屏幕外观缺陷检测设备及车载屏幕生产线的制作方法

1.本发明涉及屏幕检测装置的技术领域，特别是涉及屏幕外观缺陷检测设备及车载屏幕生产线。


背景技术：

2.随着显示屏幕技术的日益发展和完善，新能源电动汽车企业越来越倾向使用大屏幕。比如各大知名车在最新推出的电动汽车中均使用了中大尺寸的中框液晶屏幕，中控屏幕也都逐渐向更大尺寸的趋势发展，甚至一些汽车公司为了提升驾驶者的视觉体验把中控屏幕设计成3d曲面的显示屏幕。这些设计方向对于现在车载显示屏幕生产企业的产品检测提出了新的要求，对于产品良率的控制要求也越来越高，能够进行检测车载屏幕的自动化检测装置需求也逐渐增多。
3.然而，目前对于车载屏幕的外观缺陷检测通常使用人工检测，而人工检测过程中，检测效率低下，且由于人为主观因素造成合格率不稳定。


技术实现要素：

4.基于此，有必要针对目前车载屏幕的外观缺陷检测中，检测效率低的问题，提供一种屏幕外观缺陷检测设备及车载屏幕生产线。
5.一种屏幕外观缺陷检测设备，包括：
6.机架，具有待料位、检测位与下料位；
7.治具模组，用于承托待测物，所述治具模组用于输送所述待测物以沿所述待料位、所述检测位至所述下料位运动；
8.检测模组，设置于所述机架的所述检测位，所述检测模组用于对所述待测物的光场与暗场检测；
9.第一下料模组，设置于所述机架的所述下料位，所述第一下料模组用于对位于所述下料位的合格的所述待测物下料；
10.第二下料模组，设置于所述机架的所述下料位，所述第二下料模组用于对位于所述下料位的非合格的所述待测物下料。
11.在其中一个实施例中，所述治具模组包括检测治具与驱动件，所述驱动件用于驱动所述检测治具沿所述待料位、所述检测位至所述下料位作往复运动；所述检测治具设置有紧固结构，所述紧固结构用于对待测物紧固。
12.在其中一个实施例中，所述检测模组包括间隔设置的第一检测模组与第二检测模组；
13.所述第一检测模组包括第一光源与第一成像组件，所述第一成像组件位于所述第一光源正上方；所述第一检测模组用于对所述待测物进行暗场检测；
14.所述第二检测模组包括第二光源与第二成像组件，所述第二成像组件活动位于所述第二光源上方；所述第二成像组件与所述第二光源的连线与竖直方向所成的夹角的度数
大于0
°
小于等于45
°
，所述第二检测模组用于对所述待测物进行光场检测。
15.在其中一个实施例中，所述第一成像组件包括第一相机与第一镜头；
16.和/或，所述第二成像组件包括第二相机与第二镜头，所述第二相机与所述第二镜头连接，所述第二相机与所述第二镜头均可相对于所述第二光源运动。
17.在其中一个实施例中，所述第一光源包括第一光源架体与第一发光件，所述第一发光件设置于所述第一光源架体，所述第一光源架体活动设置于所述机架；
18.和/或，所述第二光源包括第二光源架体与第二发光件，所述第二发光件设置于所述第二光源架体，所述第二光源架体活动设置于所述机架。
19.在其中一个实施例中，所述第一下料模组包括第一驱动模组与第一抓取件，所述第一驱动模组用于驱动所述第一抓取件靠近或远离所述下料位，所述第一抓取件用于抓取所述待测物；
20.和/或，所述第二下料模组包括第二驱动模组与第二抓取件，所述第二驱动模组用于驱动所述第二抓取件靠近或远离所述下料位，所述第二抓取件用于抓取所述待测物。
21.在其中一个实施例中，所述机架设置有第一静电去除件，所述第一静电去除件位于所述机架的所述待料位远离所述检测位的一侧；
22.和/或，所述机架设置有第二静电去除件，所述第二静电去除件位于所述机架的所述检测位与所述下料位之间。
23.在其中一个实施例中，还包括信息录取组件，所述信息录取组件可相对于所述机架运动，所述信息录取组件用于对所述待测物进行信息录取。
24.在其中一个实施例中，所述信息录取组件包括信息录入件与驱动器，所述驱动器用于驱动所述信息录入件相对于所述机架运动，所述信息录入件用于获取所述待测物的信息。
25.一种车载屏幕生产线，包括上述的屏幕外观缺陷检测设备。
26.上述屏幕外观缺陷检测设备，通过治具模组承载待测物由待料位移动至检测位，通过检测位所设置的检测模组对其进行光场与暗场的检测，即使得待测物在光场环境中与暗场环境中检测其表面是否存在缺陷。若检测后为合格，则可以通过第一下料模组进行下料，以便于后续操作。若检测后为不合格，即屏幕具有外观缺陷，则可以通过第二下料模组进行下料，将不合格品与合格品分离。
附图说明
