静压测试样品对位装置及静压测试系统的制作方法

本申请涉及显示屏体测试技术领域，具体而言，涉及一种静压测试样品对位装置及静压测试系统。

背景技术：

为了保证显示屏体的抗压强度符合质量要求，需要对显示屏体进行压力测试，在进行压力测试时，一般会用到静压测试设备。现有的静压测试设备存在对位误差，影响静压测试结果的准确性。

技术实现要素：

基于现有设计的不足，本申请提供一种静压测试样品对位装置及静压测试系统。

根据本申请的第一方面，提供一种静压测试样品对位装置，包括：

底座；

设置于所述底座上的第一对位平台；以及

设置于所述第一对位平台上远离所述底座一侧的第二对位平台，所述第二对位平台上用于设置待测样品；

其中，所述第一对位平台与所述底座活动连接并可沿第一方向移动，所述第二对位平台与所述第一对位平台活动连接并可沿第二方向移动，所述底座上沿所述第一方向设置有第一定位刻度条，所述第一对位平台沿所述第二方向设置有第二定位刻度条。

如此，所述静压测试样品对位装置通过第一对位平台和第二对位平台的对位移动，并分别结合第一定位刻度条和第二定位刻度条，可以对待测样品进行测试点位的快速准确定位，并可实现对多组待测样品在同一测试点位的快速准确定位，减少人为主观移动待测样品对位造成的误差，减少测试点位的对位耗时，确保多组待测样品在同一测试点位的测试一致性，进而提高测试结果的准确性。

在第一方面的一种可能的实施方式中，为了便于第一对位平台在底座上的限位滑动，并减少滑动过程中的摩擦力，所述底座上沿所述第一方向设置有第一滑轨，所述第一对位平台朝向所述底座的一面设置有第一滑动组件，所述第一滑动组件与所述第一滑轨连接。

在第一方面的一种可能的实施方式中，为了便于第二对位平台在第一对位平台上的限位滑动，并减少滑动过程中的摩擦力，所述第一对位平台上沿所述第二方向设置有第二滑轨，所述第二对位平台朝向所述第一对位平台的一面设置有第二滑动组件，所述第二滑动组件与所述第二滑轨连接。

在第一方面的一种可能的实施方式中，为了便于待测样品的固定，避免在静压测试过程中待测样品出现位置偏移而导致测试结果不准确的情况，所述第二对位平台上设置有用于固定所述待测样品的固定组件。

在第一方面的一种可能的实施方式中，为了便于在对多组待测样品进行静压测试过程中的拆卸和固定，所述固定组件包括相互连接的第一限位部和第二限位部，所述第一限位部和所述第二限位部分别用于与所述待测样品的相邻的两个侧面贴合固定。

在第一方面的一种可能的实施方式中，为了便于在对多组待测样品进行静压测试过程中的拆卸和固定，所述第二对位平台上设置有多个定位孔，所述固定组件上设置有与所述定位孔配合的固定孔，所述固定组件通过固定件与所述第二对位平台可拆卸连接，其中，所述固定件与所述定位孔和所述固定孔配合连接。

在第一方面的一种可能的实施方式中，为了保证多个定位孔在第二对位平台上能够均匀排列，能够降低固定组件与第二对位平台进行固定时的对位难度，并便于固定组件上固定孔的开孔工艺制造，所述多个定位孔在所述第二对位平台上呈阵列排列。

在第一方面的一种可能的实施方式中，为了便于刻度值的读数，所述第一定位刻度条设置于所述底座上表面的边缘，第二定位刻度条设置于所述第一对位平台上表面的边缘。

在第一方面的一种可能的实施方式中，为了便于刻度值的读数，所述第一方向和所述第二方向相互垂直。

根据本申请的第二方面，提供一种静压测试系统，包括静压测试设备以及第一方面或者被第一方面的任意一种可能的实施方式所述的静压测试样品对位装置，所述静压测试设备包括压头，所述静压测试设备用于通过所述压头对所述静压测试样品对位装置上固定的待测样品施加压力以进行静压测试。

