一种改进型无方向性正交涡流检测装置的制作方法

文档序号:16058866发布日期:2018-11-24 11:58阅读:188来源:国知局

本发明涉及一种无损检测装置,特别是涉及一种改进型无方向性正交涡流检测装置。



背景技术:

正交涡流传感器具有提离效应影响小,对粗糙表面不敏感等优点,被广泛应用于工业领域金属材料,尤其是金属焊缝的检测。然而由于其设计上的局限性,与线圈成45度夹角的裂纹无法检测到任何的信号,产生45°检测盲区,随着检测线圈扫查方向从0°到45°变化,其检测得到的信号幅度也从最大值到零的剧烈变化,因此,检测得到的信号幅值很难得到“真值”。为了避免漏检,检测时需多方向扫查。之后出现了无方向性正交涡流传感器,即采用二组正交线圈进行同步检测,在仪器内部进行矢量相加,克服了正交焊缝探头存在45°盲区及检查结果的方向不确定性的不足之处(参见发明专利cn102879461a),但其制作工艺要求较高。



技术实现要素:

本发明的目的在于克服现有技术之不足,提供一种改进型无方向性正交涡流检测装置,采用一组正交线圈,利用差分和发射/接收二种检测方式交替进行,并对获取的涡流信号进行幅度补偿及相位叠加,同样达到了上述专利方法获得的检测效果,从而简化了上述专利所述的传感器的制作工艺。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种改进型无方向性正交涡流检测装置,包括正交缠绕的两个涡流检测线圈、涡流检测仪,其特征在于:正交缠绕的两个涡流检测线圈与涡流检测仪电连接;涡流检测仪分时交替变换激励控制正交缠绕的两个涡流检测线圈进行差分方式检测和一发一收方式检测;所述差分方式检测为,两个涡流检测线圈各自即为激励线圈也为接收线圈,涡流检测仪对两个涡流检测线圈接收到的涡流感应信号进行差分比较处理,包括幅度补偿及相位叠加;所述一发一收方式检测为,两个涡流检测线圈中一个为激励线圈、另一个为接收线圈,涡流检测仪对接收线圈接收到的涡流感应信号进行分析处理,包括幅度补偿及相位叠加。所述涡流检测仪分时交替变换激励,其交替变换的频率为毫秒级或微秒级。

采用本发明专利的装置,正交涡流检测线圈扫查被检工件时,扫查移动速度远远小于交替变换激励的速度,故此即使遇到与两个涡流检测线圈都成45度夹角的裂纹,由于快速交替变换激励控制正交缠绕的两个涡流检测线圈进行差分方式检测和一发一收方式检测,虽然差分式检测时无缺陷信号,但变换为一发一收方式检测时即可检测到最大的缺陷信号,实现了一次扫查即可检测出扫查路径上的各种方向的缺陷,无论线圈与裂纹夹角多少,仪器得到的检测信号的幅度相同,检测结果仅和裂纹深度正相关,与扫查方向无关,无需多方向反复扫查,极大地提高检测结果的真实性和可靠性。

本发明的有益效果是,一种改进型无方向性正交涡流检测装置,采用一组正交线圈,利用差分和发射/接收二种检测方式交替进行,并对获取的涡流信号进行幅度补偿及相位叠加,实现了一次扫查即可检测出扫查路径上的各种方向的缺陷,包括45度夹角盲区裂纹缺陷,无需多方向反复扫查,从而简化了上述专利所述的传感器的制作工艺。

以下结合实施例对本发明作进一步详细说明,但本发明的一种改进型无方向性正交涡流检测装置不局限于实施例。

附图说明

下面结合附图中实施例对本发明进一步说明。

图1是本发明实施例一的无方向性正交涡流检测装置示意图。

图中,l1\l2.正交缠绕的两个涡流检测线圈,e.涡流检测仪,t.激励线圈,r.接收线圈。

具体实施方式

实施例一,如图1所示,一种改进型无方向性正交涡流检测装置,包括正交缠绕的两个涡流检测线圈l1\l2、涡流检测仪e,其特征在于:正交缠绕的两个涡流检测线圈l1\l2与涡流检测仪e电连接;涡流检测仪e分时交替变换激励控制正交缠绕的两个涡流检测线圈l1\l2进行差分方式检测和一发一收方式检测;所述差分方式检测为,两个涡流检测线圈l1\l2各自即为激励线圈t也为接收线圈r,涡流检测仪e对两个涡流检测线圈l1\l2接收到的涡流感应信号进行差分比较处理,包括幅度补偿及相位叠加;所述一发一收方式检测为,两个涡流检测线圈l1\l2中一个为激励线圈t、另一个为接收线圈r,涡流检测仪e对接收线圈r接收到的涡流感应信号进行分析处理,包括幅度补偿及相位叠加。所述涡流检测仪e分时交替变换激励,其交替变换的频率为毫秒级或微秒级。

上述实施例仅用来进一步说明本发明的一种改进型无方向性正交涡流检测装置,但本发明并不局限于实施例,凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均落入本发明技术方案的保护范围内。



技术特征:

技术总结
本发明公开了一种改进型无方向性正交涡流检测装置,采用一组正交线圈,利用差分和发射/接收二种检测方式交替进行,并对获取的涡流信号进行幅度补偿及相位叠加,实现了一次扫查即可检测出扫查路径上的各种方向的缺陷,包括45度夹角盲区裂纹缺陷,无需多方向反复扫查,从而简化了以往专利所述的传感器的制作工艺。

技术研发人员:戴永红;林俊明;郑水冰;林发炳
受保护的技术使用者:爱德森(厦门)电子有限公司
技术研发日:2018.07.24
技术公布日:2018.11.23
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