一种基于Goldstein枝切法的相位展开方法

一种基于goldstein枝切法的相位展开方法
技术领域
1.本发明涉及物体三维测量技术领域，具体涉及一种基于goldstein枝切法的相位展开方法。


背景技术：

2.随着现代科技的发展，人们对物体三维信息的采集的需求日益旺盛。光学三维测量方法由于具有非接触、高精度等特点，在智能制造、虚拟现实、文化遗产保护、生物医学和工业检测等领域都存在广泛的应用。
3.在众多的光学三维测量方法中，相位计算得到的相位值会被截断在(-π,π]之间，需要通过相位展开把截断相位变为连续相位之后才可以通过相位高度映射得到被测物体的高度分布。因此，相位展开结果的好坏对被测物体三维重构的精度影响很大。对于理想的截断相位图，相位展开是一个简单且与展开路径无关的过程，可以通过比较相邻两个像素点之间的截断相位并对其加上或减去2π的整数倍,使得它们之间的相对相位在-π到π的范围内来实现。然而在实际的测量环境中，由于存在噪声、局部阴影和物体高度突变等问题，会使得采集到的条纹图的某些区域的像素点具有不正确的值或者不满足nyquist采样定理。在进行相位展开时，如果展开路径穿过这些区域，就会产生局部误差，局部误差会随着展开路径传播，造成全局误差。这使得相位展开变得十分困难且依赖于展开路径。为了解决上述问题，人们提出了许多相位展开算法。其中，goldstein等提出的枝切法是一种强大的抗噪声的路径跟踪算法，该算法通过设置展开路径不能穿过的障碍——枝切线，从而限制局部误差的传播，恢复了展开路径的独立性。通常来说，枝切线的总长度越短，相位展开的结果越好。然而，goldstein枝切法无法保证设置的枝切线的总长度最短，且容易自我闭合，形成“孤岛”，导致误差增加。


技术实现要素：

4.本发明的目的就是针对现有技术中goldstein枝切法容易产生“孤岛”现象和生成较长的枝切线的缺陷，提供一种基于goldstein枝切法的相位展开方法，可以使得枝切线总长度达到最短且能够消除“孤岛”现象，从而得到更好的相位展开的结果，提高三维测量的精度。
5.本发明技术方案为，包括：
6.步骤1，获取截断相位图；
7.步骤2，采用goldstein枝切法识别出截断相位图中的残差点；
8.步骤3，构建带权二分图；
9.步骤4，使用kuhn-munkres算法求出带权二分图的最大权匹配；
10.步骤5，依据所述最大权匹配连接残差点构造枝切线；
11.步骤6，选取不在枝切线上的像素点作为起点进行相位展开。
12.较为优选的，所述步骤1中，截断相位图基于傅里叶变换轮廓术得到。
13.较为优选的，所述步骤1包括：
14.利用计算机编码生成正弦条纹图，并通过图像投影设备投影到被测物体的表面，经被测物体的高度调制变形后，由图像采集设备采集变形条纹图，所述变形条纹图的光强分布为：
15.i(x，y)＝r(x，y)[a(x，y)+b(x，y)
·
cos(2πfx+φ(x，y))]
ꢀꢀ
式(1)
[0016]
其中，(x,y)为采集到的条纹图的像素点坐标，r(x,y)为被测物体及参考平面的反射率分布，a(x,y)、b(x,y)分别表示背景光强度和条纹对比度，f为条纹频率，φ(x，y)为受到被测物体高度和参考平面调制而产生的相移；
[0017]
将计算机编码生成的所述正弦条纹图投影在参考平面上，由图像采集设备采集该参考平面上的条纹图，所述条纹图的光强分布为：
[0018]
i1(x，y)＝r1(x，y)[a(x，y)+b(x，y)
·
cos(2πfx+φ1(x，y))]
ꢀꢀ
式(2)
[0019]
其中，r1(x，y)为参考平面的反射率分布，φ1(x，y)为受到参考平面调制而产生的相移；
[0020]
对式(1)进行傅里叶变换，并利用空间滤波器滤出包含相位信息的正基频分量后，对所述正基频分量进行逆傅里叶变换，得到
[0021][0022]
对式(2)进行傅里叶变换，并利用空间滤波器滤出包含相位信息的正基频分量后，对所述正基频分量进行逆傅里叶变换，得到
