1.一种针对分层介质的厚度检测设备，包括检测端和监测终端，其特征在于，所述检测端包括杆状本体，所述杆状本体内部等间隔距离设有若干电极，所述电极连接有电阻测量电路，所述电阻测量电路与所述监测终端通信连接；
所述电极用于发送调制波形信号，并获取所述调制波形信号通过待测介质后得到的第二波形信号；
所述电阻测量电路，用于根据所述调制波形信号以及所述第二波形信号确定所待测介质的电阻。
2.根据权利要求1所述的一种针对分层介质的厚度检测设备，其特征在于，所述监测终端包括密封壳体，所述密封壳体内部设有控制模块和电源模块，所述电源模块连接至所述控制模块，所述控制模块与所述电阻测量电路通信连接。
3.根据权利要求1所述的一种针对分层介质的厚度检测设备，其特征在于，所述检测端的底部设有尖端，所述尖端用于穿透非刚体介质层。
4.根据权利要求1至3任一项所述的一种针对分层介质的厚度检测设备，其特征在于，所述通信连接的方式包括有线通信连接和无线通信连接。
5.一种针对分层介质的厚度检测方法，应用于如权利要求1所述的一种针对分层介质的厚度检测设备，其特征在于，包括以下步骤：
通过第一电极发送调制波形信号；
通过第二电极获取第二波形信号，所述第二波形信号是所述调制波形信号通过待测介质后得到的；
确定所述第一电极与所述第二电极的电极间距，确定所述第一电极的电极截面积；
根据所述第二波形信号、所述电极间距以及所述电极截面积确定所述待测介质的导电率，根据所述导电率确定所述待测介质的厚度。
6.根据权利要求5所述的一种针对分层介质的厚度检测方法，其特征在于，所述根据所述第二波形信号、所述电极间距以及所述电极截面积确定所述待测介质的导电率，根据所述导电率确定所述待测介质的厚度，其包括：
通过检测设备的检测端获取若干所述待测介质的导电率；
根据所述导电率的均值通过分布密度函数确定导电率阈值；
根据所述导电率阈值与所述待测介质的导电率，将所述待测介质划分得到若干介质分层，并确定所述介质分层的厚度。
7.根据权利要求5所述的一种针对分层介质的厚度检测方法，其特征在于，所述根据所述第二波形信号、所述电极间距以及所述电极截面积确定所述待测介质的导电率，根据所述导电率确定所述待测介质的厚度，其还包括：
根据所述导电率，确定所述第一电极为起点电极；
根据所述起点电极以及所述电极间距，确定所述待测介质的电阻，根据所述电阻确定所述导电率。
8.根据权利要求6所述的一种针对分层介质的厚度检测方法，其特征在于，所述根据所述导电率阈值与所述待测介质的导电率，将所述待测介质划分得到若干介质分层，并确定所述介质分层的厚度，其包括：
根据所述导电率划分得到若干取值区间，确定所述取值区间内所述电极的数目；
根据所述电极的数目以及所述电极间距，确定所述介质分层的厚度。