1.一种用于红外发射芯片的测试设备及测试方法，包括机架（1）、槽轮减速器（5）和测试仪器（13），其特征在于：所述机架（1）内壁通过轴承对称转动连接有驱动辊（2）和导向辊（3），所述驱动辊（2）和导向辊（3）通过皮带（4）传动连接，所示机架（1）一侧固定有槽轮减速器（5），且槽轮减速器（5）的输出端与一个驱动辊（2）固定连接，所述槽轮减速器（5）一侧固定有第一伺服电机（6），且第一伺服电机（6）的输出端与槽轮减速器（5）的输入端固定连接，所述皮带（4）表面等距开设有定位槽（10），所述定位槽（10）内壁对称开设有通槽（11），所述定位槽（10）内壁放置有芯片（12），所述芯片（12）的引脚穿过通槽（11），所述机架（1）内壁对称固定有升降机构（7），两个所述升降机构（7）的动端固定有测试仪器（13），所述测试仪器（13）的插口处安装有夹紧装置（8），所述机架（1）顶部靠近测试仪器（13）的一端滑动安装有对芯片（12）进行固定的限位机构（9）。
2.根据权利要求1所述的一种用于红外发射芯片的测试设备，其特征在于：所述升降机构（7）包括第一固定条（71）、第二固定条（72）、螺纹杆（73）、滑动条（74）和第二伺服电机（75），所述机架（1）内壁一侧固定有第一固定条（71），所述机架（1）内壁位于第一固定条（71）下方固定有第二固定条（72），所述第二固定条（72）中部通过轴承转动连接有螺纹杆（73），且螺纹杆（73）顶部通过轴承与第一固定条（71）转动连接，所述测试仪器（13）两端对称固定有滑动条（74），所述滑动条（74）中部开设有螺纹孔，且滑动条（74）通过螺纹孔与螺纹杆（73）螺纹连接，所述第二固定条（72）底部固定有第二伺服电机（75），且第二伺服电机（75）的输出端与螺纹杆（73）固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种用于红外发射芯片的测试设备，其特征在于：所述夹紧装置（8）包括固定台（81）、夹紧槽（82）、插槽（83）、导电弹片（84）、驱动板（85）、滑柱（86）、第一驱动条（87）、第二驱动条（88）和第一弹簧（89），所述测试仪器（13）顶部固定有固定台（81），所述固定台（81）上表面开设有夹紧槽（82），所述夹紧槽（82）一侧等距开设有插槽（83），且芯片（12）的引脚与插槽（83）插接，所述夹紧槽（82）内壁等距固定有导电弹片（84），且导电弹片（84）与测试仪器（13）的插口电性连接，所述夹紧槽（82）内壁滑动连接有驱动板（85），所述驱动板（85）一侧等距固定有滑柱（86），所述夹紧槽（82）内壁等距开设有滑孔，四个所述滑柱（86）穿过滑孔固定有第一驱动条（87），且第一驱动条（87）一角呈斜面设置，所述第一固定条（71）一侧固定有第二驱动条（88），且第二驱动条（88）一角呈与第一驱动条（87）相配合的斜面设置，所述第一驱动条（87）的斜面和第二驱动条（88）的斜面滑动接触，所述滑柱（86）外侧套设有第一弹簧（89），所述第一弹簧（89）一端与第一驱动条（87）固定连接，且第一弹簧（89）另一端与固定台（81）固定连接。
4.根据权利要求3所述的一种用于红外发射芯片的测试设备，其特征在于：所述导电弹片（84）包括弹性片（841）和接触柱（842），且弹性片（841）呈倾斜安装。
