一种探针及连接器的制作方法

1.本技术涉及信号传输及测试技术领域，更具体地，涉及一种适用于高速率信号传输、大电流测试使用环境的测试设备上使用的弹性扁平探针及连接器。


背景技术：

2.在液晶面板、集成电路等电子部件模块的制造工序中，往往需要进行导通检测和动作特性检查等过程，这通常需要使用探针将电子部件模块的主体基板与fpc接触电极对应连接，或者将基板的电极部与检测装置对应连接，进而完成相应的检测工作。
3.目前经常用的探针具有能够与电子部件的电极端部子和被连接电子部件的电极端部子分别接触一对触头，以及一对触头之间连接的弹性部。探针通过弹性部确保触头与电子部件的电极端部子和被连接电子部件的电极端部子之间的接触压力，提高针对电子部件的电极端部子和被连接电子部件的电极端部子的接触可靠性。除了接触可靠性这一指标之外，为了满足高速、大电流信号传输的使用要求，要求探针的导电电阻越小越好。
4.目前通常采用削减弹性部的路径长度和增大弹性部的路径的截面面积的方式来降低两个接触部之间的导通路径的电阻；该方式确实能够有效降低探针的电阻，但与此同时，增大弹性部的路径的截面面积加之削减弹性部的路径长度将显著提高弹性部的弹力，在使用过程中，为了保证被测对象物与探针接触良好，配套的夹持结构需要提供较大的夹持力，很有可能会压坏被测对象。因此，在探针的结构设计过程中需要考虑弹性部的横截面积(导电电阻)、弹性部的路径长度与其提供的弹力之间的相对平衡，在增大横截面积以减小导电电阻提高过流能力的同时，减小弹性部的弹力，防止探针及其接触对象因过大的弹力/夹持力而发生损坏。


技术实现要素：

5.针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求，本实用新型提供了一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器，其目的在于解决现有探针存在的增加横截面积且减小导通路径导致的探针弹力过大，容易损坏探针以及接触对象的问题。
6.为实现上述目的，按照本实用新型的一个方面，提供了一种探针，包括在长度方向上间隔设置的第一接触部和第二接触部，还包括连接所述第一接触部和第二接触部的弹性部；所述弹性部包括第一弹性结构、第二弹性结构和第三弹性结构中的任意两种或多种；
7.其中，所述第一弹性结构为具有至少两个曲率中心的弯折结构，其第一端部连接第一接触部，第二端部通过第一联结部连接第二弹性结构的第一端部；
8.所述第二弹性结构具有类u型结构，其第二端部通过第二联结部连接第三弹性结构的第一端部；所述第三弹性结构具有类c型结构，其第二端部与第二接触部相连；
9.第一弹性结构、第二弹性结构和第三弹性结构各自的端部在所述长度方向上间隔排布。
10.优选的，上述探针，其第一弹性结构包括依次连接的第一弯折部、第二弯折部和第
一直线部；
11.所述第一弯折部具有沿宽度方向延伸的类s型结构，其第一端部连接第一接触部，第二端部通过所述第二弯折部连接第一直线部；所述第一直线部与第一联结部相连。
12.优选的，上述探针，其第二弯折部、第二弹性结构和第三弹性结构的曲率中心相对于所述弹性部分别配置于同一侧。
13.优选的，上述探针，其第一联结部包括第二直线部、第三弯折部和第三直线部；
14.所述第二直线部的第一端部连接第一弹性结构，第二端部通过第三弯折部连接第三直线部；
15.所述第三弯折部与第二弹性结构/第三弹性结构的曲率中心相对于所述弹性部分别配置于不同侧。
16.优选的，上述探针，其第二联结部包括第四直线部、第四弯折部和第五直线部；
17.所述第四直线部的一端部连接第二弹性结构的第二端部，另一端部通过第四弯折部连接第五直线部；
18.所述第四弯折部与第二弹性结构/第三弹性结构的曲率中心相对于所述弹性部分别配置于不同侧。
19.优选的，上述探针，其第一接触部具有沿长度方向延伸的第六直线部和沿宽度方向上延伸的第七直线部；所述第六直线部的第一端部具有可与被测对象物的接触端子相匹配的第一触点部，第二端部与第七直线部的第一端部相连；所述第七直线部的第二端部连接第一弹性结构。