基于上述任一方面，本申请的静压测试样品对位装置通过设置第一对位平台与底座活动连接并可沿第一方向移动，并在第一对位平台上远离底座一侧设置第二对位平台并与第一对位平台活动连接并可沿第二方向移动，同时在底座上沿第一方向设置第一定位刻度条，在第一对位平台沿第二方向设置第二定位刻度条。如此，通过第一对位平台和第二对位平台的对位移动，并分别结合第一定位刻度条和第二定位刻度条，可以对一个待测样品进行多个测试点位的快速准确定位，并可实现对多组待测样品在同一测试点位的快速准确定位，减少人为主观移动待测样品对位造成的误差，减少测试点位的对位耗时，确保多组待测样品在同一测试点位的测试一致性，进而提高测试结果的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1示出了相关技术中对显示屏体进行的静压测试的示意图；

图2示出了本申请实施例所提供的静压测试样品对位装置的结构示意图之一；

图3示出了本申请实施例所提供的底座和第一对位平台上设置的刻度示意图；

图4示出了本申请实施例所提供的静压测试样品对位装置的结构示意图之二；

图5示出了本申请实施例所提供的静压测试样品对位装置的结构示意图之三；

图6示出了本申请实施例所提供的静压测试样品对位装置的结构示意图之四。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，应当理解，本申请中附图仅起到说明和描述的目的，并不用于限定本申请的保护范围。另外，应当理解，示意性的附图并未按实物比例绘制。本申请中使用的流程图示出了根据本申请实施例的一些实施例实现的操作。

除非另行定义，文中所使用的所有专业与科学用语与本领域熟练人员所熟悉的意义相同。本申请所使用的材料或原料均可通过常规途径购买获得，如无特殊说明，本申请所使用的材料或原料均按照本领域常规方式使用或者按照产品说明书使用。此外，任何与所记载内容相似或均等的方法及材料皆可应用于本申请方法中。本申请中所述的较佳实施方法与材料仅作示范之用。

参照前述背景技术所获知的技术问题，例如图1所示，相关方案中，对于现有的静压测试设备，在对待测样品200进行定位时，通常只能通过测试人员主观移动待测样品200在底座110上进行压力测试点对位。而针对多组待测样品200的定位，也只能通过人为主观移动待测样品200分别进行对位，没有客观的确定坐标进行精准定位，可能使压头300在对多组待测样品200进行同一位置测试的测试结果存在较大误差。而且，在对多组待测样品200进行多点压力测试过程中，由人工主观移动待测样品进行对位，耗时较长，测试效率较低。

所应说明的是，以上现有技术中的方案所存在的缺陷，均是发明人在经过实践并仔细研究后得出的结果，因此，上述技术问题的发现过程以及下文中本申请实施例针对上述问题所提出的解决方案，都应该是发明人在发明创造过程中对本申请做出的贡献，而不应当理解为本领域技术人员所公知的技术内容。

基于发明人发现的上述技术问题，本申请实施例提供一种改进的静压测试样品对位装置，以改善上述发明人发现的在对多组待测样品进行多点压力测试过程中，由人工来主观移动待测样品进行对位时，耗时较长，并且对应多组待测样品定位，只能通过人为主观移动待测样品进行对位，没有客观的确定坐标进行精准定位的问题。

详细地，本申请实施例的提供的静压测试样品对位装置，设置有与底座活动连接并可沿第一方向移动的第一对位平台，并设置有与第一对位平台活动连接并可沿第二方向移动的第二对位平台。同时，在底座上沿第一方向设置有第一定位刻度条，在第一对位平台沿第二方向设置有第二定位刻度条。

如此，通过第一对位平台和第二对位平台的对位移动，并分别结合第一定位刻度条和第二定位刻度条，可以对待测样品进行测试点位的快速准确定位，并可实现对多组待测样品在同一测试点位的快速准确定位，减少人为主观移动待测样品对位造成的误差，减少测试点位的对位耗时，确保多组待测样品在同一测试点位的测试一致性，进而提高测试结果的准确性。

下面结合说明书附图详细介绍上述静压测试样品对位装置的一些示例性的实现方案。

请参阅图2，为本申请实施例所提供的静压测试样品对位装置100用于对待测样品200进行静压测试的示意图，静压测试样品对位装置100可以包括底座110、第一对位平台120以及第二对位平台130。其中，第一对位平台120设置于所述底座110上，第二对位平台130设置于所述第一对位平台120远离底座110一侧上，所述第二对位平台130上用于放置待测样品200。

待测样品200可以是指需要进行静压测试的显示屏体，显示屏体可以包括，但并不限于oled(organiclight-emittingdiode，有机发光二极管)显示屏、lcd(liquidcrystaldisplay，液晶显示)显示屏等，对此不作具体限定。

