本发明涉及一种用于执行对测定对象的光学测定的装置以及方法。
背景技术：
：：日本专利第3533502号公报公开了一种自动化学分析装置，其具备将多个测光单元排列成环状进行保持的转台(turntable)、靠近转台地配置的光源单元、以及靠近相同转台地配置的检测单元。光源单元以及检测单元构成分光测定部。分光测定部对转台所保持的多个测光单元中的一个测光单元执行分光测定。通过转台旋转来更换测定对象的测光单元。由此，能够连续地执行对多个测光单元的测定。技术实现要素：日本专利第3533502号公报的装置内置有转台，因此，大型且装置设置面积较大、零件个数较多、构成复杂、制造成本高。与其对应地，装置的价格变得较高，因此，不需要对许多测定对象进行连续测定的用户可能会认为不具备转台的构成的装置更理想。因而，装置制造商(maker)要根据转台的有无来准备单独设计的至少两个型号，并分别进行制造以及售卖。但是，对于装置制造商而言，因具备这样的多个型号，除了设计成本会增加，而且还必须准备各自型号的专用零件。另一方面，对于用户而言，在购买了无转台的型号之后，在产生对许多测定对象进行连续测定的需求时，必须重新购买带转台的型号，经济上的负担会增大。同样的课题不仅会在有无转台的情况下产生，在准备与测定对象对应的保持零件等的情况下也会产生。本发明的一实施方式提供能够应对用户的各种需求的光学测定装置以及光学测定方法。本发明的一实施方式提供一种光学测定装置，其包含：主体基座；光学基座，能够移动地结合于所述主体基座；测定光学系统，固定于所述光学基座；以及光学基座移动机构，使所述光学基座相对于所述主体基座进行相对移动。所述光学基座移动机构使所述光学基座相对于所述主体基座在内部测定位置与外部测定位置之间相对移动。内部测定位置是指基于所述测定光学系统的测定对象位置成为设定在所述主体基座内(更具体而言为光学测定装置的壳体内)的内部测定对象位置的位置。外部测定位置是指基于所述测定光学系统的测定对象位置成为设定在所述主体基座外(更具体而言为光学测定装置的壳体外)的外部测定对象位置的位置。所述测定光学系统也可以构成为：对测定对象位置照射光且检测在所述测定对象位置散射的光。更具体而言，所述测定光学系统也可以包含：光源单元，产生照射至测定对象位置的光；光投射透镜，使所述光源单元的光在测定对象位置聚光；以及检测透镜，供从所述测定对象位置散射的散射光射入。在该情况下，光投射透镜的焦点位置或者其附近为测定对象位置。光学基座相对于主体基座的移动包含平行移动以及旋转移动中的一方或者两方。平行移动的方向包含水平方向分量以及垂直方向分量中的一方或者两方。旋转移动可以是绕沿着包含水平方向分量以及垂直方向分量中的一方或者两方的方向的旋转轴线的旋转。在本发明的一实施方式中，还包含被所述主体基座支承并配置有用于保持试样的试样保持器的试样载置台。所述内部测定对象位置与所述试样保持器所保持的试样的位置对应。所述试样保持器也可以构成为保持容纳有试样的试样单元(cell)。在本发明的一实施方式中，所述光学测定装置还包含使所述试样载置台相对于所述主体基座进行相对移动的试样载置台移动机构。所述试样载置台移动机构使所述试样载置台相对于所述主体基座在将所述试样保持器所保持的试样配置在所述内部测定对象位置的测定载置台位置与不会阻碍基于所述测定光学系统的所述外部测定对象位置处的测定的退避载置台位置之间进行相对移动。在本发明的一实施方式中，所述光学基座移动机构构成为：使所述光学基座沿着所述光学基座相对于所述试样保持器所保持的试样接近/分离的第一方向，在所述内部测定位置与所述外部测定位置之间移动(例如俯视时呈直线移动)。此外，所述试样载置台移动机构构成为：使所述试样载置台沿着与所述第一方向交叉的第二方向，在所述测定载置台位置与所述退避载置台位置之间移动(例如俯视时呈直线移动)。在本发明的一实施方式中，所述试样载置台具备用于使所述试样保持器相对于该试样载置台进行拆装的拆装部。优选试样载置台构成为：以能够更换的方式将保持一个试样(例如保持一个试样单元)的第一试样保持器和保持多个试样(例如保持多个试样单元)的第二试样保持器装接于所述试样载置台。在本发明的一实施方式中，所述试样保持器构成为：沿着所述第二方向将多个试样保持在所述试样载置台上(例如保持多个试样单元)。所述试样载置台移动机构以在所述内部测定对象位置配置所述多个试样中的任意一个(例如配置多个试样单元中的任意一个)的方式使所述试样载置台移动。在本发明的一实施方式中，所述光学测定装置还包含：外部测定基座，构成为能够结合于所述主体基座；以及外部试样保持器，被所述外部测定基座支承。外部试样保持器在所述外部测定基座装配于所述主体基座时以将试样呈现(配置)在所述外部测定对象位置的方式保持该试样。所述外部试样保持器也可以构成为经由容纳有试样的容器或者供试样流通的配管来保持试样。在本发明的一实施方式中，所述外部试样保持器构成为保持多个试样。所述光学测定装置还包含使所述外部试样保持器在所述外部测定基座上移动来将所述多个试样中的任意一个呈现(配置)在所述外部测定对象位置的外部试样移动机构。在本发明的一实施方式中，所述外部试样保持器构成为保持容纳试样的烧杯或者试管、或者供流体状的试样流通的配管构件。在本发明的一实施方式中，所述测定光学系统构成为：向测定对象位置照射光，检测从所述测定对象位置散射的散射光，输出与所检测到的该散射光对应的检测信号(例如光信号或者电信号)。所述光学测定装置还包含基于所述测定光学系统所输出的检测信号，来解析所述试样中所包含的粒子的粒径的粒径解析装置。在本发明的一实施方式中，所述粒径解析装置通过动态光散射法来解析粒径。在本发明的一实施方式中，提供一种使用具有所述特征的光学测定装置来进行对试样的光学测定的方法。光学测定也可以是基于动态光散射法的粒径的测定。更具体而言，本发明的一实施方式提供一种光学测定方法，其使用包含主体基座、能够移动地结合于主体基座的光学基座、以及固定于所述光学基座的测定光学系统的光学测定装置。该方法包含：通过使所述光学基座相对于所述主体基座进行相对移动，来将所述测定光学系统的测定对象位置配置在设定于所述主体基座外(更具体而言为光学测定装置的壳体外)的外部测定对象位置的步骤。所述方法包含将试样配置在所述外部测定对象位置的步骤。