电容外观的检测方法及装置、存储介质和处理器与流程

本申请涉及外观检测领域，具体而言，涉及一种电容外观的检测方法及装置、存储介质和处理器。

背景技术：

先关技术中，现有的电容外观检测方法，只能检测电容的铝壳夹扁或凸起、端子变焦、或者歪斜等缺陷，无法检测电容顶部的端子变焦、顶部露白、侧面喷码不良，字符印刷不良，检测缺陷单一，不能对电容进行全方位的检测。同时，在对电容自动检测完，还需人工二次检测，检测效率不高，无法满足越来越高的质量要求。

针对相关技术中存在的上述问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现要素：

本申请的主要目的在于提供一种电容外观的检测方法及装置、存储介质和处理器，以解决相关技术中对电容外观的检测不全面，还需人工二次检测，导致对电容外观的检测效率不高的问题。

为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种电容外观的检测方法。该方法包括：获取电容外观的目标图像，其中，目标图像为多个图像，多个图像中至少包括电容的顶部图像、侧面图像、电容的外壳图像和电容端子的图像；将目标图像分割成至少一个检测区域；通过至少一个检测区域对目标图像中电容外观的缺陷进行检测，其中，电容外观的缺陷包括以下至少之一：电容的顶部的缺陷、电容的侧面的缺陷、电容端子的缺陷和电容的外壳的缺陷。

进一步地，在获取电容外观的目标图像之前，该方法还包括：对待检测的电容进行定位，并获取第一图像和第二图像，其中，第一图像是电容的顶部图像，第二图像是电容的侧面图像；依据第一图像，创建定位模板，其中，定位模板用于获取电容的定位角度；依据第二图像，创建字符模板和套管模板，其中，字符模板用于检测电容上印制的字符是否合格，套管模板用于检测电容的套管是否合格。

进一步地，依据第一图像，创建定位模板之后，该方法包括：确定第一检测区域，其中，第一检测区域为电容的顶部图像所处的检测区域；利用定位模板对第一检测区域进行匹配，获取定位角度；控制电容旋转定位角度，并获取电容的第三图像；利用定位模板对第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值，其中，第一坐标值为第三图像中电容的负极图标的坐标值，第二坐标值为第三图像中电容的负极端子的坐标值。

进一步地，利用定位模板对第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值之后，该方法包括：依据第一坐标值，对第三图像进行分割，并获取第二检测区域；提取第一数值和第二数值，其中，第一数值为第二检测区域的图像灰度值的均值，第二数值为第二检测区域的图像灰度值的方差值；依据第一数值与第二数值，确定第二检测区域内是否存在负极图标；若第二检测区域内不存在负极图标，则确定第三图像中电容的负极图标异常。

进一步地，利用定位模板对第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值之后，该方法还包括：依据第二坐标值，对第三图像进行分割，并获取第三检测区域，其中，第三检测区域内存在有负极端子的图像；对第三检测区域进行blob分析，以去除第三检测区域内的印花图案的干扰，并获取blob分析结果；根据blob分析结果，提取第三检测区域内的连通区域；如果不存在连通区域，则确定电容的顶部不存在打焦的现象；如果存在连通区域，计算连通区域的面积；如果连通区域的面积大于预设面积，则确定电容的顶部存在打焦的现象；如果连通区域的面积小于预设面积，则确定电容的顶部不存在打焦的现象。

进一步地，控制电容旋转定位角度，并获取电容的第三图像之后，该方法还包括：依据第三图像，获取电容的图像的外圆中心；依据外圆中心，对第三图像进行分割，获取第四检测区域，其中，第四检测区域是电容的露白检测区域；提取第四检测区域的边缘，并将边缘拟合出圆形；提取圆形的特征，并依据圆形的特征确定圆形的圆形度和圆形的半径；如果圆形的圆形度小于圆形预设值，或者，圆形的半径小于半径预设值，则判定电容的顶部包装存在缺陷。

进一步地，在获取电容外观的目标图像之后，该方法还包括：对电容端子的图像进行分割，获取第五检测区域，其中，第五检测区域为端子的正面区域；对第五检测区域进行处理，以去除第五检测区域的噪声干扰；采用动态阈值分割方法分割处理过的第五检测区域，并提取连通区域；如果存在连通区域，则计算连通区域的面积；若连通区域的面积大于预设面积，则确定电容端子存在打焦缺陷；若连通区域的面积小于预设面积，则确定电容端子不存在打焦缺陷。

进一步地，在获取电容外观的目标图像之后，该方法还包括：对电容端子的图像进行分割，获取第六检测区域，其中，第六检测区域为端子侧面的下方区域；提取第六检测区域的边缘信息，并将边缘信息拟合成目标直线；确定目标直线与水平线之间的夹角；若夹角大于预设夹角，则判定端子歪斜；若夹角小于预设夹角，则判定端子不存在歪斜的情况。

进一步地，依据第二图像，创建字符模板和套管模板之后，该方法还包括：分割侧面图像，获取第七检测区域和第八检测区域，其中，第七检测区域为混料检测区域，第八检测区域为套管检测区域；利用字符模板匹配第七检测区域，如果匹配失败，则确定混料方向异常，如果匹配成功，则确定混料方向正常；利用套管检测模板匹配第八检测区域，如果匹配成功，则获取匹配角度，如果匹配角度为180度，则确定电容套管反向，如果匹配角度为0度，则确定电容套管正向。

进一步地，该方法还包括：分割侧面图像之后，获取第九检测区域；通过乘积方法增强第九检测区域，并分割出第九检测区域内的单个字符；若分割失败，则确定电容的侧面存在喷码缺陷；若分割成功，提取分割出的首尾字符，并根据首尾字符获取最小外接矩形的长度、宽度和角度；若长度大于第一长度预设值且小于第二长度预设值，则确定电容的喷码存在字符缺陷；若宽度大于宽度预设值，则确定电容存在二次喷码的缺陷；若角度大于角度预设值，则确定电容存在喷码歪斜的缺陷。

