本发明涉及电阻检测技术领域，特别涉及一种电阻检测装置、电阻检测系统及绝缘性检测方法。
背景技术：
近年来，随着电子设备及元件的小型化，大众开始逐渐关注驱动这些元件的超小型电源的薄膜电池的发展。而薄膜电池在制造的过程中，需要在一块大的基板上覆盖导电膜层作为电极，整块的导电膜层往往根据工艺的要求分割成数量众多的导电块。该多个导电块之间需要相互绝缘。因此，需要对各导电块之间的绝缘性进行检测。
目前，可以通过人工检测的方式来进行绝缘性检测，即采用万用表的正极探针和负极探针分别与相邻的导电块接触，根据万用表上显示的电阻值的大小来确定导电块之间的绝缘性。
但是，采用人工检测的方式，在测量时需要依次对相邻的每两个导电块进行测量，并在测量过程中不断调整万用表的探针的位置。因此，操作较为复杂，测试效率较低。
技术实现要素：
本发明提供了一种电阻检测装置、电阻检测系统及绝缘性检测方法，能够解决在测量电阻时，操作较为复杂，测试效率较低的问题。所述技术方案如下：
根据本发明实施例的第一方面，提供一种电阻检测装置，包括：
盖板，所述盖板上设置有k个第一探针，k≥3，当所述盖板扣置在待测试的导电膜层上时，所述k个第一探针中，在指定方向上每两个相邻的第一探针与所述导电膜层中相邻的两个导电块接触，所述导电膜层包括间隔设置的多个导电块；
测量仪，所述测量仪共x个，x≥1，所述测量仪与所述k个第一探针对应连接，所述每两个相邻的第一探针分别与一个测量仪的正极和负极中的一个连接，且每个第一探针与对应的测量仪的连接线路上都设置有可控开关，每个所述测量仪被配置为通过正极和负极所连接的探针测量电阻。
可选的，所述电阻检测装置还包括：用于放置所述导电膜层的测试载台，
当所述盖板扣置在所述测试载台上用于放置所述导电膜层的一侧时，所述盖板扣置在所述导电膜层上。
可选的，所述导电膜层包括k个导电块，所述盖板扣置在所述导电膜层上时，所述k个第一探针与所述k个导电块一一对应接触。
可选的，所述电阻检测装置还包括：
k个第二探针，所述k个第二探针与所述k个第一探针一一对应设置，且每个第二探针与一个所述测量仪连接，每个第二探针与对应的测量仪的连接线路上都设置有可控开关，对应的第二探针和第一探针与同一导电块接触，且分别与同一测量仪的正极和负极中的一个连接。
可选的，所述电阻检测装置还包括：
移动组件，所述移动组件与所述盖板连接，所述移动组件被配置为带动所述盖板相对于所述导电膜层移动。
可选的，每个所述测量仪的正极或负极上串联有短路保护模块，所述测量仪为万用表或者电源管理单元pmu。
根据本发明实施例的第二方面，提供了一种电阻检测系统，包括第一方面所述的电阻检测装置。
可选的，所述电阻检测装置包括：测试载台，所述电阻检测系统还包括：
传输组件，被配置为将所述导电膜层传输至所述测试载台上。
可选的，所述传输组件包括传送带。
根据本发明实施例的第三方面，提供了一种绝缘性检测方法，其特征在于，应用于第一方面所述的电阻检测装置，所述绝缘性检测方法包括：
将盖板扣置在待测试的导电膜层上，以使所述盖板在指定方向上每两个相邻的第一探针与多个导电块中相邻的两个导电块接触；
通过控制每个第一探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，控制与所述多个导电块中每两个导电块接触的第一探针与对应的测量仪的连接线路导通；
对于所述每两个导电块，通过对应的导通的测量仪的电阻值，确定所述两个导电块的绝缘性。
可选的，所述电阻检测装置还包括：用于放置所述导电膜层的测试载台，所述将盖板扣置在待测试的导电膜层上，包括：
将所述盖板扣置在所述测试载台上用于放置所述导电膜层的一侧。
可选的，所述导电膜层包括k个导电块，所述盖板扣置在所述导电膜层上时，所述k个第一探针与所述k个导电块一一对应接触，所述测量仪共1个；
所述通过控制每个第一探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，控制与所述多个导电块中每两个导电块接触的第一探针与对应的测量仪的连接线路导通，包括：
通过控制每个第一探针与所述测量仪的连接线路上的可控开关，控制所有第一探针与对应的测量仪的连接线路导通；
或者，通过控制每个第一探针与所述测量仪的连接线路上的可控开关，控制每两个相邻的第一探针与对应的测量仪的连接线路依次导通。
可选的，所述电阻检测装置还包括：k个第二探针，所述k个第二探针与所述k个第一探针一一对应设置，且每个第二探针与一个所述测量仪连接，每个第二探针与对应的测量仪的连接线路上都设置有可控开关，所述盖板扣置在所述导电膜层上时，对应的第二探针和第一探针与同一导电块接触，且分别与同一测量仪的正极和负极中的一个连接；
在所述通过控制每个第一探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，控制与所述多个导电块中每两个导电块接触的第一探针与对应的测量仪的连接线路导通之前，所述方法还包括：
