本实用新型涉及电子测试行业领域，尤其涉及一种高精度大电流控制光源的测试模块。
背景技术：
在自动化测试领域，对于测试需要高精度大电流控制的光源模块的场合，一般的解决方案是直接购买Agilent，Tektronix等知名厂商的仪器。这种情况下，仪器的很多功能使用不上，造成资源浪费。同时仪器本身的尺寸问题，导致测试多个产品时，使用多台仪器占用空间大且费用高企或者多个产品使用一台仪器，效率低下。
综上所述，根据测试行业对高精度大电流控制的测试要求，十分需要针对性设计出一款高精度大电流控制模块，使其具有精度高，使用方便，尺寸小，便于集成安装的特点，进而满足对高精度大电流控制的测试需要。
技术实现要素：
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种精度高，使用方便，尺寸小，便于集成安装的高精度大电流控制光源的测试模块。
本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括单片机、24bit数字模拟转换器、24位模拟数字转换器、存储芯片模块、恒压源模块、电流采样和测量模块、电流输出控制模块、电流调节控制元件、采样电阻以及发光二极管，所述单片机包括串行外设接口和两路集成电路总线，其中一路集成电路总线通过所述24bit数字模拟转换器连接所述电流输出控制模块，另一路集成电路总线连接所述存储芯片模块，所述串行外设接口通过所述24bit数字模拟转换器连接所述电流输出控制模块，所述单片机串行外设接口通过所述24位模拟数字转换器连接所述电流采样和测量模块，所述电流输出控制模块与所述电流采样和测量模块相连接，所述电流调节控制元件包括晶体管，所述晶体管的基极连接所述电流输出控制模块，所述晶体管的集电极连接所述恒压源模块，所述晶体管的发射极连接所述采样电阻的一端，所述采样电阻的另一端连接所述发光二极管的正极，所述发光二极管的负极连接电路共地端，所述采样电阻的两端还与所述电流采样和测量模块的对应端连接。
所述恒压源模块提供+/-12V两组电源，通过对应电路变为5V/3A电源作为该模块的负载的电源。
所述存储芯片模块包括存储芯片，所述存储芯片模块把模块校验的数据存储其中。
所述电流采样和测量模块包括集成电路及外围电路，所述电流输出控制模块包括运放芯片、三极管、MOS管以及外围电路，所述24位模拟数字转换器包括集成芯片及与之联接的外围电路。
本实用新型的有益效果是：由于本实用新型它包括单片机、24bit数字模拟转换器、24位模拟数字转换器、存储芯片模块、恒压源模块、电流采样和测量模块、电流输出控制模块、电流调节控制元件、采样电阻以及发光二极管，所述单片机包括串行外设接口和两路集成电路总线，其中一路集成电路总线通过所述24bit数字模拟转换器连接所述电流输出控制模块，另一路集成电路总线连接所述存储芯片模块，所述串行外设接口通过所述24bit数字模拟转换器连接所述电流输出控制模块，所述单片机串行外设接口通过所述24位模拟数字转换器连接所述电流采样和测量模块，所述电流输出控制模块与所述电流采样和测量模块相连接，所述电流调节控制元件包括晶体管，所述晶体管的基极连接所述电流输出控制模块，所述晶体管的集电极连接所述恒压源模块，所述晶体管的发射极连接所述采样电阻的一端，所述采样电阻的另一端连接所述发光二极管的正极，所述发光二极管的负极连接电路共地端，所述采样电阻的两端还与所述电流采样和测量模块的对应端连接；所述恒压源模块提供+/-12V两组电源，通过对应电路变为5V/3A电源作为该模块的负载的电源。所述存储芯片模块包括存储芯片，可以把模块校验的数据存储其中；所以本实用新型是一种精度高，使用方便，尺寸小，便于集成安装的高精度大电流控制光源的测试模块。
附图说明
图1是本实用新型电路原理结构方框示意图；
图2是本实用新型恒压源模块电路原理结构示意图；
图3是本实用新型存储芯片模块电路原理结构示意图；
图4是本实用新型电流采样和测量模块电路原理结构示意图；
图5是本实用新型电流输出控制模电路原理结构示意图；
图6是本实用新型24位模拟数字转换器电路原理结构示意图。
具体实施方式
如图1至图6所示，本实用新型它包括单片机、24bit数字模拟转换器、24位模拟数字转换器、存储芯片模块、恒压源模块、电流采样和测量模块、电流输出控制模块、电流调节控制元件、采样电阻以及发光二极管，所述单片机包括串行外设接口和两路集成电路总线，其中一路集成电路总线通过所述24bit数字模拟转换器连接所述电流输出控制模块，另一路集成电路总线连接所述存储芯片模块，所述串行外设接口通过所述24bit数字模拟转换器连接所述电流输出控制模块，所述单片机串行外设接口通过所述24位模拟数字转换器连接所述电流采样和测量模块，所述电流输出控制模块与所述电流采样和测量模块相连接，所述电流调节控制元件包括晶体管，所述晶体管的基极连接所述电流输出控制模块，所述晶体管的集电极连接所述恒压源模块，所述晶体管的发射极连接所述采样电阻的一端，所述采样电阻的另一端连接所述发光二极管的正极，所述发光二极管的负极连接电路共地端，所述采样电阻的两端还与所述电流采样和测量模块的对应端连接。所述恒压源模块提供+/-12V两组电源，通过对应电路变为5V/3A电源作为该模块的负载的电源。
所述存储芯片模块包括存储芯片，所述存储芯片模块把模块校验的数据存储其中。
所述电流采样和测量模块包括集成电路及外围电路，所述电流输出控制模块包括运放芯片、三极管、MOS管以及外围电路，所述24位模拟数字转换器包括集成芯片及与之联接的外围电路。
本实施例中，恒压源模块部分系统提供+/-12V两组电源，通过LT3680变为5V/3A电源作为该模块的负载的电源，REF02BU把12V电压转化为5V基准电压，供 DAC使用，该电压精度高达0.2%。存储芯片模块自带存储芯片，可以把模块校验的数据存储其中。电流采样和测量模块的电压测试使用LT1800CS5，该运放的共模抑制（Common Mode Rejection）：150dB，Open-Loop Gain: 85V/mV。该运放的增益（gain）可以通过采样电阻的阻值，ADC控制输出的电压范围与要求控制输出的电流的比值计算得出。例如：我们的采样电阻为0.1欧姆，ADC控制输出的电压范围5V与要求控制输出的电大电流为3A。那么，可以计算出Gain = 5 / 3 /0.1 = 16.6，其中的一部分误差我们可以通过校准来调节。电流输出控制模块的ADC AD7175-2BRUZ具有24位的高分辨率和250K的采样率。该模块电流控制输出：使用16位DAC输出0~5V，与采样电阻反馈回的现在的电流值进行比较，控制D44H11G的导通阻抗来调节输出电流达到我们所需要的值。电流控制精度可达0.2mA。如果我们需要输出2.3A的电流，可以用以下公式计算得出我们DAC所需要输出的电压值：Vdac = (5V/3A) * 2.3A = 3.8334。电流测量：本实用新型使用一个高精度的电阻作为电流的采样。电阻功率 1 W, 电阻温度系数 ± 2ppm/°C ，负载电阻稳定性 ±0.015%。
本实用新型可广泛应用于电子测试行业领域，尤其是高精度大电流控制光源的测试技术中。