技术特征：
技术总结
本发明涉及红外光学材料杂质测试方法，涉及光学材料杂质测试技术领域。本发明利用红外照相系统的景深特性和场景成像原理，对可见光不透明的红外材料中存在的杂质情况进行红外照相系统景深范围的一次成像获取红外光学材料内部全部杂质状况，该方法对可见光不透明的红外材料内部的杂质进行测试的设备要求简单，不需要承载样品的二维自动移动的精密平台和承载显微物镜的精密一维自动移动平台，降低了测试设备的成本；本测试方法是一次照相真实成像，无重叠成像结果的处理，反映的测试结果真实；本测试方法一次拍照就完成，测试快捷、时间短。
技术研发人员：麦绿波
受保护的技术使用者：中国兵器工业标准化研究所
技术研发日：2018.09.28
技术公布日：2018.12.14