通过控制每个第一探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，以及每个第二探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，控制同一导电块上的第二探针和第一探针与对应的测量仪的连接线路导通；
对于每个导电块，通过对应的导通的测量仪的电阻值，判断所述两个探针与所述导电块的接触是否良好。
本发明实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
本发明实施例提供的电阻检测装置、电阻检测系统及绝缘性检测方法，由于盖板上设置有至少三个第一探针，能够对应测试至少两组相邻的导电块，因此，相较于现有技术，在测量时减少了调整探针位置的次数，操作较为简便，测试效率较高。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本发明。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的实施例，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据一示例性实施例示出的一种薄膜导电层的结构示意图；
图2是根据一示例性实施例示出的一种导电块的结构示意图；
图3是根据一示例性实施例示出的一种电阻检测装置的结构示意图；
图4是根据一示例性实施例示出的另一种电阻检测装置的结构示意图；
图5是根据一示例性实施例示出的又一种电阻检测装置的结构示意图；
图6是根据一示例性实施例示出的再一种电阻检测装置的结构示意图；
图7是根据另一示例性实施例示出的一种电阻检测装置的结构示意图；
图8是根据另一示例性实施例示出的另一种电阻检测装置的结构示意图；
图9是根据一示例性实施例示出的一种电阻检测系统的结构示意图；
图10是根据一示例性实施例示出的一种绝缘性检测方法的流程图；
图11是根据一示例性实施例示出的另一种绝缘性检测方法的流程图；
图12是根据另一示例性实施例示出的又一种电阻检测装置的结构示意图。
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部份实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
近年来，随着电子设备及元件的小型化，大众开始逐渐关注驱动这些元件的超小型电源的薄膜电池的发展。薄膜电池在制造的过程中，需要在一块大的基板11上覆盖导电膜层10，得到如图1所示的结构，然后根据工艺的要求，将该导电膜层10分割成数量众多的导电块12，得到如图2所示的结构。由于该多个导电块12之间需要相互绝缘，因此，需要进行导电块12之间的绝缘性检测。
导电块之间的绝缘性检测可以通过检测导电块之间的电阻值的大小来实现。在本发明实施例中，若需要检测两个导电块的绝缘性，可以将两个导电块分别与对应的测量仪的正极和负极中的一个连接，也即是一个导电块连正极，另一个导电块连负极，该测量仪可以为万用表或者电源管理单元(英文：powermanagementunit；简称：pmu)。此时，当测量仪的正极和负极分别与两个导电块良好导通，则测量仪上会显示两个导电块之间的电阻值。如果上述导电膜层中该两个导电块分割不良(例如，该两个导电块未完全分割开或者该两个导电块之间的分割处有导电颗粒等情况)，则测量仪上的电阻值通常非常小，例如小于指定的第一电阻阈值，则说明该两个导电块之间的绝缘性很差，甚至不绝缘；如果上述导电膜层中该两个导电块分割良好，则测量仪上的电阻值很大，例如大于指定的第二电阻阈值，则说明该两个导电块之间绝缘性较好。通常，该第二电阻阈值大于该第一电阻阈值。
通常情况下，上述导电膜层中该两个导电块分割良好时，测量仪上的电阻值会达到兆欧姆级别；而上述导电膜层中该两个导电块分割不良时，测量仪上的电阻值只有几千欧姆或者是几百欧姆，这两种情况的电阻值相差了几个数量级，所以根据测量仪上电阻值的大小可以容易的判断出导电块之间的绝缘性的好坏。
本发明实施例提供一种电阻检测装置，可以用于如图2所示的导电块12之间的绝缘性检测，如图3所示，该装置包括：
盖板01，盖板01上设置有k个第一探针011，k≥3，该k个第一探针的长度通常相同，当盖板01扣置在待测试的导电膜层10上时(此时盖板与导电膜层相对设置)，k个第一探针011中，在指定方向上每两个相邻的第一探针011与导电膜层10中相邻的两个导电块12接触，导电膜层10包括间隔设置的多个导电块12；