20.优选的，上述探针，其第一接触部上设置有第一限位部；
21.所述第一限位部以第一弹性结构与第七直线部的连接处为起点沿宽度方向延伸。该第一限位部在探针被收纳于壳体内部时与所述壳体的内壁抵触以对探针进行固定。
22.优选的，上述探针，其第二接触部呈一字型结构，其一侧与第三弹性结构相连，另一侧上具有至少一个可与被测对象物的接触端子相匹配的第二触点部。
23.优选的，上述探针，其第二接触部上设置有第二限位部；
24.所述第二限位部以第三弹性结构与第二接触部的连接处为起点沿宽度方向延伸，且与第三弹性结构的曲率中心相对于所述弹性部分别配置于不同侧。该第二限位部在探针被收纳于壳体内部时与所述壳体的内壁抵触以对探针进行固定。
25.优选的，上述探针，其第一弹性结构、第二弹性结构、第三弹性结构、第一联结部和第二联结部分别为一带状弹性片，或者是间隔设置的多个带状弹性片。
26.优选的，上述探针，其第一联结部和第二联结部中的带状弹性片的宽度不小于第一弹性结构、第二弹性结构、第三弹性结构中的带状弹性片的宽度。
27.优选的，上述探针，其第一弹性结构中所有带状弹性片的宽度之和不大于第二接触部、第一接触部中的最小宽度。
28.按照本发明的另一个方面，还提供了一种连接器，该连接器具有上述任一项所述的探针以及收纳所述探针的壳体，该探针以其第一接触部和第二接触部的端部突出于所述壳体表面的状态收纳于壳体中。
29.总体而言，通过本实用新型所构思的以上技术方案与现有技术相比，能够取得下列有益效果：
30.(1)本实用新型提供的探针及连接器，其弹性部包括第一弹性结构、第二弹性结构和第三弹性结构中的任意两种或多种；第一弹性结构为具有至少两个曲率中心的弯折结构，第二弹性结构具有类u型结构，第三弹性结构具有类c型结构；通过第一弹性结构和第二弹性结构来削弱第三弹性结构的弹力，通过第二弹性结构和第三弹性结构来削减第一弹性结构的路径长度；通过这种弹力分级传递的结构来维持弹性部的横截面积、路径长度与其提供的弹力之间的平衡。由此，即便通过增大弹性部的横截面积来缩小导电电阻，第一弹性结构也可在保证第一接触部与被检测对象的端部子接触良好的前提下尽可能减小探针的弹力，防止探针及其接触对象因过大的弹力/夹持力而发生损坏。
31.(2)本发明提供的探针及连接器，通过第一接触部中设置的第一限位部以及在第二接触部上设置的第二限位部对收纳于壳体内部的探针进行固定，防止探针上下活动，并防止探针在弹性部的作用下发生左右倾斜，确保第一接触部与被测对象物的准确对接。
32.(3)本发明提供的探针及连接器，其结构简单，设置简便，通过增大弹性部的横截面积降低探针的导电电阻，为高速率信号的传输和大电流测试环境下的应用提供了可能；并且在实现探针两接触部可靠连接的基础上尽可能减小探针的弹力，防止探针损坏，拓展了探针的应用范围，降低了探针的应用成本，具有较好的应用前景和推广价值。
附图说明
33.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
34.图1为本实施例提供的探针的三维结构示意图；
35.图2是本实施例提供的探针的平面结构示意图；
36.图3是本实施例提供的具有不同形状的多个第一接触部的正视图；
37.图4是本实施例提供的第一弹性结构的平面结构示意图；
38.图5是本实施例提供的第一弹性结构的细节结构示意图；
39.图6是本实施例提供的第二弹性结构的细节结构示意图；
40.图7是本实施例提供的第三弹性结构的细节结构示意图；
41.图8是本实施例提供的第一弹性结构的曲率中心的示意图；
42.图9是本实施例提供的第二弹性结构、第三弹性结构、第一联结部、第二联结部的曲率中心的示意图；
43.图10为本实施例提供的探针在未受力状态以及受轴向力状态下的结构变形示意图；
44.图11是本发明实施例提供的连接器的剖面结构示意图。
具体实施方式
45.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