27.图1为本技术的一实施例提供的一种屏幕外观缺陷检测设备的结构示意图。
28.图2为图1中省去壳体的结构示意图。
29.图3为图2的俯视图。
30.图4为本技术的一实施例提供的一种屏幕外观缺陷检测设备的治具模组的结构示意图。
31.图5为本技术的一实施例提供的一种屏幕外观缺陷检测设备的检测模组的结构示意图。
32.图6为图5中a处的局部放大示意图。
33.图7为图5中b处的局部放大示意图。
34.图8为本技术的一实施例提供的一种屏幕外观缺陷检测设备的第一下料模组的结构示意图。
35.图9为本技术的一实施例提供的一种屏幕外观缺陷检测设备的第二下料模组的结构示意图。
36.附图说明：
37.100、机架；101、待料位；102、检测位；102a、第一检测位；102b、第二检测位；103、下料位；110、壳体；111、进料口；120、治具架体；130、检测架；131、过料通道；132、插接凸起；133、安装板；134、第二安装孔；200、治具模组；210、检测治具；220、驱动件；230、紧固结构；231、紧固件；232、条形安装槽；300、检测模组；310、第一检测模组；311、第一光源；312、第一光源架体；313、第一发光件；314、第一滑移槽；315、第一成像组件；316、第一相机；317、第一镜头；318、固定板；320、第二检测模组；321、第二光源；322、第二光源架体；323、第二发光件；324、第二滑移槽；325、第二成像组件；326、第二相机；327、第二镜头；328、移动板；329、第一安装孔； 330、挡光件；331、驱动器件；340、光源控制器；350、第二静电去除件；400、第一下料模组；410、第一驱动模组；411、第一龙门架；412、第一驱动组件； 413、第一滑块；414、第一驱动件；415、第二驱动组件；416、第二滑块；417、第二驱动件；420、第一抓取件；421、第一真空吸附盘；500、第二下料模组； 510、第二驱动模组；511、第二龙门架；512、第三驱动组件；513、第三滑块； 514、第三驱动件；515、第四驱动组件；516、第四滑块；517、第四驱动件； 520、第二抓取件；521、第二真空吸附盘；600、第一静电去除件；700、信息录取组件；710、信息录入件；720、驱动器；800、待测物。
具体实施方式
38.为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。
39.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
40.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
41.在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
42.在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
43.需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
44.参阅图1-图3，本发明一实施例所提供的屏幕外观缺陷检测设备包括机架 100、治具模组200、检测模组300、第一下料模组400与第二下料模组500。
45.其中，治具模组200、检测模组300、第一下料模组400与第二下料模组500 均设置在机架100上。机架100具有待料位101、检测位102与下料位103。治具模组200可以承托待测物800，并可以输送待测物800沿待料位101、检测位 102至下料位103的方向运动，然后回到待料位101承载新的待测物800，以便于后续待测物800的检测。检测模组300位于机架100的检测位102处，检测模组300可以对待测物800的光场与暗场检测，以实现在光场情况与暗场情况下，待测物800的外观缺陷检测。可以在不同光照情况下进行检测，使得检测的结果更加的准确。检测后的产品通过治具模组200移动至下料位103置，并在下料位103置进行下料。若检测结果为合格，则通过第一下料模组400进行下料，以便于后续操作。若检测结果为不合格，则可以通过第二下料模组500 进行下料，以将不合格产品回收，便于后续处理。