测量仪02，测量仪共x个，x≥1，测量仪02与k个第一探针011对应连接，在指定方向上每两个相邻的第一探针011分别与一个测量仪02的正极和负极中的一个连接(也即是在指定方向上每两个相邻的第一探针一根与测量仪的正极连接，另一个与测量仪的负极连接)，且每个第一探针011与对应的测量仪02的连接线路上都设置有可控开关03，每个测量仪02被配置为通过正极和负极所连接的探针测量电阻。该测量仪的正极和负极所连接的探针可以包括上述第一探针。
综上所述，本发明实施例提供的电阻检测装置，由于盖板上设置有至少三个第一探针，能够对应测试至少两组相邻的导电块，因此，相较于现有技术，在测量时减少了调整探针位置的次数，操作较为简便，测试效率较高。
可选的，该装置还包括：测试载台00，如图4所示，该测试载台00用于放置待测试的导电膜层10，该导电膜层10包括间隔设置的多个导电块12，其结构可以参考上图2。该导电膜层10通常设置在基板11上，以便于该导电膜层的制造与转移，当然，其通过其他方式转移至测试载台也可以，本发明实施例对此不作限定。
通常情况下，基板11上的导电膜层10中的多个导电块12是矩阵状排布的，其包括多行和多列导电块12，该盖板01扣置在上述测试载台上00时，该k个第一探针011中，在指定方向上每两个相邻的第一探针011与多个导电块12中相邻的两个导电块接触，该指定方向可以为列方向或者行方向，当然，该指定方向也可以为其他方向，本发明实施例对此不做限定。
需要说明的是，盖板上设置的k个第一探针的部署可以根据具体情况设置，本发明实施例以以下几种可实现方式为例进行说明：
在第一种可实现方式中，k等于导电膜层10中的导电块12的个数。此时，测量仪02的连接方式又可以有多种，通常情况下，x＝1，也即是测量仪02共1个，此时，k个第一探针011与该测量仪02分别连接，如图5所示，图5为一种第一探针011与测量仪02的连接示意图。通常情况下，基板11上的导电膜层10中的多个导电块12是矩阵状排布的，其包括多行和多列导电块12，图5是以该导电膜层10包括一列导电块12为例进行说明，其他包括多行和多列导电块的导电层的每行或每列导电块的测试方法可以参考该一列导电块的测试方式，本发明实施例对此不再赘述，假设指定方向为列方向y，则盖板01扣置在测试载台00上时，在该列方向上，每两个相邻的第一探针011与多个导电块12中相邻的两个导电块12接触，并且，在该列方向上，每两个相邻的第一探针011分别与一个测量仪02的正极和负极中的一个连接，且每个第一探针011与该测量仪02的连接线路上都设置有可控开关03，通过控制可控开关03，可以控制该连接线路的导通或者断开。以图5中的虚线框中的两个相邻的第一探针011a和011b为例，该第一探针011a和测量仪02的正极连接，该第一探针011b和测量仪02的负极连接，对应的连接线路上均设置有可控开关03。通过控制第一探针011a与对应的测量仪02的连接线路上可控开关03a，可以控制第一探针011a与对应的测量仪02的正极的导通或断开；通过控制第一探针011b与对应的测量仪02的连接线路上可控开关03b，可以控制第一探针011b与对应的测量仪02的负极的导通或断开，当该可控开关03a和可控开关03b均闭合时，第一探针011a和测量仪02的正极导通，该第一探针011b和测量仪02的负极导通，即可开始第一探针011a和011b所接触的两个电极块的电阻测量。
在本发明实施例中，当盖板扣置在测试载台上时，盖板上设置的k个第一探针与导电块一一对应，并且指定方向上的每两个相邻的第一探针与多个导电块中相邻的两个导电块接触，基于此，可以进行绝缘测量。在上述第一种可实现方式中，这样的电阻检测装置在测量时无需调整探针位置，操作较为简便，测试效率较高。
可选的，该电阻检测装置还可以包括：盖板支撑结构，该盖板支撑结构与盖板连接，该盖板支撑结构被配置为在盖板扣置在测试载台上时支撑盖板，以使盖板上的第一探针与相应的导电块接触的同时，避免第一探针对导电块产生过大的压力，损伤导电块。示例的，如图6所示，当盖板01设置在测试载台00上方时，该盖板支撑结构04可以为柱状结构或支撑架(图6以盖板支撑结构04为柱状结构为例进行说明)，该盖板支撑结构04相对于测试载台00凸出的高度h等于盖板上探针011的前端凸出于盖板01的高度h1与设置有导电膜层10的基板11的厚度h2之和。
需要说明的是，该盖板支撑结构04为可伸缩结构，其高度可以调节，这样在针对导电膜层的厚度不同时，可以通过调整盖板支撑结构的高度来实现对盖板的有效支撑，进一步避免盖板上的第一探针对导电块的损伤。
需要说明的是，该用于放置待测试导电膜层的测试载台也可以设置成可伸缩结构，这样在针对导电膜层的厚度不同时，可以通过调整测试载台的高度来调整第一探针与导电膜层的接触程度，进一步避免盖板上的第一探针对导电块的损伤。
在第二种可实现方式中，k小于导电膜层10中的导电块12的个数，在这种可实现方式中，盖板01需进行移动以便对所有导电块12进行测试。
