一种高阶高密度电路板检测工装的制作方法

文档序号:24137424发布日期:2021-03-02 17:57阅读:82来源:国知局
一种高阶高密度电路板检测工装的制作方法

[0001]
本实用新型涉及高阶高密度电路板电性能测试的技术领域,特别是一种高阶高密度电路板检测工装。


背景技术:

[0002]
高阶高密度电路板包括基板1和焊接于基板1底表面上的电子元件如电容、电池等,各电子元件的支脚与基板1焊接后形成有焊点3,如图1所示为高阶高密度电路板的结构示意图,焊点3位于基板1的顶表面上。当焊接结束后,需要采用电性能测试仪测试所有焊点的电性能如电阻大小,其中电性能测试仪的顶部上设置有多个与焊点相对应测试头。现有测试电路板电性能的方法是工人将电路板上的各焊点朝下放置,并将各个焊点分别与电性能测试仪上的各测试头分别相接触,接触后,随后工人便可以在电性能测试仪上读出焊点的电阻值,从而实现了电路板电性能的测试。
[0003]
然而,这种测试方法虽然能够测试出电路板的电性能,但是仍然存在以下缺陷:测试时,焊点3位于电路板的下表面,测试人员的视线被电路板遮挡住,因此工人需要很长时间才能将各个焊点3分别对应接触到各个测试头的顶表面,这无疑是降低了电路板电性能测试效率。因此亟需一种提高电性能测试效率的高阶高密度电路板检测工装。


技术实现要素:

[0004]
本实用新型的目的在于克服现有技术的缺点,提供一种结构紧凑、提高电性能测试效率、操作简单的高阶高密度电路板检测工装。
[0005]
本实用新型的目的通过以下技术方案来实现:一种高阶高密度电路板检测工装,它包括工作台、开设于工作台上的通槽,所述通槽的顶表面上固设有承载台,承载台的顶表面上开设有凹槽,凹槽内放置有与其配合的基板,基板上的焊点朝上设置,凹槽的底部开设有通孔,通孔与凹槽连通,所述通槽的底表面上固定安装有气缸a,气缸a的活塞杆由下往上顺次贯穿通槽和通孔设置,且活塞杆设置于通孔内,所述工作台的顶表面上还固设有龙门架,龙门架的横梁设置于承载台的正上方,横梁的顶部固定安装有气缸b,气缸b的活塞杆贯穿横梁设置,且活塞杆的延伸端上焊接有安装板,安装板的底表面上固设有电性能测试仪,电性能测试仪的底部设置有多个与焊点相对应的测试头,且测试头设置于焊点的正上方。
[0006]
凹槽的外形与基板的外轮廓形状相同。
[0007]
所述电性能测试仪的机壳焊接于安装板的底表面上。
[0008]
所述工作台的顶部且位于承载台的两侧均焊接有导向杆,所述安装板上开设有两个与导向杆相对应的导向孔,导向孔滑动安装于导向杆上。
[0009]
所述龙门架的横梁上开设有方槽,所述气缸b的活塞杆贯穿方槽设置。
[0010]
本实用新型具有以下优点:结构紧凑、提高电性能测试效率、操作简单。
附图说明
[0011]
图1 为高阶高密度电路板的结构示意图;
[0012]
图2 为本实用新型的结构示意图;
[0013]
图3 为图2的a向视图。
具体实施方式
[0014]
下面结合附图对本实用新型做进一步的描述,本实用新型的保护范围不局限于以下所述:
[0015]
如图2~3所示,一种高阶高密度电路板检测工装,它包括工作台4、开设于工作台4上的通槽5,所述通槽5的顶表面上固设有承载台6,承载台6的顶表面上开设有凹槽7,凹槽7内放置有与其配合的基板1,凹槽7的外形与基板1的外轮廓形状相同,基板1上的焊点3朝上设置,凹槽7的底部开设有通孔8,通孔8与凹槽7连通,所述通槽5的底表面上固定安装有气缸a9,气缸a9的活塞杆10由下往上顺次贯穿通槽5和通孔8设置,且活塞杆10设置于通孔8内,所述工作台4的顶表面上还固设有龙门架11,龙门架11的横梁设置于承载台6的正上方,横梁的顶部固定安装有气缸b12,气缸b12的活塞杆贯穿横梁设置,且活塞杆的延伸端上焊接有安装板13,安装板13的底表面上固设有电性能测试仪14,电性能测试仪14的底部设置有多个与焊点相对应的测试头15,且测试头15设置于焊点3的正上方,本实施例中,所述电性能测试仪14的机壳焊接于安装板13的底表面上。
[0016]
所述工作台4的顶部且位于承载台6的两侧均焊接有导向杆16,所述安装板13上开设有两个与导向杆16相对应的导向孔,导向孔滑动安装于导向杆16上,所述龙门架11的横梁上开设有方槽,所述气缸b12的活塞杆贯穿方槽设置。
[0017]
本实用新型的工作过程为:工人操作气缸b12使其活塞杆向下伸出,活塞杆带动安装板13向下运动,安装板13上的电性能测试仪14也相应的做向下运动,当气缸b12的活塞杆伸出到一定距离后,电性能测试仪14上的测试头15刚好与焊点3接触,此时即可在电性能测试仪14上显示出焊点的阻值或其他参数,从而实现了焊点电性能的测试;当测试完成后,工人操作气缸b12的活塞杆向上缩回,缩回到位后,工人操作气缸a9使其活塞杆10向上伸出,活塞杆10将被测试的基板1从凹槽7内顶出,从而方便工人拿走测试后的电路板;随后工人再向凹槽7内放置另一个待测试的电路板,重复以上步骤即可实现对电路板进行连续测试。
[0018]
由于凹槽7的外形与基板1的外轮廓形状相同,电性能测试仪14的底部设置有多个与焊点相对应的测试头15,且测试头15设置于焊点3的正上方,因此向凹槽7内放入电路板后,即可确保焊点3处于测试头15的正下方,相比传统的测试方式,无需工人观察焊点与测试头的位置,因此极大缩短了测试时间,从而极大的提高了测试效率。
[0019]
最后应说明的是:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
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