“清洗盘线程触发”若触发，清洗盘将转动一格；并判断条件“清洗盘中有需要进行打液操作或者抽液操作的测试管”，若是，则清洗臂下降，并判断该孔位是否满足条件3“需要打液操作”或条件4“需要抽液操作”，并进行相应动作，等待打液、抽液完成后，清洗臂上升，进入下一个清洗盘流程。

作为优选方式，为保证仪器结果安全可靠，提高系统对小概率事件的容错率，本申请还提出了多线程时序控制的异常判断机制；当多线程测试开启后，对步骤(1)-(9)的各阶段执行用时进行监测，并对异常进行相应处理，包括：硬件操作异常发生时，产生并记录错误代码弃管，终止该测试；线程执行超时异常时，处理受影响的测试管为无效并弃管，并发出报警警告；传感器读取仪器状态异常时，在主界面显示报警提示信息，但不进行处理。

作为优选方式，硬件操作异常可包括：样品臂、试剂臂、进管臂和移管臂垂直、旋转运动异常，试剂盘、样品盘、外反应盘、内反应盘、清洗盘的转动异常等；

线程执行超时异常可包括：试剂臂加试剂操作超时，试剂臂加磁珠超时，移管臂取清洗管超时等；

传感器读取仪器状态异常可包括：内反应盘获取偏高，清洗液状态异常，试剂臂液位探测状态异常等。

本发明的有益效果是：在化学发光免疫分析仪中通过合理的硬件系统布局，并对硬件层进行系统性的、完整的时序控制方法设计，实现底层不同执行机构间的并行控制、无缝衔接和异常处理等功能要求。本发明实现了自动化进行各自的时序流程控制，将整体的工作流程分解、在统一周期内按最优时序流程进行精确控制，避免流程冲突和延迟，保障结果稳定可靠、提升测试速度。

附图说明

图1为本申请全自动免疫分析仪的整机结构示意图；

图2为本申请进管臂执行的时序控制示意图；

图3为本申请样品臂执行的时序控制示意图；

图4为本申请试剂臂执行的时序控制示意图；

图5为本申请移管臂执行的时序控制示意图；

图6为本申请清洗盘的流程示意图；

图7为本申请的异常处理流程示意图；

图8为本申请的内反应盘和外反应盘联动的流程示意图；

图中：

1-进管模块，101-管架盘，102-进管架电机，103-抓手，104-进管臂导轨，105-进管混匀机构；

2-检测模块，201-检测盘旋转电机，202-检测盘孔位，204-检测盘弃管机构，205-PMT读数器；

3-样品模块，302-样品臂垂直电机，303-样品臂水平旋转电机，304-样品架，305-加样臂清洗池，306-样品臂；

4-试剂模块，401-试剂盘，402-试剂臂垂直电机，403-试剂盘水平旋转电机，404-试剂盒孔位，405-试剂臂清洗池，406-试剂臂；

6-反应盘模块，601-外反应盘，602-内反应盘，603-反应盘驱动电机；

7-移管模块，702-移管臂垂直电机，703-移管臂水平旋转电机，705-移管臂混匀机构，706-移管臂；

8-清洗盘模块，801-清洗盘孔位旋转电机，802-清洗盘孔位，803-抽液泵，804-清洗臂与电机，805-清洗盘注液泵；

9-液路控制模块。

条件1：清洗盘线程触发；条件2:清洗盘中有需要进行打液操作或者抽液操作的测试管；条件3：需要打液操作；条件4：需要抽液操作。

具体实施方式

下面结合附图进一步详细描述本发明的技术方案，但本发明的保护范围不局限于以下所述。

如图1所示，一种用于化学发光免疫分析仪的时序控制系统，包括进管模块1、检测模块2、样品模块3、试剂模块4、反应盘模块6、移管模块7、清洗盘模块8和液路控制模块9；

其中，进管模块1包括试管架、进管架电机102、抓手103、进管臂电机和进管臂导轨104、进管混匀机构105；

检测模块2包括检测盘旋转电机201、检测盘孔位202、检测盘混匀机构、检测盘弃管机构204、PMT读数器205和底物泵；

样品模块3包括样品盘机构与电机、样品臂垂直电机302、样品臂水平旋转电机303、样品盘上的样品架304、加样臂清洗池305、带样品针的样品臂306、样品盘条码扫描机构和样品管；