在这种情况下，如图7所示，该装置还可以包括：移动组件101，移动组件101与盖板01连接，移动组件101被配置为带动盖板01相对于测试载台00移动，以通过较少次数的移动来进行导电块12之间的绝缘性检测。示例的，该移动组件101可以为机械臂或夹具。在一种可选方式中，该移动组件101可以包括固定设置在指定放置面的导轨1010，以及一端与该导轨连接的滑块1011，该滑块1011另一端与盖板01连接，通过在该导轨1010上滑动该滑块1011，可以带动盖板01移动，以使得盖板01相对于测试载台00移动。当k小于导电膜层10中的导电块12的个数时，该导轨1010可以平行于测试载台00的承载面布置，则盖板01可以在平行于该承载面的平面内移动。
需要说明的是，在上述第一种可实现方式中，电阻检测装置也可以设置移动组件，通过该移动组件可以带动盖板01相对于测试载台00移动，以进行盖板01与测试载台00的对位，保证盖板01扣置在测试载台00上时，k个第一探针011中与多个导电块12对应接触。当然，在第二种可实现方式中，设置移动组件也可以实现该对位功能。
在本发明实施例中，当盖板扣置在测试载台上时，若第一探针与导电块的接触不良，可能导致测量的准确性较低，为了检测第一探针与导电块的接触是否良好，如图8所示，该电阻检测装置还可以包括：
k个第二探针012，k个第二探针012与k个第一探针011一一对应设置，且每个第二探针012与一个测量仪02连接，每个第二探针012与对应的测量仪02的连接线路上都设置有可控开关032，盖板01扣置在测试载台00上时，对应的第二探针012和第一探针011与同一导电块12接触，且分别与同一测量仪02的正极和负极中的一个连接。每个测量仪02被配置为通过正极和负极所连接的探针测量电阻。其中，该测量仪的正极和负极所连接的探针可以包括上述第一探针和上述第二探针。
每个第二探针用于测量其对应的第一探针与导电块的接触是否良好。通过控制每个第一探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，以及每个第二探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，可以控制同一导电块上的第二探针和第一探针(即上述对应的第二探针和第一探针)与对应的测量仪的连接线路导通；在盖板扣置在测试载台上时，对于每个导电块，通过对应的导通的测量仪的电阻值，可以判断导电块与导电块上的两个探针(即一个第一探针和一个第二探针)的接触是否良好。以图8中的虚线框中的与同一电极块12a接触的第一探针011b和第二探针012a为例，该第一探针011b和测量仪02的负极连接，该第二探针012a和测量仪02的正极连接，对应的连接线路上均设置有可控开关03。通过控制第一探针011b与对应的测量仪02的连接线路上可控开关031，可以控制第一探针011b与对应的测量仪02的负极的导通或断开；通过控制第二探针012a与对应的测量仪02的连接线路上可控开关032，可以控制第二探针012a与对应的测量仪02的正极的导通或断开，当该两个可控开关03均闭合时，第一探针011b和测量仪02的负极导通，该第二探针012a和测量仪02的正极导通，判断导电块12a与导电块上的两个探针的接触是否良好。若导电块12a与导电块上的两个探针的接触不良，则测量仪02显示的电阻值异常大，例如大于指定的第三电阻阈值，可以达到兆欧姆级别；若导电块12a与导电块上的两个探针的接触良好，则测量仪02显示的电阻值正常，即为两个探针与对应的测量仪所形成回路上的负载的电阻值，如图8所示，该电阻值为导电块12a与电阻r0的电阻值之和，可以为几千欧姆或者是几百欧姆。需要说明的是，上述电阻r0可以为该电阻检测装置中的短路保护模块，用于防止该电阻检测装置短路，其也可以作为负载。
通过设置第二探针，可以测试第一探针与导电块的接触是否良好，对于接触不良的第一探针，可以调整该第一探针的位置(如上下调整和/或左右调整)，以实现该第一探针与相应的导电块的良好接触，杜绝由于导电块与第一探针的接触不良而带来的测试误差，保证测试结果的准确性。在实际实现时，第二探针也可能与导电块的接触不良，对于接触不良的第二探针，可以调整该第二探针的位置(如上下调整和/或左右调整)，以实现该第二探针与相应的导电块的良好接触，本发明实施例对此不作限定。
进一步的，每个测量仪的正极或负极上可以串联有短路保护模块，该短路保护模块用于对测量仪进行短路保护。在对相邻的两个导电块的测试过程中，该两个导电块与两个第一探针接触，两个第一探针与对应的测量仪的正极和负极的连接线路分别导通，若该两个导电块之间的电阻过小(如为几欧姆)时，两个导电块会与对应的测量仪形成回路，相当于电流不经过任何用电子元器件，直接由测量仪的正极经过导线流回测量仪的负极。此时容易烧坏测量仪，设置短路保护模块可以有效避免这种情况的发生。请参考上述图5、图7以及图8，该短路保护模块可以为电阻r0，该电阻r0的电阻值可以大于导电块的电阻值。在一种可实现方式中，短路保护模块也可以包括短路检测模块和开关，该短路检测模块用于检测线路是否短路，在检测到线路短路时，控制该开关断开，以实现短路保护，该短路检测模块可以为电压比较器。
