一种光学次发射模块自动检测系统和方法与流程

文档序号:16601848发布日期:2019-01-14 20:28阅读:196来源:国知局
一种光学次发射模块自动检测系统和方法与流程

本发明涉及光发射模块技术领域,尤其涉及一种光学次发射模块自动检测系统和方法。



背景技术:

近年来,随着光学技术不断地发展,已发展出许多不同种类的光学设备,并且应用至日常生活中的各种领域里,例如光学检测及激光美容等。

一般而言,应用于产品上的光学激光装置可针对产品的表面进行扫描,判断产品是否合格。现有的光学检测装置结构复杂,操作难度较高,而且需要人工操作。



技术实现要素:

本发明的目的是为了解决现有技术中存在结构复杂,操作难度较高的缺点,而提出的一种光学次发射模块自动检测系统。

为了实现上述目的,本发明采用了如下技术方案:

设计一种光学次发射模块自动检测系统,包括支撑台,所述支撑台上设有控制装置,所述控制装置为计算机,所述控制装置通过导线与外部电源相连,所述支撑台的上表面远离所述控制装置的一侧固定连接有固定板,所述固定板远离所述支撑台的一侧固定连接有l型板,所述l型板的上端靠近所述支撑台的一侧固定连接有电动伸缩杆,所述电动伸缩杆通过导线与外部电源相连,所述电动伸缩杆的伸缩端固定连接有移动盒,所述l型板上位于所述移动盒的一侧设有滑槽,所述滑槽内滑动连接有滑块,所述滑块远离所述滑槽的一侧固定连接在所述移动盒上,所述移动盒内固定设有光学发射装置,所述移动盒上位于所述光学发射装置的下方固定连接有红外线传感器,所述移动盒的上端固定连接有支撑架,所述支撑架的顶端固定连接有相机。

优选的,所述控制装置包括主机和显示屏,所述主机固定在地面上,所述显示屏固定在所述支撑台上,所述显示屏的一侧设有鼠标和键盘,所述鼠标和所述键盘对所述控制装置进行控制,对控制装置内的参数进行修改。

优选的,所述光学发射装置内设有光学发射系统,所述光学发射系统包括控制模块,所述控制模块的输入端电性连接有感应模块,所述感应模块感应需要检测的产品,当检测到产品时,将信号传递给控制模块,所述控制模块控制发射模块发射检测光波,对产品进行扫描,所述制模块的输出端电性连接有发射模块,所述发射模块发射检测光波,所述控制模块双向连接有调节模块,所述调节模块对发射光波的亮点大小、波长、和发射能量进行调整,使得光波可以精确的对产品进行扫描,所述制模块的输入端电性连接有电源模块,所述电源模块为电池块,电池块为光学发射装置供电。

优选的,所述支撑架为电动支撑架,所述电动支撑架通过导线与所述控制装置相连,所述支撑架的支撑角度在所述控制装置的作用下可调。

优选的,所述控制装置通过导线连接所述电动伸缩杆、光学发射装置、红外线传感器、支撑架和相机。

本发明还提供了一种光学次发射模块自动检测的方法,包括如下步骤:

s1:将检测设备进行安装调试;

s2:在设备安装调试后,将需要检测的产品进行定点固定;

s3:产品固定结束后,控制装置控制电动伸缩杆启动,推动激光发射装置移动,当红外线传感器检测到产品时,控制装置控制电动伸缩杆停止工作;

s4:控制装置启动光学装置发射光波,对产品进行扫描,控制装置控制支撑架调整相机的摄像角度,使得相机的相机正对产品,对产品进行摄像;

s5:显示器上显示产品的照片和光学扫描产生的数据;

s6:控制装置控制电动伸缩杆、光学发射装置、红外线传感器和相机停止工作;

s7:计算机对照片和数据进行分析。

本发明提出的一种光学次发射模块自动检测系统,有益效果在于:本发明通过控制装置控制,实现了自动化的检测,当自动检测时,通过相机自动扫描产品,光波对产品的扫描,采集图像,测试参数进行快速比对,经过图像处理,检查出产品上缺陷,并通过显示器把缺陷显示出来,结构简单,自动完成,操作简单。