46.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时
针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
47.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
48.在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
49.在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
50.此外，以下的说明在本质上只不过是示例，并非意图限制本发明、本发明适用物或本发明的用途。进而，附图是示意性的，各尺寸的比例等不是必须与现实情况一致。
51.图1是本实施例提供的探针的三维结构示意图；图2是本实施例提供的探针的平面结构示意图；该探针1为薄板且具有导电性，为一体成形。参见图1、2，该探针1包括第一接触部2、弹性部3和第二接触部4；
52.其中，第一接触部2的一端具有可与被测对象物的接触端子相匹配的第一触点部21；图3示出了具有不同形状的多个第一接触部2的正视图，第一触点部21能够根据探针1的设计等适当变更其形状，并不局限于图3中示出的形状；例如，第一触点部21能够根据被检测对象的接触端子的不同形态适当变更其形状及位置，使测试过程中探针1能与被测对象物的接触面尽量大，也可以根据被测对象物的接触端子对的特殊形状设计成其它形状。
53.弹性部3具有第一端部31和第二端部32，第一接触部2与第一弹性结构3上的第一端部31连接；第二接触部4与第一弹性结构3上的第二端部32连接；弹性部3可沿着探针1的长度方向伸缩；探针1为薄板且具有导电性，为一体成形。
54.请继续参阅图1、2，该弹性部3包括第一弹性结构6、第二弹性结构7和第三弹性结构8；其中，第一弹性结构6为具有至少两个曲率中心的弯折结构，其一端连接第一接触部2，另一端通过第一联结部39连接第二弹性结构7；
55.第二弹性结构7具有类u型结构，其通过第二联结部40连接第三弹性结构8；所述第三弹性结构8具有类c型结构，其与第二接触部4相连；
56.第一弹性结构6、第二弹性结构7和第三弹性结构8各自的端部在探针1的长度方向上间隔排布。
57.本实施例中，弹性部中第一弹性结构6的路径最长，第二弹性结构7和第三弹性结构8的路径依次递减；反之，第一弹性结构6的弹力最小，第二弹性结构7和第三弹性结构8的
弹力依次增大；因此，在探针受压后，第一弹性结构6、第二弹性结构7和第三弹性结构8各自产生的变形量不同，其中，具有至少两个曲率中心的第一弹性结构6的变形量最大，具有类u型结构的第二弹性结构7的变形量次之，具有类c型结构的第三弹性结构8的变形量最小。
58.本实施例中，通过第一弹性结构6和第二弹性结构7来削弱第三弹性结构8的弹力，通过第二弹性结构7和第三弹性结构8来削减第一弹性结构6的路径长度；通过这种弹力分级传递的结构来维持弹性部的横截面积(导电电阻)、路径长度与其提供的弹力之间的平衡。由此，即便通过增大弹性部的横截面积来缩小导电电阻，第一弹性结构也可在保证第一接触部与被检测对象的端部子接触良好的前提下尽可能减小探针的弹力，防止探针(第一接触部)及其接触对象因过大的弹力/夹持力而发生损坏。
59.需要指出的是，本实施例中的弹性部3中包含三种不同类型的弹性结构，即具有至少两个曲率中心的第一弹性结构、具有类u型结构的第二弹性结构和具有类c型结构的第三弹性结构，但是每种弹性结构的个数并不局限于附图中示出的一个，也可以是多个，三种不同类型的弹性结构的个数不局限于完全相等，根据探针所需的整体弹力来确定。另外，弹性部3不必同时包含三种不同类型的弹性结构，也可以是任意两种弹性结构的组合，比如弹性部3包括第一弹性结构6和第二弹性结构7，则第二弹性结构7通过第二联结部40直接与第二接触部4相连；此时第二联结部40的形状可稍作改变，使其端部可以在长度方向上与第二接触部4相连。比如弹性部3包括第一弹性结构6和第三弹性结构8，则省去第一联结部39和第二弹性结构7。而如果弹性部3包括第二弹性结构7和第三弹性结构8，则省去第一弹性结构6，此时第一联结部39的形状可稍作改变，使其端部可以在长度方向上与第一接触部2相连。