试剂模块4包括试剂盘401、试剂臂垂直电机402、试剂盘水平旋转电机403、试剂盒孔位404、带试剂针的试剂臂406和试剂臂清洗池405；

反应盘模块6包括外反应盘601、内反应盘602和反应盘驱动电机603；

移管模块7包括移管臂垂直电机702、移管臂水平旋转电机703、移管臂706混匀机构705和移管臂706；

清洗盘模块8包括旋转电机801、清洗盘孔位802、设置孔位的清洗盘、抽液泵803、打液泵、清洗臂与电机804和清洗盘注液泵805。

在一个优选实施例中，试管架为用于放置反应管的多孔阵列式试管架；

进管架电机102：用于水平移动；

抓手103：用于上下移动并抓取、放置进管；

进管臂导轨104和进管臂电机：用于前后移动；

进管混匀机构105：用于配合进管臂；

液路控制模块9还包括样品针注射泵、试剂针注射泵、清洗池泵、废液筒等子组件。

在一个优选实施例中，样品盘由6个样品架304组成，每个样品架304设有12个样品管位，最多容纳72管样品；进行加样设置时，先将样品杯或者采血管放到样品架的样品管位中，再将样品架放到样品盘的样品架中。

试剂盘401设有24个试剂盒孔位404，每个试剂盒孔位404可放置并固定一个试剂盒，每个试剂盒有4个取样孔，可对应4种不同的组份，如磁珠、试剂R1/R2/R3；其中，第一组份取样孔为磁珠孔位，因磁珠吸取前需要混匀，试剂盒的底部增加旋转混匀机构；

试剂盘401和样品盘为双盘同轴、相互独立的结构，节约仪器的占用空间，样品盘处于外圈，样品盘由样品盘机构与电机驱动，试剂盘401处于内圈由试剂盘401电机驱动，避免试剂臂406和样品臂306操作干涉，达到试剂盘401与样品盘的独立并行运作；

反应盘模块6还包括反应盘温度控制器；反应盘模块6是一体化内外双盘同轴装置，外反应盘601主要用于进行加样品操作、加试剂操作，起到一个缓冲盘的作用；内反应盘602为孵育操作盘，用于加磁珠操作及孵育；外反应盘601孔数是85，内反应盘602是双层功能相同的结构，内反应盘602内层65孔，内反应盘602外层75孔，双层结构增加了可同时进行孵育的样本管数目；

清洗盘至少有一个空位的侧壁上设置有清洗盘磁铁。

在一个优选实施例中，设置三个温控器分别对试剂盘401、内反应盘602和检测模块2进行温度控制，并将温度分别控制在2～8℃，35～40℃和25～35℃范围内。

一种用于化学发光免疫分析仪的时序控制方法，对仪器各个部件按照时间节拍进行流水线控制，时序控制部分包括以下几个关键线程，这些线程部分是在不同区域内同时并行完成的；采用固定时序周期T，将仪器在16s的运行动作定义为一个时序周期T，并且每0.5s为一个时钟ticks，简写t，即1T＝32t；图2到图5是本发明的系统控制时序图。

对单个一步法的测试项目整个测试流程如下：

(1)进管臂移动并从管架盘101中抓取待用的空反应管，移动并放置到外反应盘601的A指定位置等待加样；

流程(1)的时序控制为进管线程[0T2t-0T09t]，其中0T2t为触发点；

(2)旋转样品臂306到样本架或者样品架304中，由样品针吸取样品，再旋转至外反应盘601的B指定位置；同时旋转外反应盘601到B指定位置，向反应管注入样品；完成后，旋转样品臂306到样品针清洗池孔位，对样品针进行清洗；

流程(2)的时序控制为样品线程[0T5t-0T28t]，其中0T5t为触发点；

(3)旋转试剂臂406至试剂盘401内，并定位至试剂盒的试剂盒孔位404(R1/R2/R3)，由试剂针吸取试剂，再旋转至C指定位置；同时旋转外反应盘601到C指定位置，向反应管注入试剂；完成后旋转试剂臂406到试剂针清洗池孔位，对试剂针进行清洗；

