用于微流控芯片检测的芯片检测模块的制作方法

本实用新型属于医疗设备技术领域，尤其是涉及一种用于微流控芯片检测的芯片检测模块。

背景技术：

微流控芯片(microfluidic chip)是当前微全分析系统(Miniaturized Total Analysis Systems)发展的热点领域。微流控芯片分析以芯片为操作平台，同时以分析化学为基础，以微机电加工技术为依托，以微管道网络为结构特征,以生命科学为目前主要应用对象，是当前微全分析系统领域发展的重点。它的目标是把整个化验室的功能，包括采样、稀释、加试剂、反应、分离、检测等集成在微芯片上。微流控芯片是微流控技术实现的主要平台。其装置特征主要是其容纳流体的有效结构(通道、反应室和其它某些功能部件)至少在一个纬度上为微米级尺度。由于微米级的结构，流体在其中显示和产生了与宏观尺度不同的特殊性能。因此发展出独特的分析产生的性能。微流控芯片的特点及发展优势：微流控芯片具有液体流动可控、消耗试样和试剂极少、分析速度成十倍上百倍地提高等特点，它可以在几分钟甚至更短的时间内进行上百个样品的同时分析，并且可以在线实现样品的预处理及分析全过程。其产生的应用目的是实现微全分析系统的终极目标－芯片实验室，目前工作发展的重点应用领域是生命科学领域。

在中国专利文献CN107843583A中，公开了一种微流控化学发光分析仪及使用方法，包括液路气路模块、芯片加载模块、超声模块，液路气路模块、芯片加载模块、超声模块顺序设置。本实用新型集多个装置于一体，可以对每个芯片进行扫码，确定个性化检测项目；使用超声模块使样品、反应试剂、发光底物充分混匀，最后进行光学检测，读取数据，使整个检测程序标准化、自动化，且检测灵敏度高、结果可靠。本实用新型在保证各项检测功能的基础上，结构进行了极大的简化，体积较小，制造成本低，操作简便，适合在患者身边进行即时检验，可以快速获得检测结果。

但上述技术方案对于芯片检测模块没有更好的解决方案，因此，有必要一种新的芯片检测模块。

技术实现要素：

本实用新型要解决的问题是提供一种结构新颖，维护简便，检测结果可靠的用于微流控芯片检测的芯片检测模块。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是，该芯片检测模块包括有激发光模块，所述激发光模块下方设置有接发射光口，由遮光板驱动马达驱动遮光板移动，所述遮光板设置在所述接发射光口的下方；位于所述芯片检测模块的底部还设置有光电倍增管PMT；所述遮光板驱动马达的输出轴上连接有转台，所述转台上具有拨动柱，所述拨动柱插入至所述遮光板的凹槽内。

设置遮光板，防止侧面光源对检测的干扰，提高光学检测的灵敏度；通过转台的转动，带动转台上的拨动柱移动，使得遮光板左右移动，结构新颖，维护简便，防止侧面光源对检测的干扰，检测结果可靠。

优选的，所述激发光模块具有由上模板、左侧板和右侧板围成的内置空腔；所述内置空腔内设置有激发光源，所述激发光源由包覆罩进行包覆，且采用挡板固定所述激发光源中的氙灯；在所述挡板与所述左侧板之间还设置有弹簧、螺钉和限位板；所述包覆罩的右侧设置有滤光片固定座，在所述包覆罩和所述滤光片固定座之间还设置有透镜调整环；在所述滤光片固定座与所述右侧板之间依次设置有分光镜、分光镜调整环、分光镜压块和硅光固定块。

