一种半导体检测用四探针的制作方法

1.本实用新型涉及半导体技术领域，具体为一种半导体检测用四探针。


背景技术：

2.半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件。
3.在进行对半导体探测时，现有的四探针测试由于无法对下探测试时的压力进行控制，往往会导致半导体原件受损，且无法做到有效的绝缘，使得测试数据参差不齐。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种半导体检测用四探针，以解决上述背景技术中提出在进行对半导体探测时，现有的四探针测试由于无法对下探测试时的压力进行控制，往往会导致半导体原件受损，且无法做到有效的绝缘，使得测试数据参差不齐的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体检测用四探针，包括本体，所述本体的上端固定安装有绝缘板，所述绝缘板上端的中部固定安装有测试板，所述本体后端的中部固定安装有支架，所述支架的前端延伸至测试板上方，所述绝缘板上端的左端固定安装有控制台，所述控制台的上端固定安装有数示屏，所述数示屏的下端嵌入在控制台的内部，所述数示屏的上端与控制台的上端为同一平面。
6.优选的，所述控制台上端的前端固活动安装有控制按钮，所述控制按钮位于数示屏的前方，所述控制按钮与控制台活动连接，所述支架上端的前端固定安装有电动推杆，所述电动推杆的传动端穿过支架延伸至支架的下方。
7.优选的，所述电动推杆的传动端活动安装有伸缩杆，所述伸缩杆与电动推杆的传动端活动连接，所述伸缩杆的下端固定安装有测试头。
8.优选的，所述测试板内部的上端固定安装有绝缘层，所述绝缘层的下方固定安装有压力控制板。
9.优选的，所述压力控制板的上端通过连接线固定安装有压力传感器，所述压力传感器与绝缘层固定连接。
10.优选的，所述测试头下端的左右两端固定安装电流控制板，所述电流控制板的下端固定安装有四探针头，所述四探针头在电流控制板的下端均匀分布。
11.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
12.1、该半导体检测用四探针，通过安装压力传感器可在对半导体进行检测时可对测试头下探的压力进行探测，避免下探压力过大将半导体原件造成损伤，使得测试数据失效，有效的提高了测试的精度，且对半导体原件进行保护；
13.2、该半导体检测用四探针，通过在支架上端的前端固定安装有电动推杆，利用电动推杆对检测结构进行升降操作，避免了人工手动操作测试导致半导体损害，同时使测试更加的便捷，有效的增加了测试效率，同时可通过控制按钮对电动推杆下降的精度进行调
整，使得测试精度更高，测试数据更加精准；
14.3、该半导体检测用四探针，通过在伸缩杆的下端固定安装有测试头，可对半导体进行测试，同时在测试头的下方固定安装绝缘板，使得在进行测试时不会使微电流外放导致对半导体造成破坏，影响测试数据的准确性，同时也避免了静电对半导体造成击伤。
附图说明
15.图1为本实用新型立体结构示意图；
16.图2为本实用新型压力传感器剖面结构示意图；
17.图3为本实用新型四探针头剖面结构示意图；
18.图4为本实用新型四探针头立体结构示意图。
19.图中：1、本体；2、绝缘板；3、测试板；4、支架；5、控制台；6、数示屏；7、控制按钮；8、电动推杆；9、伸缩杆；10、测试头；11、绝缘层；12、压力控制板；13、压力传感器；14、电流控制板；15、四探针头。
具体实施方式
20.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
21.请参阅图1
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4，本实用新型提供一种技术方案：一种半导体检测用四探针，包括本体1，本体1的上端固定安装有绝缘板2，绝缘板2上端的中部固定安装有测试板3，本体1后端的中部固定安装有支架4，支架4的前端延伸至测试板3上方，绝缘板2上端的左端固定安装有控制台5，控制台5的上端固定安装有数示屏6，数示屏6的下端嵌入在控制台5的内部，数示屏6的上端与控制台5的上端为同一平面。
22.进一步的，控制台5上端的前端固活动安装有控制按钮7，控制按钮7位于数示屏6的前方，控制按钮7与控制台5活动连接，支架4上端的前端固定安装有电动推杆8，电动推杆8的传动端穿过支架4延伸至支架4的下方，通过在支架4上端的前端固定安装有电动推杆8，利用电动推杆8对检测结构进行升降操作，避免了人工手动操作测试导致半导体损害，同时使测试更加的便捷，有效的增加了测试效率，同时可通过控制按钮7对电动推杆8下降的精度进行调整，使得测试精度更高，测试数据更加精准。
23.进一步的，电动推杆8的传动端活动安装有伸缩杆9，伸缩杆9与电动推杆8的传动端活动连接，伸缩杆9的下端固定安装有测试头10，通过在伸缩杆9的下端固定安装有测试头10，可对半导体进行测试，同时在测试头10的下方固定安装绝缘板2，使得在进行测试时不会使微电流外放导致对半导体造成破坏，影响测试数据的准确性，同时也避免了静电对半导体造成击伤。
24.进一步的，测试板3内部的上端固定安装有绝缘层11，绝缘层11的下方固定安装有压力控制板12，通过在测试板3内部的上端固定安装有绝缘层11，使得本体1内部元器件的微电流导入测试板3影响测试的精准性，同时避免了金属质物体之间的静电对半导体造成击伤。
25.进一步的，压力控制板12的上端通过连接线固定安装有压力传感器13，压力传感器13与绝缘层11固定连接，通过安装压力传感器13可在对半导体进行检测时可对测试头10下探的压力进行探测，避免下探压力过大将半导体原件造成损伤，使得测试数据失效，有效的提高了测试的精度，且对半导体原件进行保护。
26.进一步的，测试头10下端的左右两端固定安装电流控制板14，电流控制板14的下端固定安装有四探针头15，四探针头15在电流控制板14的下端均匀分布，通过安装四探针头15，可同时对多块半导体原件进行检测，同时通过对电流控制板14的电流进行控制使得测试微电流得到控制，不会对半导体造成破坏。
27.工作原理：首先在对半导体原件进行检测时，通过在支架4上端的前端固定安装有电动推杆8，利用电动推杆8对检测结构进行升降操作，避免了人工手动操作测试导致半导体损害，同时使测试更加的便捷，有效的增加了测试效率，同时可通过控制按钮7对电动推杆8下降的精度进行调整，使得测试精度更高，测试数据更加精准，同时在伸缩杆9的下端固定安装有测试头10，可对半导体进行测试，同时在测试头10的下方固定安装绝缘板2，使得在进行测试时不会使微电流外放导致对半导体造成破坏，影响测试数据的准确性，同时也避免了静电对半导体造成击伤，在进行测试时，通过在测试板3内部的上端固定安装有绝缘层11，使得本体1内部元器件的微电流导入测试板3影响测试的精准性，同时避免了金属质物体之间的静电对半导体造成击伤，同时压力传感器13可在对半导体进行检测时可对测试头10下探的压力进行探测，避免下探压力过大将半导体原件造成损伤，使得测试数据失效，有效的提高了测试的精度，且对半导体原件进行保护，在微电流测试时，通过四探针头15，可同时对多块半导体原件进行检测，同时通过对电流控制板14的电流进行控制使得测试微电流得到控制，不会对半导体造成破坏。
28.最后应当说明的是，以上内容仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，本领域的普通技术人员对本实用新型的技术方案进行的简单修改或者等同替换，均不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。