流程(3)的时序控制为试剂线程[0T13t-0T28t]，其中0T13t为触发点；

(4)旋转外反应盘601到A指定位置，同时进管臂移动到A指定位置，抓取已添加样品与试剂混合物的反应管，移动并放置到进管混匀机构105孔位，进行时长为TA的混匀；计时TA后，计时TA期间执行进管线程，移动进管臂到进管混匀机构105，并抓取反应管，同时旋转反应盘内盘到D指定位置，放置反应管，然后进行时长为TB的孵育；

流程(4)的时序控制为进管混匀线程[0T26t-1T21t]，其中0T21t为触发点；

(5)计时TB后，计时TB期间执行下一测试项目，试剂盘401混匀机构先对磁珠进行TC混匀；计时TC后，计时TC期间进入试剂线程，旋转试剂臂406至试剂盘401内，并定位至试剂盒的磁珠孔，吸取磁珠再旋转至E指定位置；同时旋转内反应盘602到E指定位置，向反应管注入磁珠；完成后，旋转试剂针到试剂针清洗池孔位进行清洗；

流程(5)的时序控制为磁珠线程[0T19t-1T12t]，其中0T19t为触发点；

(6)旋转移管臂706到F指定位置，同时旋转内反应盘602到F指定位置，抓取反应管，旋转移管臂706到移管臂706混匀机构705孔位，进行混匀时长为TD的混匀；计时TD后，计时TD期间进入移管线程，旋转移管臂706并抓取反应管；旋转移管臂706到G指定位置，同时旋转反应盘内盘到G指定位置，放置反应管，然后进行时长为TE的孵育；

流程(6)的时序控制为移管混匀线程[0T23t-1T12t]，其中0T23t为触发点；

(7)计时TE后，计时TE期间执行下一测试项目，旋转移管臂706到清洗盘孔位802，抓取上一测试项目的已清洗反应管，放置到待测孔位，两步法会放置到外反应盘601H指定位置；并立即进入移管混匀线程，完成后旋转移管臂706到G指定位置，取待洗反应管，旋转到清洗盘孔位802，放置反应管；

流程(7)的时序控制为移管线程[0T30t-1T20t]，其中0T24t为触发点；

(8)清洗盘将反应管由G指定位置旋转至第一加液位置，打液液体泵控制第一清洗加液针，向反应管注入清洗液；完成后，清洗混匀装置上升并对反应管进行时长为TE的混匀；计时TE后，旋转清洗盘至第一吸附孔位，并经过TF清洗(通常为T的整数倍)；

流程(8)的时序控制为清洗盘线程[0T27t-1T26t]，其中0T27t为触发点；

(9)经过TF后，清洗盘已旋转至G指定位置，旋转移管臂706至G指定位置，并抓取反应管；旋转放置至检测盘孔位202进行检测；检测模块2中，依次进行加底物、底物混匀、读数、弃管操作；最后将该测试的结果呈现到用户界面上；

流程(9)的时序控制为检测盘线程[0T27t-1T26t]，其中0T27t为触发点；

流程中，涉及“抓取”、“放置”、“吸取”、“注入”、“清洗”的流程步骤，均包括机械臂向下移动执行完动作，再向上移动复位的过程。

在一个优选实施例中，对单个两步法的测试项目整个测试流程需要在单个一步法的流程上进行调整，具体流程包括：

S1：单个一步法中的流程(1)；

S2：单个一步法中的流程(2)；

S3：单个一步法中的流程(3)；

S4：单个一步法中的流程(4)；

S5：单个一步法中的流程(5)；

S6：单个一步法中的流程(6)；

S7：单个一步法中的流程(7)；

S8：单个一步法中的流程(3)；

S9：单个一步法中的流程(4)；

S10：单个一步法中的流程(7)；

S11：单个一步法中的流程(8)；

S12：单个一步法中的流程(9)。

在一个优选实施例中，每个线程均设置了固定的线程触发点，保证化学发光免疫分析仪中各活动部件的周期性的动作节拍；同时为提高核心部件使用效率，还采用了执行机构在不同线程间的复用，具体包括：

