本实用新型属于电源用具技术领域，具体涉及一种电源芯片寿命测试装置。
背景技术：
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常见的电源是干电池(直流电)与家用的110V-220V交流电源。电源自“磁生电”原理，由水力、风力、海潮、水坝水压差、太阳能等可再生能源，及烧煤炭、油渣等产生电力来源。但是现有的电源芯片在使用时需要对其寿命进行测试，而现有的电源芯片在测试时均是在常温下进行，其没有考虑外界因素，如芯片的在不同温度下测试，同时芯片在受压迫的情况下进行测试，导致现有的测试装置测试的数据不准确。
技术实现要素：
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为解决现有的电源芯片在测试时均是在常温下进行，其没有考虑外界因素，如芯片的在不同温度下测试，同时芯片在受压迫的情况下进行测试，导致现有的测试装置测试的数据不准确的问题；本实用新型的目的在于提供一种电源芯片寿命测试装置。
本实用新型的一种电源芯片寿命测试装置，它包括测试箱、上盖、固定螺栓、调节螺栓、T形转块、转套、缓冲弹簧、压板体、PTC加热片、温度传感器、绝缘安装板、电气盒、单片机、显示屏；测试箱的上端通过固定螺栓安装有上盖，上盖两侧的螺纹孔内安装有调节螺栓，调节螺栓的下端安装有T形转块，T形转块安装在转套的转孔内，转套的底部安装有缓冲弹簧，缓冲弹簧的底部与压板体的上表面连接，压板体的内部安装有PTC加热片，PTC加热片通过导线与安装在电气盒内部的单片机输出端连接，单片机的输入端与温度传感器连接，温度传感器安装在压板体的底部，电气盒的外表面安装有显示屏，显示屏与单片机的输入、输出端连接，测试箱的内底部安装有绝缘安装板。
作为优选，所述上盖的内侧设置有与测试箱相配合的限位槽，限位槽内设置有密封垫，密封垫与测试箱的上表面相配合。
作为优选，所述电气盒内部安装有散热机构。
作为优选，所述温度传感器为贴片式温度传感器。
作为优选，所述缓冲弹簧的外侧套接有防尘套。
作为优选，所述测试箱为保温式测试箱，测试箱的前侧壁上安装有观察窗，观察窗内部安装有钢化玻璃，钢化玻璃的内侧设置有防护网体。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：
一、能实现电源芯片的快速安装，且能实现快速调节，效率高；
二、在使用时，能实现加热温度与压迫式检测，使得测试数据准确，能节省时间；
三、在安装时快速方便，而且操作简便，能实时观察测试数据，提高了效率。
附图说明：
为了易于说明，本实用新型由下述的具体实施及附图作以详细描述。
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型中上盖的俯视图；
图3为本实用新型中测试箱的结构示意图。
图中：1-测试箱；2-上盖；3-固定螺栓；4-调节螺栓；5-T形转块；6-转套；7-缓冲弹簧；8-压板体；9-PTC加热片；10-温度传感器；11-绝缘安装板；12-电气盒；13-单片机；14-显示屏；1-1-观察窗；2-1-密封垫。
具体实施方式：
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面通过附图中示出的具体实施例来描述本实用新型。但是应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本实用新型的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本实用新型的概念。
在此，还需要说明的是，为了避免因不必要的细节而模糊了本实用新型，在附图中仅仅示出了与根据本实用新型的方案密切相关的结构和/或处理步骤，而省略了与本实用新型关系不大的其他细节。
如图1、图2、图3所示，本具体实施方式采用以下技术方案：它包括测试箱1、上盖2、固定螺栓3、调节螺栓4、T形转块5、转套6、缓冲弹簧7、压板体8、PTC加热片9、温度传感器10、绝缘安装板11、电气盒12、单片机13、显示屏14；测试箱1的上端通过固定螺栓3安装有上盖2，上盖2与测试箱1形成一个封闭的空间，上盖2两侧的螺纹孔内安装有调节螺栓4，调节螺栓4能实现压板体8的调节，在调节时带动T形转块5，其T形转块5在转套的转孔内旋转，调节螺栓4的下端安装有T形转块5，T形转块5安装在转套6的转孔内，转套6的底部安装有缓冲弹簧7，缓冲弹簧7能实现力度的缓冲，缓冲弹簧7的底部与压板体8的上表面连接，压板体8能实现电源芯片的压制，通过调节螺栓4来调节压板体8下压的位置，压板体8的内部安装有PTC加热片9，PTC加热片9能实现快速加热，PTC加热片9的原理是热敏电阻加电后自热升温，使阻值进入跃变区，恒温加热PTC热敏电阻，表面温度将保持。该温度只与PTC热敏电阻的温度和外加的电压有关，而与环境温度是基本无关的；
PTC加热片9通过导线与安装在电气盒12内部的单片机13输出端连接，PTC加热片9通过单片机控制通断，且通过温度传感器检测电源芯片的温度，使得电源芯片在一定的温度下进行工作，能实现快速检测电源芯片，单片机13的输入端与温度传感器10连接，温度传感器10安装在压板体8的底部，电气盒12的外表面安装有显示屏14，显示屏14能显示加热的温度与测试的时间，其显示屏14的型号为2711P-B6C20D；显示屏14与单片机13的输入、输出端连接，单片机13的型号为STM8L151C6或者采用STM32F407的处理器，测试箱1的内底部安装有绝缘安装板11。
进一步的，所述上盖2的内侧设置有与测试箱1相配合的限位槽，限位槽内设置有密封垫2-1，密封垫2-1与测试箱1的上表面相配合。
进一步的，所述电气盒12内部安装有散热机构。
进一步的，所述温度传感器10为贴片式温度传感器，其型号为：JKWP/P-201S。
进一步的，所述缓冲弹簧7的外侧套接有防尘套。
进一步的，所述测试箱1为保温式测试箱，测试箱1的前侧壁上安装有观察窗1-1，观察窗1-1内部安装有钢化玻璃，钢化玻璃的内侧设置有防护网体。
本具体实施方式的工作原理为：在使用时，将电源芯片安装在绝缘安装板11上，然后将电源芯片连接控制器件，然后将上盖2通过固定螺栓3固定在测试箱1上，通过测试箱1实现快速测试，同时在使用时，通过转动调节螺栓4来实现压板体8的位置，使得压板体8压迫电源芯片，其T形转块5、转套6组成转套体，缓冲弹簧7能缓冲力度，使得在压迫时也能实现防护电源芯片，同时通过PTC加热片实现加热，其加热温度为20-65℃，在电源芯片工作时，通过温度传感器监测电源芯片的温度，当出现超温或者损坏时，其测试停止，当测试完好时，将电源芯片取出，观察是否出现变形等情况，其测试时间根据选择的温度以及电源芯片的型号来选择，其温度高测试时间比温度低测试时间短，其能实现快速测试，且便于快速安装与拆卸，效率高。