[0023][0024]
计算被测物体的截断相位分布得到ψ(x，y)即为截断相位图；
[0025]
其中，im{}表示取复数虚部运算，*表示共轭运算。
[0026]
较为优选的，所述步骤2包括：
[0027]
根据公式计算截断相位图中的像素点的残差极性q(x，y)，若q(x，y)等于-1，则像素点(x，y)为负残差点；若q(x，y)等于1，则像素点(x，y)为正残差点；
[0028]
重复上述过程直到截断相位图中的所有像素点都进行了判断；
[0029]
其中，δ1＝ψ(x，y+1)-ψ(x，y)，δ2＝ψ(x+1，y+1)-ψ(x，y+1)，δ3＝ψ(x+1，y)-ψ(x+1，y+1)，δ4＝ψ(x，y)-ψ(x+1，y)，w为截断运算符；
[0030]
截断运算符w(a)＝a+2kπ，k∈z；
[0031]
其中，k为使得w(a)处于(-π，π]之间的整数。
[0032]
较为优选的，所述步骤3包括：
[0033]
构建带权二分图为g＝(p，n，e)；
[0034]
其中，p为所有正残差点构成的集合，n为所有负残差点构成的集合，正残差点集p和负残差点集n组成了图g的顶点集v，v＝p∪n，边集e为所有连接正负残差点的线构成的集
合，e＝{《p，n》|p∈p，n∈n}；
[0035]
根据公式计算边集e中每条边的权值，《p，n》为e中的任意一条边，w(p，n)为e中的任意一条边《p，n》的权值，(x
p
，y
p
)和(xn，yn)分别为正残差点p和负残差点n的坐标。
[0036]
较为优选的，所述步骤4包括：
[0037]
步骤401，令可行标号l的初始值为：
[0038][0039]
其中，可行标号l是定义在顶点集v上的一个函数，且满足
[0040]
步骤402，求出图g关于可行标号l的相等子图g
l
＝(p，n，e
l
)；
[0041]
其中，e
l
为边集e的子集，且e
l
中的任意一条边的权值都等于这条边的端点的标号值之和，e
l
＝{《p，n》|l(p)+l(n)＝w(p，n)}；
[0042]
步骤403，令相等子图g
l
的匹配m初始时为空集，即令m＝φ，其中，匹配m为边集e
l
的子集；
[0043]
步骤404，若相等子图g
l
的正残差点集p中都为已匹配的顶点，则匹配m为最大权匹配，算法终止，否则，选择一个未匹配的顶点p∈p，并令s＝{p}，t＝φ，其中，匹配m中的边的端点称为已匹配的顶点，s和t为两个顶点集；
[0044]
步骤405，若n
l
(s)＝t，则执行步骤407，若n
l
(s)≠t，则选择一个顶点n∈n
l
(s)-t，其中，n
l
(s)为图g
l
中至少与集合s中一个顶点相连的所有顶点构成的集合，n
l
(p)为与顶点p相连的所有顶点构成的集合，n
l
(p)＝{n|＜p，n＞∈e
l
}；
[0045]
步骤406，若顶点n是未匹配的顶点，则存在从顶点p到顶点n的增广路r，令执行步骤404，若顶点n是已匹配的顶点，则找到与顶点n匹配的顶点，记为z，令s＝s∪{z}，t＝t∪{n}，执行步骤405，其中，为集合的异或运算符；
[0046]
步骤407，计算值d，对图g
l
的顶点集v＝p∪n中的每个顶点v修改标号值，
[0047]
步骤408，求出相等子图g
l
′
＝(p，n，e
l
′
)，令l＝l
′
，g
l
＝g
l
′
，执行步骤405。
[0048]
较为优选的，所述步骤5中，将步骤4最终得到的最大权匹配m中的任意一条边《p，n》移出m，并将顶点p代表的正残差点与顶点n代表的负残差点进行连接生成一条枝切线，重复上述过程直到m为空。
[0049]
较为优选的，所述步骤6中，选取一个不在枝切线上的像素点作为起点，将它加入队列并标记为已进行相位展开，将队首元素四邻域中不在枝切线上且未展开的像素点加入
队列并展开其相位，之后将队首元素移出队列，重复上述过程直到队列为空；
[0050]
当不在枝切线上的像素点都展开后，再利用枝切线周围已展开的像素点展开枝切线上的像素点。