进一步地，获取电容外观的目标图像之后，该方法还包括：分割第一外壳图像和第二外壳图像，并获取第十检测区域和第十一检测区域，其中，第一外壳图像和第二外壳图像都是电容的外壳图像，第十检测区域为第一外壳图像的上部区域，第十一检测区域为第二外壳图像的上部区域；将第一外壳图像中第十检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域作为第一区域；将第二外壳图像中第十一检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域作为第二区域；对比第一区域与第二区域，并获取差异区域值；如果差异区域值大于预设差异区域值，则确定电容外壳的上部区域存在凹凸缺陷。

进一步地，分割电容外壳的图像之后，该方法还包括：获取第十二检测区域，其中，第十二检测区域为电容外壳的图像的中间区域；将第十二检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域作为第三区域；将第三区域的最大内接矩形区域作为第四区域；将第三区域和第四区域的差异区域作为第五区域；获取第五区域的面积；若第五区域的面积为零，则确定电容外壳的中部区域不存在凹凸的缺陷。

进一步地，分割第一外壳图像和第二外壳图像之后，该方法还包括：获取第十三检测区域，其中，第十三检测区域为电容外壳的图像的下部区域；将第十三检测区域内的亮度大于亮度阈值的区域作为第六区域；对第六区域做形态学开运算，并获取第七区域；对第六区域做形态学闭运算，并获取第八区域；将第七区域与第一区域进行比较，获得第九区域；将第八区域与第一区域进行比较，获得第十区域；计算第九区域与第十区域的面积；若第九区域的面积与第十区域的面积均不为零，则确定电容外壳的下部区域存在凹凸缺陷。

为了实现上述目的，根据本申请的另一方面，提供了一种电容外观的检测装置。该装置包括：第一获取单元，用于获取电容外观的目标图像，其中，目标图像为多个图像，多个图像中至少包括电容的顶部图像、侧面图像、电容的外壳图像和电容端子的图像；第一分割单元，用于将目标图像分割成至少一个检测区域；检测单元，用于通过至少一个检测区域对目标图像中电容外观的缺陷进行检测，其中，电容外观的缺陷包括以下至少之一：电容的顶部的缺陷、电容的侧面的缺陷、电容端子的缺陷和电容的外壳的缺陷。

为了实现上述目的，根据本申请的另一方面，提供了一种存储介质，存储介质包括存储的程序，其中，该程序执行上述任意一项的一种电容外观的检测方法。

为了实现上述目的，根据本申请的另一方面，提供了一种处理器，存储介质包括存储的程序，其中，该程序执行上述任意一项的一种电容外观的检测方法。

通过本申请，采用以下步骤：获取电容外观的目标图像，其中，目标图像为多个图像，多个图像中至少包括电容的顶部图像、侧面图像、电容的外壳图像和电容端子的图像；将目标图像分割成至少一个检测区域；通过至少一个检测区域对目标图像中电容外观的缺陷进行检测，其中，电容外观的缺陷包括以下至少之一：电容的顶部的缺陷、电容的侧面的缺陷、电容端子的缺陷和电容的外壳的缺陷，解决了相关技术中对电容外观的检测不全面，还需人工二次检测，导致对电容外观的检测效率不高的问题，进而达到了提高了检测准确性的效果。

附图说明

构成本申请的一区域的附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1是根据本申请实施例提供的一种电容外观的检测方法的流程图；

图2是根据本申请实施例提供的待检测电容的顶部检测示意图；

图3是根据本申请实施例提供的定位模板示意图；

图4是根据本申请实施例提供的电容负极端子区域内的矩形区域示意图；

图5是根据本申请实施例提供的电容负极端子的打焦检测区域示意图；

图6是根据本申请实施例提供的电容负极端子的去除印花的打焦检测区域示意图；

图7是根据本申请实施例提供的电容负极端子的检测示意图；

图8是根据本申请实施例提供的负极端子正面示意图；

图9是根据本申请实施例提供的电容侧面检测示意图；

图10是根据本申请实施例提供的电容侧面检测区域示意图；

图11是根据本申请实施例提供的字符混料检测模板；

图12是根据本申请实施例提供的凹凸检测区域示意图；

图13是根据本申请实施例提供的一种电容外观的检测装置的示意图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一区域的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

根据本申请的实施例，提供了一种电容外观的检测方法。

图1是根据本申请实施例提供的一种电容外观的检测方法的流程图。如图1所示，该方法包括以下步骤：

步骤s101，获取电容外观的目标图像，其中，目标图像为多个图像，多个图像中至少包括电容的顶部图像、侧面图像、电容的外壳图像和电容端子的图像。

具体地，在检测线程上，对待检测电容的外观进行图像采集，采集到的图像包括电容的多面图像，其中包括电容的顶部图像、侧面图像、电容的外壳图像和电容端子的图像。

步骤s102，将目标图像分割成至少一个检测区域。

具体地，对电容的外观进行检测，需要对采集到的图像进行分割，分割成的多个检测区域用于对外观进行全方位的检测。

步骤s103，通过至少一个检测区域对目标图像中电容外观的缺陷进行检测，其中，电容外观的缺陷包括以下至少之一：电容的顶部的缺陷、电容的侧面的缺陷、电容端子的缺陷和电容的外壳的缺陷。

上述地，通过与结构运动配合实现对产品多方位运动取图，各个工位互不干扰，检测内容更全面。其检测包括对电容的顶部的缺陷的检测、电容的侧面的缺陷的检测、电容端子的缺陷的检测和电容的外壳的缺陷的检测。

可选地，在获取电容外观的目标图像之前，该方法还包括：对待检测的电容进行定位，并获取第一图像和第二图像，其中，第一图像是电容的顶部图像，第二图像是电容的侧面图像；依据第一图像，创建定位模板，其中，定位模板用于获取电容的定位角度；依据第二图像，创建字符模板和套管模板，其中，字符模板用于检测电容上印制的字符是否合格，套管模板用于检测电容的套管是否合格。

上述地，如图2给出的待检测电容的顶部检测流程图所示，在获取用于检测的目标图像前，先取得一张图像，创建如图3所示定位模板，再获取一张图像，依据这张图像还创建了用于检测电容上印制的字符是否合格的字符模板和用于检测电容的套管是否合格的套管模板。

