电源测试板及电源测试方法与流程

本发明一般地涉及计算机通信领域，更具体地，电源测试板及电源测试方法。

背景技术：

随着云计算技术和需求不断发展，对于云计算的承载终端也有了越来越高的需求。越来越大的计算需求，就要求要有更强大的计算能力，更快的计算速度。这样才能满足云计算的初衷，极大的提供便利。而这些所有额需求，就要求我们的服务器也要跟随时代，不断的提高自己配置和优化，才能满足不断升级的客户需求。在这种情况下，intel也会不断的提升自己cpu的性能，来提供日益增长的运算量的增加。

在intelcpu升级的过程中，为cpu供电的电压调节器(voltageregulator，简称vr)需求也在不断的变化。性能的提高就意味着功耗的增加，也就意味着工作时电流的需求也在提高。电源方案厂商也会根据intelcpu的升级来更新换代自己的产品。所以每一次cpu的迭代，我们都要采用新的电源方案来进行供电。对于新的电源方案的评估，验证就成了我们所必须进行的工作。完成后，才能将各家的电源方案性能进行对比。

最新一代的intelcpu同样带来了新的电源方案的需求。对于各大电源厂商来说，刚刚推出的电源方案还都是不成熟的。所以在实际用到新一代服务器主板上之前，我们还需要进行相关的测试和验证，来保证电源方案的性能可以达到我们的要求。给我们芯片选型风险降到最低，也给我们提供一个参考。但是每家的方案都不尽相同，有着或多或少的差异。并且每家各自的核心技术都不相同，也就导致对于板卡的需求也不相同。虽然每家都会有自己的验证板，但是不同的叠层结构，不同的电容数量和环境，就导致电源厂商提供的自己方案的测试结果，没有对比的价值。这也给我们的选型带来了难度。无法进行有效的比较，就没有办法选出性能最好的，性价比最高的电源方案。这也就给我们在新一代intel平台上的电源方案带来了风险和不确定性。

技术实现要素：

本发明针对现有技术中所存在的无法将不同电源进行有效的比较，无法选出性能最好的，性价比最高的电源方案等缺陷，提供了能够满足多家方案需求的电源评估板，来让我们可以进行有效的测试和验证，然后提供一份有参考价值的专业性数据，供今后主板电源工程师使用电源测试板及电源测试方法。

根据本发明的一方面，提供了一种电源测试板，包括：印刷电路板；一个或多个cpu，设置在所述印刷电路板上；第一组电源，在所述印刷电路板上设置为邻近所述一个或多个cpu以为所述一个或多个cpu供电；多个内存模块，设置在所述一个或多个cpu的相对侧上，并且每两个内存模块与一个cpu相对应；以及第二组电源，在所述印刷电路板上设置为与相应的内存模块相对应以为每个内存模块供电，其中，以预留零器件的方式将所述第一组电源和所述第二组电源设置为待测试的电源。

优选地，所述预留零器件包括电阻器、电容器和信号放大器。

优选地，所述待测试的电源为来自于不同电源芯片供应商的多种不同的电源芯片。

优选地，通过以下方式设置所述待测试的电源：根据所述待测试的电源修改物料清单；以及根据修改后的物料清单选择并设置与所述待测试的电源相对应的零器件。

优选地，所述待测试的电源包括待测试的第一组电源和待测试的第二组电源。

优选地，电源测试板还包括多条信号线，用于将所述待测试电源与所述预留零器件电连接，并且将所述待测试的第一组电源和所述待测试的第二组电源分别与所述一个或多个cpu和所述多个内存模块连接。

优选地，所述每个内存模块包括8个内存条。

根据本发明的另一方面，提供了一种电源测试方法，包括：提供印刷电路板，所述印刷电路包括一个或多个cpu、多个内存模块、为一个或多个cpu供电的第一组电源和为所述多个内存模块中的每个内存模块供电的第二组电源；以及以预留零器件的方式将所述第一组电源和所述第二组电源设置为待测试的电源。

优选地，以预留零器件的方式将所述第一组电源和所述第二组电源设置为待测试的电源进一步包括：获取来自于不同电源芯片供应商的多个电源芯片；分析所述多个电源芯片中的每个电源芯片的管脚功能；根据不同的管脚功能修改物料清单，并且根据修改后的物料清单选择并设置与所述待测试电源相对应的零器件；以及将所述零器件与所述第一组电源和/或所述第二组电源连接以获得待测试的电源。

