COB双站测试装置的制作方法

本实用新型涉及碟片分编一体机测试技术领域，尤其是涉及一种cob双站测试方法及装置。

背景技术：

目前碟片分编一体机测试采用的是一站测试，利用玻璃片和压cob材料四角的方法，采用玻璃片时，玻璃片特别容易污染，影响积分球的采光，需要平凡停机来清理玻璃片，停机率高，严重影响产能。采用压cob材料四角的方法，经常会出现cob材料的发光部位被遮挡，导致对cob材料的光谱分析出现误判，影响cob材料的筛选。

技术实现要素：

本实用新型提供一种cob双站测试方法及装置，不会由于遮挡而出现误判，也不会影响cob材料的筛选。

本实用新型的一种技术方案是：提供一种cob双站测试装置，包括：移动结构、压制结构、第一测试结构和第二测试结构，所述移动结构将cob材料移动到第一检测位置，所述压制结构将所述cob材料的一部分区域遮挡，所述cob材料的未被遮挡部分被点亮，所述第一测试结构测试所述cob材料未被遮挡的区域；测试完成后，所述移动结构将所述cob材料移动到第二检测位置，所述压制结构将所述cob材料的被第一测试结构测试过的部分区域遮挡，所述cob材料的未被遮挡的部分被点亮，所述第二测试结构测试所述cob材料未被遮挡的区域。

作为对本实用新型的改进，所述移动结构的运输轨迹为直线形，所述移动结构将所述cob材料沿着直线从所述第一检测位置移动所述第二检测位置。

作为对本实用新型的改进，所述移动结构的运输轨迹为弧形，所述移动结构将所述cob材料沿着弧线从所述第一检测位置移动所述第二检测位置。

作为对本实用新型的改进，所述移动结构是碟片转动结构，所述cob材料被放置在所述碟片转动结构上移动。

作为对本实用新型的改进，在所述压制结构上设置有第一测试孔，所述第一测试孔位于所述第一检测位置上，所述第一测试孔的四周结构遮挡所述cob材料的一部分区域，所述cob材料的另一部分区域对应所述第一测试孔；在所述压制结构上设置有第二测试孔，所述第二测试孔位于所述第二检测位置上，所述第二测试孔的四周结构遮挡所述cob材料的另一部分区域，所述cob材料的一部分区域对应所述第二测试孔。

本实用新型由于采用了双站测试，第一次测试cob材料的一部分区域，第二次测试cob材料的另一部分区域，通过两次测试，从而完成对整个cob材料的测试，具有不需要平凡清理玻璃片、不会出现误判和不会影响cob材料的筛选。

附图说明

图1是本实用新型中cob双站测试装置的平面结构示意图。

图2是图1的分解结构示意图。

图3是图1中第一检查位置的放大示意图。

图4是图1中第二检查位置的放大示意图。

图5是本实用新型中cob双站测试方法的流程示意图。

其中：

100、cob材料；111、碟片；112、cob材料固定部；120、压制结构；121、第一测试孔；122、第二测试孔；130、小底板；131、引导片；141、第一测试结构；142、第二测试结构；151、第一检测位置；152、第二检测位置。

具体实施方式

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语中“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或组件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连接”、“相连”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以是通过中间媒介间接相连，可以是两个组件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型的具体含义。

请参见图1至图4，图1至图4所揭示的是一种cob双站测试装置，在现有技术中，测试装置对cob材料100只进行一次测试，在测试的时候，cob材料100被点亮，cob材料100上有部分区域被遮挡，被遮挡的部分没有被测试，从而导致误判。而本实用新型中，cob双站测试装置通过两次来测试cob材料100，两次测试时，cob材料100均被点亮，并从cob材料的上方测试。第一次测试cob材料100的一部分区域，第二次测试cob材料100的另一部分，两次测试完成后，整个cob材料100的所有区域都被测试。

实施例中，cob双站测试装置包括移动结构、压制结构120、第一测试结构141和第二测试结构142，移动结构将cob材料100移动到第一检测位置151，压制结构120将cob材料100的一部分区域遮挡，点cob材料100的被检测部分，第一测试结构141测试cob材料100未被遮挡的被检测部分区域；测试完成后，移动结构将cob材料100移动到第二检测位置152，压制结构120将cob材料100的另一部分区域遮挡，点亮cob材料100的未被第一测试结构141检测过的部分，第二测试结构142测试cob材料100未被第一测试结构141检测过的部分区域。

