X荧光光谱仪真空罩的制作方法

本实用新型涉及x荧光光谱仪设备领域，具体涉及一种x荧光光谱仪真空罩。

背景技术：

x荧光光谱仪(xrf)由激发源(x射线管)和探测系统构成。x射线管产生入射x射线(一次x射线)，激发被测样品，产生x荧光(二次x射线)，探测器对x荧光进行检测。真空罩是实验室中辅助抽取真空的常用仪器，其主要用于隔绝空气，维持真空状态。但是现有技术中的真空罩在使用的过程中检测是否含有空气的方式较为复杂，不便于操作。

技术实现要素：

本实用新型要解决的技术问题是提供一种x荧光光谱仪真空罩，其便于检测真空罩内是否有空气。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种x荧光光谱仪真空罩，包括罩体和位于所述罩体上表面的提升部；所述提升部内开设有容纳空间，所述容纳空间内设置有测试组件，用于检测所述罩体内的空气；所述测试组件包括测试杆、密封片和覆盖层，所述提升部开设有连通孔，以将所述罩体和所述容纳空间连通，且所述密封片用于覆盖所述连通孔，以隔离所述容纳空间和所述罩体；所述测试杆设置在所述容纳空间内并能沿竖直方向运动，所述测试杆的下端部设置有金属钠；所述测试杆呈透明设置；所述覆盖层设置在所述提升部的上表面，且所述覆盖层的边缘与所述提升部固定；在初始状态时，所述测试杆的上端部穿设出所述提升部，并与所述覆盖层接触；推动所述测试杆以使其穿设过所述密封片，用以将所述金属钠推至所述罩体内。

进一步的，所述测试杆的下表面开设有凹槽，所述金属钠放置在所述凹槽内并能够通过贴附层覆盖所述凹槽。

进一步的，所述贴附层包括无纺布和/或滤网。

进一步的，所述测试杆的中部设置有限位环，所述限位环的直径大于所述连通孔的孔径。

进一步的，所述测试杆的外部套设有复位件，所述复位件的两端分别与所述限位环和所述容纳空间的底壁抵接。

进一步的，所述密封片的中部设置有撕裂槽。

进一步的，所述连通孔处设置有密封环。

进一步的，所述罩体的外壁设置有挡环。

进一步的，所述提升部的外部开设有凹环。

本实用新型的有益效果：

在初始状态时，密封片通过覆盖连通孔实现罩体和容纳空间的隔离；此时，测试杆的下端部位于容纳空间内，测试杆的上端部和覆盖层接触；然后按压覆盖层推动测试杆沿竖直方向向下运动，直至测试杆的下端部穿设过密封片，将金属钠推动至罩体的内部；金属钠与空气接触时其颜色由银白色迅速变暗，因而利用金属钠便于检测罩体内是否残留有空气。

附图说明

图1是本实用新型的整体示意图；

图2是本实用新型的初始状态剖视图；

图3是本实用新型的测试状态剖视图；

图4是本实用新型中测试杆的示意图；

图5是本实用新型中密封片的示意图。

图中标号说明：1、罩体；11、挡环；2、提升部；21、容纳空间；22、凹环；23、连通孔；24、密封环；3、测试杆；31、凹槽；32、限位环；33、复位件；4、金属钠；41、贴附层；5、密封片；51、撕裂槽；6、覆盖层。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本实用新型并能予以实施，但所举实施例不作为对本实用新型的限定。

参照图1-图5所示，本实用新型的x荧光光谱仪真空罩的一实施例，包括罩体1和位于罩体1上表面的提升部2，提升部2便于操作者拿取和放置罩体1。提升部2的外壁上开设有凹环22，以便于操作者抓取。

提升部2内开设有容纳空间21，同时提升部2开设有连通孔23，并且上述连通孔23用于将罩体1与容纳空间21连通设置。容纳空间21的内部设置有测试组件，上述测试组件用于检测罩体1内是否残留有空气。测试组件包括测试杆3、密封片5和覆盖层6，并且测试杆3由透明材料制成，本实施例中测试杆3的材料可以选用玻璃或者透明的pvc。此外，连通孔23的孔径等于或者略大于测试杆3的直径，以保证测试杆3能够穿设过上述连通孔23。

测试杆3竖直设置在容纳空间21内，并且测试杆3在外部的推动下能够沿竖直方向运动。测试杆3的下端部开设有凹槽31，凹槽31内放置有金属钠4；同时凹槽31上覆盖有贴附层41，以防止金属钠4和测试杆3脱离。金属钠4与空气接触时其颜色由银白色迅速变暗，因而利用金属钠4便于检测罩体1内是否残留有空气。本实施例中贴附层41可以选用无纺布和/滤网，因为无纺布和/滤网均不会隔断空气，因而其能够在封闭金属钠4时降低对测试结果的影响。

密封片5用于覆盖连通孔23，从而将罩体1和容纳空间21隔离。覆盖层6设置在提升部2的上表面，覆盖层6的边缘均与提升部2的上表面通过热压或者胶合等方式固定；并且本实施例中覆盖层6选用橡胶等柔性材料。测试杆3的上端部能够穿设过提升部2伸出，并且其上端部能够和覆盖层6接触。利用覆盖层6和密封层的配合能够保证在初始状态时容纳空间21保持真空并且处于密封状态，从而保证金属钠4不会和空气接触，以保证测试结果的准确性。

