本发明涉及一种gis壳体对接焊缝超声波检测缺陷测长装置，属于电力检测设备。
背景技术：
gis(gasinsulatedswitchgear)是气体绝缘全封闭组合电器的英文简称。gis由断路器、隔离开关、接地开关、互感器、避雷器、母线、连接件和出线终端等组成，这些设备或部件全部封闭在金属接地的外壳中，在其内部充有一定压力的sf6绝缘气体，故也称sf6全封闭组合电器。
gis壳体一般由变形铝合金板材卷制，然后采用自动焊接技术焊接而成。当焊缝存在缺陷时，就会影响整个gis的运行安全。因此在新建变电工程中，一般要去按照标准nb/t47013.3-2015《承压设备无损检测第3部分：超声检测》中相关要求对gis壳体进行检测。一般采用a型脉冲反射超声波检测仪进行gis设备对接焊缝内部缺陷检测。
当检测到焊缝内部缺陷时，需要测量该缺陷的长度来对其进行记录和评级，一般采用半波法对其进行测长，半波法要求找到缺陷的最大回波，然后在左右移动至最大回波高度的一半时，为缺陷的左右端点。通常在测量缺陷长度时，需要一手拿探头，一手拿尺子进行测量，进行测量时，单手操作，而且探头由于耦合剂的原因很容易滑动，因此测量出来的尺寸很不准确。
技术实现要素：
本发明要提供一种可以克服上述缺陷，能够轻松、快速检测缺陷长度的测量装置。
为了实现上述目的，本发明采取如下技术方案：
一种gis壳体对接焊缝超声波检测缺陷测长装置，其特征是，包括长度测量尺，长度测量尺上安装有沿长度测量尺滑动的滑块，还包括用于将长度测量尺固定在gis壳体上的固定装置；
所述的滑块上开有凹槽，超声波检测仪的超声波探头插入凹槽内进行固定；
所述的凹槽的底部设置有标记装置，超声波探头放置在标记装置上方。
所述的固定装置为吸盘结构，吸盘结构分别固定在长度测量尺的两端。
所述的凹槽设置在滑块的右上角，凹槽内有上下两层挡板，用于固定超声波探头；
每层挡板为两块；
超声波探头与标记装置之间有间隙。
所述的标记装置包括标记杆、固定壳体和复位弹簧；
标记杆插入固定壳体内，标记杆可探出固定壳体；
标记杆包括标记头和杆体，标记头与杆体的交接处安装复位弹簧，复位弹簧固定在固定壳体和杆体之间，推动杆体压缩复位弹簧同时推动标记头前探。
所述的标记头包括染色头和支撑头，染色头为吸水材料用于吸附燃料，染色头固定在支撑头上。
所述的支撑头为硬质塑料头，染色头粘结或焊接在支撑头上。本发明的有益效果为：
结构合理使用方便，在进行gis壳体对接焊缝超声波缺陷测长时，提供了一个方便快捷的方式。能够克服常规测长方式造成的结果不准确性，同时减轻了检测人员的劳动强度。
附图说明
图1为本发明结构示意图；
图2为本发明滑块结构示意图；
图3为本发明标记装置结构示意图；
图4为本发明标记杆结构示意图；
图中：1、吸盘结构；2、长度测量尺；3、滑块；4、凹槽；5、挡板；6、超声波探头；7、标记装置；71、标记头；72、固定壳体；73、复位弹簧；74、杆体；711、染色头；712、支撑头。
具体实施方式
为了便于理解，下面通过实施例，结合附图，对本发明的技术方案作进一步具体说明：
如图1-4所示gis壳体对接焊缝超声波检测缺陷测长装置，包括长度测量尺2，长度测量尺2上安装有沿长度测量尺滑动的滑块3，还包括用于将长度测量尺2固定在gis壳体上的固定装置；
所述的滑块3上开有凹槽4，超声波检测仪的超声波探头6插入凹槽4内进行固定；
所述的凹槽4的底部设置有标记装置7，超声波探头6放置在标记装置7上方。
所述的固定装置为吸盘结构1，吸盘结构1分别固定在长度测量尺2的两端。
所述的凹槽4设置在滑块3的右上角，凹槽4内有上下两层挡板5，用于固定超声波探头6；
每层挡板5为两块；
超声波探头6与标记装置7之间有间隙。
所述的标记装置7包括标记杆、固定壳体72和复位弹簧73；
标记杆插入固定壳体72内，标记杆可探出固定壳体72；
标记杆包括标记头71和杆体74，标记头71与杆体74的交接处安装复位弹簧73，复位弹簧73固定在固定壳体72和杆体74之间，推动杆体74压缩复位弹簧73同时推动标记头71前探。
所述的标记头71包括染色头711和支撑头712，染色头711为吸水材料如海绵用于吸附染料，染料可用墨水等染料。染色头固定在支撑头上。
支撑头712为硬质塑料头，染色头粘结在支撑头上。
在使用时，将超声波探头6插入两层挡板5之间，超声波探头与标记装置7之间有间隙不会相互影响。
在对gis壳体缺陷测长时，首先通过移动超声波探头找到缺陷最高回波位置，然后在通过吸盘结构吸附固定在gis壳体之上，固定该装置时，将超声波探头6插入两层挡板5之间，使滑块紧贴超声波探头，通过按动杆体74使标记头在gis壳体上记录此时超声波探头的位置。然后一起向左移动超声波探头和滑块，使缺陷波的回波波幅降低至最高波幅的一半，记录此时滑块的位置，此位置为缺陷的左端点，然后向右移动滑块和超声波探头，使缺陷波的回波波幅降低至最高波幅的一半，记录此时滑块的位置，此位置为缺陷的右端点，左右端点之间的距离即为缺陷的长度。
能够快速的对gis壳体超声波缺陷进行测量，能大大的提高劳动效率，降低劳动强度，增加检测结果的准确性。
上述实施例只是对本发明技术方案的举例说明或解释，而不应理解为对本发明技术方案的限制，显然，本领域技术人员可对本发明进行修改和变型而不脱离本发明的精神和保护范围。倘若这些修改和变型属于本发明权利要求极其等同技术的范围之内，则本发明也包含这些修改和变型在内。