一种模组烧录治具的制作方法

文档序号:29515529发布日期:2022-04-06 21:03阅读:103来源:国知局
一种模组烧录治具的制作方法

1.本技术涉及模组烧录设备技术领域,更具体地说,尤其涉及一种模组烧录治具。


背景技术:

2.在模组芯片的测试中,一般都需要对印刷电路板进行烧录。在现有pcb板的测试生产线上,随着贴片机的普及,模组烧录一般是利用贴片机的探针吸取pcb板放置于烧录治具的烧录座上,由贴片机的探针进行机械按压进行模组芯片的烧录工作。
3.目前,现有烧录治具的烧录座的模组放置凹槽一般都与pcb板的形状规格大小相同,便于放置pcb板后能够限制板的移动。但是此种结构设置不利于贴片机探针取放所述pcb板,一旦位置发生细微偏差,模组芯片便不能连接烧录座,从而中止烧录工作;并且也不方便对其进行人工取放维修,甚至会直接折断所述pcb板,造成经济损失。
4.因此,如何提供一种模组烧录治具,其能够对模具进行烧录作业,便于模具的安放以及提取,减少模组测试过程中的经济损失,提高模组烧录效率,已经成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。


技术实现要素:

5.为解决上述技术问题,本技术提供一种模组烧录治具,其能够对模具进行烧录作业,便于模具的安放以及提取,减少模组测试过程中的经济损失,提高模组烧录效率。
6.本技术提供的技术方案如下:
7.本技术提供一种模组烧录治具,其特征在于,包括:测试底板,所述测试底板上写有用于给模组测试的代码程序;设于所述测试底板上的烧录底座;设于所述烧录底座上的模组放置凹槽,所述模组放置凹槽设于所述烧录底座中心,用以安放测试模组;设于所述模组放置凹槽底面上的探针孔组;所述探针孔组设有测试探针,所述测试探针用以连接所述测试模组以及所述测试底板;设于所述模组放置凹槽侧壁以及四角的第一凹槽,所述第一凹槽用以人工顺利提取测试模块;以及设于所述模组放置凹槽四周侧壁上的倾斜光滑面结构;所述倾斜光滑面结构用以将测试模组顺利放置于所述模组放置凹槽中。
8.进一步地,在本实用新型的一种优选方式中,所述模组烧录治具包括:设于所述烧录底座边缘处的第二凹槽;设于所述第二凹槽内的光学计量装置;以及设于所述烧录底座上表面,用以连通所述第一凹槽以及第二凹槽的第三凹槽;所述第三凹槽用以将光学计量装置发出的光线通入模组放置凹槽中。
9.进一步地,在本实用新型的一种优选方式中,所述光学计量装置包括:光学信号发射装置,所述光学信号发射装置用以向所述模组放置凹槽中发射测量光线;用以接收所述测量光线的光学信号接收装置;所述光学信号发射装置以及所述光学信号接收装置两两相对设置于所述第二凹槽中。
10.进一步地,在本实用新型的一种优选方式中,所述光学信号发射装置包括:第一装置主体;设置于所述第一装置主体上的光线信号发射灯;与所述第一装置主体连接的供电
线组;所述光学信号接收装置包括:第二装置主体;设置于所述第二装置主体上的光线信号接收器;与所述第二装置主体连接的传输线组。
11.进一步地,在本实用新型的一种优选方式中,所述光线信号发射灯与所述光线信号接收器两两相对设置。
12.进一步地,在本实用新型的一种优选方式中,所述探针孔组包括4排探针孔;4排所述探针孔两两平行设置于所述模组放置凹槽底部。
13.进一步地,在本实用新型的一种优选方式中,所述模组放置凹槽上表面四角设有螺纹通孔;螺钉贯穿所述螺纹通孔将所述烧录底座与所述测试底板固定连接。
14.进一步地,在本实用新型的一种优选方式中,所述光学计量装置通过螺钉固定设置于所述第二凹槽内。
15.进一步地,在本实用新型的一种优选方式中,所述第一凹槽具体为开口凹槽,其开口侧与所述模组放置凹槽连通;所述开口凹槽的设置数量为8个,均匀布置在所述模组放置凹槽的侧壁上。
16.本实用新型提供的一种模组烧录治具,与现有技术相比,包括:测试底板,所述测试底板上写有用于给模组测试的代码程序;设于所述测试底板上的烧录底座;设于所述烧录底座上的模组放置凹槽,所述模组放置凹槽设于所述烧录底座中心,用以安放测试模组;设于所述模组放置凹槽底面上的探针孔组;所述探针孔组设有测试探针,所述测试探针用以连接所述测试模组以及所述测试底板;设于所述模组放置凹槽侧壁以及四角的第一凹槽,所述第一凹槽用以人工顺利提取测试模块;以及设于所述模组放置凹槽四周侧壁上的倾斜光滑面结构;所述倾斜光滑面结构用以将测试模组顺利放置于所述模组放置凹槽中。在模组烧录过程中,所述烧录底座用以放置测试模组,所述测试底板连接所述烧录底板,为烧录测试提供代码程序;所述测试模组在贴片机的吸取下放在所述模组放置凹槽中,由于所述模组放置凹槽周围侧壁上设置成所述倾斜光滑面结构,即使在放置过程中出现细微位置偏差,测试模组也会在贴片机作用下顺利落入所述模组放置凹槽中,规避测试模组无法正常安放的问题;并且,在完成烧录测试后,接下来一般都需要用贴片机将所述测试模组吸取起来,当出现无法吸取的状况时需要人工进行提取,传统的烧录座,凹槽小且形状方正人工提取困难,在本技术中利用设于所述模组放置凹槽侧壁上的第一凹槽,便于人工伸入所述模组放置凹槽内进行模组的提取,提高作业效率。本实用新型涉及的技术方案,相较于现有技术而言,其能够对模具进行烧录作业,便于模具的安放以及提取,减少模组测试过程中的经济损失,提高模组烧录效率。
