一种半自动化芯片测试机台的制作方法

1.本实用新型涉及一种芯片测试技术领域，特别是涉及一种半自动化芯片测试机台。


背景技术：

2.内存芯片常被人叫做“内存颗粒”，内存芯片是存储器件中最核心的部件，内存芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。因为芯片都有一定的不良率，所以内存芯片在其应用前要进行严格的检测。
3.现有技术中常采用人工操作的方式对内存芯片进行测试，比如把内存芯片装载入特定的夹具，之后工人把装好内存芯片的夹具插入测试设备中，之后进行测试，测试完后再由工人手动拔下夹具。这种人工的操作方式效率很低，投入人工成本大，而且对测试中程中的任何环节都容易出错，从而影响测试效率。
4.鉴于此，如何开发一种新的内存芯片测试方法，以自动测试来替代纯人工测试是本领域内技术人员普遍关注的问题。


技术实现要素：

5.针对以上现有技术的不足，本实用新型记载了一种对内存芯片进行自动测试的测试机台，所述的测试机台包含机座、测试台与动作机构，可以实现对内存芯片的半自动化测试，大大提高了内存芯片的测试效率，与节约了人力成本，本技术方案具体如下：
6.一种半自动化芯片测试机台，包含测试机座、测试台与动作机构。
7.所述的测试机座首选为长方体型（也可以为正方体型、或其可满足本技术方案的多边体型，具体不做太多限定），所述的测试机座内部安装有控制板，所述的控制板用于控制测试台进行测试动作以及用于控制动作机构进行压紧动作。
8.所述的测试台设置在所述的测试机座上，所述的测试台是由底板、背板与左右各一个支撑板组成的开放的箱体，用于测试内存芯片并执行测试动作。
9.所述的测试台包含测试板，本技术方案中，所述的测试板设置在所述的背板上，与所述的测试机座内部安装的控制板电性连接并进行信息通信。所述的测试板的作用是执行对内存芯片的测试。
10.本技术方案中的动作机构，包含有气缸，所述的动作机构设置在所述的测试台的顶端，用于自动压紧测试芯片。
11.进一步地，所述的背板上还设置有第一支架，所述的第一支架上安装有芯片载台，所述的芯片载台设置在正对所述测试板的测试接口位置。
12.进一步地，所述的动作机构包还包含第二支架、电磁阀与调压阀，所述的气缸、电磁阀与调压阀设置在所述的第二支架上。
13.进一步地，所述的调压阀的出气管连接所述电磁阀的进气管，所述电磁阀的出气管连接所述气缸。
14.进一步地，所述的电磁阀通过继电器连接所述的控制板，所述的继电器设置在测试机座里。
15.在更优的技术方案中，所述的气缸的伸缩杆终端设置有压板，当所述的气缸工作时，所述的压板压紧所述的芯片载台。
16.进一步地，所述的半自动化芯片测试机台还包含电源接口，所述的电源接口优选设置在所述的测试机座侧面，还可以设置在测试机座或测试台的其他位置，所述的电源接口电性连接测试机座内部的电源模块。
17.进一步地，所述的半自动化芯片测试机台还包含操作控件，所述的操作控件包含电源开关按键、测试开始按键、紧急停止按键与上升按键中的一种或多种，具体来说：
18.所述的电源开关按键设置在所述的测试机座侧面，电性连接所述的电源模块，用于控制所述的半自动化芯片测试机台电源的开与关；所述的测试开始按键，设置在所述的测试机座上表面边沿处或所述的测试台的底板上，与所述的控制板电性连接，用于开启测试；所述的紧急停止按键，设置在所述的测试机座上表面边沿处或所述的测试台的底板上，与所述的电源模块电性连接，用于紧急情况下切断半自动化芯片测试机台的电源，从而达到终止测试的目的；所述的上升按键，设置在所述的测试机座上表面边沿处或所述的测试台的底板上，与所述的控制板电性连接，用于控制所述的气缸提起所述的压板。
19.进一步地，所述的半自动化芯片测试机台还包含显示模块或/和声音提示模块。本技术方案中，所述的显示模块设置在所述的第二支架的一端，电性连接所述的控制板用于显示芯片的测试结果；所述的声音提示模块，所述的声音提示模块设置在所述的测试台的底板上，电性连接所述的控制板，用于测试结束时进行声音提示。
20.进一步地，所述的显示模块为数模显示管，所述的声音提示模块为蜂鸣器。
21.进一步地，所述的测试机座底部的四角各设置有一个支脚。
22.本实用新型一种半自动化芯片测试机台，包含机座、测试台与动作机构，整个测试过程由程序控制减少人的参与，大大提高了内存芯片的测试效率与减少纯人工测试的失误率，本技术方案可以实现对内存芯片的半自动化测试，可以达到为企业节省成本的目的。
附图说明
23.图1本实用新型一种半自动化芯片测试机台一个实施例的整体结构示意图。
24.图2本实用新型一种半自动化芯片测试机台一个实施例的立体示意图。
25.图3本实用新型一种半自动化芯片测试机台一个实施例工作中压板压紧芯片载台的立体示意图。
26.图4本实用新型一种半自动化芯片测试机台一个实施例的主视图。
具体实施方式
27.下面结合附图对本实用新型做进一步详细的说明。
28.为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明的省略是可以理解的。相同或相似的标号对应相同或相似的部件。
