2D及3D量测装置的制作方法

本实用新型为一种2d及3d量测装置，特别是指一种具有3d光学轮廓仪的2d及3d量测装置。

背景技术：

请参阅图1，图1所绘示为传统的3d光学轮廓仪8，3d光学轮廓仪8是将共聚焦、干涉(白光干涉)和多焦面迭加技术融合于一身，以量测出详细的3d图像。并且，上述三种3d图像的量测模式只要从软件上即可进行切换，对使用者来说相当方便。此外，3d光学轮廓仪8适用于量测的待测物例如为：lcd面板、ic、leds、sillicon、太阳能电池、半导体、皮革、纸类、邮票、锡球及钻石等。然而，大面积的lcd面板需拆解成小片状才能在3d光学轮廓仪8上进行量测，所以经过拆解的lcd面板纵使是良品，其也无法进行后续的加工制作或再成为其他测试仪器的待测物。

此外，当3d光学轮廓仪8要依序量测多个形体大小皆相同的小片状lcd面板时，不同的lcd面板所量测的位置坐标皆会产生偏差。这样一来，当每一个lcd面板所量测的3d图像产生后，不同lcd面板的3d图像相互比对的结果较不具有实质上的参考价值。

因此，如何在不切割该待测物的情况下进行3d图像的量测，且避免多个待测物所量测的位置坐标产生偏差，便是本领域具有通常知识者值得去思量地。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一2d及3d量测装置，2d及3d量测装置能在不切割该待测物的情况下进行3d图像的量测，且还能避免多个待测物所量测的位置坐标产生偏差。

本实用新型的2d及3d量测装置包括一承载部、一座体部、一连结部、一3d光学轮廓仪、一2d显微镜及一可程序化逻辑控制器。其中，承载部包括至少一第一滑轨及一第一驱动马达。座体部以可滑动的方式设置于第一滑轨，座体部包括至少一第二滑轨。此外，连结部以可滑动的方式设置于第二滑轨，连结部包括一第二驱动马达。3d光学轮廓仪及2d显微镜皆是设置于连结部。另外，可程序化逻辑控制器是电性链接第一驱动马达、第二驱动马达、3d光学轮廓仪及2d显微镜。

在上所述的2d及3d量测装置，其中第一滑轨与该第二滑轨相互垂直。

在上所述的2d及3d量测装置，其中可程序化逻辑控制器依据一第一控制指令驱动该第一驱动马达及该第二驱动马达。

在上所述的2d及3d量测装置，其中可程序化逻辑控制器依据一第二控制指令操控该2d显微镜及该3d光学轮廓仪。

在上所述的2d及3d量测装置，其中可程序化逻辑控制器包括一内存，该内存用以记录该第一控制指令及该第二控制指令。

在上所述的2d及3d量测装置，其中承载部还包括一设置平台，3d光学轮廓仪与2d显微镜位于设置平台的上方。

为让本实用新型的上述目的、特征和优点更能明显易懂，下文将以实施例并配合所附图示，作详细说明如下。

附图说明

图1所绘示为传统的3d光学轮廓仪8。

图2a所绘示为本实施例的2d及3d量测装置10的立体图。

图2b所绘示为可程序化逻辑控制器16电性连结本实施例的其他组件的示意图。

附图标记说明：

11：承载部；110：第一滑轨；112：设置平台；113：第一驱动马达；

12：座体部；120：第二滑轨；

13：连结部；132：第二驱动马达；

14：3d光学轮廓仪；

15:2d显微镜；

16：可程序化逻辑控制器；160：内存。

具体实施方式

请参阅图2a，图2a所绘示为本实施例的2d及3d量测装置10的立体图。本实施例的2d及3d量测装置10包括一承载部11、一座体部12、一连结部13、一3d光学轮廓仪14、一2d显微镜15及一可程序化逻辑控制器16。其中，承载部11包括至少一第一滑轨110、第一驱动马达113及一设置平台112，3d光学轮廓仪14与2d显微镜15是位于设置平台112的上方，设置平台112是用于设置要被检测的待测物(未绘示)，待测物例如为：lcd面板、ic、leds、sillicon、太阳能电池、半导体、皮革、纸类、邮票、锡球、钻石及印刷电路板(pcb)等。