1.进管线程和进管混匀线程在同一周期T之内同时用到进管臂，涉及到进管臂的周期分配，进管手的进管线程的起始终止时间为[0T2t-0T9t]，而进管臂混匀线程的起始终止时间为[0T26t-1T21t]；其中进管臂混匀线程在[2t-14t]期间在等待混匀TA，让出进管臂的占有权进入进管线程；其完成后进管臂混匀线程，取回进管臂使用权进一步将已混匀的反应管放回反应盘内盘，从而解决时间上的冲突；

2.磁珠线程与试剂线程共用试剂臂406、试剂盘401、外反应盘601、内反应盘602，其中试剂线程在[0T13t-0T28t]执行试剂加样，另外时间段[0T19t-1T12t]为磁珠线程，为避免[0T19t-0T30t]的时间冲突，在这段时间，由试剂盘401的混匀电机进行专用磁珠混匀TC，该专用磁珠混匀不会占用试剂臂406；该合理的线程分配即完成了专用磁珠的混匀问题，同时又避开了试剂线程与磁珠线程的周期冲突问题；

3.移管混匀线程与移管线程共用移管臂706、移管臂706混匀机构705、反应盘内盘，其中移管混匀线程[0T23t-1T12t]，移管线程[0T30t-1T20t]，在[0T30t-1T6t]时间段也利用了移管臂706混匀机构705独立混匀TD，不占用移管臂706的优势，避免了线程周期冲突的问题。

在不同的线程中均会涉及对内反应盘602和外反应盘601的操作，通过分时复用，避免了不同线程之间对内反应盘602和外反应盘601之间的干涉，对同一周期T内内反应盘602和外反应盘601的联动组合如图8所示。

在化学发光免疫分析中用时较长的时间段：1加试剂后的孵育TB、2加磁珠后的孵育TE、3反应管在清洗盘的清洗TF，这三个时间段用时通常大于5分钟，在这些时间段将并行进行其他测试项目的其他单个流程。

例如，在第一加液位置的清洗盘线程周期T内，清洗盘其他清洗孔位也在同时并行其他测试项目的清洗盘线程。从第一吸附孔位开始至第四吸附孔位，各孔的侧壁还设置有磁铁，用于依次对反应管内磁珠进行吸附，第四吸附孔位同时也是第一吸液位置，此处抽液液体泵或抽液泵803控制第一清洗吸液针，从反应管底部吸取清洗液。第一吸液位置后顺位孔位，设置第二加液位置、第五吸附孔、第六吸附孔、第七吸附孔、第八吸附孔(也是第二吸液位置)等，可并行进行多次加液、磁吸附、清洗的重复流程。

同时，这些重复并行的孔位是每个反应管均要依次执行的清洗流程，从第一加液位置再经过时序周期T后经过5个时序周期T后，将到达第二加液位置；清洗盘设有25个孔位，可进行4轮清洗；每个清洗盘孔位802的切换均对应一个完整的时序周期T，以保证与其他执行结构的协同并作。

在一个优选实施例中，清洗盘的清洗流程图见图6，在每个时序周期的27t时刻，会首先判断条件1“清洗盘线程触发”若触发，清洗盘将转动一格；并判断条件“清洗盘中有需要进行打液操作或者抽液操作的测试管”，若是，则清洗臂下降，并判断该孔位是否满足条件3“需要打液操作”或条件4“需要抽液操作”，并进行相应动作，等待打液、抽液完成后，清洗臂上升，进入下一个清洗盘流程。

在一个优选实施例中，为保证仪器结果安全可靠，提高系统对小概率事件的容错率，并申请还提出了多线程时序控制的异常判断机制；如图7所示，当多线程测试开启后，对步骤(1)-(9)的各阶段执行用时进行监测，并对异常进行相应处理，包括：硬件操作异常发生时，产生并记录错误代码弃管，终止该测试；线程执行超时异常时，处理受影响的测试管为无效并弃管，并发出报警警告；传感器读取仪器状态异常时，在主界面显示报警提示信息，但不进行处理。

在一个优选实施例中，硬件操作异常可包括：样品臂306、试剂臂406、进管臂和移管臂垂直、旋转运动异常，试剂盘401、样品盘、外反应盘601、内反应盘602、清洗盘的转动异常等；