其中，第一对位平台120与底座110活动连接并可沿第一方向移动，第二对位平台130与第一对位平台120活动连接并可沿第二方向移动。进一步地，请参阅图3，底座110上沿第一方向设置有第一定位刻度条111，第一对位平台120沿第二方向设置有第二定位刻度条121。

本实施例中，第一定位刻度条111和第二定位刻度条121可以是以长度单位为标准作刻度记号，从而测量每个测试点位在第一方向和第二方向上的位置坐标，第一定位刻度条111和第二定位刻度条121的分度值可以根据实际待测样品200的长度范围进行确定，对此不作具体限定。

在对待测样品200进行静压测试的过程中，请结合参阅图4-图5所示，在将待测样品200固定在第二对位平台130上后，可以通过调整第一对位平台120和第二对位平台130的位置从而将待测样品200的测试点位对准压头300的中心，并在记录该测试点位在底座110和第一对位平台120上的刻度值后，通过压头300对待测样品200的该测试点位施加压力以进行静压测试。

在一种可能的实施方式中，为了便于刻度值的读取，第一方向和第二方向可以相互垂直。例如第一方向可以是图3或者图4所示的x轴方向，第二方向可以是y轴方向，或者第一方向可以是y轴方向，第二方向可以是x轴方向。在本申请实施例中，以第一方向是x轴方向，第二方向是y轴方向为例，进行示例性说明。

例如图5所示，可以调整第一对位平台120在x轴方向的移动，并调整第二对位平台130在y轴方向的移动，从而将待测样品200的测试点位q1对准压头300的中心，然后在记录该测试点位q1在底座110的刻度值x1和第一对位平台120的刻度值y1后，通过压头300对待测样品200的该测试点位(x1，y1)施加压力以进行静压测试。

而后，可以依次通过移动第一对位平台120和第二对位平台130的位置对待测样品200的剩余测试点位q2、q3、......、qn分别进行定位和静压测试，并继续记录每个剩余测试点位q2、q3、......、qn在底座110和第一对位平台120的刻度值(x2，y2)、(x3，y3)、......、(xn，yn)。此后，当更换下一个待测样品后，只需要把第一对位平台120和第二对位平台130调整至相应记录的刻度值(x1，y1)、(x2，y2)、(x3，y3)、......、(xn，yn)后，即可进行下一个待测样品200的静压测试。

基于上述设计，本实施例通过第一对位平台120和第二对位平台130的对位移动，并分别结合第一定位刻度条111和第二定位刻度条121，可以对一组待测样品200进行多个测试点位的快速准确定位，并可实现对多组待测样品在同一测试点位的快速准确定位，减少人为主观移动待测样品对位造成的误差，减少测试点位的对位耗时，确保多组待测样品在同一测试点位的测试一致性，进而提高测试结果的准确性。

在一种可能的实施方式中，继续参阅图2所示，为了便于第一对位平台120在底座110上的限位滑动，并减少滑动过程中的摩擦力，底座110上沿第一方向可设置有第一滑轨115，第一对位平台120朝向底座110的一面可设置有第一滑动组件(图中未示出)，第一滑动组件与第一滑轨115配合以使第一对位平台120可相对底座110滑动。

在一种可能的实施方式中，继续参阅图2所示，为了便于第二对位平台130在第一对位平台120上的限位滑动，并减少滑动过程中的摩擦力，第一对位平台120上沿第二方向可设置第二滑轨125，第二对位平台130朝向第一对位平台120的一面可设置有第二滑动组件(图中未示出)，第二滑动组件与第二滑轨125配合以使得第二对位平台130可相对第一对位平台120滑动。

在一种可能的实施方式中，第一滑轨115和第二滑轨125可以是导轨结构。又例如，第一滑轨115和第二滑轨125也可以是导槽结构。再例如，第一滑轨115和第二滑轨125中的其中一个可以是导轨结构，另一个可以是导槽结构。

在一种可能的实施方式中，为了进一步减少滑动过程中的摩擦力，第一滑动组件和第二滑动组件可以包括线轮，线轮可以包括与第一滑轨115或者第二滑轨125相配合的滑块，以使得线轮可以在第一滑轨115或者第二滑轨125中滑动。在一种可能的实施方式中，滑块的侧面可以设置有若干个滚珠或滚轮，以进一步减小线轮滑动时产生的摩擦力。

