一种新型开尔文测试机构的制作方法

本实用新型涉及二极管检测设备技术领域，具体涉及一种新型开尔文测试机构。

背景技术：

对于功率器件芯片的正反压降或通态电阻的测试，为了提高测试的精度，通常采用开尔文测试法。开尔文测试就是通常所说的四线测试法，四线测试法的目的是扣除导线电阻带来的压降。一般30厘米长导线的等效电阻大概是十毫欧姆到百毫欧姆，如果通过导线的电流足够大(比如是安培级的话)，那么导线两端的压降就达到几十到上百毫伏。

目前，开尔文测试法的设备一般有四个测试探针，将测试测针连接在被测电子元件的两端，其中两个测试探针形成回路作为电流供给电子元件，另外两个探针作为高阻抗测量。使用这种测试方法，排线阻抗、接触阻抗等内部阻抗皆可忽略，因此可提高测试精度。

现有的测试方式一般是将探针做成夹子状的测试夹，测试夹接触待测电子元件的接触脚，从而进行测试，然而，对于二极管、三极管等尺寸较小的部件，测试需要固定其位置，操作困难，测试效率低。

技术实现要素：

针对以上问题，本实用新型提供一种新型开尔文测试机构，用于对二极管的性能测试，测试操作简单，测试结果精确。

为实现上述目的，本实用新型通过以下技术方案来解决：

一种新型开尔文测试机构，包括底座、位于所述底座上侧的测试台、以及连接在所述底座与所述测试台之间的调高装置，所述测试台上设有让位槽，所述让位槽内设有测试托料柱，所述测试托料柱顶端设有产品放置槽，所述测试托料柱两侧分别设有左测试组件、右测试组件，所述左测试组件包括第一测试片、以及与所述第一测试片间隔并列设置的第二测试片，所述右测试组件包括第三测试片、以及与所述第三测试片间隔并列设置的第四测试片，所述产品放置槽两侧分别设有左限位槽、右限位槽，所述第一测试片、第二测试片一端位于所述左限位槽内，所述第三测试片、第四测试片一端位于所述右限位槽内。

具体的，所述调高装置包括固定在所述底座一侧的第一安装板、固定在所述测试台一侧的第二安装板、以及固定在所述第一安装板上的千分尺，所述千分尺的输出端与所述第二安装板固定连接。

具体的，所述测试托料柱下端还连接有弹簧，所述弹簧位于所述底座内部。

具体的，所述左测试组件中部还设有左固定板，所述左固定板上设有左限位板，所述左限位板上端盖设有左压板，所述右测试组件中部还设有右固定板，所述右固定板上设有右限位板，所述右限位板上端盖设有右压板。

具体的，所述第一测试片与所述第二测试片之间相对的侧面、所述第三测试片与所述第四测试片之间相对的侧面均涂覆有绝缘涂层。

具体的，所述测试台上还设有第一固定针、第二固定针、第三固定针、第四固定针，所述第一测试片另一端与所述第一固定针接触，所述第二测试片另一端与所述第二固定针接触，所述第三测试片另一端与所述第三固定针接触，所述第四测试片另一端与所述第四固定针接触。

具体的，所述底座与所述测试台之间还连接有调高板。

本实用新型的有益效果是：

第一、本实用新型的开尔文测试机构，增加了测试托料柱，能够对二极管测试产品进行限位，且测试托料柱下端连接有弹簧，在弹力作用下二极管产品的引脚与四个测试片的接触更加稳定可靠；

第二、第一测试片与第二测试片之间相对的侧面、第三测试片与第四测试片之间相对的侧面均涂覆有绝缘涂层，使两者相互绝缘，避免出现漏电现象，且四个测试片都是竖立状与二极管测试产品接触，四个测试片不易发生不可逆变形，大大增加了测试次数；

第三、增加了具有千分尺的调高装置，能够更精确地调节高度。

附图说明

图1为本实用新型的一种新型开尔文测试机构的结构示意图。

图2为图1中B部分的放大图。

图3为本实用新型中测试托料柱的结构示意图。

图4为本实用新型的一种新型开尔文测试机构的俯视图。

图5为图4中A-A面的剖视图。

附图标记为：底座1、测试台2、让位槽21、第一固定针201、第二固定针202、第三固定针203、第四固定针204、调高装置3、第一安装板31、第二安装板32、千分尺33、测试托料柱4、产品放置槽41、左限位槽42、右限位槽43、左测试组件5、第一测试片51、第二测试片52、左固定板501、左限位板502、左压板503、右测试组件6、第三测试片61、第四测试片62、右固定板601、右限位板602、右压板603、弹簧7、调高板8、二极管9、芯片91、引脚92。

具体实施方式

下面结合实施例和附图对本实用新型作进一步详细的描述，但本实用新型的实施方式不限于此。

如图1-5所示：

一种新型开尔文测试机构，包括底座1、位于底座1上侧的测试台2、以及连接在底座1与测试台2之间的调高装置3，测试台2上设有让位槽21，让位槽21内设有测试托料柱4，测试托料柱4顶端设有产品放置槽41，测试托料柱4两侧分别设有左测试组件5、右测试组件6，左测试组件5包括第一测试片51、以及与第一测试片51间隔并列设置的第二测试片52，右测试组件6包括第三测试片61、以及与第三测试片61间隔并列设置的第四测试片62，产品放置槽41两侧分别设有左限位槽42、右限位槽43，第一测试片51、第二测试片52一端位于左限位槽42内，第三测试片61、第四测试片62一端位于右限位槽43内，测试时，将二极管9的芯片91放入产品放置槽41中部，并将二极管9的两引脚92分别位于左限位槽42、右限位槽43上侧，使得第一测试片51、第二测试片52顶端与左侧的引脚92接触，第三测试片61、第四测试片62顶端与右侧的引脚92接触，即可。

优选地，调高装置3包括固定在底座1一侧的第一安装板31、固定在测试台2一侧的第二安装板32、以及固定在第一安装板31上的千分尺33，千分尺33的输出端与第二安装板32固定连接，利用千分尺33，能够更精确地调节高度。

优选地，为了提高二极管9与第一测试片51、第二测试片52、第三测试片61、第四测试片62的接触稳定性，在测试托料柱4下端还连接有弹簧7，弹簧7位于底座1内部。

优选地，左测试组件5中部还设有左固定板501，左固定板501上设有左限位板502，左限位板502上端盖设有左压板503，右测试组件6中部还设有右固定板601，右固定板601上设有右限位板602，右限位板602上端盖设有右压板603。

优选地，为了避免第一测试片51与第二测试片52接触而产生电连接、第三测试片61与第四测试片62接触而产生电连接，第一测试片51与第二测试片52之间相对的侧面、第三测试片61与第四测试片62之间相对的侧面均涂覆有绝缘涂层。

优选地，为了更好地固定第一测试片51、第二测试片52、第三测试片61、第四测试片62另一端，测试台2上还设有第一固定针201、第二固定针202、第三固定针203、第四固定针204，第一测试片51另一端与第一固定针201接触，第二测试片52另一端与第二固定针202接触，第三测试片61另一端与第三固定针203接触，第四测试片62另一端与第四固定针204接触。

优选地，底座1与测试台2之间还连接有调高板8，经过千分尺33调整高度后，可固定调高板8的位置，从而固定测试高度。

以上实施例仅表达了本实用新型的一种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。