可选的，上述与k个第一探针011对应连接的测量仪02可以设置为一个，也可以根据上述导电块12与k个第一探针011以及测量仪02形成的多个回路的个数要求设置多个测量仪02，本发明实施例对此不做限定。
上述实施例中，在电阻检测装置中设置有多个开关，例如在每个探针与对应的测量仪的连接线路上均设置有多个开关，这些可控开关被控制的方式可以有多种，例如包括近距离控制的方式和远程控制的方式，本发明实施例分别以该两种方式为例进行说明：
对于近距离控制的方式，可控开关可以为钮子开关，拨动开关，按钮开关，或按键开关等等，用户可以在电阻检测装置附近直接对可控开关进行控制。
对于远程控制的方式，可控开关与通信模块连接，该通信模块可以为通信接口、通信电路或通信线缆等，该通信模块与指定控制装置建立有有线或无线的通信连接，用户通过操作该指定控制装置，远程控制可控开关的开启与关闭，这样可以有效提高测量速度。其中，该指定控制装置可以为手机、移动电脑或者计算机等终端，该指定控制装置可以安装有用于控制可控开关的软件，通过运行该软件，就可以实现对可控开关的控制。该可控开关可以为电磁开关、电气开关(如干接点开关)或其他智能开关。
需要说明的是，本发明实施例中的可控开关均是以单控开关为例进行说明的是，实际实现时，该可控开关也可以为双控开关(也称双向开关)，如单刀双掷开关，该双向开关具有不动端和动端，在本发明实施例中，该不动端可以与对应的测量仪的正极或负极连接，动端分别与两个探针(每个探针可以为第一探针或第二探针)的非测试端(即与导电块接触的一端相反的一端)连接，这样，测量仪可以通过该双向开关切换与不同探针的连接；该不动端也可以与探针的非测试端连接，动端与对应的测量仪的正极和负极连接，这样，每个探针可以通过双向开关，切换与对应的测量仪正极和负极的连接，本发明实施例对此不作限定。
综上所述，本发明实施例提供的电阻检测装置，由于盖板上设置有至少三个第一探针，能够对应测试至少两组相邻的导电块，因此，相较于现有技术，在测量时减少了调整探针位置的次数，操作较为简便，测试效率较高。进一步的，通过设置第二探针，可以检测第一探针与导电块的接触是否良好，杜绝了由于导电块与第一探针接触不良而带来的测试误差，保证了测试结果的准确性。进一步的，通过设置移动组件可以带动盖板相对于测试载台移动，提高了测试的灵活性。
需要说明的是，现有技术中，在测量时各导电块之间探针的测量点位置差异较大，会导致电阻测量结果出现偏差；并且由于导电膜层很薄，在测量过程中难免会划伤导电膜层。
在本发明实施例中，k个第一探针可以均匀分布在盖板上，当盖板扣置在待测试的导电膜层上时，每个第一探针在位于导电块上的位置相同，因此能够有效提高电阻测量结果；同理，k个第二探针可以均匀分布在盖板上，当盖板扣置在待测试的导电膜层上时，每个第二探针在位于导电块上的位置相同，因此能够提高绝缘性检测结果。并且，由于在测量时减少了调整探针位置的次数，有效避免在测量过程中对导电膜层的划伤。
本发明实施例提供一种电阻检测系统，如图9所示，包括电阻检测装置0，该电阻检测装置0可以为本发明上述实施例任一的电阻检测装置。
可选的，如图4所示，该装置还包括：测试载台00，如图9所示，该系统还可以包括：
传输组件1，被配置为将导电膜层10传输至该电阻检测装置0的测试载台00上。
可选的，传输组件具有传输面，在一种可选的实现方式中，传输面的高度固定，该传输面与测试载台的承载面平齐，示例的，该传输组件包括高度固定的传送带；在另一种可选的实现方式中，传输面的高度可变，该传输面可以在需要进行导电膜层的传输时，调整至与测试载台的承载面平齐，示例的，该传输组件包括高度可变的传送带，该高度可变的传送带可以包括传送带本体以及与该传送带本体固定连接的伸缩件，该伸缩件可以位于传送带本体的两端，该伸缩件的伸缩方向垂直于传送带的传输面，例如，该伸缩件可以为伸缩气缸，或者伸缩杆。上述可选的实现方式中，以传输组件包括传送带为例进行说明，可选的，该传输组件还可以包括传输台。进一步的，该传输组件还可以包括移动件，该移动件被配置为将导电膜层从传输面移动至上述测试载台的承载面，该移动件可以为机器人手臂或者夹具。
综上所述，本发明实施例提供的电阻检测系统，由于盖板上设置有至少三个第一探针，能够对应测试至少两组相邻的导电块，因此，相较于现有技术，在测量时减少了调整探针位置的次数，操作较为简便，测试效率较高。
本发明实施例提供一种绝缘性检测方法，其可以应用于本发明上述实施例任一的电阻检测装置，如图10所示，方法包括：
步骤201、将盖板扣置在待测试的导电膜层上，以使盖板在指定方向上每两个相邻的第一探针与多个导电块中相邻的两个导电块接触。