线程执行超时异常可包括：试剂臂406加试剂操作超时，试剂臂406加磁珠超时，移管臂706取清洗管超时等；

传感器读取仪器状态异常可包括：内反应盘602获取偏高，清洗液状态异常，试剂臂406液位探测状态异常等。

在另一实施例中，流程的具体时序时间点可固定。在样品线程中，样品臂在周期T中的2t时刻触发并进入加样线程，在7t开始准备吸样，10t开始向位置B移动，13t开始加样，16t样品臂移动到清洗池，19t开始执行清洗操作。

更具体的，每个反应管需进行的清洗流程包括：

(1)清洗盘将反应管由G指定位置旋转至第一加液位置，打液液体泵或清洗盘注液泵805控制第一清洗加液针，向反应管注入清洗液；完成后，清洗混匀装置上升并对反应管进行时长为TE的混匀。

(2)计时TE后，旋转清洗盘至第一吸附孔位，从该孔位开始各孔的侧壁设置有磁铁，可对反应管内磁珠进行吸附，旋转经过4个顺序孔位用时为4T的吸附后，反应管旋至第四吸附孔位，同时也是第一清洗位置；抽液液体泵或抽液泵803控制第一清洗吸液针，从反应管底部吸取清洗液。

(3)旋转清洗盘至下一顺序孔位，该孔位为侧壁无磁铁的第二加液位置，打液液体泵或清洗盘注液泵805控制第二清洗加液针，向反应管注入清洗液；完成后，清洗混匀装置上升并对反应管进行时长为TE的混匀。

(4)计时TE后，旋转清洗盘至第五吸附孔位，从对反应管内磁珠进行吸附，旋转经过4个顺序孔位用时为4T的吸附后，反应管旋至第八吸附孔位，同时也是第二清洗位置；抽液泵803控制第二清洗吸液针，从反应管底部吸取清洗液。

(5)旋转清洗盘至下一顺序孔位，该孔位为侧壁无磁铁的第三加液位置，清洗盘注液泵805控制第三清洗加液针，向反应管注入清洗液；完成后，清洗混匀装置上升并对反应管进行时长为TE的混匀。

(6)计时TE后，旋转清洗盘至第九吸附孔位，从对反应管内磁珠进行吸附，旋转经过4个顺序孔位用时为4T的吸附后，反应管旋至第十二吸附孔位，同时也是第三清洗位置；抽液泵803控制第三清洗吸液针，从反应管底部吸取清洗液。

(7)旋转清洗盘至下一顺序孔位，该孔位为侧壁无磁铁的第四加液位置，打液液体泵或者清洗盘注液泵805控制第四清洗加液针，向反应管注入清洗液；完成后，清洗混匀装置上升并对反应管进行时长为TE的混匀。

(8)计时TE后，旋转清洗盘至第十三吸附孔位，从对反应管内磁珠进行吸附，旋转经过4个顺序孔位用时为4T的吸附后，反应管旋至第十六吸附孔位，同时也是第四清洗位置；抽液液体泵控制第四清洗吸液针，从反应管底部吸取清洗液。

(9)旋转清洗盘至下一顺序孔位，再经过三个旋转周期后，反应管回到G指定位置。

本发明通过对关键线程的合理规划、并行执行，合理利用了硬件配置上的移管臂706混匀与内反应盘602装置，通过周期节拍、定时触发的方案的改进达到系统有序的运行，进而将仪器的检测速度(也称作通量)从常规的120T/H(每小时测试数)提升到225T/H(每小时测试数)。在满足通量的基础上，适应了多种测试项目反应体系的配置随意性，保证了每一个测试的反应时间的准确性，提高了仪器的通量与测试的准确性，进一步提升了仪器的竞争力。

综上所述，本发明完成高通量地、多位置、可寻址地样品管转移、样品和不同试剂的顺序加入、样品管的混匀、样品管的定时孵育、对管内磁珠的清洗和富集、底物添加混匀及检测等步骤，并对以上步骤拆分、将各样品管的时序任务分解到连续顺序、高速执行的时序周期内。不同的试剂流程还可对线程的组合，实现灵活配置。

最终，完成并行的、合理的时序控制，在流程内优化时序执行序列，以兼容不同的检测项目的时间需求、不同方法(如一步法、两步法)的执行步骤需求，将整体的工作流程分解、在统一周期内按最优时序流程进行精确控制，避免流程冲突和延迟，保障结果稳定可靠、提升测试速度。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，应当指出的是，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。