限位板，用于限定氙灯的位置；挡板用于固定氙灯。

优选的，所述分光镜压块内设置有橡胶带，橡胶带用于缓冲分光镜。

优选的，在所述分光镜压块与所述硅光固定块之间还设置有硅光电池调整环。

优选的，所述遮光板的凹槽下方设置有接发射光滤光片组件，所述接发射光滤光片组件配装有滤光片固定块。

优选的，所述遮光板驱动马达和所述光电倍增管PMT均设置在固定板下方，所述固定板与所述滤光片固定块相连接。

固定板用于固定遮光板驱动马达和所述光电倍增管PMT，优化整体结构。

本实用新型要解决的另一个技术问题是提供一种兼顾微流控芯片和NC膜检测的技术运用场景，满足微流控和NC膜检测两种测量平台同时进样的用于微流控芯片和NC膜多通量检测一体机的装置。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是，该用于微流控芯片和NC膜多通量检测一体机的装置，包括有底座，所述底座上设置有进样模块、温育模块、清洗模块、NC膜检测模块和芯片检测模块；

其中，所述进样模块中设置有相互独立的芯片进样卡槽和NC膜进样卡槽，分别用于插入芯片或NC膜卡条；所述进样模块中还设置有液路气路模块；

所述温育模块上具有相互独立的芯片温育槽和NC膜温育槽，且所述进样模块、清洗模块和NC膜检测模块沿所述温育模块长度方向上的侧面设置；在所述清洗模块中被清洗后的芯片送至所述芯片检测模块中进行检测。

进样模块中的液路气路模块，用于确保芯片反应仓充满样本和试剂反应；芯片温育槽，用于对芯片进行恒温孵育；同理，NC膜温育槽，用于对NC膜卡条进行恒温孵育；采用上述技术方案，将各个模块部件均整合在底座上形成整套设备，结构一体化，尤其是能够兼顾微流控芯片和NC膜检测的技术运用场景，微流控芯片检测具有精度高，速度快，检测成本较高的特点，适合进行精准医疗环节进行的检测，NC膜检测具有速度快，精度低，检测成本低的特点，一般用于筛查型检测；可以避免任何项目都用高精尖的方法学去检测，导致医疗资源的过度消费的问题，具有两种技术的优点，可以结合运用场景的实际情况合理进行检测，达到社会效益和经济效益的有机统一，对于灵敏度要求不太高的项目可以用NC膜侧向层析方法解决，既可以降低成本，又可以提高通量；然而对灵敏度要求特别高且稳定性要求也很高的，高难度项目可以用微流控方法检测，即可提高灵敏度，也可达到准确度。再者，在本实用新型技术方案中，微流控芯片和NC膜检测相互独立，不相干涉，可满足同时两种测量平台同时进样，满足POCT检测过程的系统检测过程中两种方法的配合需求，提高检测效率。

优选的，在所述芯片进样卡槽的侧面设置有芯片进样拨手，所述芯片进样拨手固定连接在第一传动连接块上，所述第一传动连接块由所述芯片进样拨手动力马达通过同步带驱动来回运动；在所述NC膜进样卡槽的侧面设置有NC膜进样拨手，所述NC膜进样拨手固定连接在第二传动连接块上，所述第二传动连接块由所述NC膜进样拨手动力马达通过同步带驱动来回运动。

将芯片插入到芯片进样卡槽内，芯片进样卡槽进入本实用新型一体机的装置内部，到达位置，即将芯片移动至进样模块中的液路气路模块内，由液路气路模块对加入了样本的芯片进行处理；芯片进样拨手设置在芯片进样卡槽的侧面，使得芯片进样拨手控制马达带动芯片进样拨手将芯片拨入到芯片温育槽中进行恒温孵育；将NC膜卡条插入到NC膜进样卡槽内，NC膜进样卡槽进入本实用新型一体机的装置内部，到达位置，NC膜进样拨手动力马达带动NC膜进样拨手将NC膜卡条拨入到NC膜温育槽中进行恒温孵育。

优选的，所述第一传动连接块下面设置有第一传动滑条；所述第二传动连接块下面设置有第二传动滑条；所述芯片进样卡槽由芯片进样卡槽控制马达控制，所述NC膜进样卡槽由NC膜进样卡槽控制马达控制，所述液路气路模块由液路气路模块控制马达控制进行动作。