所述方法包含在所述测定光学系统的测定对象位置配置在所述外部测定对象位置且在所述外部测定对象位置配置有试样的状态下，取得所述测定光学系统的检测信号的步骤。在本发明的一实施方式中，通过使所述光学基座相对于所述主体基座进行相对移动，能够使所述测定光学系统的测定对象位置在设定于所述主体基座内(更具体而言为光学测定装置的壳体内)的内部测定对象位置与所述外部测定对象位置之间移动。然后，所述光学测定装置包含被所述主体基座支承并配置有用于保持试样的试样保持器的试样载置台。而且，所述光学测定方法包含使所述试样载置台从将所述试样呈现在所述内部测定对象位置的测定载置台位置退避的步骤。此外，在本发明的一实施方式中，所述测定光学系统构成为：向测定对象位置照射光，检测从所述测定对象位置散射的散射光，输出与所检测到的该散射光对应的检测信号(例如光信号或者电信号)。然后，所述光学测定方法还包含基于所述测定光学系统的输出信号来解析所述试样中所包含的粒子的粒径的步骤。发明效果根据本发明，能够提供一种能够应对用户的各种需求的光学测定装置以及光学测定方法。本发明的上述的或者其他的目的、特征以及效果通过参照附图进行如下叙述的实施方式的说明来明确。附图说明图1为表示本发明的第一实施方式的光学测定装置的构成的图解性俯视图。图2为表示使用了多单元保持器的情况下的构成的图解性俯视图。图3为表示结合了自动取样器(autosampler)的情况下的构成的图解性俯视图。图4为表示结合了烧杯(beaker)保持器(holder)的情况下的构成的图解性俯视图。图5为表示结合了试管保持器的情况下的构成的图解性俯视图。图6为表示结合了配管保持器的情况下的构成的图解性俯视图。图7为用于对所述光学测定装置的电构成进行说明的框图。图8为用于对与使用了所述光学测定装置的测定相关连的动作进行说明的流程图。图9为表示本发明的第二实施方式的光学测定装置的构成的图解性俯视图。图10为表示本发明的第三实施方式的光学测定装置的构成的图解性俯视图。具体实施方式图1为表示本发明的第一实施方式的光学测定装置的构成的图解性俯视图。光学测定装置1包含散射光检测装置2和与其连接的处理装置3。处理装置3可以具有计算机的形态。处理装置3也可以具有作为对散射光检测装置2进行控制的控制装置的功能、以及作为基于散射光检测装置2的输出来对测定对象的性质进行解析的解析装置的功能。处理装置3包含处理装置主体4、显示装置5、以及操作装置6。操作装置6包含键盘、指示器(pointingdevice)等输入装置。散射光检测装置2和处理装置3利用通信电缆7来连接。散射光检测装置2具备主体基座(base)10、光学基座11、以及试样载置台(stage)12，它们容纳于壳体13。主体基座10也可以是其一部分或者全部都独立于壳体13的构件。此外，主体基座10也可以是壳体13的一部分。即，壳体13也可以构成主体基座10。散射光检测装置2还具备使光学基座11相对于主体基座10进行相对移动的光学基座移动机构21。散射光检测装置2还具备使试样载置台12相对于主体基座10移动的试样载置台移动机构22。光学基座11能够沿着作为水平方向的x方向(第一方向)移动地结合于主体基座10。光学基座移动机构21使光学基座11沿着x方向移动。在本实施方式中x方向为俯视时与矩形的壳体13的一边(例如装置正面的边)平行的方向。试样载置台12能够沿着作为俯视时与x方向交叉(本实施方式中为正交)的水平方向的y方向(第二方向)移动地结合于主体基座10。试样载置台移动机构22使试样载置台12沿着y方向移动。在本实施方式中，y方向为俯视时与矩形的壳体13的另一边(例如装置侧面的边)平行的方向。在光学基座11固定有测定光学系统30。测定光学系统30包含多个光学零件，各光学零件固定于光学基座11。即，光学基座11一体地支承构成测定光学系统30的多个光学零件。光学基座11既可以为板状，也可以为箱状。也可以由光学基座11和被其支承的多个光学零件来构成测定光学系统组件。多个光学零件包含光源单元31、镜32、光投射透镜33、以及检测透镜34。光源单元31例如可以是激光光源，也可以包含半导体激光元件。光源单元31也可以构成为能够变更所产生的光的波长。由光源单元31产生的光被镜32反射而被引导至光投射透镜33，并通过光投射透镜33朝向其光轴上的焦点位置33a进行聚光，形成照射试样s的照射光l1。也可以在从光源单元31到光投射透镜33的光路上的任意位置配置用于调整光量的减光单元。光投射透镜33的焦点位置33a以及其附近为基于测定光学系统30的测定对象位置30a。如果在该测定对象位置30a配置有试样s，则照射光l1会因此试样s而散射，产生散射光l2。检测透镜34以与光投射透镜33的光轴交叉的方式设定光轴并固定于光学基座11。检测透镜34使来自试样s的散射光l2朝向其光轴上的焦点位置34a进行聚光。在其焦点位置34a配置有光纤(opticalfiber)35的入射端35a。光纤35的入射端35a通过光纤固定构件36而固定于光学基座11。光纤35的出射端35b与检测器37进行光耦合。检测器37包含光电转换元件。检测器37输出与所接收到的光量对应的检测信号(电信号)。在本实施方式中，检测器37在光学基座11外容纳于壳体13内。检测器37也可以固定在光学基座11上，而成为固定在光学基座11上的测定光学系统30的构成要素。在该情况下，优选省略光纤35，而在检测透镜34的焦点位置34a配置检测器37的受光面。检测器37所输出的检测信号输入至控制器90(参照图7)。控制器90对检测信号进行a/d转换(模数转换)，并进行运算处理。控制器90的运算处理结果经由通信电缆7输入至处理装置3。光学基座11能够沿着x方向在内部测定位置11a与外部测定位置11b之间移动。在光学基座11位于内部测定位置11a时，基于测定光学系统30的测定对象位置30a位于设定在壳体13的内部的内部测定对象位置30a。换言之，以测定光学系统30的测定对象位置30a成为内部测定对象位置30a的方式来确定光学基座11的内部测定位置11a。内部测定对象位置30a不需要必须是一个位置，也可以包含多个不同的x方向位置(离散的多个位置)，此外还可以是x方向上连续的区间内的任意的位置(连续的位置)。