步骤202、通过控制每个第一探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，控制与多个导电块中每两个导电块接触的第一探针与对应的测量仪的连接线路导通。
步骤203、对于每两个导电块，通过对应的导通的测量仪的电阻值，确定两个导电块的绝缘性。
综上所述，本发明实施例提供的绝缘性检测方法，由于盖板上设置有至少三个第一探针，能够对应测试至少两组相邻的导电块，因此，相较于现有技术，在测量时减少了调整探针位置的次数，操作较为简便，测试效率较高。
本发明实施例提供一种绝缘性检测方法，其可以应用于本发明上述实施例任一的电阻检测装置，如上述装置实施例所述，电阻检测装置的盖板上可以设置k个第一探针，在此基础上，还可以设置k个第二探针，本发明实施例以电阻检测装置的盖板上既设置第一探针，又设置第二探针为例进行说明。如图11所示，该方法包括：
步骤301、将盖板扣置在测试载台上，以使盖板在指定方向上每两个相邻的第一探针与多个导电块中相邻的两个导电块接触。
测量开始时，通过盖板将探针下压到导电膜层上，以将盖板扣置在测试载台上用于放置导电膜层的一侧，每根探针的压力可以为0.2-0.5n(牛)。当k等于导电膜层中的导电块的个数时，每个导电块上有2根探针，分别为一个第一探针和一个第二探针，探针完全覆盖到每个导电块上，保证测量的全面性；当k小于导电膜层中的导电块的个数时，在盖板所处的待测试位置的每个导电块上有2根探针，分别为一个第一探针和一个第二探针，探针完全覆盖到待测试位置的每个导电块上，可以实现分区测量。该待测试位置为待测试导电块对应的位置。
步骤302、进行接触良好性的测试。
在本发明实施例中，当盖板扣置在测试载台上时，若第一探针与导电块的接触不良，可能导致测量的准确性较低，为了检测第一探针与导电块的接触是否良好，在上述同一块盖板上设置k个第二探针012。如图8所示，装置在包括k个第一探针的基础上，还可以包括：
k个第二探针012，k个第二探针012与k个第一探针011一一对应设置，且每个第二探针012与一个测量仪02连接，每个第二探针012与对应的测量仪02的连接线路上都设置有可控开关032，盖板01扣置在测试载台00上时，对应的第二探针012和第一探针011与同一导电块12接触，且分别与同一测量仪02的正极和负极中的一个连接。
则步骤302可以包括：
步骤a1、通过控制每个第一探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，以及每个第二探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，控制同一导电块上的第二探针和第一探针与对应的测量仪的连接线路导通。
如图8所示，通过控制每个第一探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，以及每个第二探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，可以控制同一导电块上的第二探针和第一探针与对应的测量仪的连接线路导通，以形成回路。在本发明实施例中，可以按照指定顺序，依次控制每个导电块与其上的两个探针导通，该指定顺序可以为从上到下的顺序和/或从左到右的顺序。
步骤a2、对于每个导电块，通过对应的导通的测量仪的电阻值，判断导电块与导电块上的两个探针的接触是否良好。
对于每个导电块，通过对应的导通的测量仪的电阻值，可以判断导电块与导电块上的两个探针(即一个第一探针和一个第二探针)的接触是否良好。如果两个探针与导电块接触良好，则测量仪测量的电阻值正常，如果两个探针与导电块接触不良，则测量仪测量的电阻值异常大，此时需要查找原因，例如，检查探针与导电膜层之间接触的地方是否有异物或探针是否变形等等，根据查找到的原因来调整探针，以使得调整后的探针与导电块接触良好。
通过检测探针与导电块之间的接触是否良好，来杜绝因为探针与导电膜层接触不良带来的绝缘性测试的误差，保证测试结果的准确性。具体测量过程可以参考上述实施例对图8的解释，本发明实施例对此不再赘述。
步骤303、通过控制每个第一探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，控制与多个导电块中每两个导电块接触的第一探针与对应的测量仪的连接线路导通。
需要说明的是，盖板上k个第一探针的部署可以根据具体情况设置，则相应的绝缘性检测方法也有所不同，本发明实施例以以下几种可实现方式为例进行说明：
第一种可实现方式中，k等于导电膜层中的导电块的个数，盖板扣置在测试载台上时，k个第一探针与多个导电块一一对应接触。此时，测量仪的连接方式又可以有多种，通常情况下，x＝1，也即是测量仪共1个，此时，k个第一探针与该测量仪分别连接，如上图5所示，步骤303中对可控开关可以包括以下两种控制方式，分别为：