附图说明
17.为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
18.图1为本实用新型实施例提供的模组烧录治具的平面结构示意图;
19.图2为本实用新型实施例提供的烧录底座的平面结构示意图;
20.图3为本实用新型实施例提供的光学信号发送装置的三视图;
21.图4为本实用新型实施例提供的烧录底座的截面图。
22.附图标记说明:
23.测试底板1;烧录底座2;模组放置凹槽3;探针孔组4;测试探针5;第一凹槽6;倾斜光滑面结构7;第三凹槽8;第二凹槽9;光学计量装置10;光学信号发射装置11;第一装置主体12;光线信号发射灯13;供电线组14;螺纹通孔15;光学信号接收装置16。
具体实施方式
24.为了使本领域的技术人员更好地理解本技术中的技术方案,下面将结合本技术实施例中的附图对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
25.需要说明的是,当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件上,它可以直接在另一个元件上或-者间接设置在另一个元件上;当一个元件被称为是“连接于”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至另一个元件上。
26.需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“第一”、“第二”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
27.此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中,“多个”、“若干个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
28.须知,本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本技术可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本技术所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本技术所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。
29.请如图1至图4所示,本技术实施例提供的模组烧录治具,包括:测试底板1,所述测试底板1上写有用于给模组测试的代码程序;设于所述测试底板1上的烧录底座2;设于所述烧录底座2上的模组放置凹槽3,所述模组放置凹槽3设于所述烧录底座2中心,用以安放测试模组;设于所述模组放置凹槽3底面上的探针孔组4;所述探针孔组4设有测试探针5,所述测试探针5用以连接所述测试模组以及所述测试底板1;设于所述模组放置凹槽3侧壁以及四角的第一凹槽6,所述第一凹槽6用以人工顺利提取测试模块;以及设于所述模组放置凹槽3四周侧壁上的倾斜光滑面结构7;所述倾斜光滑面结构7用以将测试模组顺利放置于所述模组放置凹槽3中。
30.本实用新型实施例提供一种模组烧录治具,具体包括:测试底板1,所述测试底板1上写有用于给模组测试的代码程序;设于所述测试底板1上的烧录底座2;设于所述烧录底座2上的模组放置凹槽3,所述模组放置凹槽3设于所述烧录底座2中心,用以安放测试模组;
设于所述模组放置凹槽3底面上的探针孔组4;所述探针孔组4设有测试探针5,所述测试探针5用以连接所述测试模组以及所述测试底板1;设于所述模组放置凹槽3侧壁以及四角的第一凹槽6,所述第一凹槽6用以人工顺利提取测试模块;以及设于所述模组放置凹槽3四周侧壁上的倾斜光滑面结构7;所述倾斜光滑面结构7用以将测试模组顺利放置于所述模组放置凹槽3中。在模组烧录过程中,所述烧录底座2用以放置测试模组,所述测试底板1连接所述烧录底板,为烧录测试提供代码程序;所述测试模组在贴片机的吸取下放在所述模组放置凹槽3中,由于所述模组放置凹槽3周围侧壁上设置成所述倾斜光滑面结构7,即使在放置过程中出现细微位置偏差,测试模组也会在贴片机作用下顺利落入所述模组放置凹槽3中,规避测试模组无法正常安放的问题;并且,在完成烧录测试后,接下来一般都需要用贴片机将所述测试模组吸取起来,当出现无法吸取的状况时需要人工进行提取,传统的烧录座,凹槽小且形状方正人工提取困难,在本技术中利用设于所述模组放置凹槽3侧壁上的第一凹槽6,便于人工伸入所述模组放置凹槽3内进行模组的提取,提高作业效率。本实用新型涉及的技术方案,相较于现有技术而言,其能够对模具进行烧录作业,便于模具的安放以及提取,减少模组测试过程中的经济损失,提高模组烧录效率。
