一种测试平台及一种电子装置的测试方法与流程

本申请涉及电子装置的测试领域，特别是涉及一种测试平台及一种电子装置的测试方法。

背景技术：

近年来，电子装置产业迅速的增长，电子产品在出厂前都需要经过质检，以确认电子装置的各项功能都可以正常工作，但是在售后的数据中发现，还是存在很大一部分的返修产品，这个一来影响公司在消费者心目中的形象，二来也增加了公司的额外支出。

技术实现要素：

本申请提供了一种测试平台，该测试平台用于测试电子装置的特定功能，其中，测试平台包括：工作台、电源控制器、第一开关、主板和第二开关，电源控制器与工作台连接，第一开关与电源控制器电连接，以控制电源控制器的通电状态，主板与工作台连接，且与电源控制器电连接，主板上的特定电路引出有接线端子，接线端子用于与电子装置电连接，第二开关与主板电连接，以控制特定电路的通电状态。

本申请还提供了一种电子装置的测试方法，该测试方法基于上述的测试平台进行测试电子装置，该测试方法包括：闭合第一开关，电源控制器为主板通电；电子装置与接线端子扣接；闭合第二开关，特定电路导通，从而使电子装置通电；检测电子装置的特定功能是否正常。

在本申请中，通过第一开关让主板处于通电状态，待到主板的电压稳定，浪涌现象消失后，通过第二开关让主板上的特定电路与电子装置电性导通，从而避免在测试电子装置时，过大的电压对电子装置的损伤，第一开关和第二开关相互配合使电子装置始终可以在安全电压下进行测试。接线端子为外接式的，工人有足够大的操作空间将电子装置扣合至接线端子上，从而降低了接线端子在扣合过程中变形的风险，提高了接线端子的使用寿命，其次，即使接线端子损坏，只需要更换接线端子即可，而不需要重新更换主板，提高了测试平台的维修效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是本申请提供的测试平台的一实施例的结构示意图；

图2是本申请图1中ⅱ-ⅱ方向上的结构示意图；

图3是本申请提供的测试平台的另一实施例的结构示意图；

图4是本申请提供的测试平台的另一实施例的结构示意图；

图5是本申请提供的测试平台的另一实施例的结构示意图；

图6是本申请提供的测试平台的另一实施例的结构示意图；

图7是本申请提供的电子装置的测试方法的一实施例的流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请实施例所提供的电子装置，包括智能手机、平板电脑、智能穿戴设备、数字音视频播放器、电子阅读器、手持游戏机和车载电子设备等电子设备。

本申请中的术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或部件的过程、方法、系统、产品或设备，没有限定于已列出的步骤或部件，而是可选地还包括没有列出的步骤或部件，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或部件。

请参阅图1，图1是本申请提供的测试平台100的一实施例的结构示意图。

本申请提供的测试平台100可以用于测试电子装置200的各项特定功能，例如：测定电子装置200的显示模组显示和触压是否正常、测定电子装置200的指纹模组的识别是否正常、测定电子装置200的摄像功能是否正常等。在接下来的实施例中，将以测定电子装置200的显示模组显示和触压是否正常为例进行详细讲解。

本实施例的测试平台100包括工作台110、电源控制器120、第一开关130、主板140和第二开关150。

电源控制器120与工作台110连接，电源控制器120用于控制总电路，第一开关130与电源控制器120电连接，以控制电源控制器120的通电状态。即第一开关130处于闭合状态时，电源控制器120处于通电状态；第一开关130处于断开状态时，电源控制器120处于断电状态。

主板140与工作台110连接，且与电源控制器120电连接，主板140上铺设有为实现电子装置200各项特定功能的电路。在确定需要测定电子装置200的某项特定功能时，只需将主板140上的特定电路引出接线端子170，例如该实施例为了测定显示模组显示和触压是否正常，只需从主板140上控制显示模组的电路上引出接线端子170。当然也可以同时从主板140上各个电路上引出多个接线端子170，以测试电子装置200的各项特定功能。

接线端子170用于与电子装置200电连接，例如接线端子170为母座，电子装置200引出公座，公座扣接进入母座中，以使接线端子170与电子装置200电性连接。第二开关150与主板140电连接，具体地，第二开关150与主板140上特定电路电性连接，以控制特定电路的通电状态。