第一种控制方式也称为整体测量法，通过控制每个第一探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，控制所有第一探针与测量仪的连接线路导通。
例如，如上图5所示，当盖板01扣置在测试载台00上时，可以通过同时控制所有的可控开关闭合，实现每一个探针与每一个导电块以及测量仪的连接线路导通。具体的，分别将每相邻的两个导电块上的一个第一探针与测试仪的电极导通，形成闭合的回路，其中，两个导电块上的两个第一探针与测试仪的不同电极连接，也即是，将多个导电块按照每两个一组进行划分得到多个导电块组，划分后的导电块不存在重复，导电块组同时并联接入测量的回路，即通过第一探针与测试仪导通。这样可以一次性测量导电膜层中一大部分的导电块之间的绝缘性。如图5所示，可以将列方向上的导电块按照每两个一组进行划分得到多个导电块组，也即是第1、2个导电块为一组，第3、4个导电块为一组，第5、6个导电块为一组...以此类推，然后将多个导电块组同时并联接入测量回路以进行测量。
整体测量法的特点是测量速度快，可以迅速知道整块基板内分割后的导电块之间的整体绝缘性。整体测量法适用于分割导电块成熟的工艺(绝缘不良率很低的工艺)、对导电块间绝缘不良要求有一定的容忍度(精度要求不是太高)和/或要求测量速度快等场景下。
第二种控制方式也称为依次顺序法，通过控制每个第一探针与测量仪的连接线路上的可控开关，控制每两个相邻的第一探针与测量仪的连接线路依次导通。
例如，若上述导电膜层被分割成多列导电块，当盖板扣置在测试载台上时，可以根据从上到下和/或从左到右的顺序依次控制相应的可控开关闭合。比如按照从上到下的顺序，先控制第一个可控开关闭合后，再控制第二个可控开关进行闭合，此时第一个导电块与第二个导电块与其上的探针以及测量仪的连接线路导通，形成测量回路，开始第一个导电块与第二个导电块的绝缘性测试。紧接着，控制第一个可控开关断开，第三个可控开关闭合，此时第二个导电块与第三个导电块与其上的探针以及测量仪的连接线路导通，开始第二个导电块与第三个导电块的绝缘性测试。以此类推，依次对剩下的所有的导电块进行绝缘性测试。
通过可控开关控制第一探针与对应的测量仪的连接线路的导通或断开，依次测量相邻的导电块之间是否绝缘良好，可以准确地判断出导电块之间的绝缘性是否良好，细化测量的粒度。
在第二种可实现方式中，k小于导电膜层中的导电块的个数，在这种可实现方式中，盖板需进行移动以便对所有导电块进行测试。在这种情况下，如图7所示，该装置还可以包括：移动组件101，移动组件101与盖板01连接，则步骤303中对可控开关可以包括以下两种控制方式，分别为：
第一种控制方式，首先，通过移动组件将盖板移动至待测试位置，该待测试位置为待测试导电块对应的位置，也即是在该位置处，盖板扣置在测试载台上时，k个第一探针中，在指定方向上每两个相邻的第一探针与多个导电块中待测试的导电块的相邻的两个导电块接触。然后，通过控制每个第一探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，控制位于待测试位置的所有第一探针与对应的测量仪的连接线路导通。
例如，如图12所示，图中虚线框1所示的位置即为待测试位置v1，虚线框2所示的位置即为待测试位置v2，虚线框3所示的位置即为待测试位置v3。盖板01先在虚线框1所示的待测试位置v1，盖板01扣置在测试载台00上时，k个第一探针011中，在指定方向上每两个相邻的第一探针011与多个导电块12中待测试的导电块12的相邻的两个导电块接触。然后，通过控制每个第一探针011与对应的测量仪02的连接线路上的可控开关03，控制位于待测试位置v1的每两个相邻的第一探针011与对应的测量仪02的连接线路依次导通，进行绝缘性测试。接下来，再通过移动组件101移动盖板01，将盖板移动至待测试位置v2，然后，通过控制每个第一探针011与对应的测量仪02的连接线路上的可控开关03，控制位于待测试位置v2的每两个相邻的第一探针011与对应的测量仪02的连接线路依次导通，进行绝缘性测试。接着，将盖板移动至待测试位置v3，进行与上述探针011位于待测试位置v1或待测试位置v2时相同的操作，进行绝缘性测试。
其中，对于每个待测试位置，其可控开关的控制方式可以参考上述步骤303中第一种可实现方式中的第一种控制方式，本发明实施例对此不再赘述。
第二种控制方式，首先，通过移动组件将盖板移动至待测试位置，然后，通过控制每个第一探针与对应的测量仪的连接线路上的可控开关，控制位于待测试位置的每两个相邻的第一探针与对应的测量仪的连接线路依次导通。