优选地，将所述多个电源信号的测试结果进行比较，并选择最佳的电源芯片。

本发明所提供的电源测试板及电源测试方法，使用本发明技术方案进行新一代intel平台cpu和内存模块的电源方案评估可以满足最大的功耗需求并且通过使用本发明技术方案，可以满足兼容不同家电源方案供应商。在同样叠层结构，铜箔铺设等条件下，进行针对性强的对比测试。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是根据本发明的实施例的电源测试板的实施例的结构图；

图2a和图2b是根据本发明的实施例的预留零器件的部分电路图，其中，图2a和图2b通过相应的端子a和b连接；以及

图3是根据本发明的实施例的电源测试方法的流程图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1是根据本发明的实施例的电源测试板的实施例的结构图。下文中，将参照图1对电源测试板进行描述。

根据本发明的实施例的电源测试板，包括：印刷电路板100；一个或多个cpu102，设置在印刷电路板100上；第一组电源112，在印刷电路板100上设置为邻近一个或多个cpu102以为一个或多个cpu102供电；多个内存模块104和106，设置在一个或多个cpu102的相对侧上，并且每两个内存模块104和106与一个cpu102相对应；以及第二组电源108或110，在印刷电路板100上设置为与内存模块相对应以为每个内存模块供电，其中，以预留零器件的方式将第一组电源112和第二组电源108和110设置为待测试的电源。

使用根据本发明的实施例的电源测试板进行新一代intel平台cpu和内存模块的电源方案评估可以满足最大的功耗需求并且通过使用该电路测试板，可以满足兼容不同家电源方案供应商。在同样叠层结构，铜箔铺设等条件下，进行针对性强的对比测试。

下文中,参照图1对电源测试板进行详细描述。参考图1，根据本发明的实施例的电源测试板包括：印刷电路板100；一个或多个cpu102，设置在印刷电路板100上；第一组电源112，在印刷电路板100上设置为邻近一个或多个cpu102以为一个或多个cpu102供电。第一组电源112包括以下5种电源：vccio-vr116(0.9-1.1v电源)、vccana-vr118(0.9-1.1v电源)、1v8-vr120(1.7-1.9v电源)、vccin-vr122(1.6-2v电源)和vccsa-vr124(0.5-1.1v电源)。

电源测试板还包括多个内存模块104和106，设置在一个或多个cpu102的相对侧上，并且每两个内存模块104和106与一个cpu102相对应。在可选实施例中，当包括两个cpu时，则包括4个内存模块。具体地，每个内存模块包括8个内存条。在可选实施例中，可以仅设置一个cpu和一个内存模块以节省测试步骤。

电源测试板还包括第二组电源108或110，在印刷电路板100上设置为与内存模块相对应以为每个内存模块供电，其中，以预留零器件的方式将第一组电源112和第二组电源108和110设置为待测试的电源。第二组电源108与第二组电源110为相同的电源。第二组电源108和110均包括vddq-vr(1.23v电源)、vpp-vr(2.5v电源)和vtt-vr(0.5v电源)。具体地，预留零器件包括电阻器、电容器和信号放大器。例如，参见附图2a，对于ti公司的电源来说，需要附接电容器c5和c6，其电容值为2200pf；而对于mps公式的电源来说，需要附接10kω的电阻器，而对于infineon和ti公司的电源来说，不需要附接49.9kω的电阻器。图2b通过端子a和b分别与图2a的端子a和b连接。例如，参照图2b，对于ti公司来说，不需要附接电阻器r16，而对于mps和infineon公司的电源来说，需要附接电阻器r16。对于其他电阻器r18、r19、r22和r23，与电阻器r16类似确定是否附接这些电阻器。待测试的电源为来自于不同电源芯片供应商的多种不同的电源芯片。通过以下方式设置待测试的电源：根据待测试的电源修改物料清单；以及根据修改后的物料清单选择并设置与待测试的电源相对应的零器件。待测试的电源包括待测试的第一组电源和待测试的第二组电源。电源测试板还包括多条信号线，用于将待测试电源与预留零器件电连接，并且将待测试的第一组电源和待测试的第二组电源分别与一个或多个cpu和多个内存模块连接。