本实施例测试平台100的具体的测试方式为：1按压第一开关130，使第一开关130处于闭合状态，电源控制器120为主板140通电，此时第二开关150为断开状态；2显示模组扣接于接线端子170上；3闭合第二开关150，显示模组与主板140上的特定电路导通，从而使显示模组处于通电状态；4测试显示模组的显示和触压是否正常；5断开第二开关150(避免工人在连接或者断开电子装置200与接线端子170时，被电击伤害)，重复2-5步骤，直至测试完所有的显示模组后，断开第一开关130。

在本实施例中，通过第一开关130让主板140处于通电状态，待到主板140的电压稳定，浪涌现象消失后，通过第二开关150让主板140上的特定电路与电子装置200电性导通，从而避免在测试电子装置200时，过大的电压对电子装置200的损伤，第一开关130和第二开关150相互配合使电子装置200始终可以在安全电压下进行测试。接线端子170为外接式的，工人有足够大的操作空间将电子装置200扣合至接线端子170上，从而降低了接线端子170在扣合过程中变形的风险，提高了接线端子170的使用寿命，其次，即使接线端子170损坏，只需要更换接线端子170即可，而不需要重新更换主板140，提高了测试平台100的维修效率。

请参阅图1和图2，图2是本申请图1中ⅱ-ⅱ方向上的结构示意图。

本实施例的测试平台100包括工作台110、电源控制器120、第一开关130、主板140、第二开关150和触发盖板160。

电源控制器120与工作台110连接，电源控制器120用于控制总电路，第一开关130与电源控制器120电连接，以控制电源控制器120的通电状态。主板140与工作台110连接，且与电源控制器120电连接，主板140上铺设有为实现电子装置200各项特定功能的电路。在确定需要测定电子装置200的某项特定功能时，只需将主板140上的特定电路引出接线端子170。当然也可以同时从主板140上各个电路上引出多个接线端子170，以测试电子装置200的各项特定功能。

接线端子170用于与电子装置200电连接，第二开关150与主板140电连接，第二开关150与主板140上特定电路电性连接，以控制特定电路的通电状态。触发盖板160与工作台110铰接，触发盖板160可以绕工作台110旋转。触发盖板160在旋转至第二开关150处时利用自身重力压合第二开关150，以使第二快关为闭合状态，从而使特定电路处于通电状态；触发盖板160向远离第二开关150的方向旋转，以与第二开关150分离，以使第二开关150为断开状态。(如图2中箭头所指方向)。触发盖板160的自身重力一定，从而确保第二开关150受到的压合力是稳定的；另外触发盖板160与工作台110铰接位置也是一定的，从而确保触压盖板压持第二开关150的位置是一定的，综上所述，第二开关150受力和受力点是一定且可控的，而非人力不确定性因素大，从而提高了第二开关150的使用寿命。此外，不用工人直接接触第二开关150，降低了工人触电的风险。

测试平台100还包括支架180，工作台110具有相对设置的上表面112和下表面114，上表面112为工作面，朝向工人。支架180安装在上表面112上，触发盖板160与支架180铰接，触发盖板160为平板状，触发盖板160在旋转至与工作台110的上表面112平齐时压合第二开关150。

触发盖板160包括第一盖板部161和第二盖板部162，第一盖板部161和第二盖板部162的连接处与支架180铰接，其中，第一盖板部161用于旋转至第二开关150处，以压合第二开关150，第二盖板部162用于在第一盖板部161向远离第二开关150的方向旋转时抵接于工作台110，以阻止第一盖板部161的进一步旋转。本申请可以通过控制第二盖板部162的具体长度，来控制第一盖板部161与工作台110之间的夹角，以达到精确控制测试平台100具体工作空间的目的。

工作台110开设有连通上表面112和下表面114的第一通孔116和第二通孔118，主板140安装于工作台110的下表面114上，接线端子170从第一通孔116穿出，第二开关150安装于第二通孔118内。此时，第二开关150可以超出第二通孔118，以接受触发盖板160的盖压。

请参阅图3，图3是本申请提供的测试平台100的另一实施例的结构示意图。

本实施例的测试平台100包括工作台110、电源控制器120、第一开关130、主板140、第二开关150、触发盖板160和支架180。

电源控制器120与工作台110连接，电源控制器120用于控制总电路，第一开关130与电源控制器120电连接，以控制电源控制器120的通电状态。主板140与工作台110连接，且与电源控制器120电连接，主板140上铺设有为实现电子装置200各项特定功能的电路。在确定需要测定电子装置200的某项特定功能时，只需将主板140上的特定电路引出接线端子170。当然也可以同时从主板140上各个电路上引出多个接线端子170，以测试电子装置200的各项特定功能。接线端子170用于与电子装置200电连接，第二开关150与主板140电连接，第二开关150与主板140上特定电路电性连接，以控制特定电路的通电状态。