另一方面，在光学基座11位于外部测定位置11b时，测定光学系统30的测定对象位置30a位于设定在壳体13的外部(特别是俯视时的外部)的外部测定对象位置30b。换言之，以测定光学系统30的测定对象位置30a成为外部测定对象位置30b的方式来确定光学基座11的外部测定位置11b。外部测定对象位置30b不需要必须是一个位置，也可以包含多个不同的x方向位置(离散的多个位置)，此外还可以是x方向上连续的区间内的任意的位置(连续的位置)。如此，该光学测定装置1具有：将测定光学系统30的测定对象位置30a配置在内部测定对象位置30a的内部测定模式、以及将测定光学系统30的测定对象位置30a配置在外部测定对象位置30b的外部测定模式。试样载置台12具备用于相对于该试样载置台12拆装试样保持器h的拆装机构16。拆装机构16构成为：将试样保持器h定位并保持在试样载置台12上的规定位置，且能够根据需要解除此保持状态。试样保持器h构成为保持试样单元c。试样单元c保持试样s。试样单元c由能够使光源单元31所产生的波长的光透过的材料，例如玻璃或者透明树脂构成。试样单元c也可以是俯视时为矩形的四角筒状容器。试样s的典型例为液体。特别地也可以是液中分散有微小粒子的液体试样s保持在试样单元c。图1中示出了构成为一次仅保持一个试样单元c的单一单元型试样保持器h(单一单元保持器hs)。也可以如图2所示那样在试样载置台12装配构成为能够同时保持多个试样单元c的多单元型试样保持器h(多单元保持器hm)。即，通过利用拆装机构16，能够根据需要来选择单一单元保持器hs和多单元保持器hm中的任意一者并装配于试样载置台12。如此，拆装机构16是用于能够更换地使试样保持器h保持在试样载置台12的机构。多单元保持器hm构成为：沿着一个方向排列(即俯视时直线地排列)并保持多个(图2的示例中为5个)的试样单元c。在将多单元保持器hm装配于试样载置台12的状态下，多个试样单元c沿y方向排列。单一单元保持器hs所保持的试样单元c和多单元保持器hm所保持的试样单元c也可以是不同形态。具体而言，可以是：单一单元保持器hs被设计成保持尺寸较大的试样单元c，而多单元保持器hm被设计成保持尺寸较小的试样单元c。小尺寸的试样单元c具有准备少量的试样s就能够进行测定的优点。在试样载置台12具备用于对试样保持器h所保持的试样单元c(更具体而言为其内部所容纳的试样s)的温度进行调节的温度调节单元14。试样载置台12以能够沿着试样s通过内部测定对象位置30a的路径在y方向移动的方式被支承于主体基座10。试样载置台移动机构22使试样载置台12沿着y方向在测定载置台位置12a与退避载置台位置12b之间移动。在试样载置台12位于测定载置台位置12a时，试样保持器h所保持的试样单元c内的试样s的y方向位置与内部测定对象位置30a匹配。换言之，以试样位置与内部测定对象位置30a匹配的方式来确定测定载置台位置12a。测定载置台位置12a不需要必须是一个位置，也可以包含多个不同的y方向位置(离散的多个位置)，还可以是y方向上连续的区间内的任意的位置(连续的位置)。使用单一单元保持器hs时的测定载置台位置12a为，被单一单元保持器hs保持的单一的试样单元c所保持的试样s的位置与内部测定对象位置30a匹配的y方向位置。使用多单元保持器hm时的测定载置台位置12a为，被多单元保持器hm保持的多个试样单元c分别保持的多个试样s的位置与内部测定对象位置30a匹配的多个y方向位置。另一方面，退避载置台位置12b为试样载置台12从测定载置台位置12a在y方向退避(避开)的位置。在光学基座11配置于外部测定位置11b时，试样载置台12在y方向退避以免干扰光学基座11。此时的试样载置台12的y方向位置为退避载置台位置12b。散射光检测装置2的壳体13俯视时为矩形。相当于其矩形的一边的外表面(本实施方式中为侧面)提供用于根据需要将外部测定基座结合(直接或者间接地结合)于主体基座10的外部测定基座结合面13a。外部测定基座结合面13a为与x方向交叉(本实施方式中为正交)的面。优选外部测定基座结合面13a具有大致平坦的铅垂面，尤其优选，至少与外部测定基座的结合部分形成为俯视时实质上呈没有凹凸的直线的平坦面。内部测定对象位置30a与外部测定对象位置30b隔着外部测定基座结合面13a分开位于壳体13的内侧和外侧。就是说，通过光学基座11的x方向移动，测定光学系统30的测定对象位置30a越过外部测定基座结合面13a而在壳体13的内外间移动。图3、图4、图5、以及图6分别示出了具有能够结合于外部测定基座结合面13a的外部测定基座的多个可选设备的示例。图3示出了在外部测定基座结合面13a结合自动取样器40的构成例。自动取样器40包含：固定于外部测定基座结合面13a的外部测定基座41、以及被外部测定基座41可旋转地支承的旋转工作台42。旋转工作台42通过旋转驱动机构43而绕沿着铅垂方向的旋转轴线44旋转。旋转驱动机构43为外部试样移动机构的一例。旋转工作台42具备沿着绕旋转轴线44的圆周将多个试样单元c排列成环状进行保持的试样保持器部45，是外部试样保持器的一例。其圆周在自动取样器40结合于外部测定基座结合面13a的状态下通过外部测定对象位置30b。因而，通过旋转工作台42旋转，将多个试样单元c依次配置于外部测定对象位置30b，能将其内部的试样s呈现于外部测定对象位置30b。外部测定对象位置30b既可以位于试样单元c的内表面的内侧，也可以位于试样单元c的内表面与试样s的界面。旋转工作台42也可以还具备用于对试样保持器部45所保持的试样单元c进行温度调节(加热和/或冷却)的温度调节单元46。图4示出了在外部测定基座结合面13a结合烧杯保持器50的构成例。烧杯保持器50构成为保持容纳有试样s的烧杯53。烧杯保持器50包含：固定于外部测定基座结合面13a的外部测定基座51、以及设于外部测定基座51上的作为外部试样保持器的定位构件52。外部测定基座51具有供烧杯53载置的水平的载置面51a。定位构件52为在载置面51a上对烧杯53的配置进行限制的构件，可以是具有与烧杯53的侧面形状匹配的内壁面的环状构件。将容纳有试样s的烧杯53配置在被定位构件52限制出的位置，由此，能够将烧杯53内的试样s呈现于外部测定对象位置30b。