46.通过上述屏幕外观缺陷检测设备可以使得在对待测物800进行检测时，在光场与暗场的情况下，进行屏幕外观检测，使得检测结果更加准确。此外，可以通过治具模组200实现待测物800的移动，使得待测物800无需人工移动，提高效率。而第一下料模组400与第二下料模组500可以实现合格的待测物800 与不合格的待测物800的分离与下料，有效提高效率。
47.在一些实施中，如图1所示，机架100可以设置有壳体110，壳体110具有进料口111、第一出料口(图中未示出)与第二出料口(图中未示出)。其中，进料口111用于放入未检测的产品，第一出料口可以输出合格的待测物800，第二出料口可以输出不合格的待测物800。通过不同出料口可以将合格的待测物 800与不合格的待测物800分离，提高检测后的分离效率。
48.在一些实施例中，如图1所示，壳体110的进料口111处可以设置有第一静电去除件600。第一静电去除件600位于机架100的待料位101远离检测位 102的一侧。在图示实施例中，第一静电去除件600设置于壳体110的进料口 111处。这样的设置可以使得待测物800在进入壳体110进行检测前去除静电，减少静电对待测物800的影响。其中，第一静电去除件600可以选用离子风棒，也可以选择其他的可去除静电的装置，可以根据实际情况进行选取。在图示实施例中，离子风棒与壳体110表面通过螺丝固定连接，此外，在其他实施例中，也可以选用其他的连接方式。
49.如图1-图3所示，在一些实施例中，屏幕外观缺陷检测设备还可以包括信息录取组
件700。其中，信息录取组件700可以对每一个待测物800进行信息的录入。通过对待测物800进行信息录入，可以将合格的待测物800与不合格的待测物800进行信息汇总，便于后续寻找不合格的待测物800的来源，便于寻找不合格产线所出现的问题。在一些实施例中，信息录取组件700可以设置在机架100的待测位处，以便于收集待测物800的信息。
50.具体的，信息录取组件700包括信息录入件710与驱动器720。其中。信息录入件710可以为扫码枪，其中可以选择二维码扫码枪，也可以选择条形码扫码枪，也可以根据实际情况选择其他类型的扫码枪。驱动器720可以驱动信息录入件710相对于机架100移动，以使得信息录入件710可以位于待测物800 不同位置的信息码均可以获得。在一些实施例中，驱动器720可以选用电缸。在一些其他的实施例中，驱动器720也可以选择其他的可驱动扫码枪移动的设备。
51.如图1所示，在图示实施例中，信息录取组件700设置于治具架体120伸出进料口111的端面。在安装时，可以选用螺丝等连接件与驱动器720连接。信息录入件710移动时，可相对于待测物800的宽度方向运动，也就是垂直于治具架体120的延伸方向。
52.在一些实施例中，如图2与图3所示，机架100包括治具架体120。治具架体120的一端由进料口111伸出。治具架体120伸出进料口111处形成前述待料位101。治具架体120沿机架100的长度方向延伸。治具架体120沿其延伸方向依次设置有待料位101、检测位102于下料位103。待测物800可以沿治具架体120的延伸方向运动，无需更换承接器件，减少转运次数，从而提高效率。
53.在一些实施例中，如图4所示，治具模组200包括检测治具210与驱动件 220。其中，驱动件220设置于治具架体120上。驱动件220驱动检测治具210 相对机架100移动。检测治具210可以沿治具架体120的延伸方向运动。通过驱动件220带动检测治具210移动，有效提高待测物800在移动过程中的移动效率，解放人力。
54.具体的，如图1-图4所示，在一些实施例中，驱动件220可以选用直线运动模组，直线运动模组的长度方向与机架100的长度方向一致。在一些其他的实施例中，驱动件220可以选用气缸、电缸、液压缸、电机与丝杆的组合等其他驱动件220，可以根据实际情况进行选取。
55.在一些实施例中，检测治具210的底面与驱动件220连接，以使得驱动件 220带动检测治具210移动。在其中一些实施例中，检测治具210设置有紧固结构230，紧固结构230可以对待测物800实现紧固，有效防止待测物800在移动过程中发生掉落的情况。
56.在一些实施例中，如图4所示，紧固结构230为紧固件231。紧固件231设置在检测治具210的表面。紧固件231的数量可以为至少两个。紧固件231可以抵触待测物800的侧壁。在其中一些实施例中，紧固件231可以分为两组，两组紧固件231分别抵接在待测物800的相对的两侧。上述设置可以对待测物 800进行较好的紧固，减少由于待测物800一端受力过大导致偏移至另一端。