可选地，依据第一图像，创建定位模板之后，该方法包括：确定第一检测区域，其中，第一检测区域为电容的顶部图像所处的检测区域；利用定位模板对第一检测区域进行匹配，获取定位角度；控制电容旋转定位角度，并获取电容的第三图像；利用定位模板对第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值，其中，第一坐标值为第三图像中电容的负极图标的坐标值，第二坐标值为第三图像中电容的负极端子的坐标值。

具体地，检测时，获取待检测的目标图像后，首先分割出目标区域如图4中的圆形区域(本发明中的所有分割出目标所在区域的目的是为了减小图像处理区域，不用对整个图像进行处理，提高计算速度)，再此区域内用定位模板匹配目标图像，获得定位角度。根据此角度控制产品旋转，然后再次获取一张图像。

可选地，利用定位模板对第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值之后，该方法包括：依据第一坐标值，对第三图像进行分割，并获取第二检测区域；提取第一数值和第二数值，其中，第一数值为第二检测区域的图像灰度值的均值，第二数值为第二检测区域的图像灰度值的方差值；依据第一数值与第二数值，确定第二检测区域内是否存在负极图标；若第二检测区域内不存在负极图标，则确定第三图像中电容的负极图标异常。

上述地，再次用定位模板在目标区域内匹配，获取目标的坐标，根据此坐标位置，分割出负极端子附近区域如图4中的矩形区域，提取此区域的图像灰度值均值和方差，根据这两个值判断此区域是否有负极图标存在，若无负极图标存在，则存在极性反向的情况。

可选地，利用定位模板对第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值之后，该方法还包括：依据第二坐标值，对第三图像进行分割，并获取第三检测区域，其中，第三检测区域内存在有负极端子的图像；对第三检测区域进行blob分析，以去除第三检测区域内的印花图案的干扰，并获取blob分析结果；根据blob分析结果，提取第三检测区域内的连通区域；如果不存在连通区域，则确定电容的顶部不存在打焦的现象；如果存在连通区域，计算连通区域的面积；如果连通区域的面积大于预设面积，则确定电容的顶部存在打焦的现象；如果连通区域的面积小于预设面积，则确定电容的顶部不存在打焦的现象。

具体地，依据电容端子的坐标，分割出端子打焦检测区域，如图5所示。由于负极端子中间圆形区域内有印花存在，会干扰打焦的判断，因此，将圆形区域单独分割出来进行blob分析，见图6所示区域，在分析时，图6所示区域的阈值分割设置特定的阈值参数，提取出比背景暗一些的目标区域。以便去除图6所示区域中印花的干扰。根据blob分析的结果，提取连通域，若连通域的个数为0，则不存在打焦。若存在连通域，则提取出每个连通域的面积特征，若大于预设面积值则判定为存在打焦情况，小于则判定为不存在打焦情况。

可选地，控制电容旋转定位角度，并获取电容的第三图像之后，该方法还包括：依据第三图像，获取电容的图像的外圆中心；依据外圆中心，对第三图像进行分割，获取第四检测区域，其中，第四检测区域是电容的露白检测区域；提取第四检测区域的边缘，并将边缘拟合出圆形；提取圆形的特征，并依据圆形的特征确定圆形的圆形度和圆形的半径；如果圆形的圆形度小于圆形预设值，或者，圆形的半径小于半径预设值，则判定电容的顶部包装存在缺陷。

具体地，上述地，为判定电容是否存在露白的情况，依据获取的第三图像，获取产品外圆的中心位置，根据此位置分割出露白检测区域，在此区域内提取边缘，然后拟合出圆形，提取此圆形的特征，判断次圆形的圆形度和半径。若半径大于设定值或者圆形度不够，则判定为顶部包装露白，也即包装不合格。

可选地，在获取电容外观的目标图像之后，该方法还包括：对电容端子的图像进行分割，获取第五检测区域，其中，第五检测区域为端子的正面区域；对第五检测区域进行处理，以去除第五检测区域的噪声干扰；采用动态阈值分割方法分割处理过的第五检测区域，并提取连通区域；如果存在连通区域，则计算连通区域的面积；若连通区域的面积大于预设面积，则确定电容端子存在打焦缺陷；若连通区域的面积小于预设面积，则确定电容端子不存在打焦缺陷。

上述地，如图7所示，为判定端子是否存在缺陷的流程图，包括，获取产品端子四个方向的四张图像，其中一个方向的图像如图8所示，因四张图像处理方法类似，再次以一张图像为例。

分割出端子正面区域如图8中上方区域，首先去除噪声等干扰，由于有些产品端子整体反光度不够，图像会呈现出整体比较暗的情况，若直接进行阈值分割会造成误判。因此，采用动态阈值分割的方法，提取出比背景局部暗一些的目标连通域。若连通域的个数为0，则不存在打焦。若存在连通域，则提取出每个连通域的面积特征，若大于预设面积则判定为端子存在打焦的问题，小于预设面积则判定为端子不存在打焦的问题。

可选地，在获取电容外观的目标图像之后，该方法还包括：对电容端子的图像进行分割，获取第六检测区域，其中，第六检测区域为端子侧面的下方区域；提取第六检测区域的边缘信息，并将边缘信息拟合成目标直线；确定目标直线与水平线之间的夹角；若夹角大于预设夹角，则判定端子歪斜；若夹角小于预设夹角，则判定端子不存在歪斜的情况。

上述地，如图7所示，为判定端子是否存在歪斜的情况，包括分割出端子侧面区域如图8中下方区域，提取此区域的边缘信息，根据边缘信息拟合直线，提取此直线的角度与水平方向直线的夹角，若此夹角度大于设定值则判定为端子存在歪斜的情况，若小于则判定端子不存在歪斜的情况。

可选地，依据第二图像，创建字符模板和套管模板之后，该方法还包括：分割侧面图像，获取第七检测区域和第八检测区域，其中，第七检测区域为混料检测区域，第八检测区域为套管检测区域；利用字符模板匹配第七检测区域，如果匹配失败，则确定混料方向异常，如果匹配成功，则确定混料方向正常；利用套管检测模板匹配第八检测区域，如果匹配成功，则获取匹配角度，如果匹配角度为180度，则确定电容套管反向，如果匹配角度为0度，则确定电容套管正向。