外部测定对象位置30b既可以位于烧杯53的内表面的烧杯53的内侧，也可以位于烧杯53的内表面与试样s的界面。烧杯53由能够使光源单元31所产生的光透过的材料构成，具体而言由玻璃或者透明树脂构成。图5示出了在外部测定基座结合面13a结合试管保持器60的构成例。试管保持器60构成为保持容纳有试样s的试管63。试管保持器60包含：固定于外部测定基座结合面13a的外部测定基座61、以及设置在外部测定基座61上的作为外部试样保持器的定位构件62。定位构件62为对试管63的配置进行限制的构件，可以包含上下隔开间隔排列配置的一对管部62a、62b。以穿过该一对管部62a、62b的方式配置容纳有试样s的试管63。由此，能够将试管63内的试样s呈现于外部测定对象位置30b。外部测定对象位置30b既可以位于试管63的内表面的试管63的内侧，也可以位于试管63的内表面与试样s的界面。试管63由能够使光源单元31所产生的光透过的材料、例如玻璃或者透明树脂构成。图6示出了在外部测定基座结合面13a结合配管保持器70的构成例。配管保持器70构成为保持供试样s流通的配管73。配管保持器70包含：固定于外部测定基座结合面13a的外部测定基座71、以及设置在外部测定基座71上的作为外部试样保持器的配管固定构件72。配管固定构件72为对配管73的配置进行限制的构件。通过配管固定构件72来对供试样s流通的配管73进行定位和固定，由此，能够将配管73内的试样s呈现于外部测定对象位置30b。配管73由能够使光源单元31所产生的光透过的材料、例如玻璃或者透明树脂构成。外部测定对象位置30b既可以位于配管73的内表面的配管73的内侧，也可以位于配管73的内表面与试样s的界面。例如，一对配管固定构件72上下隔开间隔地设置。通过这些配管固定构件72固定配管73，由此，配管73具有在一对配管固定构件72之间呈沿着铅垂方向的直线状形态的试样呈现部73p。配管73具有：与试样呈现部73p的一侧(优选下侧)相连的试样流入部73a、以及与试样呈现部73p的另一侧(优选上侧)相连的试样流出部73b。在试样流入部73a夹装有流入侧开闭阀75a，在试样流出部73b夹装有流出侧开闭阀75b。开闭阀75a、75b可以由能够由控制器90(参照图7)进行控制的电磁阀构成。在实施对试样s的测定时，可以是开闭阀75a、75b均被控制为关闭状态，试样呈现部73p中的试样s的流动停止。特别优选在进行后述的基于动态光散射法的粒径的测定时，关闭开闭阀75a、75b来使试样s的流动停止。在本实施方式中，试样呈现部73p沿着铅垂方向直立，因此，试样呈现部73p的流路隔着外部测定对象位置30b具有高低差。由此，试样s中的气泡会向上方移动而远离外部测定对象位置30b，因此，能够实现抑制了由气泡造成的影响的高精度的测定。特别是，通过将试样流入部73a结合于试样呈现部73p的下侧，将试样流出部73b结合于试样呈现部73p的上侧，关闭开闭阀75a、75b后的气泡向上方的移动易于顺畅地进行。在关闭开闭阀75a、75b时，与立即关闭的情况相比，优选逐渐缩小开度地向关闭状态过渡。由此，能够抑制由开闭阀75a、75b的急速关闭产生的冲击，所以，在关闭开闭阀75a、75b后短时间内试样s的状态稳定。开闭阀75a、75b的开闭定时(timing)可以是同时，也可以错开时间差来对开闭阀75a、75b进行开闭。在图3～图6的任意情况下，都在外部测定基座结合面13a设有用于供从光投射透镜33朝向外部测定对象位置30b的照射光l1以及从外部测定对象位置30b朝向检测透镜34的散射光l2透过的窗15。窗15为形成于壳体13的开口。也可以在该开口嵌入由使光透过的材料构成的透明板。在不结合外部测定基座41、51、61、71而以单体的形式使用散射光检测装置2的图1或者图2的构成的情况下，无需在壳体13设置上述窗15。图7为用于对本实施方式的光学测定装置的电构成进行说明的框图，示出了连接有自动取样器40的情况下的构成例(一并参照图3)。散射光检测装置2包含控制器90。控制器90包含cpu(中央处理装置)91以及存储器92。存储器92存储有由cpu91执行的程序。存储器92还提供用于cpu91的运算处理的工作区域。存储器92还用于临时存储由散射光检测装置2所具备的检测器37检测到的信号以外的数据、或者临时存储从处理装置3发送来的命令以及数据。控制器90经由散射光检测装置2的内部信号线95连接有内部的传感器类以及驱动器类。更具体而言，在内部信号线95连接有光源单元31、检测器37、光学基座移动机构21、试样载置台移动机构22、以及温度调节单元14等。控制器90经由内部信号线95对光源单元31、光学基座移动机构21、试样载置台移动机构22、以及温度调节单元14进行控制。此外，控制器90经由内部信号线95取得检测器37的输出信号。光源单元31包含由控制器90进行控制的激光光源(例如半导体激光元件)。光源单元31也可以构成为：通过由控制器90进行控制，来对输出、发光波长以外的输出特性进行控制。光学基座移动机构21也可以具备电动马达(以下称作“x轴马达”。)21m，来作为由控制器90进行施控制的驱动器。试样载置台移动机构22也可以具备电动马达(以下称作“y轴马达”。)22m，来作为由控制器90进行控制的驱动器。温度调节单元14也可以具备加热器、珀耳贴元件、以及气冷风扇等，来作为由控制器90进行控制的驱动器。在图7的构成例中，内部信号线95经由连接器96连接于自动取样器40的内部信号线48。因而，散射光检测装置2的控制器90能够取得自动取样器40所具备的传感器类的输出信号，且能够对自动取样器40所具备的驱动器进行控制。在自动取样器40的内部信号线48连接有旋转驱动机构43以及温度调节单元46。旋转驱动机构43也可以具备电动马达(以下称作“θ轴马达”。)43m，来作为由控制器90进行控制的驱动器。此外，温度调节单元46也可以具备加热器、珀耳贴元件、以及气冷风扇等，来作为由控制器90进行控制的驱动器。而且，自动取样器40也可以具备检测旋转工作台42的旋转位置的旋转位置传感器(传感器类的一例)47。这样的旋转位置传感器47连接于内部信号线48。