一种片针测试结构的制作方法

本实用新型涉及电子连接器测试领域，尤其涉及一种片针测试结构。

背景技术：

现有的片针测试结构，包括整体式座体结构，在整体式座体上设置有若干插槽，测试片针插入插槽中。整体式座体结构的片针测试结构，由于插槽较深和物理空间得限制，无法通过机加工的方式对插槽进行加工成型，只能通过开模的方式制造整体式座体。另外，整体式座体一经损坏，整个座体都需要报废，可更换性极差。现在片针测试结构的更新换代速度较快，采用开模的方式制造座体需要很高的成本和很长的打样周期，无法达到快速更新换代的目的。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种片针测试结构，来解决现有技术中的座体因采用开模制造方式制造所导致换代较慢和打样成本较高的问题。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种片针测试结构，包括座体组件和测试片针；

所述座体组件包括从上到下依次层叠设置的上盖、中间座和下盖，所述上盖、所述中间座和所述下盖形成有若干相互独立的插槽，所述插槽所述上盖、所述中间座和所述下盖，各所述插槽均贯穿插入有一所述测试片针；

所述座体组件还包括至少一组固定组件，一组所述固定组件将所述上盖、所述中间座和所述下盖连接为一整体。

可选地，所述上盖设置有若干第一通槽，所述中间座设置有镂空结构，所述下盖设置有若干所述第三通槽，若干所述第一通槽、所述镂空结构和若干所述第三通槽在竖直方向上组合形成若干所述插槽。

可选地，所述第一通槽、所述镂空结构和所述第三通槽均通过机加工开设而成。

可选地，所述中间座包括从上到下依次层叠设置的一固定板和若干中间板，所述镂空结构包括设置于所述固定板上若干第二通槽和设置于所述中间板中部的矩形镂空，所述矩形镂空贯穿所述中间板相对的两侧面，所述第二通槽的位置与所述第一通槽的位置一一对应以使测试片针可贯穿插入；

所述矩形镂空用于避免所述中间板阻挡所述测试片针的插入或者阻挡所述测试片针的拔出；

竖直方向上，若干所述第二通槽的投影和若干所述第三通槽的投影，均包含于所述矩形镂空的投影区域之内。

可选地，所述座体组件还包括定位柱，所述上盖上设置有第一定位分孔，所述中间座上设置有第二定位分孔，所述下盖设置有第三定位分孔，所述第一定位分孔、所述第二定位分孔和所述第三定位分孔组合形成一贯穿的定位总孔，所述定位柱设置于所述定位总孔中；

所述第一定位分孔、所述第二定位分孔和所述第三定位分孔的孔径均适配于所述定位柱的外径。

可选地，若干所述插槽分列为第一插槽组和第二插槽组，所述第一插槽组和所述第二插槽组之间设有分隔部，所述第一插槽组和所述第二插槽组关于所述分隔部对称设置；

所述第一插槽组的插槽间隔排列设置于所述座体组件中，所述第二插槽座的插槽间隔排列设置于所述座体组件中。

可选地，所述测试片针弯曲形成一上定位面，所述测试片针插设于所述插槽内时，所述上定位面与所述上盖的下侧面相抵，所述上盖的下侧面为平面。

可选地，所述上盖、所述固定板、所述中间板和所述下盖的厚度范围均为0.1mm-1.0mm。

可选地，所述测试片针包括露出于上盖上侧面的第一触点部和露出于下盖下侧面的第二触点部。

可选地，所述第一通槽、所述第二通槽和所述第三通槽的宽度均适配于所述测试片针的厚度。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型提供的片针测试结构，包括座体组件和测试片针，座体组件包括从上到下依次层叠设置的上盖、中间座和下盖，分层叠合式的设置使上盖、中间座和下盖的厚度更小，以使构成座体组件的各部件均能采用机加工的方式完成制造，座体组件且具有加工简单、打样成本低和制作周期短的优点。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本实用新型可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本实用新型所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本实用新型所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。

图1为本实用新型实施例提供的片针测试结构的爆炸结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的片针测试结构的组装结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的片针测试结构的侧面示意图；

图4为图3中的a-a剖面结构示意图。

图示说明：1、测试片针；11、上定位面；101、第一触点部；102、第二触点部；2、座体组件；21、上盖；211、第一通槽；212、第一定位分孔；22、中间座；221、镂空结构；222、固定板；2221、第二通槽；223、中间板；2231、矩形镂空；224、第二定位分孔；23、下盖；231、第三通槽；232、第三定位分孔；24、插槽；241、分隔部；25、固定组件；26、定位柱。

具体实施方式

为使得本实用新型的实用新型目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而非全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。需要说明的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

请参阅图1-4，本实用新型实施例提供了一种片针测试结构，包括座体组件2和测试片针1；座体组件2包括从上到下依次层叠设置的上盖21、中间座22和下盖23，上盖21、中间座22和下盖23形成有若干相互独立的插槽24，插槽24从上到下贯穿上盖21、中间组22和下盖23形成的组合体，各插槽24均贯穿插入有一测试片针1；座体组件2还包括至少一组固定组件25，一组固定组件25将上盖21、中间座22和下盖23连接为一整体。此处所述的固定组件可以为销钉、螺栓连接件或者其他类型紧固件，只要该紧固件可以实现将上盖21、中间座22和下盖23连接为一整体的功能，且该紧固件能拆卸即可。

