双吸头芯片测试设备的制作方法

本实用新型涉及一种芯片测试设备，尤其涉及一种双吸头芯片测试设备，属于芯片测试领域。

背景技术：

近年来随着科技技术的进步，PC、网络终端设备、通信、网络相关设备等电子产品的需求量增，带动了整个世界半导体产业蓬勃发展。各种功能的集成电路芯片成为电子产品硬件电路的核心，各厂商对集成电路芯片采购标准也较为严苛，在现行对集成电路芯片需求量大增的前提下，芯片供货除了确保最终测试合格率之外，还必须保证生产效率。

目前这类小型芯片的测试方式有两种，一种是逐个测试，即可以手工逐个对芯片进行测试。手工测试的效率低，人工成本高，正在逐渐被机械自动测试所取代。

另一种测试方式是将芯片逐个放入测试治具中进行测试。目前这类小型芯片的测试设备包括：测试机台、料盘放置平台、测设治具以及吸料机械臂，现有技术中的机械臂往往只固定有一个吸头，负责将待测品从料盘中吸取放入到测试治具中，待测试完成后，又通过机械臂将芯片分类，放入良品放置料盘或不良品放置料盘。之后吸取新的芯片放入测试治具中。由此可见，对于每一个测试芯片，机械臂需要来回运动数次进行每个芯片逐一放料、取料，测试效率极低，尤其针对产品测试时间比较短的情况，取、放芯片占用的时间远大于实际产品测试时间。

综上所述，在测试环节时间无法缩减的情况下，芯片的搬运环节成为了提高效率的瓶颈。如何减少机械臂的来回运动次数，提供一种能高效取、放芯片，从而提高芯片测试效率的芯片测试设备，就成为本领域人员亟待解决的问题。

技术实现要素：

本实用新型的目的就是为了解决现有技术中存在的上述问题，提出一种双吸头芯片测试设备。

本实用新型的目的将通过以下技术方案得以实现：

一种双吸头芯片测试设备，包括测试机台，所述测试机台上设置有测试装置、放料装置和转移装置，所述测试装置和所述放料装置都位于所述转移装置的活动范围内，所述转移装置包括机械臂、主吸头组件和副吸头组件，所述主吸头组件固定连接于所述机械臂的末端，所述副吸头组件通过气缸连接于所述主吸头组件的侧面，并可在气缸带动下沿竖直方向运动。

优选地，所述测试装置设置有多个测试工位，每个所述测试工位上设置有至少一个测试治具。

优选地，所述放料装置包括料品放置平台，所述料品放置平台上并列设置有待测品放置料盘、不良品放置料盘和良品放置料盘。

优选地，所述待测品放置料盘、不良品放置料盘和良品放置料盘通过导轨与所述料品放置平台连接，所述导轨与所述待测品放置料盘、不良品放置料盘和良品放置料盘的排列方向相垂直。

优选地，所述测试机台上设置有基座，所述机械臂借助所述基座设置于所述测试机台上，并可以所述基座为中心点、绕中心点转动，所述机械臂转动过程中所覆盖的扇形区域为所述机械臂的工作范围。

优选地，所述机械臂包括主臂和前臂，所述主臂与所述基座转动连接，所述前臂与所述主臂转动连接。

优选地，所述测试装置和所述放料装置均位于所述机械臂的工作范围内。

优选地，所述主吸头组件包括主吸头、第一固定板金和第一固定块，所述主吸头通过第一固定板金与所述第一固定块连接，所述第一固定块与所述机械臂固定连接。

优选地，所述副吸头组件包括副吸头、第二固定板金和第二固定块，所述副吸头通过第二固定板金与所述第二固定块连接，所述第二固定块通过所述气缸与所述第一固定块连接。

优选地，还包括报警装置，所述报警装置设置于所述测试机台上，所述测试装置、放料装置和转移装置均与所述报警装置电性连接，所述报警装置为声光报警器或蜂鸣器。

本实用新型技术方案的优点主要体现在：通过设置双吸头，并优化机械臂的取、防料流程，减少了机械臂的移动次数，缩短了平均测试时间，在动辄成百上千的芯片测试流水线中，对生产效率的提升非常可观；双吸头机械臂可通过在现有的单一吸头机械臂上加装副吸头改造而成，无需另行设计生产，改造成本低，适配性强。此外，本实用新型也为同领域内的其他相关问题提供了参考，可以以此为依据进行拓展延伸，运用于芯片加工测试领域内其他的技术方案中，具有很强的适用性和广阔的应用前景。