控制器90还构成为，经由通信电缆7连接于处理装置3，能够在与处理装置3之间收发控制信号以及数据。通过这样的构成，能够根据来自处理装置3的指令来使散射光检测装置2以及自动取样器40的各部工作，在处理装置3取得散射光检测装置2的输出信号。处理装置3如上所述具有作为计算机的形态。预先准备用于执行使用了光学测定装置1的测定的程序，用户能够通过在处理装置3上执行此程序来进行利用了光学测定装置1的测定。处理装置3具备：作为存储程序101以及数据102的介质(media)的存储装置100、以及执行程序101的处理器(cpu)105。通过处理器105执行程序101，处理装置3发挥作为对散射光检测装置2等进行控制的控制装置的功能、以及作为对散射光检测装置2的输出信号进行解析的解析装置的功能。图8为用于对测定时的用户的顺序以及光学测定装置1的动作进行说明的流程图。在该例中，对使用了单一单元保持器hs的测定、使用了多单元保持器hm的测定、以及使用了自动取样器40的测定中的任意一者的情况进行说明。用户操作处理装置3所具备的操作装置6，从显示装置5所显示的测定菜单中选择“单一单元模式”、“多单元模式”、以及“自动取样器模式”中的任意一者(步骤s0)。单一单元模式是指使用了单一单元保持器hs的测定模式，在执行对单一单元保持器hs所保持的一个试样单元c的测定的情况下选择(参照图1)。多单元模式是指使用了多单元保持器hm的测定模式，在执行对多单元保持器hm所保持的一个或者多个(本实施方式中最大为5个)的试样单元c的测定的情况下选择(参照图2)。自动取样器模式是指使用了自动取样器40的测定模式，在执行对自动取样器40的旋转工作台42所保持的一个或者多个(例如最大50个)的试样单元c的测定的情况下选择(参照图3)。当选择了单一单元模式时(步骤s0)，从处理装置3向控制器90给出单一单元模式选择指令。控制器90控制y轴马达22m来将试样载置台12配置于测定载置台位置12a，使试样单元c的y方向位置与内部测定对象位置30a匹配(步骤s1)。而且，控制器90控制x轴马达21m来将光学基座11配置于内部测定位置11a(步骤s2)。由此，测定光学系统30的测定对象位置30a被配置于内部测定对象位置30a。控制器90还控制光源单元31来产生检测用的光(步骤s3)。在该状态下，控制器90会根据需要控制x轴马达21m来使光学基座11沿x方向移动，在x方向上对光投射透镜33的焦点位置进行微调(步骤s4)。具体而言，控制器90对光投射透镜33的焦点的x方向位置进行微调，使得检测器37检测到适当光量的光。液体的试样s大致分为稀释类试样和浓厚类试样。稀释类试样是指检测光能够透过的试样，胶体溶液为典型例。浓厚类试样是指检测光实质上无法透过的试样，乳浊液或者悬浊液为典型例。对于稀释类试样，如果照射光l1的焦点位于液体试样中的任意的位置，则散射光会经由检测透镜34射入至检测器37。因此，光投射透镜33的焦点的x方向位置微调并不是必须的。与此相对，对于浓厚类试样，当照射光l1的焦点位于向内侧较深地远离试样单元c与试样s的界面的位置时，无法通过检测透镜34将足够的散射光引导至检测器37。因此，需要将光投射透镜33的焦点的x方向位置调整到试样单元c与试样s的界面附近。当如此进行所需的调整时，开始取得检测器37的输出信号，从控制器90向处理装置3发送代表(表示)所取得的此信号的光量数据(步骤s5：散射光测定)。如此，进行散射光l2的光量测定。处理装置3将基于接收到的光量数据的检测结果显示在显示装置5(步骤s6)。当选择了多单元模式时(步骤s0)，从处理装置3向控制器90给出多单元模式选择指令。控制器90控制y轴马达22m来将试样载置台12配置于测定载置台位置12a。此时，多单元保持器hm所保持的多个试样单元c中的一个试样单元c的y方向位置与内部测定对象位置30a匹配(步骤s11)。处理装置3也可以向控制器90给出用于选择任意的试样单元c的试样单元指定信号。在该情况下，控制器90控制试样载置台12的y方向位置，使得所选择出的此试样单元c配置在内部测定对象位置30a。而且，控制器90控制x轴马达21m来将光学基座11配置于内部测定位置11a(步骤s12)。由此，测定光学系统30的测定对象位置30a被配置于内部测定对象位置30a。在该状态下，控制器90控制光源单元31来产生检测用的光(步骤s13)。控制器90根据需要控制x轴马达21m来使光学基座11沿x方向移动，对光投射透镜33的焦点的x方向位置进行微调(步骤s14)。该微调的目的如上所述。当如此进行所需的调整时，开始取得检测器37的输出信号，从控制器90向处理装置3发送代表所取得的此信号的光量数据(步骤s15：散射光测定)。如此，进行散射光l2的光量测定。处理装置3将基于接收到的光量数据的检测结果显示在显示装置5(步骤s16)。处理装置3判断多单元保持器hm所保持的多个试样单元c之中是否存在一个或者多个未测定的试样单元c(步骤s17)。如果存在未测定的试样单元c(步骤s17：是)，则处理装置3指定未测定的试样单元c中的一个，并向控制器90给出测定指令。由此，进行步骤s11之后的处理。重复这样的动作，直至结束对多单元保持器hm所保持的所有试样单元c或者处理装置3指定为测定对象的所有试样单元c的测定(步骤s17：否)。自动取样器模式为自动取样器40连接于散射光检测装置2时生效的测定模式。当选择了自动取样器模式时(步骤s0)，从处理装置3向控制器90给出自动取样器模式选择指令。控制器90控制y轴马达22m来使试样载置台12向退避载置台位置12b退避(步骤s20)，并控制x轴马达21m来将光学基座11配置于外部测定位置11b(步骤s21)。由此，测定光学系统30的测定对象位置30a被配置在外部测定对象位置30b。而且，控制器90控制θ轴马达43m来使旋转工作台42旋转，使旋转工作台42所保持的多个试样单元c中的一个与外部测定对象位置30b匹配(步骤s22)。处理装置3也可以向控制器90给出用于选择试样单元c的试样单元指定信号。在该情况下，控制器90控制旋转工作台42的旋转位置，使得所选择的此试样单元c配置在外部测定对象位置30b。在该状态下，控制器90控制光源单元31来产生检测用的光(步骤s23)。