技术特征：
技术总结
本发明涉及辐射探测器技术领域，具体公开了一种辐射探测器性能测试工装系统，其中，所述辐射探测器性能测试工装系统包括：测试台和设置在所述测试台上的控制台，所述测试台包括测试壳体和设置在所述测试壳体上的侧板，所述控制台安装在所述侧板上，所述控制台用于固定待测辐射探测器，所述测试壳体内设置有测试电路，所述控制台与所述测试电路连接，所述测试壳体上设置有功能测试按钮以及测试接口，所述功能测试按钮与所述测试电路连接，所述功能测试按钮能够实现所述测试电路的启动，所述测试电路通过所述测试接口能够实现与待测辐射探测器的连接。本发明提供的辐射探测器性能测试工装系统在实现自动测试的同时还能提高辐射探测器的测试效率。
技术研发人员：石磊;侯文斌;张建峰
受保护的技术使用者：无锡华普微电子有限公司
技术研发日：2018.08.24
技术公布日：2018.11.30