一种荧光检测器的荧光收集装置的制作方法

本发明涉及一种荧光检测器的荧光收集装置。

背景技术：

目前市场上传统的荧光检测器的荧光收集装置的结构及工作原理如下：激发单色器ex产生的单色激发光从激发单色器的出射狭缝s1射出，经聚光镜头l1聚集到流动池fl中的样品上。如流动池f中的样品被激发光照射后有荧光产生，与照射到样品上的激发光方向呈90°方向的荧光经聚光镜头l2聚集到发射单色器em的入射狭缝s2上，进入发射单色器em进行被检测样品被激发产生的荧光强度的测量。

这种流行的机构存在的不足是：单色激光在照射在流动池中心时，部分穿过流动池两侧壁和样品的激光散射导致激发光能量未能充分利用。而且样品被激发产生的大部分荧光未被利用，只有与激发光方向呈90°的部分荧光进入发射单色器em中进行检测，荧光收集率较低，影响整个装置的灵敏度。

技术实现要素：

本发明所要解决的技术问题是：提供一种高灵敏度的荧光检测器的荧光收集装置。

为解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案为：一种荧光检测器的荧光收集装置，包括密封且不透光的检测盒体，检测盒体上设有光线入射狭缝，检测盒体上入射狭缝外固定设有激发单色仪，检测盒体中在光线入射狭缝沿光路方向设有聚集入射光的第一聚光镜头，检测盒体内在第一聚光镜头聚集光线的光路上设有盛放待检物的流动池，检测盒体内在流动池相对于激发单色仪180°方向上设有激发光聚集反射镜，且聚集焦点设于流动池中心，检测盒体内在流动池的光线出射方向设有聚集出射光的第二聚光镜头，检测盒体上在对于第二聚光镜头的光线出射位置设有光线出射狭缝，检测盒体上出射狭缝外固定设有发射单色仪，检测盒体内在流动池相对于发射单色仪180°方向上设有荧光聚集反射镜，且聚集焦点设于流动池中心。

作为一种优选方案，所述检测盒体内的流动池位于第一聚光镜头的出射焦点处。

作为一种优选方案，所述检测盒体上的光线出射狭缝位于第二聚光镜头的出射焦点处。

本发明的有益效果是：本装置由于采用了激发光聚集反射镜，提高了激发光的利用率，从而提高了样品被激发产生荧光的强度；由于采用了荧光聚集反射镜，从而提高了样品被激发产生的荧光的收集效率；通过以上提高激发光利用率与提高荧光收集率提高了荧光检测器的检测灵敏度，优化了信噪比。

附图说明

图1是传统装置的原理示意图。

图2是本发明的原理示意图。

具体实施方式

下面结合附图，详细描述本发明的具体实施方案。

如图2所示，一种荧光检测器的荧光收集装置，包括密封且不透光的检测盒体，检测盒体上设有光线入射狭缝s1，检测盒体上入射狭缝s1外固定设有激发单色仪ex，检测盒体中在光线入射狭缝s1沿光路方向设有聚集入射光的第一聚光镜头l1，检测盒体内在第一聚光镜头l1聚集光线的光路上出射焦点处设有盛放待检物的流动池fl，检测盒体内在流动池fl相对与激发单色仪s1的180°方向上安装激发光聚集反射镜m1，且聚集焦点设于流动池fl中心,检测盒体内在流动池fl的光线出射方向设有聚集出射光的第二聚光镜头l2，检测盒体上在对于第二聚光镜头l2的光线出射焦点处设有光线出射狭缝s2，检测盒体上出射狭缝s2外固定设有发射单色仪em，检测盒体内在流动池fl相对与发射单色器em的180°方向上安装荧光聚集反射镜m2，且聚集焦点设于流动池fl中心。

工作时：激发光单色器ex产生的单色激发光从激发单色器出射狭缝s1射出，经聚光镜头l1，聚集到流动池fl中的样品上，激发光聚集反射镜m1将部分穿过流动池的激发光重新聚集到流动池fl中心，对样品进行二次激发。如流动池fl中的样品被激发光照射后有荧光产生，荧光聚集反射镜m2将部分散射荧光重新聚集到流动池fl中心，与90°方向上的荧光叠加增强后经聚光镜头l2，聚集到发射单色器em的入射狭缝s2上，进入发射单色器em进行被测样品被激发光产生的荧光强度的测量。

上述的实施例仅例示性说明本发明创造的原理及其功效，以及部分运用的实施例，而非用于限制本发明；应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。

技术特征：

技术总结
本发明公开了一种高灵敏度的荧光检测器的荧光收集装置，包括检测盒体，检测盒体上设有光线入射狭缝，检测盒体上入射狭缝外设有激发单色仪，检测盒体中在光线入射狭缝沿光路方向设有聚集入射光的第一聚光镜头，检测盒体内在第一聚光镜头聚集光线的光路上设有盛放待检物的流动池，检测盒体内在流动池相对于激发单色仪180°方向上设有激发光聚集反射镜，聚集焦点设于流动池中心，检测盒体内在流动池的光线出射方向设有聚集出射光的第二聚光镜头，检测盒体上在对于第二聚光镜头的光线出射位置设有光线出射狭缝，检测盒体上出射狭缝外设有发射单色仪，检测盒体内在流动池相对于发射单色仪180°方向上设有荧光聚集反射镜，聚集焦点设于流动池中心。

技术研发人员：姚凡;姚冬
受保护的技术使用者：苏州赛德福科学仪器有限公司
技术研发日：2018.09.20
技术公布日：2019.01.08