57.在其中一些实施例中，紧固件231相对检测治具210可活动连接。比如，在图示实施例中，检测治具210设置有条形安装槽232，紧固件231可沿条形安装槽232的长度方向移动。而条形安装槽232的长度方向与检测治具210边缘至中心的方向一致，即紧固件231可调整其相对于条形安装槽232的位置，以靠近或远离待测物800的中心，以实现对于不同尺寸的待测物800均可以进行固定的作用。
58.在图示实施例中，紧固件231的数量为四个，两个紧固件231作为一组，两组紧固件231分别设置在检测治具210的两侧，以与待测物800的相对的两侧抵接。
59.在另一些实施例中，紧固结构230可以为紧固槽(图中未示出)。检测治具210开设有紧固槽。紧固槽用于容纳待检测装置，待测物800的侧壁与紧固槽的内壁抵接。紧固槽可以具有至少两个相对的侧壁，也可以具有环形侧壁，以抵触待测物800的所有侧壁。
60.如图2与图3所示，在一些实施例中，检测模组300包括间隔设置的第一检测模组310与第二检测模组320。第一检测模组310与第二检测模组320可以沿检测位102至下料位103的方向间隔设置。第一检测模组310可以对产品进行暗场检测。第二检测模组320可以对产品进行光场检测。
61.对应的，如图3所示，检测位102包括第一检测位102a与第二检测位102b。其中，位于第一检测位102a的待测物800可以进行暗场检测。位于第二检测位 102b的待测物800可以进行光场检测。
62.这里需要说明的是，待测物800可以先进行暗场检测，后进行光场检测，也就是说，沿待料位101至下料位103的方向，依次设置有前述第一检测模组 310与第二检测模组320。待测物800也可以先进行光场检测，后进行暗场检测，也就是说，沿待料位101至下料位103的方向，依次设置有前述第二检测模组 320与第一检测模组310。
63.在一些实施例中，如图2、图3与图5所示，机架100包括检测架130。检测架130中部形成过料通道131，治具架体120位于过料通道131内，治具架体 120贯穿检测架130。检测架130的设置可以便于安装第一检测模组310与第二检测模组320。
64.如图2与图5所示，检测架130的端部设置有挡光件330。挡光件330设置于检测架130靠近待料位101的一侧。挡光件330可以通过电缸或气缸等驱动器件331，以带动挡光件330遮蔽检测架130的端部，以减少检测架130外部的光线对检测架130内部的检测模组300在检测时产生影响。
65.在图示实施例中，挡光件330可以通过驱动器件331沿竖直方向相对靠近或远离治具架体120，以实现外部光线的遮挡。
66.在一些实施例中，如图2、图3与图5所示，第一检测模组310包括第一光源311与第一成像组件315。第一成像组件315位于第一光源311的正上方。第一成像组件315位于过料通道131的上方。第一光源311位于过料通道131的下方。第一光源311与第一成像组件315之间的过料通道131处即为前述第一检测位102a。第一光源311可以发出光线，使得光线照亮待测品，而第一成像组件315可以对待测物800进行成像，以便于获取其表面是否有外观缺陷的信息。第一成像组件315所获得的图像可以如图2中光柱g1所示。
67.其中，第一成像组件315包括第一相机316与第一镜头317。第一相机316 与第一镜头317连接，以便于对其下方的待测物800进行拍照。在一些实施例中，第一成像组件315还包括固定板318，固定板318设置有前述第一相机316 与第一镜头317。固定板318与检测架130相对固定连接，比如可以选用螺丝连接或螺栓连接的方式等。固定板318的设置可以便于安装第一相机316与第一镜头317，同时也可以便于二者的位置调整。
68.在一些实施例中，第一光源311可相对于机架100移动，以便于调整第一光源311的位置，以便于对产品进行光学检测。在一些实施例中，第一光源311 包括第一光源架体312与第一发光件313，第一发光件313的数量为至少一个，且安装于第一光源架体312。第一光
源架体312与检测架130可滑移连接。