控制器90根据需要控制x轴马达21m来使光学基座11沿x方向移动，对光投射透镜33的焦点的x方向位置进行微调(步骤s24)。该微调的目的如上所述。当如此进行所需的调整时，控制器90取得检测器37的输出信号，并对所取得的此信号执行用于测定的运算处理(步骤s25：散射光测定)。控制器90将运算处理结果发送至处理装置3。处理装置3将接收到的运算处理结果作为散射光检测装置2的检测结果显示在显示装置5(步骤s26)。处理装置3还可以进一步对接收到的运算处理结果进行解析，并将通过此解析得到的信息一并显示在显示装置5。处理装置3判断旋转工作台42所保持的多个试样单元c之中是否存在一个或者多个未测定的试样单元c(步骤s27)。如果存在未测定的试样单元c，则处理装置3指定未测定的试样单元c中的一个，并向控制器90给出测定指令。由此，执行步骤s22之后的处理。重复这样的动作，直至结束对旋转工作台42所保持的所有试样单元c或者处理装置3指定为测定对象的所有试样单元c的测定(步骤s27：否)。能够使用本实施方式的光学测定装置1来执行的光学测定法的一例为基于动态光散射法的粒径的测定。在该情况下，在试样单元c容纳有液体中分散有微粒子的悬浊液(或者乳浊液)或者溶液来作为试样s。对此试样s中的微粒子的粒径进行测定。悬浊液(或者乳浊液)或者溶液中的微粒子(纳米粒子)进行布朗(brown)运动，其速度取决于微粒子的大小。就是说，越大的粒子运动越慢，越小的粒子运动越快。在动态光散射法中，向悬浊液或者溶液射入激光，对来自微粒子的散射光进行检测。来自通过布朗运动而无规则(random)地移动的微粒子的散射光强度会随时间变动而产生波动。该变动(散射光强度的波动)取决于布朗运动的速度。即，由较大的粒子的运动引起的散射光强度的变动平稳，由较小的粒子的运动引起的散射光强度会激烈变动。能通过对该波动的自相关函数或者频谱进行解析来求得微粒子的扩散系数d。能够使用如此求得的扩散系数d，根据下述算式(1)所示的stokes-einstein的算式，来计算出流体力学的径(粒径d)。d：粒径(nm)kb：波尔兹曼常数(1.38×10－23j·k－1)t：绝对温度(k)η：稀释液的粘度(mpa·s)d：扩散系数(m2·s－1)更具体的顺序如以下所示。从光源单元31产生激光(单色且可干涉的光)来作为照射光l1照射于试样s。通过检测器37来检测来自试样s的散射光l2从而取得散射光强度信号，将此散射光强度信号保存至控制器90的存储器92。该散射光强度信号包含由试样s中的粒子的布朗运动引起的时间性的变化(波动)。根据检测器37所输出的某个时间内的散射光强度信号，通过控制器90来计算出自相关函数或者频谱(frequencyspectrum)。控制器90将所计算出的自相关函数或者频谱发送至处理装置3。处理装置3根据此自相关函数或者频谱来求出代表粒子的波动的程度的扩散系数d，并代入上述算式(1)，由此，求出粒径d。在该情况下，处理装置3作为粒径解析装置来发挥功能。在光散射的测定中，仅检测通过入射光学系统(包含光投射透镜33)以及检测光学系统(包含检测透镜34)确定的来自固定的观测体积中的微粒子的散射光。将此时的观测体积称作散射体积。来自适当的散射体积中的微粒子的散射光相干性(coherence)较高，有助于高精度的测定。在微粒子特别小时、浓度较低时等，能够通过增大散射体积来增大散射光强度，但是，会导致相干性因子的减少而牺牲相干性。在本实施方式的散射光检测装置2中，为测定光学系统30的一系列构成要素固定在光学基座11上且它们一体地移动的构造。因此，无论测定对象位置在内部测定对象位置30a还是在外部测定对象位置30b，都能够容易地实现不改变散射体积条件的测定。因而，能够实现高精度的测定。如以上所述，本实施方式的光学测定装置1包含：主体基座10、可移动地结合于主体基座10的光学基座11、固定于光学基座11的测定光学系统30、以及使光学基座11在内部测定位置11a与外部测定位置11b之间移动的光学基座移动机构21。测定光学系统30对测定对象位置30a照射照射光l1来检测在测定对象位置30a散射的散射光l2。通过使光学基座11在内部测定位置11a与外部测定位置11b之间移动，能够使测定光学系统30的测定对象位置30a在内部测定对象位置30a与外部测定对象位置30b之间移动。内部测定对象位置30a设定在主体基座10内，外部测定对象位置30b设定在主体基座10外。因而，通过使光学基座11移动，能够将测定对象位置30a设定在主体基座10内或者主体基座10外。由此，如果根据需要将外部测定基座41、51、61、71结合于主体基座10，且在此结合的外部测定基座41、51、61、71上将试样s配置于外部测定对象位置30b，则能够进行对配置在主体基座10外的试样s的测定。因而，能够采用在主体基座10上配置基本的光学测定所需的最小限度的构成的设计。然后，能够根据需要通过在主体基座10结合外部测定基座41、51、61、71来进行功能扩展。由此，能够使主体基座10小型化，与其对应地能够缩小装置设置面积、能够抑制零件个数、能够简化构成、能够降低制造成本。并且是根据需要将附加了不同的扩展功能的外部测定基座41、51、61、71结合于具备基本功能的主体基座10的构成。因此，能够提供在共同应用主体基座10所具备的构成的设计的同时还具备不同的扩展功能的多个规格的光学测定装置1。由此，能够削减设计成本且能够削减与多个型号分别对应的专用零件。除此以外，在用户购买了不具备自动取样器40的仅基本构成的型号的装置的情况下，能够在之后根据需要事后追加自动取样器40。此外，还能够变更外部测定基座41、51、61、71的种类，所以，例如还能够将装置从具备烧杯保持器50的构成变更为具备自动取样器40的构成。如此，装置自身不用买新的或者多买，由于能够进行扩展功能部分的追加或者变更，因此，能够减轻用户经济上的负担。在本实施方式中，散射光检测装置2被支承于主体基座10，并包含配置有用于保持试样s(更具体而言为试样单元c)的试样保持器h的试样载置台12。然后，内部测定对象位置30a与试样保持器h所保持的试样s(更具体而言为试样单元c)的位置对应。由此，能够在主体基座10内执行对试样s的光学测定。