上述地，如图9所示，为电容侧面的检测流程图，产品侧面采用线扫相机获取图像如图10所示。检测之前先取得一张图像，创建如图11所示字符模板。分割出混料检测和套管反向检测的区域如图10中右侧矩形区域，采用字符模板再此区域内匹配，若匹配失败则判定为存在混料情况，若成功，则获取匹配的角度，若角度为180°左右则判定套管存在反向的情况，若为0°左右则判定套管没有反向。

可选地，该方法还包括：分割侧面图像之后，获取第九检测区域；通过乘积方法增强第九检测区域，并分割出第九检测区域内的单个字符；若分割失败，则确定电容的侧面存在喷码缺陷；若分割成功，提取分割出的首尾字符，并根据首尾字符获取最小外接矩形的长度、宽度和角度；若长度大于第一长度预设值且小于第二长度预设值，则确定电容的喷码存在字符缺陷；若宽度大于宽度预设值，则确定电容存在二次喷码的缺陷；若角度大于角度预设值，则确定电容存在喷码歪斜的缺陷。

具体地，分割出喷码检测区域如图10中左侧矩形区域。采用乘积的方法进行图像增强，分割出单个字符，若分割失败则判定存在喷码歪斜的情况，若分割成功则提取首尾字符，根据首尾字符的坐标以及轮廓信息，获取喷码的最小外接矩形，最后获取最小外接矩形的长宽和角度(与垂直方向的夹角)。若长度大于设定值1或小于设定值2。则存在喷码少字符或者多字符，若宽度大于设定值则存在二次喷码，若夹角大于设定值则存在喷码歪斜。若这些情况都不存在，则喷码检测通过。

需要说明的是，在对电容侧面检测的过程中，还包括对侧面的划伤和破损进行检测，对此侧面区域进行预处理，去除细线和小斑点的干扰，然后进行全局阈值分割(根据划伤和破损设定不同的阈值分割的阈值参数)，提取连通域的特征，其中若连通域的个数为0，则不存在划伤、破损，若存在连通域，则提取出每个连通域的特征(划伤提取连通域的长宽，破损提取面积)，若大于面积设定值则判定为存在破损情况，小于则判定为不存在破损情况。

可选地，获取电容外观的目标图像之后，该方法还包括：分割第一外壳图像和第二外壳图像，并获取第十检测区域和第十一检测区域，其中，第一外壳图像和第二外壳图像都是电容的外壳图像，第十检测区域为第一外壳图像的上部区域，第十一检测区域为第二外壳图像的上部区域；将第一外壳图像中第十检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域作为第一区域；将第二外壳图像中第十一检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域作为第二区域；对比第一区域与第二区域，并获取差异区域值；如果差异区域值大于预设差异区域值，则确定电容外壳的上部区域存在凹凸缺陷。

上述地，控制产品旋转180°，获取如图12所示的图像180张，因为每张图像处理方法相同，所以以一张图像为例。由于产品的特性，上部分(图11中左侧矩形区域)产品本身就存在凹凸，中间部分(图11中中间矩形区域)是一条直线。下部分是凸起的形状(图11中右侧矩形区域)。因此将图像分为三个目标区域分别用不同的方法处理，检测是否存在凹凸异常。

具体地，对上部分(图11中的左侧矩形区域)进行检测，首先提取第一张图像中此区域中的目标前景(暗的部分)存为图a，然后提取后面第二张图像中此区域中的目标前景(暗的部分)存为图b，对比a与b中的差异，若存在差异大于设定值，测判定存在凹凸的缺陷，后面每一张图像处理与第二张图像相同。

可选地，分割电容外壳的图像之后，该方法还包括：获取第十二检测区域，其中，第十二检测区域为电容外壳的图像的中间区域；将第十二检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域作为第三区域；将第三区域的最大内接矩形区域作为第四区域；将第三区域和第四区域的差异区域作为第五区域；获取第五区域的面积；若第五区域的面积为零，则确定电容外壳的中部区域不存在凹凸的缺陷。

具体地，对中间部分(图11中的中间矩形区域)进行检测，包括：首先提取中此区域中的目标前景(暗的部分)存为图a，然后获取图a中目标的最大内接矩形所在区域，存为图b，然后做差(a-b)，得到区域c，获取区域c的面积和坐标信息，若c面积为0则不存在凹凸缺陷，若面积不为0，则存在凹凸。

可选地，分割第一外壳图像和第二外壳图像之后，该方法还包括：获取第十三检测区域，其中，第十三检测区域为电容外壳的图像的下部区域；将第十三检测区域内的亮度大于亮度阈值的区域作为第六区域；对第六区域做形态学开运算，并获取第七区域；对第六区域做形态学闭运算，并获取第八区域；将第七区域与第一区域进行比较，获得第九区域；将第八区域与第一区域进行比较，获得第十区域；计算第九区域与第十区域的面积；若第九区域的面积与第十区域的面积均不为零，则确定电容外壳的下部区域存在凹凸缺陷。

具体地，对下部分(图11中的右侧矩形区域)进行检测，首先提取中此区域中的目标背景(亮的部分)存为图a，然后对此区域进行形态学开运算得到图b，对此区域进行形态学闭运算得到图c，然后将bc分别与图a做差(a-b，c-a)，获取凹或凸的区域d和e，判断d和e的面积，若面积不为0，则反推前景存在凸或凹的缺陷。

本申请实施例提供的一种电容外观的检测方法，通过获取电容外观的目标图像，其中，目标图像为多个图像，多个图像中至少包括电容的顶部图像、侧面图像、电容的外壳图像和电容端子的图像；将目标图像分割成至少一个检测区域；通过至少一个检测区域对目标图像中电容外观的缺陷进行检测，其中，电容外观的缺陷包括以下至少之一：电容的顶部的缺陷、电容的侧面的缺陷、电容端子的缺陷和电容的外壳的缺陷，解决了相关技术中对电容外观的检测不全面，还需人工二次检测，导致对电容外观的检测效率不高的问题，进而达到了提高了检测准确性的效果。