69.比如，如图6所示，在图示实施例中，检测架130设置有插接凸起132，第一光源架体312的端部具有第一滑移槽314。插接凸起132插入第一滑移槽314 且可以沿第一滑移槽314运动，以调节第一光源架体312相对于检测架130的位置。其中，插接凸起132可以通过设置在一个安装板133上，安装板133与检测架130固定连接以形成。在图示实施例中，第一光源架体312的数量为两个，二者间隔设置。第一滑移槽314为弧形滑移槽。第一滑移槽314的数量与第一光源架体312的数量相同，且一一对应。这样的设置可以便于对不同尺寸的屏幕进行照亮，以便于第一相机316与第一镜头317所组成的第一成像组件 315对待测物800进行拍照。
70.在一些实施例中，如图2、图3、图5与图7所示，第二检测模组320包括第二光源321与第二成像组件325。第二成像组件325位于第二光源321的上方，这里需要说明的是，非正上方。也就是说，第二成像组件325与第二光源321 的连线与竖直方向具有夹角。在一些优选实施例中，前述夹角的范围为大于0
°
小于等于45
°
。这样的设置可以使得更多的光线照射或反射至待测物800的表面，以便于第二成像组件325进行成像。另外，第二成像组件325位于过料通道131的上方。第二光源321位于过料通道131的下方。第二光源321与第二成像组件325之间的过料通道131处即为前述第二检测位102b。
71.如图5与图7所示，第二成像组件325包括第二相机326与第二镜头327，第二相机326与第二镜头327连接，第二相机326与第二镜头327均可相对于第二光源321运动，从而调节第二成像组件325与第二光源321的连线与竖直方向之间的夹角，使得待测物800可以在较为适宜的光线下进行检测。第二成像组件325所获得的图像可以如图2中光柱g2所示。
72.在一些实施例中，如图7所示，第二成像组件325还包括移动板328，移动板328设置有前述第二相机326与第二镜头327。移动板328与检测架130可活动连接。在图示实施例中，移动板328设置有第一安装孔329，检测架130设置有第二安装孔134，其中第二安装孔134可以为条形安装孔。第二安装孔134的长度较第一安装孔329大。在图示实施例中，第二安装孔134可以为圆弧状的条形安装孔。在安装移动板328时，可以将第一安装孔329与第二安装孔134 的相应部分对齐，后通过螺丝或螺栓等紧固件231，穿过第二安装孔134并与第一安装孔329螺纹连接，以实现移动板328的安装。在移动第二成像组件325 时，改变第一安装孔329与第二安装孔134对齐的部分即可。
73.在一些实施例中，第一安装孔329、第二安装孔134的数量相同，且均可以为两个及以上，以便于安装移动板328时，移动板328与检测架130安装较为紧固。
74.在一些实施例中，如图5所示，第二光源321可相对于机架100移动，以便于调整第二光源321的位置，以便于对产品进行光学检测。在一些实施例中，第二光源321包括第二光源架体322与第二发光件323，第二发光件323的数量为至少一个，且安装于第二光源架体322。第二光源架体322与检测架130可滑移连接。二者的连接方式可以与第一光源架体312与检测架130的连接方式相同。比如在图示实施例中，检测架130设置有插接凸起132，第二光源架体322 设置有第二滑移槽324。插接凸起132插入第二滑移槽324且可以沿第二滑移槽 324运动，以调节第二光源架体322相对于检测架130的位置。这样的设置可以便于对不同尺寸的屏幕进行照亮，以便于第二相机326与第二镜头327所组成的第二成像组件325对待测物800进行拍照。
75.此外，如图2与图3所示，检测模组300还包括光源控制器340，光源控制器340可以分别控制第一光源311的光源强度与第二光源321的光源强度。光源控制器340可以与第一光源311、第二光源321电连接。
76.在一些实施例中，如图5所示，检测架130的远离挡光件330的一侧还可以设置有第二静电去除件350。第二静电去除件350可以对检测后的产品进行静电去除，从而防止静电对待测物800的后续工艺的影响。其中，第二静电去除件350可以如第一静电去除件600选用离子风棒，也可以选择其他的静电去除设备。安装方式可以选取螺丝连接的方式，也可以选择其他的安装方式。
77.在一些实施例中，如图2与图3所示，机架100的下料位103设置有第一下料模组400与第二下料模组500。其中，当待测物800在检测位102的检测结果为合格，则通过第一下料模组400进行下料，以便于后续操作。当待测物800 在检测位102的检测结果为不合格，则可以通过第二下料模组500进行下料，以将不合格的待测物800回收，便于后续处理。通过第一下料模组400与第二下料模组500的分别设置，可以使得合格的待测物800与不合格的待测物800 可以在不同的通道下料，较为便利。