[0051]
本发明的有益效果为：
[0052]
1、运用带权二分图求解枝切线的构造问题，得到总长度最短的枝切线，减少了goldstein枝切法因构造的枝切线总长度过长及存在“孤岛”问题而引入的误差。
[0053]
2、在获取截断相位图中，正弦条纹图通过计算机编码生成，由于计算机软件可以灵活设计所需要的光栅编码，因此可以在很短的时间内得到所需的光栅图案，提高了获取截断相位图的效率。
附图说明
[0054]
图1为本发明方法的流程示意图；
[0055]
图2为本发明基于面结构光的傅里叶变换轮廓术系统结构示意图；
[0056]
图3为本发明2
×
2闭合环路示意图；
[0057]
图4为使用现有goldstein枝切法得到的枝切线示意图；
[0058]
图5为使用本方法得到的枝切线示意图；
[0059]
图6为使用现有goldstein枝切法恢复的物体示意图；
[0060]
图7为使用本方法恢复的物体示意图。
具体实施方式
[0061]
为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0062]
需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。
[0063]
需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0064]
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0065]
实施例一
[0066]
图1示出了本技术较佳实施例(图1示出了本技术第一实施例)提供的一种基于goldstein枝切法的相位展开方法的运算流程示意图，为了便于说明，仅示出了与本实施例相关的部分，详述如下：
[0067]
本发明技术方案包括：
[0068]
步骤1，获取截断相位图；
[0069]
步骤2，采用goldstein枝切法识别出截断相位图中的残差点；
[0070]
步骤3，构建带权二分图；
[0071]
步骤4，使用kuhn-munkres算法求出带权二分图的最大权匹配；
[0072]
步骤5，依据所述最大权匹配连接残差点构造枝切线；
[0073]
步骤6，选取不在枝切线上的像素点作为起点进行相位展开。
[0074]
较为优选的，所述步骤1中，截断相位图基于傅里叶变换轮廓术得到。
[0075]
较为优选的，所述步骤1包括：
[0076]
利用计算机编码生成正弦条纹图，并通过图像投影设备投影到被测物体的表面，经被测物体的高度调制变形后，由图像采集设备采集变形条纹图，所述变形条纹图的光强分布为：
[0077]
i(x，y)＝r(x，y)[a(x，y)+b(x，y)
·
cos(2πfx+φ(x，y))]
ꢀꢀ
式(1)
[0078]
其中，(x,y)为采集到的条纹图的像素点坐标，r(x,y)为被测物体及参考平面的反射率分布，a(x,y)、b(x,y)分别表示背景光强度和条纹对比度，f为条纹频率，φ(x，y)为受到被测物体高度和参考平面调制而产生的相移；
[0079]
将计算机编码生成的所述正弦条纹图投影在参考平面上，由图像采集设备采集该参考平面上的条纹图，所述条纹图的光强分布为：
[0080]
i1(x，y)＝r1(x，y)[a(x，y)+b(x，y)
·
cos(2πfx+φ1(x，y))]
ꢀꢀ
式(2)
[0081]
其中，r1(x，y)为参考平面的反射率分布，φ1(x，y)为受到参考平面调制而产生的相移；
[0082]
对式(1)进行傅里叶变换，并利用空间滤波器滤出包含相位信息的正基频分量后，对所述正基频分量进行逆傅里叶变换，得到
[0083][0084]
对式(2)进行傅里叶变换，并利用空间滤波器滤出包含相位信息的正基频分量后，对所述正基频分量进行逆傅里叶变换，得到
[0085][0086]
计算被测物体的截断相位分布得到ψ(x，y)即为截断相位图；