60.请参阅图4，第一弹性结构6包括依次连接的第一弯折部61、第二弯折部62和第一直线部63；
61.其中，第一弯折部61具有沿宽度方向延伸的类s型结构，其一端连接第一接触部2，另一端通过第二弯折部62连接第一直线部63；第一直线部63与第一联结部39相连。在一个具体示例中，第一弯折部61具有两个曲率中心01、02，这两个曲率中心01、02相对于第一弯折部61分别配置于不同侧，其中，曲率中心01位于第一弯折部61靠近第一接触部2的一侧，曲率中心02位于第一弯折部61远离第一接触部2的另一侧；第二弯折部62的曲率中心同样位于第一弯折部61远离第一接触部2的另一侧；由此，第一弹性结构6为具有三个曲率中心的弯折结构。第二弯折部62、第二弹性结构7和第三弹性结构8的曲率中心相对于弹性部3分别配置于同一侧。
62.请继续参阅图2，在一个具体示例中，第一联结部39、第二联结部40作为相邻两个弹性结构之间的连接部分，均呈u型结构；第一联结部39通过两个直线部分别与第一弹性结构6、第二弹性结构7相连，第二联结部40通过两个直线部分别与第二弹性结构8、第三弹性结构8相连。第一联结部39、第二联结部40的弯折部分的曲率中心与第二弹性结构7和第三弹性结构8的曲率中心相对于假想直线l分别配置于不同侧，该假想直线l大致为探针1沿宽度方向上的中线。一般来说，第一联结部39、第二联结部40的路径越长，则有利于降低探针1的弹力；需要说明的是，第一联结部39、第二联结部40的形状不局限于图中示出的u型结构，其根据弹性结构的种类和数量进行调整。
63.第一接触部2具有沿长度方向延伸的第六直线部22和沿宽度方向上延伸的第七直线部23；该第六直线部22的第一端部具有可与被测对象物的接触端子相匹配的第一触点部
21，第二端部与第七直线部23的第一端部相连；第七直线部23的第二端部连接第一弹性结构6。在一个优选的示例中，第一接触部2上设置有第一限位部24；该第一限位部24以第一弹性结构6与第七直线部的连接处25为起点沿宽度方向延伸。该第一限位部24在探针被收纳于壳体内部时与壳体的内壁抵触以对探针1进行固定，并对第一弹性结构6的变形量进行限制。
64.在一个具体示例中，第二接触部4呈一字型结构，其一侧与第三弹性结构8相连，另一侧上具有至少一个可与被测对象物的接触端子相匹配的第二触点部41。第二触点部41构造为倒置的对称梯形凸台样式，接触面为梯形凸台短边，用于与检查装置的转接fpc/pcba或其它导通转接器接触，一般设计二个，二个第二触点部41之间留有间隙。第二触点部41能够根据探针1的设计等适当变更其形状，并不局限于图7中示出的形状；例如，第二触点部41能够根据检查装置的接触端子的不同形态适当变更其形状及位置，使测试过程中探针1能与检查装置的接触面尽量大，也可以根据检查装置的接触端子对的特殊形状设计成其它形状。
65.在一个优选的示例中，第二接触部4上设置有第二限位部42、43；其中，第二限位部43以第三弹性结构8与第二接触部4的连接处为起点沿宽度方向延伸，且与第三弹性结构8的曲率中心相对于弹性部分别配置于不同侧。第二限位部43可对第三弹性结构8的变形量进行限制。第二限位部42、43在探针1被收纳于壳体内部时与壳体的内壁抵触以对探针1进行固定。
66.本实施例中，第一弹性结构6、第二弹性结构7、第三弹性结构8、第一联结部39和第二联结部40可以分别为一带状弹性片，也可以是由间隔设置的多个带状弹性片构成。一般来说，为了降低探针1整体的弹力，可以将弹性部3设置为多个间隔的带状弹性片。
67.下面以第一弹性结构6、第二弹性结构7、第三弹性结构8分别具有间隔设置的两个带状弹性片，第一联结部39和第二联结部40均为一带状弹性片的结构为例进行说明。