78.在一些实施例中，如图8所示，第一下料模组400包括第一驱动模组410 与第一抓取件420，第一驱动模组410用于驱动第一抓取件420靠近或远离下料位103，第一抓取件420用于抓取检测后的待测物800。通过第一驱动模组410 带动第一抓取件420靠近下料位103，使得第一抓取件420将位于下料位103的待测物800抓取，然后第一驱动模组410带动第一抓取件420远离下料位103，使得待测物800远离下料位103，完成下料。
79.在其中一些实施例中，第一驱动模组410包括第一龙门架411、第一驱动组件412与第二驱动组件415。第一龙门架411的长度方向与第一驱动组件412 的驱动方向一致。第一驱动组件412包括第一滑块413与第一驱动件414。第一龙门架411沿其长度方向设置有导向轨，第一滑块413与导向轨配合，第一驱动件414用于带动第一滑块413滑动。其中，第一驱动件414可以选用直线驱动模组、电缸、气缸或电机与丝杆的组合等。当第一滑块413位于抓取位置时，第一滑块413位于下料位103的正上方。当第一滑块413位于下料位103置时，第一滑块413远离下料位103，以便于将合格的待测物800下料。
80.在一些实施例中，第二驱动组件415包括第二滑块416与第二驱动件417。第二驱动件417固定设置于第一滑块413。第二驱动件417可以带动第二滑块 416沿竖直方向运动，以靠近或远离下料位103。第二驱动件417可以选用电缸、气缸或电机与丝杆的组合等。第二滑块416远离第二驱动件417的一侧设置有前述第一抓取件420。第一抓取件420可以具有第一真空吸附盘421，第一真空吸附盘421可以将位于下料位103的待测物800进行真空吸取。在另一些实施例中，第一抓取件420也可以选择机械手，以便于抓取待测物800。
81.在一些实施例中，如图9所示，第二下料模组500包括第二驱动模组510 与第二抓取件520，第二驱动模组510用于驱动第二抓取件520靠近或远离下料位103，第二抓取件520用于抓取检测后的待测物800。通过第二驱动模组510 带动第二抓取件520靠近下料位103，使得第二抓取件520将位于下料位103的待测物800抓取，然后第二驱动模组510带动第二抓取件520远离下料位103，使得不合格的待测物800远离下料位103，完成下料。
82.在其中一些实施例中，第二驱动模组510包括第二龙门架511、第三驱动组件512与第四驱动组件515。第二龙门架511的长度方向与第三驱动组件512的驱动方向一致。第三驱
动组件512包括第三滑块513与第三驱动件514。第二龙门架511沿其长度方向设置有第二导向轨，第三滑块513与第二导向轨配合，第三驱动件514用于带动第三滑块513滑动。其中，第三驱动件514可以选用电缸、气缸、直线运动模组或电机与丝杆的组合等。当第三滑块513位于抓取位置时，第三滑块513位于下料位103的正上方。当第三滑块513位于下料位 103置时，第一滑块413远离下料位103，以便于将合格的待测物800下料。
83.在一些实施例中，第四驱动组件515包括第四滑块516与第四驱动件517。第四驱动件517固定设置于第三滑块513。第四驱动件517可以带动第四滑块 516沿竖直方向运动，以靠近或远离下料位103。第四驱动件517可以选用电缸、气缸或电机与丝杆的组合等。第四滑块516远离第四驱动件517的一侧设置有前述第二抓取件520。第二抓取件520可以具有第二真空吸附盘521以真空吸附待测物800。在另一些实施例中，第二抓取件520也可以选择机械手，以便于抓取待测物800。
84.在一些实施例中，如图2与图3所示，第一龙门架411与第二龙门架511 的长度方向具有夹角，比如可以为垂直设置。在图示实施例中，第一龙门架411 的长度方向与机架100的待料位101、检测位102至下料位103的方向一致。第二龙门架511的长度方向与第一龙门架411的长度方向垂直。这样的设置可以使得屏幕外观缺陷检测设备的内部结构较为紧凑，减少其占地面积。
85.此外，在一些实施例中，第一龙门架411的高度与第二龙门架511的高度不同。比如，在图示实施例中，第一龙门架411的高度小于第二龙门架511的高度，以便于在第一龙门架411与第二龙门架511的投影在一定程度上有重叠，从而缩短屏幕外观缺陷检测设备的占地面积。