总体而言，本实用新型所兼顾了效率与成本，使用效果良好，具有很高的使用及推广价值。

附图说明

图1为本实用新型的俯视图；

图2为本实用新型的双吸头结构示意图；

图3为本实用新型的双吸头结构侧面视图。

其中：1、测试机台；2、测试治具；3、料品放置平台；4、机械臂；5、不良品放置料盘；6、待测品放置料盘；7、良品放置料盘；10、前臂；11、第一固定块；12、第一固定板金；13、气缸；14、第二固定块；15、主吸头；16、副吸头；17、第二固定板金。

具体实施方式

本实用新型的目的、优点和特点，将通过下面优选实施例的非限制性说明进行图示和解释。这些实施例仅是应用本实用新型技术方案的典型范例，凡采取等同替换或者等效变换而形成的技术方案，均落在本实用新型要求保护的范围之内。

本实用新型揭示了一种双吸头芯片测试设备，如图1和图2所示，包括测试机台1，所述测试机台1上设置有测试装置、放料装置和转移装置，所述测试装置和所述放料装置都位于所述转移装置的活动范围内，所述转移装置包括机械臂4、主吸头组件和副吸头组件，所述主吸头组件固定连接于所述机械臂4的末端，所述副吸头组件通过气缸13连接于所述主吸头组件的侧面，并可在气缸13带动下沿竖直方向运动。

所述主吸头15组件包括主吸头15、第一固定板金12和第一固定块11，所述主吸头15通过第一固定板金12与所述第一固定块11连接，所述第一固定块11与所述机械臂4固定连接。

所述副吸头16组件包括副吸头16、第二固定板金17和第二固定块14，所述副吸头16通过第二固定板金17与所述第二固定块14连接，所述第二固定块14通过所述气缸13与所述第一固定块11连接。

在机械臂和气缸的的协同工作下，主、副吸头都可以覆盖整个工作范围。

所述测试装置设置有多个测试工位，每个所述测试工位上设置有至少一个测试治具2。实际生产过程中，需要根据测试治具的效率来确定测试工位和测试治具的数量，以实现生产效率的最大化。

所述放料装置包括料品放置平台3，所述料品放置平台3上并列设置有待测品放置料盘6、不良品放置料盘5和良品放置料盘7。

所述待测品放置料盘6、不良品放置料盘5和良品放置料盘7通过导轨与所述料品放置平台3连接，所述导轨与所述待测品放置料盘6、不良品放置料盘5和良品放置料盘7的排列方向相垂直。

当不良品放置料盘和良品放置料盘放满了之后，会自动沿导轨移动到一边，等待操作工人取下。

所述测试机台1上设置有基座，所述机械臂4借助所述基座设置于所述测试机台1上，并可以所述基座为中心点、绕中心点转动，所述机械臂4转动过程中所覆盖的扇形区域为所述机械臂4的工作范围。所述机械臂4包括主臂和前臂10，所述主臂与所述基座转动连接，所述前臂10与所述主臂转动连接。所述测试装置和所述放料装置均位于所述机械臂4的工作范围内。

具体操作中，首先机械臂的主吸头从带测品放置料盘中吸取待测芯片依次放入到测试治具中进行测试。待测试完成后，首先主吸头吸取一个待测品，机械臂移动到测试完成的治具中，副吸头在气缸带动下去吸取测试完了的芯片，然后气缸带动副吸头回到原始位置。这时主吸头将待测芯片放入刚取出芯片的测试治具中，然后副吸头将测试完成了的芯片放入测试良品放置料盘或测试不良品放置料盘中。然后主吸头再去待测品放置料盘中吸取芯片，这样逐次循环。

为了防止生产过程中机械臂的运作发生错误，本实用新型还包括报警装置，所述报警装置设置于所述测试机台1上，所述测试装置、放料装置和转移装置均与所述报警装置电性连接，所述报警装置为声光报警器或蜂鸣器。当系统检测到机械臂运转不正常时，会自动报警，提醒操作人员查看。

本实用新型尚有多种实施方式，凡采用等同变换或者等效变换而形成的所有技术方案，均落在本实用新型的保护范围之内。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神和基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内，不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

本实用新型技术方案的优点主要体现在：通过设置双吸头，并优化机械臂的取、防料流程，减少了机械臂的移动次数，缩短了平均测试时间，在动辄成百上千的芯片测试流水线中，对生产效率的提升非常可观；双吸头机械臂可通过在现有的单一吸头机械臂上加装副吸头改造而成，无需另行设计生产，改造成本低，适配性强。此外，本实用新型也为同领域内的其他相关问题提供了参考，可以以此为依据进行拓展延伸，运用于芯片加工测试领域内其他的技术方案中，具有很强的适用性和广阔的应用前景。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。