此外，在本实施方式中，散射光检测装置2还包含使试样载置台12相对于主体基座10进行相对移动的试样载置台移动机构22。由此，试样载置台12会使试样保持器h所保持的试样s(更具体而言为试样单元c)在配置于内部测定对象位置30a的测定载置台位置12a与不会阻碍基于测定光学系统30的外部测定对象位置30b处的测定的退避载置台位置12b之间移动。由此，能够无障碍地进行主体基座10上的光学测定以及主体基座10外的光学测定这两方。更具体而言，在本实施方式中，光学基座11构成为：沿着相对于试样保持器h所保持的试样(具体而言为试样单元c)接近/分离的x方向(第一方向)移动(本实施方式中俯视时呈直线移动)。另一方面，试样载置台12构成为：沿着与x方向交叉(本实施方式中为正交)的y方向(第二方向)移动(本实施方式中俯视时呈直线移动)。因而，试样载置台12沿y方向移动来退避至退避载置台位置12b，由此，光学基座11能够移动至外部测定位置11b。光学基座11沿着相对于试样s接近/分离的x方向移动，因此，使测定光学系统30沿x方向移动，由此，能够相对于试样s调整测定光学系统30的焦点位置。即，用于焦点位置的微调的光学基座11的移动和用于内部测定位置11a与外部测定位置11b的切换的光学基座11的移动方向为相同方向。因此，能够为了光学基座11的移动以及焦点位置的微调而共同使用光学基座移动机构21。由此，能够使构造简单化以及小型化，与其对应地，能够谋求成本下降。并且，在本实施方式中，使测定光学系统30整体与试样s接近/分离地进行焦点位置的微调，因此，如上所述，散射体积实质上不会变化。由此，能够实现高精度的光学测定。此外，在本实施方式中，试样保持器h相对于试样载置台12拆装自如。因此，能够选择保持一个试样s(具体而言为一个试样单元c)的单一单元保持器hs和保持多个试样s(具体而言为多个试样单元c)的多单元保持器hm中的任意一者来装接于试样载置台12，能够根据需要来对它们进行更换。因而，通过主体基座10上的构成，不仅能够进行对单一的试样单元c的光学测定，还能够进行对多个试样单元c的连续光学测定。由此，即使只是未结合外部测定基座41、51、61、71的基本构成，也能够提供可用性良好的光学测定功能。而且，在本实施方式中，在试样载置台12装接有多单元保持器hm时，多单元保持器hm所保持的多个试样单元c沿着y方向(第二方向)排列。然后，试样载置台移动机构22使试样载置台12沿y方向移动，来将多个试样单元c中的任意一个试样单元c配置在内部测定对象位置30a。因而，在内部测定对象位置30a依次呈现多个试样单元c，由此，能够连续地执行对多个试样单元c的测定。然后，对试样单元c进行切换时的试样载置台移动方向与在测定载置台位置12a和退避载置台位置12b变更试样载置台位置时的试样载置台移动方向是共同的。因此，能够为了上述目的而共同使用试样载置台移动机构22，而无需使试样载置台12沿着多个方向移动。由此，能够使用于移动试样载置台12的构成简单化以及小型化，与其对应地，能够抑制装置的制造成本。能够根据用户的需求在散射光检测装置2的主体基座10结合外部测定基座41、51、61、71，由此，能够采用具备外部可选设备的装置构成。即，能够将散射光检测装置2设为具备自动取样器40、烧杯保持器50、试管保持器60、以及配管保持器70等外部可选设备的构成。这些外部可选设备所具备的外部试样保持器(42、52、62、72)构成为将试样s呈现于外部测定对象位置30b。因而，通过将光学基座11配置在外部测定位置11b，能够进行利用了外部可选设备的光学测定。具体而言，能够通过利用自动取样器40来连续且短时间地进行对许多试样s的光学测定。此外，通过使用烧杯保持器50、试管保持器60，能够不用将试样s转移至专用的试样单元c地进行光学测定。而且，通过使用配管保持器70，能够进行对在配管73中通过并流通的试样s的光学测定。图9为用于对本发明的第二实施方式的光学测定装置201的构成进行说明的图解性俯视图。在图9中，对图1的对应部分标注与图1相同的附图标记。在本实施方式中，试样载置台12的测定载置台位置12a配置为不会阻碍光学基座11的向外部测定位置11b的移动。即，测定载置台位置12a被设定在光学基座11的内部测定位置11a与外部测定位置11b之间的光学基座11的移动路径外。因而，无论是在内部测定模式中还是在外部测定模式下，只要试样载置台12配置在测定载置台位置12a即可，而无需从测定载置台位置12a退避。另一方面，光学基座11能够沿水平方向平行移动，且在能够绕沿着铅垂方向的旋转轴线17旋转的状态下被主体基座10支承。虽省略了详细的图示，但光学基座移动机构21包含直线驱动机构以及旋转驱动机构。例如，可以是：直线驱动机构使支承旋转驱动机构的直线运动滑块相对于主体基座10沿x方向进行直线移动，而旋转驱动机构使光学基座11相对于直线运动滑块绕旋转轴线17进行旋转驱动。在该情况下，旋转轴线17伴随着直线运动滑块的x方向移动沿x方向移动。此外，也可以是：旋转驱动机构使支承直线运动滑块的旋转滑块相对于主体基座10绕旋转轴线17旋转，而直线驱动机构使光学基座11相对于旋转滑块沿水平方向进退。在该情况下，旋转轴线17相对于主体基座10不移动，直线驱动机构使光学基座11沿相对于旋转轴线17接近/分离的放射方向进退。在任意构成的情况下，光学基座11都能够实现沿着水平方向的平行移动和绕铅垂的旋转轴线17的旋转移动，能够实现复合了平行移动以及旋转移动的移动。内部测定对象位置30a被设定为与测定载置台位置12a匹配。在所述第一实施方式中，内部测定对象位置30a和外部测定对象位置30b与x方向匹配，与此相对，在本实施方式中，内部测定对象位置30a和外部测定对象位置30b不与x方向匹配。光学基座移动机构21利用直线驱动机构以及旋转驱动机构来使光学基座11进行平行移动以及旋转移动，由此，能够将光学基座11引导至内部测定位置11a或者外部测定位置11b。在光学基座11位于内部测定位置11a时，测定光学系统30的测定对象位置30a(光投射透镜33的焦点位置33a)位于内部测定对象位置30a。在光学基座11位于外部测定位置11b时，测定光学系统30的测定对象位置30a(光投射透镜33的焦点位置33a)位于外部测定对象位置30b。