图3是根据本发明的实施例的电源测试方法的流程图。下文中，将参照图3对电源测试方法进行描述。电源测试方法300包括：步骤302，提供印刷电路板，印刷电路板包括一个或多个cpu、多个内存模块、为一个或多个cpu供电的第一组电源和为多个内存模块中的每个内存模块供电的第二组电源；以及步骤304，以预留零器件的方式将第一组电源和第二组电源设置为待测试的电源。具体地，以预留零器件的方式将第一组电源和第二组电源设置为待测试的电源进一步包括：获取来自于不同电源芯片供应商的多个电源芯片；分析多个电源芯片中的每个电源芯片的管脚功能；根据不同的管脚功能修改物料清单，并且根据修改后的物料清单选择并设置与待测试电源相对应的零器件；以及将零器件与第一组电源和/或第二组电源连接以获得待测试的电源。将多个电源信号的测试结果进行比较，并选择最佳的电源芯片。

下文中，以具体实例的方式对该电源测试板进行描述。该电源测试板具体涉及到intelwhitley平台在服务器上，新一代电源方案的验证测试和选型参考。在正式主板之前，进行测试评估的评估板方案。

1、本发明中涉及到的方案，是指新制作一块测试板卡，满足多家电容方案的兼容性，可以达到一块板子，多家方案均可使用的效果。从而进行相关的评估测试。

2、对于服务器来说，一个cpu现在可以支持最多16根内存条的配置。如图一所示，新的intelcpu需要5组电源模块进行供电。分别为vccin、vccsa、vccio、vccana、1v8，这些电源名称为intel自己定义的电源。16根内存条分为两组内存模块，每一组需要3组电源模块进行供电，分别为vddq、vpp、vtt。

3、1个cpu对应16根内存条，是新一代的最大配置需求。在这个配置下，cpu和内存模块的电流需求也是最大的。所以本发明要做到可以满足这个最高配置来进行验证。在满足这个配置后，我们的测试结果就可以覆盖其他的减配方案电源需求，从而达到最广的覆盖范围。

4、首先，需要收集各个电源芯片厂商，向他们收集他们的电源方案资料。然后进行汇总。本发明的难点在于，每家芯片的每个管脚的功能不尽相同，这个时候我们就需要对于每家的方案进行彻底地了解。详细的分析管脚功能的区别。然后通过预留零器件的方法，如电阻电容，信号放大器等电子零器件。从而达到只修改打板物料清单，就可以将不同属性的电源芯片放到一个测试板上的效果。

5、在完成原理图之后，我们需要在进行layout的时候，也充分考虑各家厂商的不同要求，在电子零器件的摆放，信号线的铺设，铜箔的铺设的时候，选择最优方案。来达到可以支持多家电源方案的效果。例如，通过接地线屏蔽电源线与信号线；将采样点设置在陶瓷电容上以保证反馈精度；将信号线作等长处理以避免引入误差；以及在层数较少的情况下，将信号线设置为足够宽、足够厚以降低阻抗，减少热量生成，进而降低板耗。

本发明的实施例中涉及到的方案，是指intelwhitley平台兼容多家电源方案评估板。达到一块测试版满足多家电源方案需求和测试的效果。需要收集各个电源芯片厂商，向他们收集他们的电源方案资料。然后进行汇总。本发明的难点在于，每家芯片的每个管脚的功能不尽相同，这个时候我们就需要对于每家的方案进行彻底地了解。详细的分析管脚功能的区别。然后通过预留零器件的方法，如电阻电容，信号放大器等电子零器件。从而达到只修改打板物料清单，就可以将不同属性的电源芯片放到一个测试板上的效果。在完成原理图之后，我们需要在进行layout的时候，也充分考虑各家厂商的不同要求，在电子零器件的摆放，信号线的铺设，铜箔的铺设的时候，选择最优方案。来达到可以支持多家电源方案的效果。

使用根据本发明的实施例的电源测试板进行新一代intel平台cpu和内存模块的电源方案评估可以满足最大的功耗需求并且通过使用该电路测试板，可以满足兼容不同家电源方案供应商。在同样叠层结构，铜箔铺设等条件下，进行针对性强的对比测试。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。