工作台110具有相对设置的上表面112和下表面114，上表面112为工作面，朝向工人。工作台110开设有连通上表面112和下表面114的第一通孔116和第二通孔118，主板140安装于工作台110的下表面114上，接线端子170从第一通孔116穿出，第二开关150安装于第二通孔118内。

支架180安装在上表面112上，触发盖板160与支架180铰接，触发盖板160凸出设置有抵触部163，触发盖板160可以绕支架180旋转，触发盖板160在旋转至与工作台110的上表面112平齐时，抵触部163能够随触发盖板160旋转插至于第二通孔118内压合第二开关150，以使第二开关150为闭合状态。(如图3中箭头所指方向)。

请参阅图4，图4是本申请提供的测试平台100的另一实施例的结构示意图。

本实施例的测试平台100包括工作台110、电源控制器120、第一开关130、主板140、第二开关150、触发盖板160和支架180。

电源控制器120与工作台110连接，电源控制器120用于控制总电路，第一开关130与电源控制器120电连接，以控制电源控制器120的通电状态。主板140与工作台110连接，且与电源控制器120电连接，主板140上铺设有为实现电子装置200各项特定功能的电路。在确定需要测定电子装置200的某项特定功能时，只需将主板140上的特定电路引出接线端子170。当然也可以同时从主板140上各个电路上引出多个接线端子170，以测试电子装置200的各项特定功能。接线端子170用于与电子装置200电连接，第二开关150与主板140电连接，第二开关150与主板140上特定电路电性连接，以控制特定电路的通电状态。

工作台110具有相对设置的上表面112和下表面114，上表面112为工作面，朝向工人。工作台110开设有连通上表面112和下表面114的第一通孔116和第二通孔118，主板140安装于工作台110的下表面114上，接线端子170从第一通孔116穿出，第二开关150安装于第二通孔118内。

支架180安装在上表面112上，触发盖板160与支架180铰接，触发盖板160凸出设置有抵触部163，触发盖板160可以绕支架180旋转，触发盖板160在旋转至与工作台110的上表面112平齐时，抵触部163能够随触发盖板160旋转插至于第二通孔118内压合第二开关150，以使第二开关150为闭合状态。(如图4中箭头所指方向)。

具体地，触发盖板160具有依次相邻的第一面164、第二面165和第三面166，第一面164和第三面166分别与支架180铰接，在第二开关150为压合状态时，第三面166朝向上表面112，触发盖板160贯穿第一面164、第二面165和第三面166开设有抓槽167，抓槽167用于提供触发盖板160被抓取旋转时的避让空间。

请参阅图5，图5是本申请提供的测试平台100的另一实施例的结构示意图。

本实施例的测试平台100包括工作台110、电源控制器120、第一开关130、主板140、第二开关150、触发盖板160和支架180。

电源控制器120与工作台110连接，电源控制器120用于控制总电路，第一开关130与电源控制器120电连接，以控制电源控制器120的通电状态。主板140与工作台110连接，且与电源控制器120电连接，主板140上铺设有为实现电子装置200各项特定功能的电路。在确定需要测定电子装置200的某项特定功能时，只需将主板140上的特定电路引出接线端子170。当然也可以同时从主板140上各个电路上引出多个接线端子170，以测试电子装置200的各项特定功能。接线端子170用于与电子装置200电连接，第二开关150与主板140电连接，第二开关150与主板140上特定电路电性连接，以控制特定电路的通电状态。

工作台110具有相对设置的上表面112和下表面114，上表面112为工作面，朝向工人。工作台110开设有连通上表面112和下表面114的第一通孔116和第二通孔118，主板140安装于工作台110的下表面114上，接线端子170从第一通孔116穿出，第二开关150安装于第二通孔118内。

支架180安装在上表面112上，触发盖板160与支架180铰接，触发盖板160凸出设置有抵触部163，触发盖板160可以绕支架180旋转，触发盖板160在旋转至与工作台110的上表面112平齐时，抵触部163能够随触发盖板160旋转插至于第二通孔118内压合第二开关150，以使第二开关150为闭合状态。(如图5中箭头所指方向)。