传动连接块沿着传动滑条进行来回运动，位置精准，移动稳定，不会产生晃动；采用芯片进样卡槽控制马达控制芯片进样卡槽，采用NC膜进样卡槽控制马达控制NC膜进样卡槽，保持二者之间的独立性，芯片、NC膜卡条进入本实用新型一体机的装置内部更加方便、便捷；液路气路模块由液路气路模块控制马达控制进行下压，进而对芯片进行处理。

优选的，所述液路气路模块包括有上下滑块，进样气路柱、液路柱、液位杆和阀门压杆；所述进样气路柱端部设置有气路密封件，所述气路密封件上具有密封圈；所述阀门压杆由阀门控制马达控制，所述阀门压杆控制马达和所述液路气路模块控制马达均设置在所述液路气路模块上方。

上下滑块的设置，用于确保液路气路模块对芯片进行下压的方向和位置精准，进样气路柱用于正压吹起推动加入到芯片内的样本到达反应区，气路密封件，用于保证装置(液路气路模块)和芯片配合处的密封可靠性，采用密封圈(柔性的，例如橡胶材料)，一体化密封方式，最大程度满足微流控芯片的进样和清洗密封要求；液路柱用于密封芯片上的清洗液口，不让其透气；液位杆用于感应样本是否到达且充满反应区；阀门压杆用于当液位杆感应到样本到达且充满反应区，阀门控制马达立即做出关闭阀门响应，阀门压杆下压压死阀门，保证芯片反应仓充满样本和试剂反应；采用液位杆进行液面感测，可精确感测微流控芯片内部液体流动情况，及时掌握微流控芯片中样本和清洗液的体积，并可自动判断微流控芯片管路堵塞情况。

优选的，在所述温育模块中，所述芯片温育槽和NC膜温育槽上下叠装设置；所述芯片温育槽具有至少一个槽位用于放置芯片，所述芯片温育槽由芯片温育槽控制马达控制，使得所述芯片温育槽沿芯片温育槽光杆自由滑动；所述NC膜温育槽具有至少一个槽位用于放置NC膜卡条，所述NC膜温育槽由NC膜温育槽控制马达控制，使得所述NC膜温育槽沿NC膜温育槽光杆自由滑动。

芯片温育槽和NC膜温育槽上下叠装设置，结构紧凑，且体现出二者的独立性，不相干涉；芯片温育槽沿芯片温育槽光杆自由滑动，且进样模块、清洗模块和芯片检测模块沿所述温育模块长度方向上的侧面设置，方便将位于进样模块中的芯片拨入到芯片温育槽中，也方便将位于芯片温育槽中的芯片拨入到清洗模块中；同样的，NC膜温育槽沿NC膜温育槽光杆自由滑动，且进样模块、清洗模块和NC膜检测模块沿所述温育模块长度方向上的侧面设置，方便将NC膜卡条拨入到NC膜温育槽中，也方便将位于NC膜温育槽中的NC膜卡条拨到NC膜检测模块中；槽位可以设置多个，多芯片或多NC膜卡条同步检测，可满足多个芯片，多NC膜卡条在系统中同步传动，满足检测系统对通量和效率的需求。

优选的，所述清洗模块具有芯片清洗槽，所述芯片清洗槽与芯片清洗传动连接块固定连接，所述芯片清洗传动连接块固定安装由芯片清洗槽传动控制马达驱动的同步带上，所述芯片清洗槽在直线导轨上来回移动；所述清洗模块由清洗液路气路控制马达控制，且所述清洗液路气路控制马达设置在所述清洗模块上方。

在本实用新型中，清洗模块在具体结构上，与液路气路模块相同，清洗液路气路控制马达控制清洗模块下压，清洗模块采用和液路气路模块同样的结构设计(气路密封件)来保证气密性，采用液泵正压打清洗液进行清洗，清洗数次，每次打完清洗液，采用气泵控制吹正压气体排空芯片反应区内的清洗液，直至清洗完成；采用气液同路方式，利用一个进样口和阀泵控制系统，结合微机控制时序，可满足微流控芯片对气液进样的特殊需求。