需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

本申请实施例还提供了一种电容外观的检测装置，需要说明的是，本申请实施例的一种电容外观的检测装置可以用于执行本申请实施例所提供的用于一种电容外观的检测方法。以下对本申请实施例提供的一种电容外观的检测装置进行介绍。

图13是根据本申请实施例的一种电容外观的检测装置的示意图。如图13所示，该装置包括：第一获取单元1301，用于获取电容外观的目标图像，其中，目标图像为多个图像，多个图像中至少包括电容的顶部图像、侧面图像、电容的外壳图像和电容端子的图像；第一分割单元1302，用于将目标图像分割成至少一个检测区域；检测单元1303，用于通过至少一个检测区域对目标图像中电容外观的缺陷进行检测，其中，电容外观的缺陷包括以下至少之一：电容的顶部的缺陷、电容的侧面的缺陷、电容端子的缺陷和电容的外壳的缺陷。

本申请实施例提供的一种电容外观的检测装置，通过第一获取单元1301，获取电容外观的目标图像，其中，目标图像为多个图像，多个图像中至少包括电容的顶部图像、侧面图像、电容的外壳图像和电容端子的图像；第一分割单元1302，将目标图像分割成至少一个检测区域；检测单元1303，通过至少一个检测区域对目标图像中电容外观的缺陷进行检测，其中，电容外观的缺陷包括以下至少之一：电容的顶部的缺陷、电容的侧面的缺陷、电容端子的缺陷和电容的外壳的缺陷，解决了相关技术中对电容外观的检测不全面，还需人工二次检测，导致对电容外观的检测效率不高的问题，进而达到了提高了检测准确性的效果。

可选地，该装置还包括：第二获取单元，用于在获取电容外观的目标图像之前，对待检测的电容进行定位，并获取第一图像和第二图像，其中，第一图像是电容的顶部图像，第二图像是电容的侧面图像；第一创建单元，用于依据第一图像，创建定位模板，其中，定位模板用于获取电容的定位角度；第二创建单元，用于依据第二图像，创建字符模板和套管模板，其中，字符模板用于检测电容上印制的字符是否合格，套管模板用于检测电容的套管是否合格。

可选地，该装置包括：第一确定单元，用于依据第一图像，创建定位模板之后，确定第一检测区域，其中，第一检测区域为电容的顶部图像所处的检测区域；匹配单元，用于利用定位模板对第一检测区域进行匹配，获取定位角度；第三获取单元，用于控制电容旋转定位角度，并获取电容的第三图像；第四获取单元，用于利用定位模板对第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值，其中，第一坐标值为第三图像中电容的负极图标的坐标值，第二坐标值为第三图像中电容的负极端子的坐标值。

可选地，该装置包括：第五获取单元，用于利用定位模板对第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值之后，依据第一坐标值，对第三图像进行分割，并获取第二检测区域；第一提取单元，用于提取第一数值和第二数值，其中，第一数值为第二检测区域的图像灰度值的均值，第二数值为第二检测区域的图像灰度值的方差值；第二确定单元，用于依据第一数值与第二数值，确定第二检测区域内是否存在负极图标；第三确定单元，用于在第二检测区域内不存在负极图标的情况下，确定第三图像中电容的负极图标异常。

可选地，该装置还包括：第六获取单元，用于利用定位模板对第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值之后，依据第二坐标值，对第三图像进行分割，并获取第三检测区域，其中，第三检测区域内存在有负极端子的图像；第七获取单元，用于对第三检测区域进行blob分析，以去除第三检测区域内的印花图案的干扰，并获取blob分析结果；第二提取单元，用于根据blob分析结果，提取第三检测区域内的连通区域；第四确定单元，用于在不存在连通区域的情况下，则确定电容的顶部不存在打焦的现象；第一计算单元，用于在存在连通区域的情况下，计算连通区域的面积；第五确定单元，用于在连通区域的面积大于预设面积的情况下，则确定电容的顶部存在打焦的现象；第六确定单元，用于在连通区域的面积小于预设面积的情况下，则确定电容的顶部不存在打焦的现象。

可选地，该装置还包括：第八获取单元，用于控制电容旋转定位角度，并获取电容的第三图像之后，依据第三图像，获取电容的图像的外圆中心；第九获取单元，用于依据外圆中心，对第三图像进行分割，获取第四检测区域，其中，第四检测区域是电容的露白检测区域；第一拟合单元，用于提取第四检测区域的边缘，并将边缘拟合出圆形；判断单元，用于提取圆形的特征，并依据圆形的特征确定圆形的圆形度和圆形的半径；第一判定单元，用于在圆形的圆形度小于圆形预设值的情况下，或者，在圆形的半径小于半径预设值的情况下，则判定电容的顶部包装存在缺陷。

可选地，该装置还包括：第十获取单元，用于在获取电容外观的目标图像之后，对电容端子的图像进行分割，获取第五检测区域，其中，第五检测区域为端子的正面区域；去除单元，用于对第五检测区域进行处理，以去除第五检测区域的噪声干扰；第三提取单元，用于采用动态阈值分割装置分割处理过的第五检测区域，并提取连通区域；第二计算单元，用于在存在连通区域的情况下，计算连通区域的面积；第七确定单元，用于在连通区域的面积大于预设面积的情况下，确定电容端子存在打焦缺陷；第八确定单元，用于在连通区域的面积小于预设面积的情况下，确定电容端子不存在打焦缺陷。

可选地，该装置还包括：第十一获取单元，用于在获取电容外观的目标图像之后，对电容端子的图像进行分割，获取第六检测区域，其中，第六检测区域为端子侧面的下方区域；第二拟合单元，用于提取第六检测区域的边缘信息，并将边缘信息拟合成目标直线；第九确定单元，用于确定目标直线与水平线之间的夹角；第二判定单元，用于在夹角大于预设夹角的情况下，判定端子歪斜；第三判定单元，用于在夹角小于预设夹角的情况下，判定端子不存在歪斜的情况。