31.具体地,在本实用新型的实施例中,所述模组烧录治具包括:设于所述烧录底座2边缘处的第二凹槽9;设于所述第二凹槽9内的光学计量装置10;以及设于所述烧录底座2上表面,用以连通所述第一凹槽6以及第二凹槽9的第三凹槽8;所述第三凹槽8用以将光学计量装置10发出的光线通入模组放置凹槽3中。
32.具体地,在本实用新型的实施例中,所述光学计量装置10包括:光学信号发射装置11,所述光学信号发射装置11用以向所述模组放置凹槽3中发射测量光线;用以接收所述测量光线的光学信号接收装置16;所述光学信号发射装置11以及所述光学信号接收装置16两两相对设置于所述第二凹槽9中。
33.其中,在本实用新型的实施例中,所述光学信号发射装置11以及所述光学信号接收装置16各自设有两个,两两相互配合分别布置在所述烧录底座2四侧;所述光学信号发射装置11发射测量光线,测量光线穿过所述第二凹槽9、所述第一凹槽6,然后由所述光学信号接收装置16接收;在实际计量过程中,贴片机进行安放以及提取测试模组过程都会隔断测量光线的传输,所以两次光线隔断便意味着一个测试模组完成烧录作业,以此类推完成模组烧录的计量作业。
34.具体地,在本实用新型的实施例中,所述光学信号发射装置11包括:第一装置主体12;设于所述第一装置主体12上的光线信号发射灯13;与所述第一装置主体12连接的供电线组14;所述光学信号接收装置16包括:第二装置主体;设置于所述第二装置主体上的光线信号接收器;与所述第二装置主体连接的传输线组。
35.具体地,在本实用新型的实施例中,所述光线信号发射灯13包括红外线发射灯或者激光发射灯。
36.其中,所述光学信号发射装置11以及所述光学信号接收装置16在结构组成上基本相同;唯一不同是:前者包括所述光线信号发射灯13,所述光线信号发射灯13用以向所述光学信号接收装置16发射所述测量光线;后者包括所述光线信号接收器,用以接收所述测量光线。
37.具体地,在本实用新型的实施例中,所述光线信号发射灯13与所述光线信号接收
器两两相对设置。
38.具体地,在本实用新型的实施例中,所述探针孔组4包括4排探针孔;4排所述探针孔两两平行设置于所述模组放置凹槽3底部。
39.其中,所述探针孔的布置依据模组的不同,布置位置以及形状存在差异;根据本司主营的wifi模组,需要布置4排所述探针孔,且两两平行设置围成矩形进行模组烧录。
40.具体地,在本实用新型的实施例中,所述模组放置凹槽3上表面四角设有螺纹通孔15;螺钉贯穿所述螺纹通孔15将所述烧录底座2与所述测试底板1固定连接。
41.具体地,在本实用新型的实施例中,所述光学计量装置10通过螺钉固定设置于所述第二凹槽9内。
42.具体地,在本实用新型的实施例中,所述第一凹槽6具体为开口凹槽,其开口侧与所述模组放置凹槽3连通;所述开口凹槽的设置数量为8个,均匀布置在所述模组放置凹槽3的侧壁上。
43.更为具体地阐述,目前,现有烧录治具的烧录座的模组放置凹槽3一般都与pcb板的形状规格大小相同,便于放置pcb板后能够限制板的移动。但是此种结构设置不利于贴片机探针取放所述pcb板,一旦位置发生细微偏差,模组芯片便不能连接烧录座,从而中止烧录工作;并且也不方便对其进行人工取放维修,甚至会直接折断所述pcb板,造成经济损失。
44.因此,本实用新型实施例公开一种模组烧录治具,在模组烧录过程中,利用所述烧录底座2用以放置测试模组,通过所述测试探针5将所述测试底板1连接所述烧录底板,为烧录测试提供代码程序;所述测试模组在贴片机的吸取下放在所述模组放置凹槽3中,由于所述模组放置凹槽3周围侧壁上设置成所述倾斜光滑面结构7,即使在放置过程中出现细微位置偏差,测试模组也会在贴片机作用下顺利落入所述模组放置凹槽3中,规避测试模组无法正常安放的问题;并且,在烧录中还能够利用所述光学计量装置10进行烧录数量技术;其次,在完成烧录测试后,接下来一般都需要用贴片机将所述测试模组吸取起来,当出现无法吸取的状况时需要人工进行提取,传统的烧录座,凹槽小且形状方正人工提取困难,在本技术中利用设于所述模组放置凹槽3侧壁上的第一凹槽6,便于人工伸入所述模组放置凹槽3内进行模组的提取,提高作业效率。本实用新型涉及的技术方案,相较于现有技术而言,其能够对模具进行烧录作业,便于模具的安放以及提取,减少模组测试过程中的经济损失,提高模组烧录效率。
45.对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下,在其他实施例中实现。因此,本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
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