一种配合静电放电箝位电压测试的测试板的制作方法

本实用新型涉及电压测试技术领域，具体为一种配合静电放电(ESD)箝位电压测试的测试板。

背景技术：

静电放电是一种自然的现象，当两种不同介电强度的材料相互摩擦时，就会产生放电电荷。由于静电的存在，使人体成为对电子设备或爆炸性材料的最大危害。静电放电多发生于人体接触半导体器件的时候，有可能导致数层半导体材料的击穿，产生不可挽回的损失。静电放电以及紧跟其后的电磁场变化，可能危害电子设备的正常工作。

由于静电的存在，使人体成为对电子设备或爆炸性材料的最大危害。我们的电子工程师会发现。静电放电多发生于人体接触半导体器件的时候。有可能导致数层半导体材料的击穿，产生不可挽回的损失。静电放电以及紧跟其后的电磁场变化，可能危害电子设备的正常工作。

目前产品工程师们只知道用哪些产品去解决静电干扰问题，但是无法直观的去检测效果如何，没有办法用具体的数据来衡量静电保护器件的应用效果如何。为此，我们提出一种配合静电放电(ESD)箝位电压测试的测试板。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种配合静电放电(ESD)箝位电压测试的测试板，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种配合静电放电 (ESD)箝位电压测试的测试板，包括测试板本体，所述测试板本体的前端设置有产品焊盘，所述产品焊盘的前端顶部设置有连接器焊盘，所述测试板本体的前端设置有地线接孔，所述测试板本体前端四周和产品焊盘外侧的测试板本体前端设置有若干组测试板内部小孔，所述产品焊盘的左侧设置有静电信号接入点。

优选的，所述测试板本体包括底层，顶层，阻焊层，丝印层，所述测试板本体为FR4测试板,所述测试板本体的板厚为1.0-2.0mm,铜厚为15-35um, 阻抗为20-2MΩ。

优选的，所述连接器焊盘为SMA接口。

优选的，所述地线接孔的内径为6-10mm。

优选的，所述测试板内部小孔的内径为0.2-0.5mm。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该装置给静电箝位电压测试平台提供了一个载体，可以非常好的模拟产品在接受静电放电骚扰时的实际情况，给测试认证提供一个简单、准确、便捷的方法。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图。

图中：1测试板、2产品焊盘、3连接器焊盘、4地线接孔、5测试板内部小孔、6静电信号接入点。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1，本实用新型提供一种技术方案：一种配合静电放电(ESD) 箝位电压测试的测试板，包括测试板本体1，测试板本体1的前端设置有产品焊盘2，产品焊盘2根据产品的不同，测试的要求不同而特殊绘制，产品焊盘 2的前端顶部设置有连接器焊盘3，测试板本体1的前端设置有地线接孔4，测试板本体1前端四周和产品焊盘2外侧的测试板本体1前端设置有若干组测试板内部小孔5，测试板内部小孔5要小而密，排列整齐，产品焊盘2的左侧设置有静电信号接入点6。

其中，测试板本体1包括底层，顶层，阻焊层，丝印层，测试板本体1 为FR4测试板,测试板本体1的板厚为1.0-2.0mm,铜厚为15-35um,阻抗为 20-2MΩ，传输线路可以进行阻抗匹配；

连接器焊盘3为SMA接口，具有频带宽、性能优、高可靠、寿命长的特点；

地线接孔4的内径为6-10mm，地线接孔4连接的接地线短而粗；

测试板内部小孔5的内径为0.2-0.5mm，连接测试板本体1的顶层和底层。

工作原理：使用时，根据需要测试的产品来绘制产品焊盘2和布线，将地线接孔4连接接地线，通过产品焊盘2连接示波器，连接器焊盘3连接静电发生器，通过调试静电发生器记录示波器的波形和数值，进行静电放电 (ESD)箝位电压测试。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。