可选地，该装置还包括：第十二获取单元，用于依据第二图像，创建字符模板和套管模板之后，分割侧面图像，获取第七检测区域和第八检测区域，其中，第七检测区域为混料检测区域，第八检测区域为套管检测区域；第十确定单元，用于利用字符模板匹配第七检测区域，在匹配失败的情况下，确定混料方向异常，在匹配成功的情况下，确定混料方向正常；第十一确定单元，用于利用套管检测模板匹配第八检测区域，在匹配成功的情况下，获取匹配角度，在匹配角度为180度的情况下，确定电容套管反向，在匹配角度为0度的情况下，确定电容套管正向。

可选地，该装置还包括：第十三获取单元，用于分割侧面图像之后，获取第九检测区域；第二分割单元，用于通过乘积装置增强第九检测区域，并分割出第九检测区域内的单个字符；第十二确定单元，用于在分割失败的情况下，确定电容的侧面存在喷码缺陷；第十三确定单元，用于在分割成功的情况下，提取分割出的首尾字符，并根据首尾字符获取最小外接矩形的长度、宽度和角度；第十三确定单元，用于在长度大于第一长度预设值且小于第二长度预设值的情况下，确定电容的喷码存在字符缺陷；第十四确定单元，用于在宽度大于宽度预设值的情况下，确定电容存在二次喷码的缺陷；第十五确定单元，用于在角度大于角度预设值的情况下，确定电容存在喷码歪斜的缺陷。

可选地，该装置还包括：第十四获取单元，用于获取电容外观的目标图像之后，分割第一外壳图像和第二外壳图像，并获取第十检测区域和第十一检测区域，其中，第一外壳图像和第二外壳图像都是电容的外壳图像，第十检测区域为第一外壳图像的上部区域，第十一检测区域为第二外壳图像的上部区域；第十六确定单元，用于将第一外壳图像中第十检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域确定为第一区域；第十七确定单元，用于将第二外壳图像中第十一检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域确定为第二区域；第十五获取单元，用于对比第一区域与第二区域，并获取差异区域值；第十八确定单元，用于在差异区域值大于预设差异区域值的情况下，确定电容外壳的上部区域存在凹凸缺陷。

可选地，该装置还包括：第十六获取单元，用于分割电容外壳的图像之后，获取第十二检测区域，其中，第十二检测区域为电容外壳的图像的中间区域；第十九确定单元，用于将第十二检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域确定为第三区域；第二十确定单元，用于将第三区域的最大内接矩形区域确定为第四区域；第二十一确定单元，用于将第三区域和第四区域的差异区域确定为第五区域；第十七获取单元，用于获取第五区域的面积；第二十二确定单元，用于在第五区域的面积为零的情况下，确定电容外壳的中部区域不存在凹凸的缺陷。

可选地，该装置还包括：第十八获取单元，用于分割第一外壳图像和第二外壳图像之后，获取第十三检测区域，其中，第十三检测区域为电容外壳的图像的下部区域；第二十三确定单元，用于将第十三检测区域内的亮度大于亮度阈值的区域确定为第六区域；第十九获取单元，用于对第六区域做形态学开运算，并获取第七区域；第二十获取单元，用于对第六区域做形态学闭运算，并获取第八区域；比较单元，用于将第七区域与第一区域进行比较，获得第九区域；第二十一获取单元，用于将第八区域与第一区域进行比较，获得第十区域；第三计算单元，用于计算第九区域与第十区域的面积；第二十四确定单元，用于在第九区域的面积与第十区域的面积均不为零的情况下，确定电容外壳的下部区域存在凹凸缺陷。

一种电容外观的检测装置包括处理器和存储器，上述的第一获取单元1301、第一分割单元1302和检测单元1303等均作为程序单元存储在存储器中，由处理器执行存储在存储器中的上述程序单元来实现相应的功能。

处理器中包含内核，由内核去存储器中调取相应的程序单元。内核可以设置一个或以上，通过调整内核参数来解决相关技术中，对电容外观的检测不全面，还需人工二次检测，导致对电容外观的检测效率不高的问题。

存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(ram)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(rom)或闪存(flashram)，存储器包括至少一个存储芯片。

本发明实施例提供了一种存储介质，其上存储有程序，该程序被处理器执行时实现一种电容外观的检测方法。

本发明实施例提供了一种处理器，处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行一种电容外观的检测方法。

本发明实施例提供了一种设备，设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，处理器执行程序时实现以下步骤：获取电容外观的目标图像，其中，目标图像为多个图像，多个图像中至少包括电容的顶部图像、侧面图像、电容的外壳图像和电容端子的图像；将目标图像分割成至少一个检测区域；通过至少一个检测区域对目标图像中电容外观的缺陷进行检测，其中，电容外观的缺陷包括以下至少之一：电容的顶部的缺陷、电容的侧面的缺陷、电容端子的缺陷和电容的外壳的缺陷。

可选地，在获取电容外观的目标图像之前，该方法还包括：对待检测的电容进行定位，并获取第一图像和第二图像，其中，第一图像是电容的顶部图像，第二图像是电容的侧面图像；依据第一图像，创建定位模板，其中，定位模板用于获取电容的定位角度；依据第二图像，创建字符模板和套管模板，其中，字符模板用于检测电容上印制的字符是否合格，套管模板用于检测电容的套管是否合格。

可选地，依据第一图像，创建定位模板之后，该方法包括：确定第一检测区域，其中，第一检测区域为电容的顶部图像所处的检测区域；利用定位模板对第一检测区域进行匹配，获取定位角度；控制电容旋转定位角度，并获取电容的第三图像；利用定位模板对第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值，其中，第一坐标值为第三图像中电容的负极图标的坐标值，第二坐标值为第三图像中电容的负极端子的坐标值。

可选地，利用定位模板对第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值之后，该方法包括：依据第一坐标值，对第三图像进行分割，并获取第二检测区域；提取第一数值和第二数值，其中，第一数值为第二检测区域的图像灰度值的均值，第二数值为第二检测区域的图像灰度值的方差值；依据第一数值与第二数值，确定第二检测区域内是否存在负极图标；若第二检测区域内不存在负极图标，则确定第三图像中电容的负极图标异常。