5.根据权利要求2所述的一种用于红外发射芯片的测试设备，其特征在于：所述限位机构（9）包括压板（91）、固定片（92）、第二弹簧（93）、第三固定条（94）、驱动槽（95）、凸起（96）和拨动杆（97），所述机架（1）内壁位于测试仪器（13）的一端滑动连接有压板（91），所述压板（91）四角对称固定有固定片（92），所述固定片（92）下表面固定有第二弹簧（93），且第二弹簧（93）底部与第一固定条（71）固定连接，所述压板（91）下表面对称固定有第三固定条（94），所述第三固定条（94）一侧开设有驱动槽（95），所述驱动槽（95）内壁中部固定有凸起（96），所述皮带（4）外侧两端等距固定有拨动杆（97），且拨动杆（97）与凸起（96）表面滑动接触。
6.根据权利要求5所述的一种用于红外发射芯片的测试设备，其特征在于：所述滑动条（74）两端通过导套对称滑动连接有导杆（14），且导杆（14）两端分别与第一固定条（71）和第二固定条（72）固定连接，所述压板（91）两端对称固定有t形滑轨（15），所述机架（1）内壁对称固定有与t形滑轨（15）相配合的轨道（16），且t形滑轨（15）与轨道（16）滑动连接。
7.根据权利要求5所述的一种用于红外发射芯片的测试设备，其特征在于：所述拨动杆（97）呈l形设置，且拨动杆（97）一端通过轴承转动连接有滚轮（17）。
8.一种用于红外发射芯片的测试方法，其特征在于：所述测试方法包括以下步骤；
1）、通过上料机械手将芯片（12）夹持在定位槽（10）内进行上料，通过第一伺服电机（6）带动槽轮减速器（5）的输出端转动，进而带动驱动辊（2）转动，通过导向辊（3）驱动皮带（4）进行传动，且槽轮减速器（5）为三分之一槽轮机构，使得第一伺服电机（6）转动一圈，带动槽轮减速器（5）的输出端旋转120°，进而使得导向辊（3）旋转120°，而导向辊（3）旋转120°，则皮带（4）刚好带动一个芯片（12）移动至测试仪器（13）的正上方；
2）、在皮带（4）传动时，带动拨动杆（97）向第三固定条（94）的一端移动，使得拨动杆（97）上的滚轮（17）慢慢靠近凸起（96），当芯片（12）到位的同时，滚轮（17）挤压凸起（96）至凸起（96）的最高点，使得凸起（96）向下带动第三固定条（94）滑动，进而可带动压板（91）向下滑动，使得芯片（12）到位的同时，压板（91）则刚好压在芯片（12）上方，此时，槽轮减速器（5）刚好处于驱动空档期，使得皮带（4）停止转动；
3）、通过第二伺服电机（75）驱动螺纹杆（73）转动，进而可带动滑动条（74）向上滑动，进而可带动测试仪器（13）向上运动，使得固定台（81）向上运动，使得定位槽（10）内的芯片（12）的引脚慢慢插入到插槽（83）内，在固定台（81）慢慢抬升的过程中，第一驱动条（87）的斜面与第二驱动条（88）上的斜面接触，并被第二驱动条（88）挤压，使得第一驱动条（87）慢慢向固定台（81）的一端靠近，使得第一驱动条（87）通过滑柱（86）带动驱动板（85）滑动，使得驱动板（85）挤压导电弹片（84）的接触柱（842），使得导电弹片（84）的接触柱（842）向引脚的一端靠近，并与引脚接触，对引脚进行夹紧，使得芯片（12）与测试仪器（13）电性连接，通过测试仪器（13）对芯片（12）进行测试；
4）、在测试完成后，通过升降机构（7）驱动测试仪器（13）下降，在下降的过程中，第一驱动条（87）与第二驱动条（88）慢慢脱离，使得导电弹片（84）慢慢与引脚脱离断开连接，之后，槽轮减速器（5）的空档期结束，第一伺服电机（6）通过槽轮减速器（5）驱动皮带（4）再次转动一个芯片（12）的距离，在皮带（4）移动的过程中，拨动杆（97）上的滚轮（17）慢慢与凸起（96）的最高点脱离，使得压板（91）慢慢上升，直至下一个芯片（12）移动至测试仪器（13）的正上方时，下一个拨动杆（97）则再次与凸起（96）配合，驱动压板（91）向下挤压芯片（12），而测试完成的芯片（12）则进入下一道工序。