具体地，触发盖板160具有依次相邻的第一面164、第二面165和第三面166，第一面164和第三面166分别与支架180铰接，在第二开关150为压合状态时，第三面166朝向上表面112，第一面164和/或者第三面166凸出设置有手柄168，手柄168用于提供触发盖板160被旋转时的抓取位。

请参阅图6，图6是本申请提供的测试平台100的另一实施例的结构示意图。

本实施例的测试平台100包括工作台110、电源控制器120、第一开关130、主板140、第二开关150、触发盖板160、支架180和缓冲件190。

电源控制器120与工作台110连接，电源控制器120用于控制总电路，第一开关130与电源控制器120电连接，以控制电源控制器120的通电状态。主板140与工作台110连接，且与电源控制器120电连接，主板140上铺设有为实现电子装置200各项特定功能的电路。在确定需要测定电子装置200的某项特定功能时，只需将主板140上的特定电路引出接线端子170。当然也可以同时从主板140上各个电路上引出多个接线端子170，以测试电子装置200的各项特定功能。接线端子170用于与电子装置200电连接，第二开关150与主板140电连接，第二开关150与主板140上特定电路电性连接，以控制特定电路的通电状态。

工作台110具有相对设置的上表面112和下表面114，上表面112为工作面，朝向工人。工作台110开设有连通上表面112和下表面114的第一通孔116和第二通孔118，主板140安装于工作台110的下表面114上，接线端子170从第一通孔116穿出，第二开关150安装于第二通孔118内。

支架180安装在上表面112上，触发盖板160与支架180铰接，触发盖板160可以绕支架180旋转，触发盖板160在旋转至与工作台110的上表面112平齐时，触发盖板160能够盖压第二通孔118内的第二开关150，以使第二开关150为闭合状态。

缓冲件190具有缓冲效果，缓冲件190可以是硅胶、泡棉、弹簧等。工作台110的上表面112开设有容置槽，缓冲件190安装于容置槽内，触发盖板160在旋转至与工作台110的上表面112平齐时同时压合缓冲件190，以缓冲触发盖板160的冲击力，使触压盖板缓慢地压合第二开关150。

具体地，触发盖板160具有依次相邻的第一面164、第二面165和第三面166，第一面164和第三面166分别与支架180铰接，在第二开关150为压合状态时，第三面166朝向上表面112，第三面166开设有避让槽169，触发盖板160在旋转至与工作台110的上表面112平齐时同时压合缓冲件190，缓冲件190容置在避让槽169内。避让槽169的设计可以允许缓冲件190的尺寸变大，以提高缓冲件190的缓冲效果。

在本文上述实施例中，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

请参阅图1和图7，图7是本申请提供的电子装置200的测试方法的一实施例的流程示意图。

该测试方法利用上述任一实施例的测试平台进行测试电子装置的特定功能。

m101：闭合第一开关。

按压第一开关130，使第一开关130处于闭合状态，电源控制器120为主板140通电，此时第二开关150为断开状态。主板140与电源控制器120电连接，主板140上铺设有为实现电子装置200各项特定功能的电路。在确定需要测定电子装置200的某项特定功能时，只需将主板140上的特定电路引出接线端子170，例如该实施例为了测定显示模组显示和触压是否正常，只需从主板140上控制显示模组的电路上引出接线端子170。当然也可以同时从主板140上各个电路上引出多个接线端子170，以测试电子装置200的各项特定功能。第二开关150为断开状态时，主板140上的特定电路为非通电状态。

m102：电子装置与接线端子扣接。

接线端子170用于与电子装置200电连接，例如接线端子170为母座，电子装置200引出公座，公座扣接进入母座中，以使接线端子170与电子装置200电性连接。

m103：闭合第二开关。

第二开关150与主板140电连接，具体地，第二开关150与主板140上特定电路电性连接，以控制特定电路的通电状态。第二开关150闭合时，电子装置200与主板140上的特定电路导通，从而使电子装置200处于通电状态。

m104：检测电子装置的特定功能。

测试完电子装置200的特定功能是否正常后，断开第二开关150(避免工人在连接或者断开电子装置200与接线端子170时，被电击伤害)，重复m102-m104步骤，直至测试完所有的电子装置200后，断开第一开关130。

以上所述仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。