[0087]
其中，im{}表示取复数虚部运算，*表示共轭运算。
[0088]
较为优选的，所述步骤2包括：
[0089]
根据公式计算截断相位图中的像素点的残差极性q(x，y)，若q(x，y)等于-1，则像素点(x，y)为负残差点；若q(x，y)等于1，则像素点(x，y)为正残差点；
[0090]
重复上述过程直到截断相位图中的所有像素点都进行了判断；
[0091]
其中，δ1＝ψ(x，y+1)-ψ(x，y)，δ2＝ψ(x+1，y+1)-ψ(x，y+1)，δ3＝ψ(x+1，y)-ψ(x+
1，y+1)，δ4＝ψ(x，y)-ψ(x+1，y)，w为截断运算符；
[0092]
截断运算符w(a)＝a+2kπ，k∈z；
[0093]
其中，k为使得w(a)处于(-π，π]之间的整数。
[0094]
较为优选的，所述步骤3包括：
[0095]
构建带权二分图为g＝(p，n，e)；
[0096]
其中，p为所有正残差点构成的集合，n为所有负残差点构成的集合，正残差点集p和负残差点集n组成了图g的顶点集v，v＝p∪n，边集e为所有连接正负残差点的线构成的集合，e＝{《p，n》|p∈p，n∈n}；
[0097]
根据公式计算边集e中每条边的权值，《p，n》为e中的任意一条边，w(p，n)为e中的任意一条边《p，n》的权值，(x
p
，y
p
)和(xn，yn)分别为正残差点p和负残差点n的坐标。
[0098]
较为优选的，所述步骤4包括：
[0099]
步骤401，令可行标号l的初始值为：
[0100][0101]
其中，可行标号l是定义在顶点集v上的一个函数，且满足
[0102]
步骤402，求出图g关于可行标号l的相等子图g
l
(p，n，e
l
)；
[0103]
其中，e
l
为边集e的子集，且e
l
中的任意一条边的权值都等于这条边的端点的标号值之和，e
l
＝{《p，n》|l(p)+l(n)＝w(p，n)}；
[0104]
步骤403，令相等子图g
l
的匹配m初始时为空集，即令m＝φ，其中，匹配m为边集e
l
的子集；
[0105]
步骤404，若相等子图g
l
的正残差点集p中都为已匹配的顶点，则匹配m为最大权匹配，算法终止，否则，选择一个未匹配的顶点p∈p，并令s＝{p}，t＝φ，其中，匹配m中的边的端点称为已匹配的顶点，s和t为两个顶点集；
[0106]
步骤405，若n
l
(s)＝t，则执行步骤407，若n
l
(s)≠t，则选择一个顶点n∈n
l
(s)-t，其中，n
l
(s)为图g
l
中至少与集合s中一个顶点相连的所有顶点构成的集合，n
l
(p)为与顶点p相连的所有顶点构成的集合，n
l
(p)＝{n|《p，n》∈e
l
}；
[0107]
步骤406，若顶点n是未匹配的顶点，则存在从顶点p到顶点n的增广路r，令执行步骤404，若顶点n是已匹配的顶点，则找到与顶点n匹配的顶点，记为z，令s＝s∪{z}，t＝t∪{n}，执行步骤405，其中，为集合的异或运算符；
[0108]
步骤407，计算值d，对图g
l
的顶点集v＝p
∪n中的每个顶点v修改标号值，
[0109]
步骤408，求出相等子图g
l
′
＝(p，n，e
l
′
)，令l＝l
′
，g
l
＝g
l
′
，执行步骤405。
[0110]
较为优选的，所述步骤5中，将步骤4最终得到的最大权匹配m中的任意一条边《p，n》移出m，并将顶点p代表的正残差点与顶点n代表的负残差点进行连接生成一条枝切线，重复上述过程直到m为空。
[0111]
较为优选的，所述步骤6中，选取一个不在枝切线上的像素点作为起点，将它加入队列并标记为已进行相位展开，将队首元素四邻域中不在枝切线上且未展开的像素点加入队列并展开其相位，之后将队首元素移出队列，重复上述过程直到队列为空；
[0112]
当不在枝切线上的像素点都展开后，再利用枝切线周围已展开的像素点展开枝切线上的像素点。
[0113]
实施例二
[0114]