例如，如图12所示，图中虚线框1所示的位置即为待测试位置v1，虚线框2所示的位置即为待测试位置v2，虚线框3所示的位置即为待测试位置v3。盖板01先在虚线框1所示的待测试位置v1，然后，可以根据从上到下的顺序依次控制每一个可控开关03：先控制待测试位置v1中的第一个可控开关03闭合后，再控制待测试位置v1中的第二个可控开关03进行闭合，此时待测试位置v1中的第一个导电块12与待测试位置v1中的第二个导电块12与其上的探针011以及测量仪02的连接线路导通，开始待测试位置v1中的第一个导电块12与待测试位置v1中的第二个导电块12的绝缘性测试。紧接着，控制待测试位置v1中的第一个可控开关03断开，控制待测试位置v1中的第三个可控开关03进行闭合，此时待测试位置v1中的第二个导电块12与待测试位置v1中的第三个导电块12与其上的探针011以及测量仪02的连接线路导通，开始待测试位置v1中的第二个导电块12与待测试位置v1中的第三个导电块12的绝缘性测试。以此类推，依次对待测试位置v1中的剩下的所有的导电块12进行绝缘性测试。接下来，再通过移动组件101移动盖板01，将盖板移动至待测试位置v2，然后，进行与上述探针011位于待测试位置v1时相同的操作。接着，将盖板移动至待测试位置v3，进行与上述探针011位于待测试位置v1或待测试位置v2时相同的操作。
其中，对于每个待测试位置，其可控开关的控制方式可以参考上述步骤303中第一种可实现方式中的第二种控制方式，本发明实施例对此不再赘述。
可选的，上述移动组件101可以为机械臂或者夹具。
需要说明的是，在上述第一种控制方式中，电阻检测装置也可以设置移动组件，通过该移动组件可以带动盖板相对于测试载台移动，以进行盖板与测试载台的对位，保证盖板扣置在测试载台上时，k个第一探针中与多个导电块对应接触。当然，在第二种可实现方式中，设置移动组件也可以实现对位功能。则在上述步骤302之前，还可以通过移动组件移动盖板，以进行盖板与测试载台的对位。
步骤304、对于每两个导电块，通过对应的导通的测量仪的电阻值，确定两个导电块的绝缘性。
对于上述步骤303的第一种可实现方式的第一种控制方式以及第二种可实现方式的第一种控制方式，如果测量仪检测的电阻值很大，例如大于第四电阻阈值(该第四电阻阈值可以为预先规定的)，说明整体的相邻导电块之间的绝缘性良好，就没有必要分别进行相邻导电块之间的绝缘性的测量；如果测量仪检测的电阻值小于第四电阻阈值，则认为绝缘性不良，可以再结合后续的第二种控制方法测量出绝缘不良的导电块的位置(该位置即为出现不良分割线的位置)和绝缘不良的导电块的电阻值。
对于上述步骤303的第一种可实现方式的第二种控制方式以及第二种可实现方式的第二种控制方式，对于每一个测量回路，当测量仪的正极和负极分别与两个导电块良好导通，则测量仪上会显示两个导电块之间的电阻值。如果上述导电膜层中该两个导电块分割不良(例如，该两个导电块未完全分割开或者该两个导电块之间的分割处有导电颗粒等情况)，则测量仪上的电阻值通常非常小，例如小于指定的第一电阻阈值，则说明该两个导电块之间的绝缘性很差，甚至不绝缘；如果上述导电膜层中该两个导电块分割良好，则测量仪上的电阻值很大，例如大于指定的第二电阻阈值，则说明该两个导电块之间绝缘性较好。通常，该第二电阻阈值大于该第一电阻阈值。
需要说明的是，本发明实施例提供的绝缘性检测方法步骤的先后顺序可以进行适当调整，步骤也可以根据情况进行相应增减，例如步骤302可以不执行，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化的方法，都应涵盖在本发明的保护范围之内，因此不再赘述。
综上所述，本发明实施例提供的绝缘性检测方法，由于盖板上设置有至少三个第一探针，能够对应测试至少两组相邻的导电块，因此，相较于现有技术，在测量时减少了调整探针位置的次数，操作较为简便，测试效率较高。
在本发明实施例中，k个第一探针可以均匀分布在盖板上，当盖板扣置在待测试的导电膜层上时，每个第一探针在位于导电块上的位置相同，因此能够有效提高电阻测量结果；同理，k个第二探针可以均匀分布在盖板上，当盖板扣置在待测试的导电膜层上时，每个第二探针在位于导电块上的位置相同，因此能够提高绝缘性检测结果。并且，由于在测量时减少了调整探针位置的次数，有效避免在测量过程中对导电膜层的划伤。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的方法的具体步骤，可以参考前述电阻检测装置实施例中的对应过程，在此不再赘述。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本发明未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由权利要求指出。
应当理解的是，本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。