优选的，所述NC膜检测模块包括有NC膜检测光路，所述NC膜检测光路下方设置有NC膜检测卡槽，通过NC膜检测控制马达控制所述NC膜检测光路在所述NC膜检测卡槽上方移动；所述NC膜检测卡槽的侧面设置有限位柱，由丢弃卡条控制马达控制所述NC膜检测卡槽移动。

将NC膜卡条从NC膜温育槽上拨到NC膜检测卡槽内后，NC膜检测控制马达控制NC膜检测光路在NC膜检测卡槽上方前后移动采集信号，进行分析，检测完毕后，由丢弃卡条控制马达控制NC膜检测卡槽向右移动，NC膜检测卡槽的侧面设置有限位柱，限制NC膜卡条向右移动，当NC膜检测卡槽移动到一定位置时，NC膜卡条掉下NC膜检测卡槽，完成抛弃卡条动作。

优选的，通过NC膜出样检测构件上的NC膜出样拨手将NC膜卡条从所述NC膜温育槽中拨到所述NC膜检测卡槽内。

附图说明

下面结合附图和本实用新型的实施方式进一步详细说明：

图1是本实用新型用于微流控芯片和NC膜多通量检测一体机的装置结构示意图；

图2是图1中的进样模块结构示意图；

图3是图2中的进样模块后视结构示意图；

图4是本实用新型中的液路气路模块结构示意图；

图5是图4中的气路密封件结构示意图；

图6是图1中的温育模块结构示意图；

图7是图1中的清洗模块结构示意图；

图8是图1中的NC膜检测模块结构示意图；

图9是本实用新型中的芯片检测模块结构示意图；

图10是图9的爆炸结构图；

其中：1-底座；2-进样模块；201-芯片进样卡槽；202-NC膜进样卡槽；203-芯片进样拨手；204-第一传动连接块；205-芯片进样拨手动力马达；206-NC膜进样拨手；207-第二传动连接块；208-NC膜进样拨手动力马达；209-第一传动滑条；2010-第二传动滑条；2011-芯片进样卡槽控制马达；2012-NC膜进样卡槽控制马达；3-温育模块；301-芯片温育槽；302-NC膜温育槽；303-NC膜温育槽控制马达；304-芯片温育槽控制马达；305-芯片温育槽光杆；306-NC膜温育槽光杆；307-传动滑块；308-支架；309-滑出口；4-清洗模块；401-芯片清洗槽；402-芯片清洗传动连接块；403-芯片清洗槽传动控制马达；404-直线导轨；405-清洗液路气路控制马达；5-NC膜检测模块；501-NC膜检测光路；502-NC膜检测卡槽；503-NC膜检测控制马达；504-限位柱；505-丢弃卡条控制马达；506-检测平台；507-抵挡片；508-NC膜卡条放置区；509-NC膜卡条掉入口；5010-围边；5011-限位柱孔；5012-NC膜检测滑块；6-芯片检测模块；601-激发光模块；602-接发射光口；603-遮光板驱动马达；604-遮光板；605-光电倍增管PMT；606-输出轴；607-转台；608-拨动柱；609-凹槽；6010-上模板；6011-左侧板；6012-右侧板；6013-激发光源；6014-包覆罩；6015-挡板；6016-弹簧；6017-螺钉；6018-限位板；6019-滤光片固定座；6020-透镜调整环；6021-分光镜；6022-分光镜调整环；6023-分光镜压块；6024-硅光固定块；6025-橡胶带；6026-硅光电池调整环；6027-接发射光滤光片组件；6028-滤光片固定块；6029-固定板；7-液路气路模块；701-液路气路模块控制马达；702-上下滑块；703-进样气路柱；704-液路柱；705-液位杆；706-阀门压杆；707-气路密封件；708-密封圈；709-阀门控制马达；7010-上支架；7011-下支架；7012、7018-丝杆螺母；7013-上端面层；7014-下端面层；7015-缺口；7016、7017-丝杆；8-NC膜出样检测构件；801-NC膜出样拨手。