29.在内存芯片测试领域，对内存芯片测试常见的还是采用人工操作的方式。这种人
工的操作方式效率很低，而且投入人工成本大。因为是人工操作，所以测试中程中的任何环节都容易出错，影响测试效率。
30.针对现有技术的不足，研发一种测试效率高又节约人力成本的自动检测内存芯片测试方法或设备，以来替代纯人工测试是本领域内技术人员普遍关注的问题。
31.本实用新型公开了一种半自动化芯片测试机台可以完美解决上述问题，本实用新型的具体实施例如下：
32.本实施例如图1所示，一种半自动化芯片测试机台1，包含测试机座11、测试台12与动作机构13。
33.本实施例中，测试机座12为长方体型，测试机座12内部安装有控制板111，控制板111用于控制测试台12进行测试动作以及用于控制动作机构13进行压紧动作。
34.需要说明的是，测试机座12首选为长方体型，也可以为正方体型、或其可满足本技术方案的多边体型，本实施例不再做限定。
35.本实施例中，测试机座11底部的四角还可以各自设置一个支脚117（如图2所示），支脚117可以调节高度，所以本技术方案记载的半自动化芯片测试机台1在不是平整的地面也可调平并正常工作。
36.本实施例中的测试台12设置在所述的测试机座11上，二者的固定方式为螺钉或螺栓固定。
37.测试台12用于测试内存芯片并执行测试动作，本实施例中测试台12是由底板121、背板122与左右各一个支撑板123组成的开放的箱体（如图1、2、3所示）。具体来说，底板121与背板122一边相接，两个支撑板123与底板121、背板122各有一边相接，四块板形成一个半封闭的箱体空间，而这样的半封闭的箱体空间更利于操作人员的芯片测试操作。
38.本实施例中底板121、背板122与两个支撑板123的拼接处用螺钉或螺栓固定连接。
39.需要指出的是，在本实施例中，底板121可以选用透明的材质，比如亚克力板或钢化玻璃板等，也可以为不透明的常规材质，比如木材板、金属板等；本实施例兼顾半自动化芯片测试机台1的性能与美观，把支撑板123设计为三角形，而且支撑板123首选镂空设置，但镂空部分128形状不做限定，但是在其它可替代的技术方案中，只要满足半自动化芯片测试机台1的性能，支撑板123的可替代形状都在本技术方案的保护范围中，本实施例不再赘述。
40.本实施例中，所述的测试台12包含测试板124，在本实施例中，测试板124设置在背板122上，与测试机座11内部安装的控制板111电性连接并进行信息通信。测试板124的作用是执行对内存芯片的测试。
41.测试板124的四个角用螺钉或螺栓固定在背板122上。需要说明的是，本实施例中的测试板124为一个电脑主板组成的测试模块，测试板124受到控制板111的控制，专门用于内存芯片的测试。
42.本实施例中的动作机构13，包含有气缸132，动作机构13设置在测试台12的顶端，用于自动压紧测试芯片。
43.本技术方案记载的半自动化芯片测试机台1之所以能实现自动化或半自动化的关键技术点就在于动作机构13包含气缸132，而气缸132是动作机构13的动力来源，为整个动作机构13提供动力。
44.本实施例中，所述的背板122上水平设置有第一支架125，所述的第一支架125上安装有芯片载台126，所述的芯片载台126设置在正对所述测试板124的测试接口位置。
45.如图1所示，第一支架125两端各安装在对应的固定座127上，固定座127通过螺钉或螺栓固定在背板122。
46.芯片载台126安装在第一支架125上，芯片载台126上部设置有放置内存芯片（内存颗粒）的凹槽，芯片载台126内设置固定有读取内存芯片的电路板（内存条电路板），所述的内存芯片放置于所述的凹槽中时刚好电性接入所述的电路板。之后芯片载台126插入测试板124的测试接口，控制板111发出测试信号后，动作机构13会响应压紧动作，把放置于芯片载台126凹槽内的内存芯片压紧，具体如图3所示。
47.本实施例中，所述的动作机构13包还包含第二支架131、电磁阀133与调压阀134，而气缸132、电磁阀133与调压阀134依次安装在所述的第二支架131上，第二支架131安装在测试台12的顶端。
48.气缸132、电磁阀133与调压阀134的具体连接方式如下：
49.调压阀134的出气管1342连接电磁阀133的进气管1331，电磁阀133的出气管连接气缸132的进气管，需要指出的是，如图4所示，电磁阀133有两个规格相同的出气管，分别为出气管1332与出气管1333，而气缸132也有两个规格相同的进气管，分别为进气管1321与进气管1322。电磁阀133的两个出气管分别连接气缸132的两个进气管。
50.具体来说，电磁阀133的出气管1332可以连接气缸132的进气管1321或进气管1322，同样的，电磁阀133的出气管1333也可以连接气缸132的进气管1321或进气管1322，但是如果出气管1332连接了进气管1321，出气管1333就只能连接进气管1322。