具体地，分层叠合式的设置使上盖21、中间座22和下盖23的厚度更小，以使构成座体组件2的各部件均能采用机加工的方式完成制造，座体组件且具有加工简单、打样成本低和制作周期短的优点。

可选地，上盖21设置有若干第一通槽211，中间座22设置有镂空结构221，下盖23设置有若干第三通槽231，若干第一通槽211、镂空结构221和若干第三通槽231在竖直方向上组合形成若干插槽24。

具体地，第一通槽211、镂空结构221和第三通槽231的设置，均用于使测试片针能顺利通过座体组件。

可选地，第一通槽211、镂空结构221和第三通槽231均通过机加工开设而成。

具体地，第一通槽211、镂空结构221和第三通槽231可宜采用锯切或铣削的方式加工成型。

可选地，中间座22包括从上到下依次层叠设置的一固定板222和若干中间板223，镂空结构221包括设置于固定板222上若干第二通槽2221和设置于中间板223中部的矩形镂空2231，矩形镂空2231贯穿中间板223相对的两侧面，第二通槽2221的位置与第一通槽211的位置一一对应以使测试片针1可贯穿插入；矩形镂空2231用于避免中间板223阻挡测试片针1的插入或者阻挡测试片针1的拔出；竖直方向上，若干第二通槽2221的投影和若干第三通槽231的投影，均包含于矩形镂空2231的投影区域之内。

具体地，固定板222上的若干个第二通槽2221的位置与若干个第一通槽的位置211一一对应，以使测试片针能贯穿插入其中。中间板223直接在中部镂空有矩形镂空2231，所有的测试片针1均能通过该矩形镂空2231。中间板223的矩形镂空2231，中间板223无需设置开设多个供测试弹片1通过的贯穿孔或贯穿槽，而是直接设置一个矩形的贯穿孔，降低了加工难度。

可选地，座体组件2还包括定位柱26，上盖21上设置有第一定位分孔212，中间座22上设置有第二定位分孔224，下盖23设置有第三定位分孔232，第一定位分孔212、第二定位分孔224和第三定位分孔232组合形成一贯穿的定位总孔，定位柱26设置于定位总孔中；第一定位分孔212、第二定位分孔224和第三定位分孔232的孔径均适配于定位柱26的外径。

具体地，定位柱26、第一定位分孔212、第二定位分孔224和第三定位分孔232的设置，使座体组件2的各组件在竖直方面上提高了定位精度，有利于确保成品的生产良率和保持成品精度。

可选地，若干插槽24分列为第一插槽组和第二插槽组，第一插槽组和第二插槽组之间设有分隔部241，第一插槽组和第二插槽组关于分隔部241对称设置；第一插槽组的插槽24间隔排列设置于座体组件2中，第二插槽座的插槽间隔排列设置于座体组件2中。

具体地，考虑到现有的测试结构一般需要两排测试片针1以完成测试工作，因此在一座体组价2中设置有关于分隔部241对称设置的第一插槽组和第二插槽组。应该知道的是，分隔部241多个部分组成，包括上盖21的两组第一通槽(211)之间的部位、中间座22两个矩形镂空2231之间的部位和下盖23的两组第三通槽231组成。应该知道的是，第一插槽组包括若干插槽24，若干所述插槽24间隔排列成一排，同理，第二插槽组的若干插槽24也间隔排列成一排。

可选地，测试片针1弯曲形成一上定位面11，测试片针1插设于插槽24内时，上定位面11与上盖21的下侧面相抵，上盖21的下侧面为平面。

具体地，测试片针1统一以上盖21的下侧面作为竖直方向上的定位面，以使测试片针1在水平方向上的高度能保持一致。

可选地，上盖21、固定板222、中间板223和下盖23的厚度范围均为0.1mm-1.0mm。具体地，上盖21、固定板222、中间板223和下盖23的厚度较薄，特别是采用铣削加工的方式进行加工时，上盖21、固定板222、中间板223和下盖23的精度保持性较为优异。

可选地，测试片针1包括露出于上盖21上侧面的第一触点部101和露出于下盖23下侧面的第二触点部102。

具体地，第一触点部101凸出于上盖21上侧面，第二触点部102凸出于下盖23下侧面，以使测试片针1能连通待测试产品和测试电路。

可选地，第一通槽211、第二通槽2221和第三通槽231的宽度均适配于测试片针1的厚度。

具体地，测试片针能直接从下到上贯穿插入插槽24中。第一通槽211、第二通槽2221和第三通槽231的宽度的略大于测试片针1的厚度，能更好的实现更换测试片针1的目的。

本实用新型提供的片针测试结构，将座体组件2分设为从上到下依次层叠设置的上盖21、中间座22和下盖23，能使座体组件2具有加工简单、修改成本低和调整周期短的优点。测试片针1贯穿式插入座体组件2的插槽24中，测试片针1可以从下盖23的下方快速拔插，测试片针1的更换过程中无需拆卸螺栓或者螺钉等固定件，测试片针1的更换及维护的工作量少，更换测试片针1的效率极高。

以上所述，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。