在一种可能的实施方式中，至少两个线轮可以分散设置于第一滑动组件和第二滑动组件上。其中，线轮的形状可以包括，但不限于瓶颈形、圆柱形、圆锥形等。在一些可能的示例中，每个线轮均可以相对于第一滑动组件和第二滑动组件运动。例如，每个线轮可以各自独立运动，或者多个线轮也可以一起运动。在一些可能的示例中，线轮在相对第一滑动组件和第二滑动组件运动时可以通过导引结构进行运动导向。例如，导引结构可以分别对每个线轮进行运动导向，或者导引结构也可以同时对全部线轮进行运动导向。通过导引结构的导向，线轮在运动过程中能够聚拢，聚拢可以理解为至少两个线轮之间的距离在运动过程中变小。

在一种可能的实施方式中，为了便于待测样品200的固定，避免在静压测试过程中待测样品200出现位置偏移而导致测试结果不准确的情况，请结合参阅图4-图5，第二对位平台130上还可以设置用于固定待测样品200的固定组件140。

在一种可能的实施方式中，为了便于在对多组待测样品200进行静压测试过程中的拆卸和固定，请结合参阅图4-图5，固定组件140可以包括相互连接的第一限位部142和第二限位部144，第一限位部142和第二限位部144分别用于与待测样品200的相邻的两个侧面贴合固定。

在一种可能的示例中，第一限位部142和第二限位部144可以用于限制待测样品200相对第二对位平台130的移动距离。例如，第一限位部142和第二限位部144为限位块，分布于待测样品200的两个相邻的侧面上，当待测样品200的两个相邻的侧面分别与第一限位部142和第二限位部144接触时，即无法再进行移动。例如，第一限位部142和第二限位部144能够与待测样品200的两个相邻的侧面卡合。示例性地，第一限位部142和第二限位部144可以是卡槽，待测样品200的两个相邻侧面可卡入所述卡槽内进行固定。如此，使得待测样品200的两个相邻的侧面固定在第一限位部142和第二限位部144上，从而使得待测样品200能够保持在限位位置处，即使得所述待测样品200能够保持在调整后的测试点位，无需人为一直控制。

在一种可能的示例中，第一限位部142和第二限位部144可以有多种形式，例如，第一限位部142和第二限位部144可以包括但不限于限位块、限位板、限位槽、止动槽等等一种或多种形式的任意组合。本领域技术人员可以根据需要来具体设计第一限位部142和第二限位部144的形状和限位方式，本申请对此不作限制。

在一种可能的实施方式中，固定组件140可以与第二对位平台130固定连接，固定连接的连接方式可以包括但不限于胶粘、热压成型、铆接、一体成型等。在另一种可能的实施方式中，固定组件140也可以与第二对位平台130可拆卸连接，可拆卸连接的连接方式可以包括但不限于螺栓连接、卡扣连接等。

例如，在一种可能的实施方式中，请结合参阅图6，第二对位平台130上可设置多个定位孔135，固定组件140上设置有与定位孔135配合的固定孔，固定组件140通过固定件与第二对位平台130可拆卸连接，其中，固定件与定位孔135和固定孔配合连接。

例如，定位孔135和与定位孔135配合的固定孔可以为螺孔，固定件可以为螺栓，螺栓可以插入定位孔135和固定孔，从而与定位孔135和固定孔螺纹连接，进而实现固定组件140与第二对位平台130之间的可拆卸连接。

在一种可能的实施方式中，固定组件140上的固定孔的排列方式与第二对位平台130上的定位孔135的排列方式相适配。例如，多个定位孔135在第二对位平台130上可以呈阵列排列，从而保证多个定位孔135在第二对位平台130上能够均匀排列，能够降低固定组件140与第二对位平台130进行固定时的对位难度，并便于固定组件140上固定孔的开孔工艺制造。

在一种可能的实施方式中，第一定位刻度条111可以设置于底座110上表面的边缘，第二定位刻度条121可以设置于第一对位平台120上表面的边缘，从而便于刻度值的读数。

进一步地，基于同一发明构思，本申请实施例还提供一种静压测试系统，静压测试系统可包括静压测试设备以及上述实施例所提供的静压测试样品对位装置100，静压测试设备包括压头300，静压测试设备用于通过压头300对静压测试样品对位装置100上固定的待测样品200施加压力以进行静压测试。

以上所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制本申请的保护范围，而仅仅是表示本申请的选定实施例。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。此外，基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下可获得的所有其它实施例，都应属于本申请保护的范围。