86.另外，在另一些实施例中，第一龙门架411与第二龙门架511可以为同一龙门架。在一实施例中，第一滑块413与第二滑块416可以位于该龙门架的相对的两侧。在另一实施例中，第一滑块413与第二滑块416可以位于该龙门架的同侧，沿龙门架的长度方向，依次设置有前述第一滑块413的下料位103置、第一滑块413的抓取位置、第三滑块513的抓取位置(可以与第一滑块413的抓取位置为同一位置)以及第三滑块513的下料位103置。
87.在一些实施例中，第一滑块413的下料位103置的下方，以及第二滑块416 的下料位103置的下方可以均设置有传输件(图中未示出)。传输件可以将待测物800传输至后一设备中，以便于下料后的待测物800移动至合适位置。在一些实施方式中，传输件可以选用传输皮带、传输链等传输件。
88.这里需要说明的是，在一些实施例中，第一滑块413的下料位103置处设置有前述第一出料口，第三滑块513的下料位103置处设置有前述第二出料口。在另一些实施例中，第一滑块413的下料位103置的下方设置的传输件的远离下料位103置处设置有前述第一出料口，第三滑块513的下料位103置的下方设置的传输件的远离下料位103置处设置有前述第二出料口。可以根据实际情况进行选取。
89.上述屏幕外观缺陷检测设备在对屏幕等待测物800进行外观缺陷检测时，先通过紧固结构230将待测物800固定在检测治具210的表面。驱动器720带动信息录入件710至合适位置，以便于录入待测物800的信息。驱动件220带动检测治具210沿待料位101、检测位102至下料位103的方向运动，以带动待测物800进行外观缺陷检测。
90.当待测物800进入检测架130所在空间后，挡光件330靠近检测架130的底部，以防
止外界光线对检测产生影响。待测物800位于第一检测位102a置时，光源控制器340控制第一光源311发光，由于此时待测物800位于第一光源311 正上方，光线照射在待测物800表面，第一镜头317以及第一相机316对待测物800表面进行拍摄，以获得待测物800表面图像，完成暗场检测。
91.检测治具210继续在驱动件220的作用下移动至第二检测位102b置，光源控制器340控制第二光源321发光，由于此时待测物800位于第二光源321斜上方，大部分光线形成环境光，照射至待测物800的表面。第二镜头327以及第二相机326对待测物800表面进行拍摄，以获得待测物800表面图像，完成光场检测。
92.完成检测后的待测物800在检测治具210的带动下移动至下料位103。若检测结果为合格，则第一下料模组400通过第一驱动件414带动第一滑块413位于抓取位置，然后第二驱动件417带动第二滑块416下移，使得第一抓取件420 的第一真空吸附盘421与待测物800吸附，以抓取待测物800。抓取完成后，第二驱动件417带动第二滑块416上移，第一驱动件414带动第一滑块413运动至下料位103置，以便于下料。
93.若检测结果为不合格，则第二下料模组500通过第三驱动件514带动第三滑块513位于抓取位置，然后第四驱动件517带动第四滑块516下移，使得第二抓取件520的第二真空吸附盘521与待测物800吸附，以抓取待测物800。抓取完成后，第四驱动件517带动第四滑块516上移，第三驱动件514带动第三滑块513运动至下料位103置，以便于下料。
94.上述屏幕外观缺陷检测设备可以在光场与暗场下对屏幕的外观进行检测，检测较为全面，而且在检测过程中，采用全自动的方式进行检测，检测效果较好。此外，通过第一下料模组400与第二下料模组500的配合，可以使得检测后的合格的待测物800与不合格的待测物800分离。信息录取组件700可以将不合格的待测物800的信息追溯，便于查找在产品制备中的问题。
95.本技术的一实施例还提供了一种车载屏幕生产线，其包括前述屏幕外观缺陷检测设备。通过设置有屏幕外观缺陷检测设备，使得车载屏幕生产线在生产产品的过程中，便于及时发现产品的外观缺陷，而且外观缺陷检测的效率较高。
96.以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
97.以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。