具体实施方式

如图1所示，是本实用新型的用于微流控芯片和NC膜多通量检测一体机的装置结构示意图，包括有底座1，所述底座1上设置有进样模块2、温育模块3、清洗模块4、NC膜检测模块5和芯片检测模块6；

其中，所述进样模块2中设置有相互独立的芯片进样卡槽201和NC膜进样卡槽202，分别用于插入芯片或NC膜卡条；所述进样模块2中还设置有液路气路模块7；

所述温育模块3上具有相互独立的芯片温育槽301和NC膜温育槽302，且所述进样模块2、清洗模块4和NC膜检测模块5沿所述温育模块3长度方向上的侧面设置；在所述清洗模块4中被清洗后的芯片送至所述芯片检测模块6中进行检测。

如图2、3所示，在所述芯片进样卡槽201的侧面设置有芯片进样拨手203，所述芯片进样拨手203固定连接在第一传动连接块204上，所述第一传动连接块204由所述芯片进样拨手动力马达205通过同步带驱动来回运动；在所述NC膜进样卡槽202的侧面设置有NC膜进样拨手206，所述NC膜进样拨手206固定连接在第二传动连接块207上，所述第二传动连接块207由所述NC膜进样拨手动力马达208通过同步带驱动来回运动。

所述第一传动连接块204下面设置有第一传动滑条209；所述第二传动连接块207下面设置有第二传动滑条2010；所述芯片进样卡槽201由芯片进样卡槽控制马达2011控制，所述NC膜进样卡槽202由NC膜进样卡槽控制马达208控制，所述液路气路模块7由液路气路模块控制马达701控制进行动作。

如图4所示，所述液路气路模块7包括有上下滑块702，进样气路柱703、液路柱704、液位杆705和阀门压杆706；所述进样气路柱703的端部设置有气路密封件707，所述气路密封件707上具有密封圈708(如图5所示)，在本实施例中，密封圈708的材质为橡胶，实现软接触，密封圈半圆弧上采用多道筋桥结构，筋桥受到挤压变形，启动密封作用；所述阀门压杆706由阀门控制马达709控制，所述阀门压杆控制马达709和所述液路气路模块控制马达701均设置在所述液路气路模块7上方。

在本实施例中，液路柱704的端部也是设置有气路密封件707，气路密封件707上也安装有密封圈708；此外，就本实施例的液路气路模块7，具体的，还有上支架7010，阀门压杆控制马达709和液路气路模块控制马达701均设置在上支架7010上，下支架7011通过上下滑块702与上支架7010活动连接，其中，进样气路柱703、液路柱704和液位杆705均安装在下支架7011上，液路气路模块控制马达701为丝杆电机，与液路气路模块控制马达701上的丝杆7016相配装的丝杆螺母7012固定安装在下支架7011上，驱动下支架7011上下滑动，下支架分为两层，分别是上端面层7013和下端面层7014，上端面层7013用于安装丝杆螺母7012，以及在上端面层7013上还具有一个缺口7015，给与阀门控制马达709的丝杆7017相配装的丝杆螺母7018留出安装位置，阀门压杆706活动插装在下端面层7014内，液路柱704还连接有液泵，进样气路柱703还连接有气泵。

在所述温育模块3中，如图6所示，所述芯片温育槽301和NC膜温育槽302上下叠装设置；所述芯片温育槽301具有至少一个槽位用于放置芯片(在本实施例中，具有8个槽位)，所述芯片温育槽301由芯片温育槽控制马达304控制，使得所述芯片温育槽301沿芯片温育槽光杆305自由滑动；所述NC膜温育槽302具有至少一个槽位用于放置NC膜卡条(在本实施例中，也是具有8个槽位)，所述NC膜温育槽302由NC膜温育槽控制马达303控制，使得所述NC膜温育槽302沿NC膜温育槽光杆306自由滑动。