此外，座体部12是以可滑动的方式设置于第一滑轨110上，座体部12包括至少一第二滑轨120，第一滑轨110与第二滑轨120是相互垂直。另外，连结部13以可滑动的方式设置于第二滑轨120上，连结部13包括一第二驱动马达132。并且，上述的3d光学轮廓仪14与2d显微镜15皆是设置于连结部13，3d光学轮廓仪14与2d显微镜15相互排列成一直线。

请参阅图2b，图2b所绘示为可程序化逻辑控制器16电性连结本实施例的其他组件的示意图。可程序化逻辑控制器16包括一内存160，且可程序化逻辑控制器16是电性链接第一驱动马达113、第二驱动马达132、3d光学轮廓仪14及2d显微镜15，可程序化逻辑控制器16是依据一第一控制指令驱动第一驱动马达113及第二驱动马达132。详细来说，可程序化逻辑控制器16被输入一第一控制指令后，其依据该第一控制指令驱动第一驱动马达113。之后，第一驱动马达113带动承载部11本身进行移动，以使座体部12在被动的情况下于第一滑轨110上进行滑动。类似的方式，可程序化逻辑控制器16同样依据该第一控制指令驱动第二驱动马达132。之后，第二驱动马达132带动链接部13在第二滑轨120上进行滑动。

此外，可程序化逻辑控制器16是依据一第二控制指令操控该2d显微镜15及3d光学轮廓仪14。详细来说，可程序化逻辑控制器16被输入一第二控制指令后，其依据该第二控制指令控制2d显微镜，使2d显微镜量测该待测物的实际尺寸。同理，可程序化逻辑控制器16依据该第二控制指令控制3d光学轮廓仪14，以使3d光学轮廓仪14量测出该待测物其中一位置坐标的3d图像。

上述中，内存160是用以记录该第一控制指令及该第二控制指令。如此一来，当2d及3d量测装置10要依序量测多个形体大小相同的待测物时，可程序化逻辑控制器16能依据内存160内的该第一控制指令及该第二控制指令自动量测相同的待测物。

接着，申请人将2d及3d量测装置10量测该待测物(该待测物例如为：lcd面板)的流程说明如下：

首先，一个未经过切割的lcd面板设置于设置平台112上。之后，经由移动承载部11，座体部12在第一滑轨110上一步一步微小的滑动，2d显微镜15便能在该lcd面板的y轴方向同步移动。之后，连结部13在第二滑轨120上快速进行滑动时，2d显微镜15便能在该lcd面板的x轴方向同步移动。这样一来，经由2d显微镜15在该面板y轴与x轴的循序移动，2d显微镜15便能移动到该lcd面板上的所有区域，以找出该lcd面板上的四个定位靶标是位于哪个位置坐标，该定位靶标位有助于2d显微镜15掌握该lcd面板实质位置与面板的尺寸。

之后，承载部11及连结部13会带动3d光学轮廓仪14到指定的位置坐标对该lcd面板进行量测。详细来说，前述的指定的位置坐标是属于该第一控制指令所设定的位置，且通常会设定多个位置，以量测出该lcd面板不同区域的3d图像。之后，分析这些不同位置坐标的3d图像便能确认该lcd面板是否为良品。因此，相较于传统的3d光学轮廓仪8，本实施例的2d及3d量测装置10能在不切割该lcd面板的情况下进行3d图像的量测，所以有利于该lcd面板进行后续的加工制作或再成为其他测试仪器的待测物。

此外，由于2d显微镜15及3d光学轮廓仪14都在同一平台上量测该lcd面板，且还能依据指定的位置坐标量测该lcd面板，所以当3d光学轮廓仪14依序量测多个相同的lcd面板的3d图像时，其能避免多个lcd面板所量测的位置坐标产生偏差。这样一来，降低该lcd面板被误判为良品或是被误判为不良品的机率。

综上所述，本实施例的2d及3d量测装置10能在不切割该待测物的情况下进行3d图像的量测，且还能避免多个待测物所量测的位置坐标产生偏差。

上述实施例仅是为了方便说明而举例，虽遭所属技术领域的技术人员任意进行修改，均不会脱离如权利要求书中所欲保护的范围。