68.请参阅图2，第一弹性结构6中具有相互隔开间隔51配置的两个带状弹性片33、34，第二弹性结构7中具有相互隔开间隔52配置的两个带状弹性片35、36，第三弹性结构8中具有相互隔开间隔53配置的两个带状弹性片37、38。第一联结部39、第二联结部40分别具有一个带状弹性片。
69.如图5-图7所示，第一弹性结构6中的带状弹性片33、34具有s型和弧形组合的形状，带状弹性片35、36、39、40为u形细长带状，带状弹性片37、38为半圆形带状。请参阅图3，带状弹性片33、34由直线部311、312，弯曲部331、341，弯曲部332、342，弯曲部333、343，直线部334、344，直线部335、345组成；直线部311、312与弯曲部331、341相切，弯曲部331、341、弯曲部332、342与弯曲部333、343相切，弯曲部333、343与直线部334、344不相切。
70.带状弹性片39包括直线部391、弯曲部392、直线部393；直线部334、344、与直线部391之间通过一个圆弧过渡连接；直线部391与直线部335、345之间通过一个圆弧过渡连接；直线部391、直线部393分别与弯曲部392相切。
71.带状弹性片35、36包括直线部351、361，直线部352、362，弯曲部353、363，直线部354、364，直线部355、365；直线部393与直线部351、361之间通过一个圆弧过渡连接；直线部352、362与直线部351、361之间通过一个圆弧过渡连接；直线部352、362、直线部354、364分别与弯曲部353、363相切。
72.带状弹性片40具有直线部401、弯曲部402和直线部403；直线部354、364与直线部355、365之间通过一个圆弧过渡连接；直线部401与直线部355、365之间通过一个圆弧过渡连接。
73.带状弹性片37、38包括直线部371、381，弯曲部372、382和直线部373、383。其中，直线部373、383可以看作第二接触部4的一部分，即在第三弹性结构8与第二接触部4的连接部分配置带状弹性片，通过这种方式，在不增大弹性部的路径长度的前提下降低第三弹性结构8的弹力。
74.另外作为一例，各带状弹性片33、34、35、36、37、38、39、40具有大致相同的截面积。
75.请参阅图8、图9，弯曲部331、341的曲率中心o1在直线部311、321右方，在弯曲部332、342的外部；弯曲部332、342和弯曲部333、343的曲率中心o2、o3在直线部311、321的右方、直线334、344的上方，以及在弯曲部331、341的外部。弯曲部的曲率中心o4处于弯曲部392呈现的弧线中间，位于直线391与直线393之间，以及直线部311、321左方；弯曲部的曲率中心o5处于弯曲部353、363呈现的弧线中间，位于直线部362、352与直线部354、364之间，以及直线部311、321右方；弯曲部的曲率中心o6处于弯曲部402呈现的弧线中间，位于直线部401与直线部403之间，以及直线部311、321左方，曲率中心o6位于曲率中心o4左方；弯曲部372、382的曲率中心o7处于弯曲部402呈现的弧线中间，位于直线部311、321正下方。
76.如图5-图9所示，带状弹性片33、34、35、36、37、38的宽度w2构成不大于相邻的带状弹片33、34之间的间隙51的最小宽度w3，带弹状片39、40的宽度w1不小于带状弹性片33、34、35、36、37、38的宽度w2。第七直线部23上最小的宽度w6、第六直线部22上的最小宽度w7，第二接触部4上的最小宽度为w4或w5，各带状弹性片33、34的宽度之和小于上述最小宽度w4、w5、w6、w7中的最小者，从而降低第一接触部2和第二接触部4的导电电阻。
77.作为一例，第1弹性部3受力变形产生的弹力使探针1的第一接触部2的第一触点部21与被检测对象(例如基板对基板连接器)接触良好；弹性部3压缩后产生的弹力使探针1的第二接触部4的第二触点部41与设置于检测装置的基板(例如pcb焊盘)接触良好。