在温育模块3中，具有支架308，NC膜温育槽302位于上方，具有两根NC膜温育槽光杆306，在两根NC膜温育槽光杆306之间留有同步带安装空间，NC膜温育槽控制马达303连接有同步带，NC膜温育槽302下面设置有传动滑块307，传动滑块307与NC膜温育槽控制马达303驱动的同步带固定连接；芯片温育槽301位于NC膜温育槽302的下方，结构与上述NC膜温育槽302相同，此外，在支架308的右侧，且与芯片温育槽301相对应的位置开有滑出口309，方便将芯片温育槽301中孵育时间完成的芯片拨至芯片清洗槽401内。

清洗模块4具有芯片清洗槽401，所述芯片清洗槽401与芯片清洗传动连接块402固定连接，所述芯片清洗传动连接块402固定安装在由芯片清洗槽传动控制马达403驱动的同步带上，所述芯片清洗槽401在直线导轨404上来回移动；所述清洗模块4由清洗液路气路控制马达405控制，且所述清洗液路气路控制马达405设置在所述清洗模块4上方，如图7所示。

如图8所示的是本实用新型的NC膜检测模块5，包括有NC膜检测光路501，所述NC膜检测光路501下方设置有NC膜检测卡槽502，通过NC膜检测控制马达503控制所述NC膜检测光路501在所述NC膜检测卡槽502上方移动；所述NC膜检测卡槽502的侧面设置有限位柱504，由丢弃卡条控制马达505控制所述NC膜检测卡槽502移动。

具体，NC膜检测模块5包括有检测平台506，检测平台506的边缘设置有抵挡片507，抵挡片507与NC膜检测卡槽502围成有NC膜卡条放置区508；在NC膜卡条放置区508下方，且位于检测平台506上设置有NC膜卡条掉入口509；NC膜检测卡槽502上的围边5010具有限位柱孔5011；NC膜检测光路501固定连接有NC膜检测滑块5012，NC膜检测滑块5012由NC膜检测控制马达503控制移动，进而带动NC膜检测光路501在NC膜检测卡槽502上方移动。

在图1中，我们还可以看到，通过NC膜出样检测构件8上的NC膜出样拨手801将NC膜卡条从所述NC膜温育槽302中拨到所述NC膜检测卡槽502内。

图9所示的是芯片检测模块6，包括有激发光模块601，所述激发光模块601下方设置有接发射光口602，由遮光板驱动马达603驱动遮光板604移动，所述遮光板604设置在所述接发射光口602的下方，遮光板604上可安装不同的滤光片，遮光板控制马达603移动遮光板604进行不同的光波长接收；位于所述芯片检测模块6的底部还设置有光电倍增管PMT605，芯片放置在激发光模块601和接发射光口602之间；遮光板驱动马达603的输出轴606上连接有转台607，所述转台607上具有拨动柱608，所述拨动柱608插入至所述遮光板604的凹槽609内。

再者，图10所示的是上述芯片检测模块6的爆炸结构图，从图中可以看出芯片检测模块6的更详细结构，激发光模块具有由上模板6010、左侧板6011和右侧板6012围成的内置空腔；所述内置空腔内设置有激发光源6013，所述激发光源6013由包覆罩6014进行包覆，且采用挡板6015固定所述激发光源6013中的氙灯；在所述挡板6015与所述左侧板6011之间还设置有弹簧6016、螺钉6017和限位板6018；所述包覆罩6014的右侧设置有滤光片固定座6019，在所述包覆罩6014和所述滤光片固定座6019之间还设置有透镜调整环6020；在所述滤光片固定座6019与所述右侧板6012之间依次设置有分光镜6021、分光镜调整环6022、分光镜压块6023和硅光固定块6024；所述分光镜压块6023内设置有橡胶带6025；在所述分光镜压块6023与所述硅光固定块6024之间还设置有硅光电池调整环6026。