51.本实施例中，气缸132的两个进气管分别设置在气缸132的上部与底部（如图4所示），上部进气管1322负责动作机构13对芯片载台126的压紧动作，下部进气管1321负责释放动作机构13对芯片载台126的压紧动作。
52.本实施例中，气缸132的伸缩杆135的终端设置有压板136，当所述的气缸132工作时，所述的压板136压紧所述的芯片载台126。
53.具体来说，气缸132的进气管1322用于驱动伸缩杆135伸长，从而实现压板136压紧芯片载台126；而进气管1322用于驱动伸缩杆135缩回，从而实现压板136的上升，并解除对芯片载台126的压紧动作。
54.需要说明的是，动作机构13靠气缸132来驱动工作，电磁阀133起一个开启与关闭动作机构13的作用，调压阀134起到调节气压的作用，而整个动作机构13不直接产生气压，需要外部提供气压输入，比如外部的空气压缩机给动作机构13提供气压，外部的空气压缩机连接调压阀134的进气口1343。
55.本实施例在更优的技术方案中，所述的电磁阀133通过继电器连接控制板111，继电器设置在测试机座11内。继电器分为两路，一路控制气缸的进气管1322工作，另一路控制气缸的进气管1321工作。
56.所述的调压阀134还包含显示气压的显示部1341与可调节气压的调节部1344（如图4所示），测试活动中调压阀134可以根据实际需要对气压进行调节。
57.本实施例中，如图2所示，半自动化芯片测试机台1还包含电源接口112，所述的电源接口112优选地设置在测试机座11的侧面侧边上，还可以设置在半自动化芯片测试机台1
的其它位置，比如设置在测试机座11的正面侧边上、测试机座11的上表面边沿处、测试台12的其他位置等，所述的电源接口112电性连接测试机座11里面的电源模块，所述的电源模块为整个半自动化芯片测试机台1供电。
58.如图2与图4所示，所述的半自动化芯片测试机台1还包含操作控件。
59.本技术方案中的操作控件包含电源开关按键113、测试开始按键114、紧急停止按键115与上升按键116中的一种或多种，而在本实施例中，半自动化芯片测试机台1具备的操作控件有电源开关按键113、测试开始按键114、紧急停止按键115与上升按键116。
60.具体来说：
61.电源开关按键113设置在测试机座11的侧面，电性连接所述的电源模块，用于控制所述的半自动化芯片测试机台电源的开与关；
62.测试开始按键114设置在测试机座11的上表面边沿处，除此之外还可以设置在测试台12的底板上。测试开始按键114与控制板111电性连接，用于开启测试。需要指出的是，测试开始按键114电性连接控制板111，当测试开始按键114被按下时，控制板111控制继电器闭合，电磁阀133通电，控制气缸的进气管1322工作，动作机构13启动压紧工作。同时控制板111对测试板发出测试指令，待动作机构13压紧芯片载台126后开始测试（动作机构13从开始动作到压紧芯片载台126的时间很短，相对于一个测试周期来说可以忽略不计）。
63.紧急停止按键115设置在测试机座11的上表面边沿处，除此之外还可以设置在测试台12的底板上。紧急停止按键115与所述的电源模块电性连接，用于紧急情况下终止测试。当遇见紧急情况时，按下紧急停止按键115，半自动化芯片测试机台1整供电会被切断，从而实现紧急情况下终止测试活动的目的。
64.上升按键115设置在所述的测试机座11的上表面边沿处，除此之外还可以设置在测试台12的底板上，与所述的控制板111电性连接，用于控制所述的气缸132提起所述的压板136。按下上升按键115，控制板111控制继电器闭合，电磁阀133通电，控制气缸的进气管1321工作，动作机构13启动释放压紧工作，从而实现气缸132提起压板136的动作。
65.本实施例中，半自动化芯片测试机台1还可以包含显示模块137，或者显示模块137与声音提示模块129。
66.显示模块137设置在所述的第二支架131的一端，电性连接控制板111用于显示内存芯片的测试结果，在本实施例中显示模块137优选为数模显示管，也可以为液晶屏等现有技术中常用的显示设备。
67.声音提示模块129设置在测试台12的底板121上，电性连接控制板111，用于测试结束时进行声音提示，在本实施例中，声音提示模块129首选为蜂鸣器，也可以为扬声器等现有技术中常用的发声设备。
68.本实施例的工作过程：
69.半自动化芯片测试机台1先插上电源并打开电源开关按键113，测试人员把内存芯片（内存颗粒）正确的放置于芯片载台126上的凹槽中，之后按下测试开始按键114，启动动作机构13压紧放置于芯片载台126凹槽中的内存芯片（内存颗粒），测试板124对内存芯片（内存颗粒）开始测试，测试完成后，测试板124把测试结果传输给控制板111，控制板111控制声音提示模块129声音提示测试动作完成，控制板111控制显示模块137显示测试板124输出的测试结果。如果遇到紧急情况，按下紧急停止按键115，半自动化芯片测试机台1的电源
被切断，停止整个测试工作。
70.显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。