可选地，利用定位模板对第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值之后，该方法还包括：依据第二坐标值，对第三图像进行分割，并获取第三检测区域，其中，第三检测区域内存在有负极端子的图像；对第三检测区域进行blob分析，以去除第三检测区域内的印花图案的干扰，并获取blob分析结果；根据blob分析结果，提取第三检测区域内的连通区域；如果不存在连通区域，则确定电容的顶部不存在打焦的现象；如果存在连通区域，计算连通区域的面积；如果连通区域的面积大于预设面积，则确定电容的顶部存在打焦的现象；如果连通区域的面积小于预设面积，则确定电容的顶部不存在打焦的现象。

可选地，控制电容旋转定位角度，并获取电容的第三图像之后，该方法还包括：依据第三图像，获取电容的图像的外圆中心；依据外圆中心，对第三图像进行分割，获取第四检测区域，其中，第四检测区域是电容的露白检测区域；提取第四检测区域的边缘，并将边缘拟合出圆形；提取圆形的特征，并依据圆形的特征确定圆形的圆形度和圆形的半径；如果圆形的圆形度小于圆形预设值，或者，圆形的半径小于半径预设值，则判定电容的顶部包装存在缺陷。

可选地，在获取电容外观的目标图像之后，该方法还包括：对电容端子的图像进行分割，获取第五检测区域，其中，第五检测区域为端子的正面区域；对第五检测区域进行处理，以去除第五检测区域的噪声干扰；采用动态阈值分割方法分割处理过的第五检测区域，并提取连通区域；如果存在连通区域，则计算连通区域的面积；若连通区域的面积大于预设面积，则确定电容端子存在打焦缺陷；若连通区域的面积小于预设面积，则确定电容端子不存在打焦缺陷。

可选地，在获取电容外观的目标图像之后，该方法还包括：对电容端子的图像进行分割，获取第六检测区域，其中，第六检测区域为端子侧面的下方区域；提取第六检测区域的边缘信息，并将边缘信息拟合成目标直线；确定目标直线与水平线之间的夹角；若夹角大于预设夹角，则判定端子歪斜；若夹角小于预设夹角，则判定端子不存在歪斜的情况。

可选地，依据第二图像，创建字符模板和套管模板之后，该方法还包括：分割侧面图像，获取第七检测区域和第八检测区域，其中，第七检测区域为混料检测区域，第八检测区域为套管检测区域；利用字符模板匹配第七检测区域，如果匹配失败，则确定混料方向异常，如果匹配成功，则确定混料方向正常；利用套管检测模板匹配第八检测区域，如果匹配成功，则获取匹配角度，如果匹配角度为180度，则确定电容套管反向，如果匹配角度为0度，则确定电容套管正向。

可选地，该方法还包括：分割侧面图像之后，获取第九检测区域；通过乘积方法增强第九检测区域，并分割出第九检测区域内的单个字符；若分割失败，则确定电容的侧面存在喷码缺陷；若分割成功，提取分割出的首尾字符，并根据首尾字符获取最小外接矩形的长度、宽度和角度；若长度大于第一长度预设值且小于第二长度预设值，则确定电容的喷码存在字符缺陷；若宽度大于宽度预设值，则确定电容存在二次喷码的缺陷；若角度大于角度预设值，则确定电容存在喷码歪斜的缺陷。

可选地，获取电容外观的目标图像之后，该方法还包括：分割第一外壳图像和第二外壳图像，并获取第十检测区域和第十一检测区域，其中，第一外壳图像和第二外壳图像都是电容的外壳图像，第十检测区域为第一外壳图像的上部区域，第十一检测区域为第二外壳图像的上部区域；将第一外壳图像中第十检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域作为第一区域；将第二外壳图像中第十一检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域作为第二区域；对比第一区域与第二区域，并获取差异区域值；如果差异区域值大于预设差异区域值，则确定电容外壳的上部区域存在凹凸缺陷。

可选地，分割电容外壳的图像之后，该方法还包括：获取第十二检测区域，其中，第十二检测区域为电容外壳的图像的中间区域；将第十二检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域作为第三区域；将第三区域的最大内接矩形区域作为第四区域；将第三区域和第四区域的差异区域作为第五区域；获取第五区域的面积；若第五区域的面积为零，则确定电容外壳的中部区域不存在凹凸的缺陷。

可选地，分割第一外壳图像和第二外壳图像之后，该方法还包括：获取第十三检测区域，其中，第十三检测区域为电容外壳的图像的下部区域；将第十三检测区域内的亮度大于亮度阈值的区域作为第六区域；对第六区域做形态学开运算，并获取第七区域；对第六区域做形态学闭运算，并获取第八区域；将第七区域与第一区域进行比较，获得第九区域；将第八区域与第一区域进行比较，获得第十区域；计算第九区域与第十区域的面积；若第九区域的面积与第十区域的面积均不为零，则确定电容外壳的下部区域存在凹凸缺陷。本文中的设备可以是服务器、pc、pad、手机等。

本申请还提供了一种计算机程序产品，当在数据处理设备上执行时，适于执行初始化有如下方法步骤的程序：获取电容外观的目标图像，其中，目标图像为多个图像，多个图像中至少包括电容的顶部图像、侧面图像、电容的外壳图像和电容端子的图像；将目标图像分割成至少一个检测区域；通过至少一个检测区域对目标图像中电容外观的缺陷进行检测，其中，电容外观的缺陷包括以下至少之一：电容的顶部的缺陷、电容的侧面的缺陷、电容端子的缺陷和电容的外壳的缺陷。

可选地，在获取电容外观的目标图像之前，该方法还包括：对待检测的电容进行定位，并获取第一图像和第二图像，其中，第一图像是电容的顶部图像，第二图像是电容的侧面图像；依据第一图像，创建定位模板，其中，定位模板用于获取电容的定位角度；依据第二图像，创建字符模板和套管模板，其中，字符模板用于检测电容上印制的字符是否合格，套管模板用于检测电容的套管是否合格。