附图说明

图1为本发明提出的一种光学次发射模块自动检测系统的结构示意图;

图2为本发明提出的一种光学次发射模块自动检测系统的正视结构示意图;

图3为本发明提出的一种光学次发射模块自动检测系统的右视结构示意图;

图4为本发明提出的一种光学次发射模块自动检测系统的系统框图;

图5为本发明中光学发射装置的系统框图。

图中:支撑台1、控制装置2、固定板3、l型板4、电动伸缩杆5、移动盒6、光学发射装置7、红外线传感器8、滑槽9、滑块10、支撑架11、相机12、主机21、鼠标22、键盘23、显示屏24、控制模块71、感应模块72、发射模块73、调节模块74、电源模块71。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。

参照图1-5,一种光学次发射模块自动检测系统,包括支撑台1,支撑台1上设有控制装置2,控制装置2为计算机,控制装置2包括主机21和显示屏24,主机21固定在地面上,显示屏24固定在支撑台1上,显示屏24的作用是显示产品的缺陷,显示屏24的一侧设有鼠标22和键盘23,鼠标22和键盘23对控制装置2进行控制,对控制装置2内的参数进行修改,控制装置2通过导线与外部电源相连,支撑台1的上表面远离控制装置2的一侧固定连接有固定板3,固定板3远离支撑台1的一侧固定连接有l型板4,l型板4的上端靠近支撑台1的一侧固定连接有电动伸缩杆5,电动伸缩杆5的作用是调节移动盒6的高度,电动伸缩杆5通过导线与外部电源相连,电动伸缩杆5的伸缩端固定连接有移动盒6,l型板4上位于移动盒6的一侧设有滑槽9,滑槽9内滑动连接有滑块10,滑槽9和滑块10共同作用,使得移动盒6平稳的上下移动,滑块10远离滑槽9的一侧固定连接在移动盒6上。

移动盒6内固定设有光学发射装置7,光学发射装置7的作用是发射光波检测产品,光学发射装置7内设有光学发射系统,光学发射系统包括控制模块71,控制模块71的输入端电性连接有感应模块72,感应模块72为探测光波,感应模块72感应需要检测的产品,当检测到产品时,将信号传递给控制模块71,控制模块71控制发射模块73发射检测光波,对产品进行扫描,制模块71的输出端电性连接有发射模块73,发射模块73发射检测光波,控制模块71双向连接有调节模块74,调节模块74对发射光波的亮点大小、波长、和发射能量进行调整,使得光波可以精确的对产品进行扫描,制模块71的输入端电性连接有电源模块75,电源模块75为电池块,电池块为光学发射装置7供电,移动盒6上位于光学发射装置7的下方固定连接有红外线传感器8。

移动盒6的上端固定连接有支撑架11,支撑架11为电动支撑架,电动支撑架通过导线与控制装置2相连,支撑架11的支撑角度在控制装置2的作用下可调,使得相机正对产品,支撑架11的顶端固定连接有相机12,相机12的作用是对产品进行摄像,控制装置2通过导线连接电动伸缩杆5、光学发射装置7、红外线传感器8、支撑架11和相机12。

本发明还提供了一种光学次发射模块自动检测的方法,包括如下步骤:

s1:将检测设备进行安装调试;

s2:在设备安装调试后,将需要检测的产品进行定点固定;

s3:产品固定结束后,控制装置控制电动伸缩杆启动,推动激光发射装置移动,当红外线传感器检测到产品时,控制装置控制电动伸缩杆停止工作;

s4:控制装置启动光学装置发射光波,对产品进行扫描,控制装置控制支撑架调整相机的摄像角度,使得相机的相机正对产品,对产品进行摄像;

s5:显示器上显示产品的照片和光学扫描产生的数据;

s6:控制装置控制电动伸缩杆、光学发射装置、红外线传感器和相机停止工作;

s7:计算机对照片和数据进行分析。

以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

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