一种IDC排线测试工装的制作方法

【技术领域】

本实用新型涉及测试工装领域，尤其涉及一种idc排线测试工装。

背景技术：

随着自动化设备行业日趋成熟，我们对设备的要求也越来越高，对产品的性能有更高的要求，而且对产品的性能也做了相应规范。

现有的idc连接器种类和脚位多，压接后使用万用表逐个脚位的去测量，需要两个人配合测量，工作效率低下，且在测量过程中，测试比较麻烦，如果两个测量工作人员配合不当，造成测量不准确的可能性大，测试慢严重影响工作效率和产品品质。

技术实现要素：

针对现有技术的不足，本实用新型提供一种idc排线测试工装，可快速测试idc连接器的各种pin脚，极大程度上提高工作效率和产品品质。

本实用新型所采用的技术方案为：

一种idc排线测试工装，包括基板，在所述基板上设有至少两个接线端子数量不同的idc连接器，在所述基板上还设有测试模块，所述测试模块分别与每个idc连接器串联连接并在每个idc连接器上连接排线后形成闭合回路，所述每个idc连接器之间为并联连接。

作为优选，所述测试模块包括电源、第一连接端、第二连接端、第三连接端、第四连接端、第五连接端、电阻r1、第一发光二极管和第二发光二极管，所述第一连接端与电源的正极连接，所述电阻r1的一端与电源的负极连接，所述第二连接端与第一发光二极管的负极连接，所述第五连接端与第一发光二极管的正极连接，所述电阻r1的另一端连接在第二连接端与第一发光二极管的负极之间，所述第三连接端与第二发光二极管的正极连接，所述第四连接端与第二发光二极管的负极连接；

所述第一连接端、第二连接端、第三连接端、第四连接端和第五连接端分别与idc连接器相对应的引脚连接。

作为优选，在电源的正极与第一连接端之间还设有贴片保险丝。

作为优选，在基板上间隔设置有多个铜柱安装孔。

作为优选，所述基板的厚度大于等于2mm，且小于等于4mm。

本实用新型的有益效果在于：

1有效防止漏测试和错误测试，提高测试精准度；

2方便作业人员测试，提高工作效率；

3测试模块中的电阻r1有效防止测试过程中电路短路；

4本实用新型的基板设置在一定的厚度范围内，提升idc连接器拔插强度。

【附图说明】

图1为本实用新型一种idc排线测试工装的主视结构示意图；

图2为测试模块与部分idc连接器的电路结构示意图。

附图标号说明：基板1；铜柱安装孔11；idc连接器2；测试模块3；电源31；第一连接端32；第二连接端33；第三连接端34；第四连接端35；第五连接端36；第一发光二极管37；第二发光二极管38；贴片保险丝39。

【具体实施方式】

为使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。

如图1所示，本实用新型一种idc排线测试工装，包括基板1，在所述基板1上设有至少两个接线端子数量不同的idc连接器2，在所述基板1上还设有测试模块3，所述测试模块3分别与每个idc连接器2串联连接并在每个idc连接器2上连接排线后形成闭合回路，所述每个idc连接器2之间为并联连接。测试时，作业人员只需要将被排线插在idc连接器2上即可，基板1上一次性可插接多个不同种类的idc连接器2，适用性强，方便作业人员测试，提高工作效率。

如图2所示，所述测试模块3包括电源31、第一连接端32、第二连接端33、第三连接端34、第四连接端35、第五连接端36、电阻r1、第一发光二极管37和第二发光二极管38，所述第一连接端32与电源31的正极连接，所述电阻r1的一端与电源31的负极连接，所述第二连接端33与第一发光二极管37的负极连接，所述第五连接端36与第一发光二极管37的正极连接，所述电阻r1的另一端连接在第二连接端33与第一发光二极管37的负极之间，所述第三连接端34与第二发光二极管38的正极连接，所述第四连接端35与第二发光二极管38的负极连接。

所述第一连接端32、第二连接端33、第三连接端34、第四连接端35和第五连接端36分别与idc连接器2相对应的引脚连接，参照图2，如测试模块3中的001与idc连接器2上的001连接，测试模块3中的002与idc连接器2上的002连接，如此类推，在此不一一赘述。在idc连接器2上连接排线并通电后，如果所述第一发光二极管37和第二发光二极管38同时点亮，则电路导通；如果只有一个发光二极管点亮，则电路为短路或者断路；如果第一发光二极管37和第二发光二极管38同时不亮，则电路为断路或者压反。有效防止漏测试和错误测试，提高测试精准度，从而减少产品品质异常。

如图2所示，在电源31的正极与第一连接端32之间还设有贴片保险丝39。起到保护测试模块3的作用。

如图1所示，在基板1上间隔设置有多个铜柱安装孔11。所述铜柱安装孔11方便作业人员安装。

本实用新型中，所述基板1的厚度大于等于2mm，且小于等于4mm。所述基板1的厚度控制在这个范围内，提升idc连接器2的拔插强度。

该实用新型，可快速测试各类idc连接器的各种pin脚，极大程度上提高工作效率和产品品质。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型公开的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。