本实施例提供了一种基于goldstein枝切法的相位展开方法的具体运算流程，具体如下文说明。
[0115]
基于面结构光的傅里叶变换轮廓术系统结构示意图如图2所示，其中p1和p2分别为图像投影系统的入瞳与出瞳，i1和i2分别表示图像采集系统的出瞳与入瞳。图像采集系统的光轴垂直于参考平面，与图像投影系统的光轴相交于参考平面上的o点，图像投影和采集系统离参考平面高度为l，其光轴夹角为θ。
[0116]
计算机编码生成的正弦条纹图通过图像投影设备投影到被测物体表面，被测物体的高度对其进行调制使其产生变形后，由图像采集设备采集到的变形条纹图如式(1)所示：
[0117]
i(x，y)＝r(x，y)[a(x，y)+b(x，y)
·
cos(2πfx+φ(x，y))]
ꢀꢀ
(1)
[0118]
其中，(x,y)为采集到的条纹图的像素点坐标，r(x,y)为被测物体表面和参考平面的反射率分布，a(x,y)、b(x,y)分别表示背景光强度和条纹对比度，f为条纹频率，φ(x，y)为受到参考平面和被测物体高度调制而产生的相移。
[0119]
之后将正弦条纹图投影在参考平面上，图像采集设备采集到的参考平面条纹图光强分布为：
[0120]
i1(x，y)＝r1(x，y)[a(x，y)+b(x，y)
·
cos(2πfx+φ1(x，y))]
ꢀꢀ
(2)
[0121]
其中r1(x，y)为参考平面的反射率分布，φ1(x，y)为受到参考平面调制而产生的相移。
[0122]
对式(1)进行傅里叶变换，可得：
[0123]
g(f
x
，fy)＝g0(f
x
，fy)+g1(f
x
，fy)+g-1
(f
x
，fyꢀꢀ
)(3)
[0124]
其中，g0(f
x
，fy)为零频分量，g1(f
x
，fy)正基频分量，g-1
(f
x
，fy)为负基频分量。利用空间滤波器滤出包含相位信息的g1(f
x
，fy)，并对其作逆傅里叶变换可得：
[0125][0126]
对式(3)进行同样的操作可得：
[0127]
[0128]
通过简单的几何关系可知被测物体的高度分布h(x，y)与相位差δφ(x，y)＝φ(x，y)-φ1(x，y)成正比。因此，为了得到h(x，y)，需要先求出δφ(x，y)。截断的相位差δψ(x，y)＝w[δφ(x，y)]可以通过式(4)和(5)获得：
[0129][0130]
其中，im{}表示取复数虚部运算，*表示共轭运算，w为截断运算符，定义为：
[0131]
w(a)＝a+2kπ，k∈z
[0132]
其中，k为使得w(a)处于(-π，π]之间的整数。
[0133]
式(6)求出的相位差被截断在(-π,π]之内，而被测物体的高度分布应该是连续的，接下来需要通过相位展开把截断相位δψ(x，y)恢复成连续相位δφ(x，y)。得到连续相位后，通过相位高度映射，即可恢复被测物体的三维面型。
[0134]
理论上，截断相位可以沿任意路径展开。然而，在真实的测量中，由于被采集的条纹图中存在噪声和欠采样等问题，截断相位图中会出现残差点，导致相位展开结果产生很大的误差。为了获得更好的展开结果，需要识别出截断相位图中的残差点。像素点(x，y)是否为残差点可以利用图3所示的2
×
2闭合环路计算其残差电量q(x，y)进行判断，q(x，y)的定义如下：
[0135][0136]
其中，δ1＝ψ(x，y+1)-ψ(x，y)，δ2＝ψ(x+1，y+1)-ψ(x，y+1)，δ3＝ψ(x+1，y)-ψ(x+1，y+1)，δ4＝ψ(x，y)-ψ(x+1，y)。若q(x，y)等于-1，则像素点(x，y)为负残差点；若q(x，y)等于1，则像素点(x，y)为正残差点。
[0137]
在识别出截断相位图中的残差点后，需要构造枝切线平衡残差点，本方法运用带权二分图构造枝切线。构建带权二分图为g＝(p，n，e)；
[0138]
其中，p为所有正残差点构成的集合，n为所有负残差点构成的集合，正残差点集p和负残差点集n组成了图g的顶点集v，v＝p∪n，边集e为所有连接正负残差点的线构成的集合，可表示为：