可选地，依据第一图像，创建定位模板之后，该方法包括：确定第一检测区域，其中，第一检测区域为电容的顶部图像所处的检测区域；利用定位模板对第一检测区域进行匹配，获取定位角度；控制电容旋转定位角度，并获取电容的第三图像；利用定位模板对第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值，其中，第一坐标值为第三图像中电容的负极图标的坐标值，第二坐标值为第三图像中电容的负极端子的坐标值。

可选地，利用定位模板对第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值之后，该方法包括：依据第一坐标值，对第三图像进行分割，并获取第二检测区域；提取第一数值和第二数值，其中，第一数值为第二检测区域的图像灰度值的均值，第二数值为第二检测区域的图像灰度值的方差值；依据第一数值与第二数值，确定第二检测区域内是否存在负极图标；若第二检测区域内不存在负极图标，则确定第三图像中电容的负极图标异常。

可选地，利用定位模板对第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值之后，该方法还包括：依据第二坐标值，对第三图像进行分割，并获取第三检测区域，其中，第三检测区域内存在有负极端子的图像；对第三检测区域进行blob分析，以去除第三检测区域内的印花图案的干扰，并获取blob分析结果；根据blob分析结果，提取第三检测区域内的连通区域；如果不存在连通区域，则确定电容的顶部不存在打焦的现象；如果存在连通区域，计算连通区域的面积；如果连通区域的面积大于预设面积，则确定电容的顶部存在打焦的现象；如果连通区域的面积小于预设面积，则确定电容的顶部不存在打焦的现象。

可选地，控制电容旋转定位角度，并获取电容的第三图像之后，该方法还包括：依据第三图像，获取电容的图像的外圆中心；依据外圆中心，对第三图像进行分割，获取第四检测区域，其中，第四检测区域是电容的露白检测区域；提取第四检测区域的边缘，并将边缘拟合出圆形；提取圆形的特征，并依据圆形的特征确定圆形的圆形度和圆形的半径；如果圆形的圆形度小于圆形预设值，或者，圆形的半径小于半径预设值，则判定电容的顶部包装存在缺陷。

可选地，在获取电容外观的目标图像之后，该方法还包括：对电容端子的图像进行分割，获取第五检测区域，其中，第五检测区域为端子的正面区域；对第五检测区域进行处理，以去除第五检测区域的噪声干扰；采用动态阈值分割方法分割处理过的第五检测区域，并提取连通区域；如果存在连通区域，则计算连通区域的面积；若连通区域的面积大于预设面积，则确定电容端子存在打焦缺陷；若连通区域的面积小于预设面积，则确定电容端子不存在打焦缺陷。

可选地，在获取电容外观的目标图像之后，该方法还包括：对电容端子的图像进行分割，获取第六检测区域，其中，第六检测区域为端子侧面的下方区域；提取第六检测区域的边缘信息，并将边缘信息拟合成目标直线；确定目标直线与水平线之间的夹角；若夹角大于预设夹角，则判定端子歪斜；若夹角小于预设夹角，则判定端子不存在歪斜的情况。

可选地，依据第二图像，创建字符模板和套管模板之后，该方法还包括：分割侧面图像，获取第七检测区域和第八检测区域，其中，第七检测区域为混料检测区域，第八检测区域为套管检测区域；利用字符模板匹配第七检测区域，如果匹配失败，则确定混料方向异常，如果匹配成功，则确定混料方向正常；利用套管检测模板匹配第八检测区域，如果匹配成功，则获取匹配角度，如果匹配角度为180度，则确定电容套管反向，如果匹配角度为0度，则确定电容套管正向。

可选地，该方法还包括：分割侧面图像之后，获取第九检测区域；通过乘积方法增强第九检测区域，并分割出第九检测区域内的单个字符；若分割失败，则确定电容的侧面存在喷码缺陷；若分割成功，提取分割出的首尾字符，并根据首尾字符获取最小外接矩形的长度、宽度和角度；若长度大于第一长度预设值且小于第二长度预设值，则确定电容的喷码存在字符缺陷；若宽度大于宽度预设值，则确定电容存在二次喷码的缺陷；若角度大于角度预设值，则确定电容存在喷码歪斜的缺陷。

可选地，获取电容外观的目标图像之后，该方法还包括：分割第一外壳图像和第二外壳图像，并获取第十检测区域和第十一检测区域，其中，第一外壳图像和第二外壳图像都是电容的外壳图像，第十检测区域为第一外壳图像的上部区域，第十一检测区域为第二外壳图像的上部区域；将第一外壳图像中第十检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域作为第一区域；将第二外壳图像中第十一检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域作为第二区域；对比第一区域与第二区域，并获取差异区域值；如果差异区域值大于预设差异区域值，则确定电容外壳的上部区域存在凹凸缺陷。

可选地，分割电容外壳的图像之后，该方法还包括：获取第十二检测区域，其中，第十二检测区域为电容外壳的图像的中间区域；将第十二检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域作为第三区域；将第三区域的最大内接矩形区域作为第四区域；将第三区域和第四区域的差异区域作为第五区域；获取第五区域的面积；若第五区域的面积为零，则确定电容外壳的中部区域不存在凹凸的缺陷。

可选地，分割第一外壳图像和第二外壳图像之后，该方法还包括：获取第十三检测区域，其中，第十三检测区域为电容外壳的图像的下部区域；将第十三检测区域内的亮度大于亮度阈值的区域作为第六区域；对第六区域做形态学开运算，并获取第七区域；对第六区域做形态学闭运算，并获取第八区域；将第七区域与第一区域进行比较，获得第九区域；将第八区域与第一区域进行比较，获得第十区域；计算第九区域与第十区域的面积；若第九区域的面积与第十区域的面积均不为零，则确定电容外壳的下部区域存在凹凸缺陷。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(cpu)、输入/输出接口、网络接口和内存。

存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(ram)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(rom)或闪存(flashram)。存储器是计算机可读介质的示例。

计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(pram)、静态随机存取存储器(sram)、动态随机存取存储器(dram)、其他类型的随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、电可擦除可编程只读存储器(eeprom)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(cd-rom)、数字多功能光盘(dvd)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitorymedia)，如调制的数据信号和载波。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

本领域技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

以上仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。