遮光板604的凹槽609下方设置有接发射光滤光片组件6027，所述接发射光滤光片组件6027配装有滤光片固定块6028；所述遮光板驱动马达603和所述光电倍增管PMT 605均设置在固定板6029下方，所述固定板6029与所述滤光片固定块6028相连接。

具体使用时：

(1)对NC膜卡条进行检测：将NC膜卡条插入到NC膜进样卡槽202内，NC膜进样卡槽控制马达2012控制NC膜进样卡槽202进入装置内部，到达预定位置，NC膜进样拨手动力马达208带动NC膜进样拨手206将NC膜卡条拨入到NC膜温育槽302中进行恒温孵育，孵育时间完成，NC膜温育槽控制马达303带动NC膜温育槽302运动到指定位置，NC膜出样拨手801将NC膜卡条从NC膜温育槽302的槽位上拨到NC膜检测模块5中的NC膜检测卡槽502内，NC膜检测控制马达503控制NC膜检测光路501前后移动采集信号，进行分析，检测结束后，丢弃卡条控制马达505控制NC膜检测卡槽502向右移动，限位柱504穿过NC膜检测卡槽502的围边5010中的限位柱孔5011，限制NC膜卡条向右移动，当NC膜检测卡槽502继续移动到一定位置时，NC膜卡条从NC膜卡条放置区508掉下NC膜检测卡槽502，进入NC膜卡条掉入口509，完成抛弃NC膜卡条动作；

(2)对微流控芯片进行检测：将已加入样本的芯片插入到芯片进样卡槽201内，芯片进样卡槽控制马达2011控制芯片进样卡槽201进入装置内部，到达预定位置，液路气路模块控制马达701控制液路气路模块7下压，保证装置(液路气路模块7)和芯片配合处的密封可靠性，液路柱704封住芯片上的清洗液口，进样气路柱703压住芯片上的进样口，随后，进样气路柱703在进样口正压吹起推动样本到达反应区，这时，液位杆705感应到样本到达且充满反应区，阀门控制马达709立即做出关闭阀门响应，阀门压杆706下压压死阀门，保证芯片反应仓充满样本和试剂反应；位于进样模块2底部的超声模块(现有的)向上接触芯片进行超声混匀，保证试剂和样本的充分反应；芯片进样拨手动力马达205带动芯片进样拨手203将芯片拨入到芯片温育槽301中进行恒温孵育，孵育时间完成；芯片温育槽控制马达304带动芯片温育槽301运动到指定位置，将芯片拨到芯片清洗槽401内，芯片清洗槽传动控制马达403从而间接控制芯片清洗槽401移动，移动到清洗液路模块正下方，清洗液路气路控制马达405控制清洗模块4下压，清洗模块4采用和液路气路模块7同样的结构设计来保证气密性，然后，液泵正压打清洗液进行清洗，清洗数次，每次打完清洗液，气泵控制吹正压气体排空芯片反应区内的清洗液，清洗完成，芯片清洗槽401向后移动到芯片检测模块6进行光路采集处理(芯片放置在激发光模块601和接发射光口602之间)，数据采集完毕后，将芯片丢掉。

上述两个检测步骤，可单独进行，也可以同时进行；在本实施例中，还可以采用微流控芯片检测流程监控系统，实时监控微流控芯片实时的反应过程和检测时间，满足使用者了解检测进度，系统会在芯片进入仪器开始检测的第一时间自动分配芯片的检测管理档案，通过芯片二维码获知芯片项目以及参数曲线，从而显示芯片测量时间和剩余检测时间，方便用户实时掌握检测进程；自动将NC膜和微流控芯片检测过程中产生的耗材，分开丢弃，分类存放；双区域采样方式，提高检测精度和稳定性，巧妙的满足微流控芯片对采样精度和稳定性的要求。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征及优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，例如对于安装在底座上各个部件的位置做一些调整，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。