[0139]
e＝{《p，n》|p∈p，n∈n}
[0140]
e中的任意一条边《p，n》都有一个权值w(p，n)，可由如下公式计算：
[0141][0142]
其中，(x
p
，y
p
)和(xn，yn)分别为正残差点p和负残差点n的坐标。
[0143]
在构建带权二分图后，构造总长度最短的枝切线问题可以看作是最大权匹配问题，本方法引入kuhn-munkres算法求解最大权匹配问题，算法过程如下：
[0144]
1，令可行标号l的初始值为：
[0145][0146]
其中，可行标号l是定义在顶点集v上的一个函数，且满足
[0147]
2，求出图g关于可行标号l的相等子图g
l
＝(p，n，e
l
)；
[0148]
其中，e
l
为边集e的子集，且e
l
中的任意一条边的权值都等于这条边的端点的标号值之和，可表示为：
[0149]el
＝{《p，n》|l(p)+l(n)＝w(p，n)}
[0150]
3，令相等子图g
l
的匹配m初始时为空集，即令m＝φ。其中，匹配m为边集e
l
的子集。
[0151]
4，若相等子图g
l
的正残差点集p中都为已匹配的顶点，则匹配m为最大权匹配，算法终止，否则，选择一个未匹配的顶点p∈p，并令s＝{p}，t＝φ。其中，匹配m中的边的端点称为已匹配的顶点，s和t为两个顶点集；
[0152]
5，若n
l
(s)＝t，则执行步骤407，若n
l
(s)≠t，则选择一个顶点n∈n
l
(s)-t。其中，n
l
(s)为图g
l
中至少与集合s中一个顶点相连的所有顶点构成的集合，可表示为：
[0153][0154]
其中，n
l
(p)为与顶点p相连的所有顶点构成的集合，可表示为：
[0155]nl
(p)＝{n|＜p，n＞∈e
l
}
[0156]
步骤406，若顶点n是未匹配的顶点，则存在从顶点p到顶点n的增广路r，令执行步骤404，若顶点n是已匹配的顶点，则找到与顶点n匹配的顶点，记为z，令s＝s∪{z}，t＝t∪{n}，执行步骤405，其中，增广路是一条从某个未匹配点出发，途径0个或若干个已匹配点，最后到达另一个未匹配点的路径，且在增广路上不属于m的边和属于m的边交替出现，为集合的异或运算符；
[0157]
步骤407，计算值d，对图g
l
的顶点集v＝p∪n中的每个顶点v修改标号值，
[0158]
步骤408，求出相等子图g
l
′
＝(p，n，e
l
′
)，令l＝l
′
，g
l
＝g
l
′
，执行步骤405。
[0159]
在得到最大权匹配m后，可以依据m构造枝切线：将m中的任意一条边《p，n》移出m，并将顶点p代表的正残差点与顶点n代表的负残差点进行连接生成一条枝切线，重复上述过程直到m为空。
[0160]
在枝切线构造完成后，选取一个不在枝切线上的像素点作为起点，将它加入队列并标记为已进行相位展开，将队首元素四邻域中不在枝切线上且未展开的像素点加入队列并展开其相位，之后将队首元素移出队列，重复上述过程直到队列为空；
[0161]
通过采用本方法进行仿真如图4、5所示，可以看出，本方法得到的枝切线相较于现有的goldstein枝切法得到的枝切线，其具有不会自我闭合且总长度最短的优势。如图6、7所示，可以看出，本方法恢复的物体相较于现有的goldstein枝切法恢复的物体，其效果更好。
[0162]
应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本技术实施例的实施过程构成任何限定。
[0163]
以上所述实施例仅用以说明本技术的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实
施例对本技术进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本技术各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本技术的保护范围之内。