78.如图10所示，探针1的第一接触部2上的第一触点部21受到压力时，第一弹性部3种的各带状弹性片33、34、35、36、37、38、39、40均发生形变，其中，带状弹性片33、34的变形量最大，带状弹性片35、36、37、38、39、40变形量较小，第一触点部21能向下运动产生较大的位移量，带状弹性片33、34分散了第一触点部21位移所需的压力，避免了蛮力的集中，使各带状弹性片35、36、37、38、39、40发生断裂。
79.为了使各带状弹性片的宽度和截面积尽可能地大，且探针1使用时产生的弹力要尽可能地小，第一弹性结构6中的各带状弹性片33、34为半s弧形，第二弹性结构7中的各带状弹性片35、36和两个联结部39、40为u形，第三弹性结构8中的各带状弹性片37、38为半圆形，其各带状弹性片路径相对会加长，由于导体电阻截面积加大比路径加长对导体电阻的影响要大，因此相应的探针1的整体电阻还是会减小，传输信号的速率、过电流能力就会增大。
80.第一弹性部3中带状弹性片33、34、35、36、37、38个数不限于2个，可以是1个，也可以大于2个；相应的具有相互隔开间隔(在该实施方式中为2个隔开间隔51)的配置也不限于1个，可以是0个，也可以大于1个。带状弹性片39、40个数不限于1个，也可以大于1个。
81.本发明的探针1具有：弹性部3，其沿着长度方向伸缩；板状的第一接触部2，其与弹
性部3在长度方向上的第一端部31连接；以及板状的第二接触部4，与弹性部3在长度方向的第二端部32连接。该弹性部3呈现为多种不同形状的弹性结构的组合，能够沿着长度方向变形，根据应用情况的不同，弹性部3可选择不同的组合，以满足不同的使用环境和要求。
82.本实施例中，探针1为扁平平板结构，与常规测试探针相比更容易应用到更小的间距上，一般扁平测试探针的厚度可以做到0.05～0.2mm。
83.该探针1为一体成型，测试压缩过程中没有内部摩擦影响寿命，一般寿命可以达到常规探针的3-5倍以上。
84.该探针1比常规测试探针结构更简单、体积小、容易加工、不需组装、价格更实惠、能应用于高速信号传输、大电流环境等优点，是一种工艺、材料、结构相接合的新产品。
85.为了进一步减小探针1的导电电阻，本实施例采用铜合金、铝合金、银铜合金等导电性能更好的材料作为探针成型的基材；进一步的，在探针1的表面还镀有镍、金等材料的涂层。
86.图11是本发明的一个实施例提供的连接器的剖面结构示意图，参见图11，该连接器00包括探针1以及用于收纳探针1的壳体，每一个探针1以及其外部的壳体构成一个独立的检测单元，每个壳体内部能够设置一个或多个探针1，例如，壳体内部在垂直于图1的剖面方向上并列设置有多个探针1，相邻的探针1之间以等间距隔开；此外，相邻的两个壳体可以分开设置，也可以通过共用一个侧壁实现并列设置，进而缩小整个连接器00的体积。探针1在被在被收纳于壳体中的状态下进行使用。
87.如图11所示，壳体具有大致长方体的形状，包括胶框51和盖板52；胶框51与盖板52围合形成可容纳探针1的空腔；该探针1具有第一接触部2和第二接触部4，其中，第一接触部2的端部设置有第一触点部21，第二接触部4上设置有至少一个第二触点部41，图11中，每个探针1的第二接触部4上设置有两个第二触点部41；当该探针被收纳于胶框51和盖板52围合而成的空腔内部时，该第一接触部2突出于胶框51的表面，第二接触部4上的第二触点部41突出于盖板52的表面，相应的，胶框51的表面开设有能够允许第一接触部2通过的开孔，盖板52的表面开设有允许第二触点部41通过的开孔。
88.第一接触部2上的第一触点部21构成为能够与被测对象物(例如fpc接触电极、基板对基板(btob)连接器)的端子接触；第二接触部4上的第二触点部41构成为能够与检查装置的基板(例如fpc/pcba或其它导通转接器)的端子接触；使用时，具有导电性的探针1将被测对象物与检查装置连接起来，提供测试信号传输通路。
89.以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
90.本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。