本实用新型涉及太赫兹技术领域，具体为聚四氟乙烯样品槽。
背景技术：
传统的透射式太赫兹时域光谱测试要求样品经过研磨过筛压片然后进行测量，这使得制作样品耗费时间较长且容易在操作过程中引入诸多人为误差因素，此外，压片式方法制作的样品其厚度会被限制，因为人为操作几乎无法压出完整的零点几个毫米厚的样品，这对于吸收较强的样品或者薄膜样品的测量造成困难，针对上述情况，在现有的太赫兹时域光谱样品测量方法基础上进行技术创新。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供聚四氟乙烯样品槽，以解决上述背景技术中提出传统的透射式太赫兹时域光谱测试要求样品经过研磨过筛压片然后进行测量，这使得制作样品耗费时间较长且容易在操作过程中引入诸多人为误差因素，此外，压片式方法制作的样品其厚度会被限制，因为人为操作几乎无法压出完整的零点几个毫米厚的样品，这对于吸收较强的样品或者薄膜样品的测量造成困难的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：聚四氟乙烯样品槽，包括底座主体和片盖，所述底座主体的内部设置有容槽，所述底座主体的上方内部设置有凹槽，且凹槽的内部设置有凸块，所述片盖位于凸块的上方。
优选的，所述底座主体的上表面与片盖的下表面之间局部紧密贴合，且片盖的竖直中心线与底座主体的上表面的竖直中心线之间相互重合。
优选的，所述底座主体的水平尺寸与片盖的水平尺寸之间相互吻合，且片盖平行于底座主体的水平中心线。
优选的，所述底座主体的外部直径大于容槽的内部直径，且底座主体的整体材料为聚四氟乙烯。
优选的，所述底座主体通过凹槽构成一体式结构，且凹槽的内部表面与凸块的外部表面之间局部紧密贴合，并且凸块和凹槽均呈圆环状结构。
优选的，所述底座主体通过凹槽与凸块和片盖之间为双面胶粘接，且片盖的外部呈圆形结构。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：
1、本实用新型设置有凸块和容槽，将片盖通过凸块嵌入容槽的内部，通过双面胶能够将底座主体和片盖之间进行粘接，能够有效的增大凸块与容槽之间的接触面积，从而能够有效的增强底座主体与片盖之间粘接的稳固性，避免主体主体与片盖之间分离或错位，以及能够便于用户快速将底座主体与片盖之间进行拆分；
2、本实用新型设置有底座主体和片盖，可以保持整个聚四氟乙烯样品槽在使用过程中操作简易且可以测量薄层样品；
3、本实用新型通过聚四氟乙烯样品槽的应用，可以在保证聚四氟乙烯样品槽稳定不易损坏的同时减少聚四氟乙烯样品槽在测量过程中对太赫兹波的吸收损耗。
附图说明
图1为本实用新型主视结构示意图；
图2为本实用新型爆炸结构示意图；
图3为本实用新型底座主体的剖视结构示意图。
图中：1、底座主体；2、片盖；3、凸块；4、凹槽；5、容槽。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：聚四氟乙烯样品槽，包括底座主体1和片盖2，底座主体1的内部设置有容槽5，底座主体1的外部直径大于容槽5的内部直径，且底座主体1的整体材料为聚四氟乙烯；
底座主体1的上方内部设置有凹槽4，且凹槽4的内部设置有凸块3，底座主体1通过凹槽4构成一体式结构，且凹槽4的内部表面与凸块3的外部表面之间局部紧密贴合，并且凸块3和凹槽4均呈圆环状结构，底座主体1通过凹槽4与凸块3和片盖2之间为双面胶粘接，且片盖2的外部呈圆形结构，将双面胶粘接在容槽5的内部，此时，将片盖2通过凸块3嵌入容槽5的内部，能够有效的增大凸块3与容槽5之间的接触面积，从而能够有效的增强底座主体1与片盖2之间粘接的稳固性，避免底座主体1与片盖2之间分离或错位，以及能够便于用户快速将底座主体1与片盖2之间进行拆分；
片盖2位于凸块3的上方，底座主体1的上表面与片盖2的下表面之间局部紧密贴合，且片盖2的竖直中心线与底座主体1的上表面的竖直中心线之间相互重合，底座主体1的水平尺寸与片盖2的水平尺寸之间相互吻合，且片盖2平行于底座主体1的水平中心线。
工作原理：在使用该聚四氟乙烯样品槽装载待测样品时，可直接将样品装入底座主体1，接着，将双面胶粘接在容槽5的内部，此时，将片盖2通过凸块3嵌入容槽5的内部，使得底座主体1与片盖2片盖之间进行封装，随后进行测量，无需进行压片操作；
最后，将填装好的聚四氟乙烯样品槽放入太赫兹时域光谱仪或太赫兹成像光路中进行测试，经探测器探测可得到测试数据，这就是该聚四氟乙烯样品槽的工作原理。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。