实施例中，移动结构是碟片111转动结构，cob材料100被放置在碟片111转动结构上移动。碟片111转动结构包括碟片111和转动结构（未画图），碟片111安装在转动结构的转动端上，转动结构驱动碟片111转动。碟片111可以采用金属材料制成，也可以采用非金属材料制成，至于碟片111采用什么材料制成，不是本实用新型的保护范围。

碟片111的形状为圆形，碟片111的形状还可以为方形，或者碟片111的形状还可以为其它几何形状，在这里不一一例举。但是，碟片111的形状优选为圆形。

在碟片111上可以设置有cob材料固定部112，cob材料固定部112用于固定cob材料100。cob材料固定部112的数量为若干个，若干个cob材料固定部112均匀设置在碟片111的同一圆周上。作为改进，若干个cob材料固定部112不是均匀设置在碟片111的同一圆周上。

当cob材料100在碟片111上运输时，其实cob材料100是被放置在cob材料固定部112中，cob材料固定部112可以是凹陷部、凹槽、缺口等等。cob材料固定部112的形状和cob材料100的形状基本一样大，或者cob材料固定部112的形状略大于cob材料100的形状。只要是可以将cob材料100固定在碟片111上移动，而不会使cob材料100脱离碟片111都在cob材料固定部112的保护范围内。作为对碟片111结构的改进，在碟片111运输cob材料100的过程中，cob材料100还可以直接被放置在碟片111上。

当cob材料100在碟片111上运输时，移动结构的运输轨迹为弧形，移动结构将cob材料100沿着弧线从第一检测位置151移动第二检测位置152。cob材料100的放置方向改变，遮挡cob材料100的位置未改变。

转动结构是电机，或者其它驱动结构，只要能够使碟片111转动都在本实用新型的保护范围内。

实施例中，作为对移动结构的改进，移动结构的运输轨迹为直线形，移动结构将cob材料100沿着直线从第一检测位置151移动第二检测位置152。移动结构为直线运动导轨（未画图），cob材料100被放置在直线运动导轨上进行运输。在第一检测位置151和第二检测位置152上，cob材料100的放置方向未改变，遮挡cob材料100的位置改变。

实施例中，还包括小底板130，小底板130的表面为光滑平整表面，不可倾斜或凹凸不平。在小底板130的表面上设置有引导片131，引导片131在小底板130的表面上形成收纳部，碟片111位于收纳部中，收纳部成凹陷状。小底板130采用金属材料制成，小底板130的形状可以根据需要进行选择。收纳部的形状基本和碟片111的形状相同，或者收纳部的形状不和碟片111的形状相同。当碟片111的形状为圆形时，收纳部的形状也为圆形，具体形状可以根据实际需要进行选择。

实施例中，压制结构120设置在引导片131的表面上，压制结构120可以是采用金属材料制成，也可以采用非金属材料制成。在压制结构120上设置有第一测试孔121和第二测试孔122，第一测试孔121和第二测试孔122所在的位置凸出于引导片131。也就是说，第一测试孔121和第二测试孔122与碟片111上的位置对应，压制结构120成飞檐状，第一测试孔121和第二测试孔122设置在压制结构120的飞檐位置上。压制结构120凸出的部分的下表面与碟片111的上表面间隔距离，该距离很小，也就是说，在第一测试孔121和第二测试孔122的位置上，压制结构120凸出的部分的下表面与cob材料100的表面间隔距离，该距离可以在几微米之间，具体数据可以根据需要进行选择。

第一测试孔121位于第一检测位置151上，第二测试孔122位于第二检测位置152上。第一测试孔121和第二测试孔122间隔预定距离，具体距离值可以根据实际需要进行选择。第一测试孔121的形状和cob材料100的形状不一样，第一测试孔121的形状可以根据需要进行选择，在这里不对其形状进行解释说明。当cob材料100位于第一测试孔121的正下方时，cob材料100的一部分区域位于第一测试孔121的位置上，即通过第一测试孔121可以看到cob材料100的一部分区域，而cob材料100的另一部分区域被第一测试孔121周围的压制结构120遮挡。