试样载置台移动机构22构成为：为了在使用多单元保持器hm时切换试样单元c而使试样载置台12移动。试样载置台移动机构22例如包含使试样载置台12沿着多个试样单元c的排列方向移动的直线驱动机构。试样载置台移动机构22也可以还包含使试样载置台12绕铅垂的旋转轴线18旋转的旋转驱动机构。由此，能够调整装接于试样载置台12的单元保持器h所保持的试样单元c相对于测定光学系统30的方位角，即照射光l1的入射角。如果无需入射角的调整，则无需设置旋转驱动机构。根据这样的构成，无论是内部测定模式还是外部测定模式，均无需试样载置台12的退避。由此，能够使用于试样载置台12的驱动机构的构造简单化。内部测定模式是指进行对试样载置台12所保持的试样s的测定的模式。外部测定模式是指进行对结合于外部测定基座结合面13a的外部测定基座41、51、61、71上所保持的试样s的测定的模式。图10为用于对本发明的第三实施方式的光学测定装置301的构成进行说明的图解性俯视图，示出了结合了自动取样器40的情况下的构成。在图10中，对图3的对应部分标注与图3相同的附图标记。在本实施方式中，也能够以维持试样载置台12配置于测定载置台位置12a的状态，来使测定光学系统30的测定对象位置30a在内部测定对象位置30a与外部测定对象位置30b之间移动。在本实施方式中，测定载置台位置12a为与第一实施方式的情况同样的位置。外部测定基座结合面13a被设定在相对于光学基座11而言与内部测定对象位置30a相反的一侧(即，与试样载置台12相反的一侧)的侧面。因而，在本实施方式中，自动取样器40结合于相对于光学基座11而言与内部测定对象位置30a相反的一侧的侧面(与试样载置台12相反的一侧的侧面)。光学基座11能够沿x方向平行移动，且在能够绕沿着铅垂方向的旋转轴线17旋转的状态下被主体基座10支承。虽省略了详细的图示，但光学基座移动机构21包含直线驱动机构以及旋转驱动机构。光学基座移动机构21的具体构成也可以与所述第二实施方式的情况相同。光学基座11能够在内部测定位置11a与外部测定位置11b之间移动。在本实施方式中，外部测定位置11b为相对于内部测定位置11a绕旋转轴线17旋转180度的位置。因而，通过使光学基座11绕旋转轴线17旋转移动，能够使光学基座11在内部测定位置11a与外部测定位置11b之间移动。当然，外部测定位置11b无需是相对于内部测定位置11a准确地旋转180度的位置，既可以是旋转了近似180度的角度的位置，也可以是水平方向(例如x方向)上稍微偏移的位置。在光学基座11位于内部测定位置11a时，测定光学系统30的测定对象位置30a(光投射透镜33的焦点位置33a)位于内部测定对象位置30a。在光学基座11位于外部测定位置11b时，测定光学系统30的测定对象位置30a(光投射透镜33的焦点位置33a)位于外部测定对象位置30b。光学基座11的直线移动(主要是x方向的移动)的范围也可以比所述第一或者第二实施方式的情况小。更具体而言，也可以是：在对光投射透镜33的焦点位置33a进行微调所需的足够的范围内，能够相对于配置在内部测定对象位置30a或者外部测定对象位置30b的试样s向x方向移动。在内部测定位置11a与外部测定位置11b之间的光学基座11的移动不仅是旋转移动还伴随着直线移动的情况下，只要在此时的直线移动所需的范围内设计光学基座11的直线移动范围即可。试样载置台移动机构22构成为：为了使用多单元保持器hm时试样单元c的切换而使试样载置台12移动。试样载置台移动机构22例如包含使试样载置台12沿y方向(多个试样单元c的排列方向)进行直线移动的直线驱动机构。通过这样的构成，无论是内部测定模式还是外部测定模式，均无需试样载置台12的退避。由此，能够使用于试样载置台12的驱动机构的构造简单化。以上，对本发明的实施方式进行了说明，但是，本发明能够通过其他方式来实施。例如，在所述实施方式中，作为光学测定法的一例对动态光散射法进行了说明，但是，本发明还能够应用于静态光散射法。此外，还能够通过适宜地变更测定光学系统30的构成而应用于其他光学测定法。当然，测定对象不限于粒径。此外，在所述第一实施方式中，试样载置台12构成为：沿水平方向(y方向)移动，在测定载置台位置12a与退避载置台位置12b之间位移，但是，也能够将试样载置台12设为沿垂直方向(例如下方)移动来从测定载置台位置12a退避的构成。而且，也可以采用使试样载置台12旋转移动来从测定载置台位置12a退避的构成。而且，在所述实施方式中，构成为光学基座11沿x方向移动，试样载置台12沿y方向移动。但是，光学基座11的移动方向不用必须是一个方向。此外，试样载置台12也可以采用不进行用于退避的移动的构成。例如，除了图9以及图10所示的构成以外，作为能够拆装试样载置台12的构成，也可以在将光学基座11配置于外部测定位置11b时，将试样载置台12卸下。此外，作为对试样载置台12进行固定配置、且光学基座11还能够沿x方向以外的方向(例如铅垂方向)移动的构成，也可以采用光学基座11能够绕过试样载置台12而移动至外部测定位置11b的构成。自动取样器40也可以具备上下层叠多层而成的多个旋转工作台42。在该情况下，光学基座移动机构21也可以构成为使光学基座11不仅沿x方向移动还沿上下方向移动。或者，自动取样器40也可以具备使旋转工作台42的多层构造上下移动的升降机构。通过这样的构成，能够依次将多层的旋转工作台42所保持的试样单元c呈现于外部测定对象位置30b，因此，能够执行对更多的试样s的连续测定。此外，自动取样器40不用必须具备旋转工作台42。即，只要自动取样器40具备通过使多个试样单元c沿着圆形或者非圆形的路径移动的机构，依次将多个试样单元c呈现于外部测定对象位置30b的构成即可。试样s移动的路径既可以是无端部路径(循环路径)，也可以是有端部路径。移动机构也可以是输送机(更具体而言为带式输送机)。本申请对应于2017年7月5日向日本国专利厅提出的日本特愿2017-132206号，该申请的全部公开内容通过引用而被援引至此。对本发明的实施方式进行了详细说明，但是，这些只不是用于明确本发明的技术内容的具体例，本发明并不会解释为被这些具体例限定，本发明的范围仅由所附权利要求书来限定。当前第1页12当前第1页12