在初始状态时，密封片5通过覆盖连通孔23实现罩体1和容纳空间21的隔离；此时，测试杆3的下端部位于容纳空间21内，测试杆3的上端部和覆盖层6接触。然后按压覆盖层6推动测试杆3沿竖直方向向下运动，直至测试杆3的下端部穿设过密封片5，将金属钠4推动至罩体1的内部。

密封片5的中部开设有撕裂槽51，上述撕裂槽51为间断分布的盲槽，其中撕裂槽51可以沿直线分布也可以呈圆形分布。当测试杆3施加给密封片5推力时，通过开设撕裂槽51便于密封片5从撕裂槽51处分离，从而便于测试杆3穿设过密封片5。

测试杆3的中部设置有限位环32，并且限位环32的直径大于连通孔23的孔径，因而利用限位环32能够限制测试杆3插设进罩体1内部的长度，从而防止测试杆3与提升部2分离。同时，测试杆3的外部套设有复位件33，本实施例中复位件33优选螺旋弹簧。复位件33的两端分别与限位环32和容纳空间21的底壁抵接，因而当推动测试杆3伸入罩体1内部时，复位件33处于压缩状态；当测试结束后施加在测试杆3上的推力消失，此时复位件33能够将自身的弹性力转变为推动限位环32的推力，以辅助测试杆3复位。

连通孔23处设置有密封环24，密封环24与测试杆3的外壁贴合，从而能够提高连通处的密封性。

罩体1的外壁设置有挡环11，挡环11位于其外侧壁的下端部，用于与抽真空的底座配合。

以上所述实施例仅是为充分说明本实用新型而所举的较佳的实施例，本实用新型的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本实用新型基础上所作的等同替代或变换，均在本实用新型的保护范围之内。本实用新型的保护范围以权利要求书为准。

技术特征：

1.一种x荧光光谱仪真空罩，其特征在于，包括罩体和位于所述罩体上表面的提升部；所述提升部内开设有容纳空间，所述容纳空间内设置有测试组件，用于检测所述罩体内的空气；所述测试组件包括测试杆、密封片和覆盖层，所述提升部开设有连通孔，以将所述罩体和所述容纳空间连通，且所述密封片用于覆盖所述连通孔，以隔离所述容纳空间和所述罩体；所述测试杆设置在所述容纳空间内并能沿竖直方向运动，所述测试杆的下端部设置有金属钠；所述测试杆呈透明设置；所述覆盖层设置在所述提升部的上表面，且所述覆盖层的边缘与所述提升部固定；在初始状态时，所述测试杆的上端部穿设出所述提升部，并与所述覆盖层接触；推动所述测试杆以使其穿设过所述密封片，用以将所述金属钠推至所述罩体内。

2.如权利要求1所述的x荧光光谱仪真空罩，其特征在于，所述测试杆的下表面开设有凹槽，所述金属钠放置在所述凹槽内并能够通过贴附层覆盖所述凹槽。

3.如权利要求2所述的x荧光光谱仪真空罩，其特征在于，所述贴附层包括无纺布和/或滤网。

4.如权利要求1所述的x荧光光谱仪真空罩，其特征在于，所述测试杆的中部设置有限位环，所述限位环的直径大于所述连通孔的孔径。

5.如权利要求4所述的x荧光光谱仪真空罩，其特征在于，所述测试杆的外部套设有复位件，所述复位件的两端分别与所述限位环和所述容纳空间的底壁抵接。

6.如权利要求1所述的x荧光光谱仪真空罩，其特征在于，所述密封片的中部设置有撕裂槽。

7.如权利要求1所述的x荧光光谱仪真空罩，其特征在于，所述连通孔处设置有密封环。

8.如权利要求1所述的x荧光光谱仪真空罩，其特征在于，所述罩体的外壁设置有挡环。

9.如权利要求1所述的x荧光光谱仪真空罩，其特征在于，所述提升部的外部开设有凹环。

技术总结
本实用新型公开了一种X荧光光谱仪真空罩，包括罩体和位于罩体上表面的提升部；提升部内开设有容纳空间，所述容纳空间内设置有测试组件，用于检测罩体内的空气；测试组件包括测试杆、密封片和覆盖层，提升部开设有连通孔，以将罩体和容纳空间连通，且密封片用于覆盖连通孔，以隔离容纳空间和罩体；测试杆设置在容纳空间内并能沿竖直方向运动，测试杆的下端部设置有金属钠；测试杆呈透明设置；覆盖层设置在提升部的上表面，且覆盖层的边缘与提升部固定；在初始状态时，测试杆的上端部穿设出提升部，并与覆盖层接触；推动测试杆以使其穿设过密封片，用以将金属钠推至罩体内。本实用新型便于检测真空罩内是否有空气。

技术研发人员：程鸿林
受保护的技术使用者：苏州博讯仪器有限公司
技术研发日：2020.03.18
技术公布日：2020.11.24