第二测试孔122的形状和cob材料100的形状不一样，第二测试孔122的形状可以根据需要进行选择，在这里不对其形状进行解释说明。当cob材料100位于第二测试孔122的正下方时，cob材料100的另一部分区域位于第二测试孔122的位置上，即通过第二测试孔122可以看到cob材料100的另一部分区域，而cob材料100的一部分区域被第二测试孔122周围的压制结构120遮挡。

本实施例中，还包括第一测试结构141和第二测试结构142，第一测试结构141的检测端位于第一测试位置处，第二测试结构142的检测端位于第二测试位置处。第一测试结构141和第二测试结构142的结构相同，并且都是现有技术在，本实用新型没有对其结构进行改进，因此在这里不再对其结构进行详细的解释说明。

本实用新型的工作原理是：

cob材料100被放置在碟片111的cob材料固定部112中，转动结构驱动碟片111转动，碟片111将cob材料100移动到第一检测位置151上，cob材料100位于第一测试孔121的正下方，cob材料100被检测部分被点亮，cob材料100的一部分区域位于第一测试孔121的位置上，而cob材料100的另一部分区域被第一测试孔121周围的压制结构120遮挡，第一测试结构141对cob材料100的这一部分区域进行测试。

测试完成后，转动结构驱动碟片111转动，碟片111将cob材料100移动到第二检测位置152上。cob材料100位于第二测试孔122的正下方，cob材料100的未被检测过的部分被点亮，cob材料100的另一部分区域位于第二测试孔122的位置上，而cob材料100的一部分区域被第二测试孔122周围的压制结构120遮挡，第二测试结构142对cob材料100的另一部分区域进行测试。

需要说明的是，在本实用新型中，测试cob材料时，需要将cob材料点亮。也就是说，在第一检测位置151上cob材料被点亮一次，在第二检测位置152上cob材料再被点亮一次，在整个测试过程中，cob材料被点亮两次。测试时，第一测试结构141和第二测试结构142都是使用积分球检测，被点亮后的cob材料的光学参数，积分球检测完成后，将相关检测数据发送给控制中心进行分析。

本实用新型还提供一种cob双站测试方法，请参见图3，包括如下步骤：

s10.将cob材料移动到第一检测位置，所述cob材料的一部分区域遮挡，所述cob材料的未被遮挡部分被点亮，测试所述cob材料未被遮挡的区域；

s20.测试完成后，将所述cob材料移动到第二检测位置，所述cob材料的被第一测试结构测试过的部分区域遮挡，所述cob材料的未被遮挡的部分被点亮，测试所述cob材料未被遮挡的区域。

在第二检测位置上，遮挡了cob材料的另一部分区域，而cob材料的一部分区域没有被遮挡。第一次测试cob材料的一部分区域，第二次测试cob材料的另一部分区域，第一次测试和第二次测试合起来，将cob材料的整个区域测试完成。

cob材料沿着直线从第一检测位置移动第二检测位置，在第一检测位置和第二检测位置上，cob材料的放置方向未改变，遮挡cob材料的位置改变。

或者，cob材料沿着曲线从第一检测位置移动第二检测位置。在第一检测位置和第二检测位置上，cob材料的放置方向未改变，遮挡cob材料的位置改变；或者，cob材料的放置方向改变，遮挡cob材料的位置未改变。

不管cob材料的如何放置，只要第一次测试和第二次测试合起来，将cob材料的整个区域测试完成，就属于本实用新型的保护范围。

本实用新型由于采用了双站测试，第一次测试cob材料的一部分区域，第二次测试cob材料的另一部分区域，通过两次测试，从而完成对整个cob材料的测试，具有不需要平凡清理玻璃片、不会出现误判和不会影响cob材料的筛选。

需要说明的是，针对上述各实施方式的详细解释，其目的仅在于对本实用新型进行解释，以便于能够更好地解释本实用新型，但是，这些描述不能以任何理由解释成是对本实用新型的限制，特别是，在不同的实施方式中描述的各个特征也可以相互任意组合，从而组成其他实施方式，除了有明确相反的描述，这些特征应被理解为能够应用于任何一个实施方式中，而并不仅局限于所描述的实施方式。