一种嵌入式硬件检测装置、方法、电子设备及存储介质与流程

文档序号:30387335发布日期:2022-06-11 11:29阅读:来源:国知局

技术特征:
1.一种嵌入式硬件检测装置,其特征在于,包括控制终端、矩阵开关、硬件卡槽、检测仪器组件和测试组件;其中,所述控制终端与所述矩阵开关、所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件连接,所述控制终端用于发送控制信号给所述矩阵开关、所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件,并接收所述检测仪器组件反馈的检测结果信息,输出检测报告;所述矩阵开关分别与所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件连接,以传输检测信号;所述硬件卡槽外接待检测的嵌入式硬件。2.根据权利要求1所述的嵌入式硬件检测装置,其特征在于,所述检测仪器组件包括检测仪器和检测仪器卡槽,所述测试组件包括测试套件和测试套件卡槽;其中,所述检测仪器与所述检测卡槽连接,所述测试套件和所述测试套件卡槽连接;所述检测卡槽和所述测试套件卡槽分别与所述控制终端和所述矩阵开关连接。3.根据权利要求2所述的嵌入式硬件检测装置,其特征在于,所述硬件卡槽包括第一控制模块、第一输入引脚和第一输出引脚;所述第一输入引脚外接待检测的嵌入式硬件引脚,并通过第一开关与所述第一输出引脚连接;所述第一输出引脚与所述矩阵开关连接;所述第一控制模块与所述第一开关连接,所述第一控制模块用于根据控制端的控制信号控制第一开关的通断。4.根据权利要求3所述的嵌入式硬件检测装置,其特征在于,所述矩阵开关包括第二控制模块、第二输入引脚、多个级联引脚和第二输出引脚;所述第二输入引脚与硬件卡槽的第一输出引脚连接,并每一所述第二输入引脚通过第二开关与多个级联引脚相连;每一所述级联引脚分别与每一所述第二输出引脚相连;所述第二输出引脚与所述检测仪器卡槽以及所述测试套件卡槽相连;所述第二控制模块与所述第二开关相连,所述第二控制模块用于根据控制端的控制信号控制第二开关的通断。5.根据权利要求4所述的嵌入式硬件检测装置,其特征在于,所述检测仪器卡槽包括第三控制模块、第三输入引脚、多个级联引脚和第三输出引脚;所述第三输入引脚与检测仪器连接,并每一所述第三输入引脚通过第三开关与多个级联引脚相连;每一所述级联引脚分别与每一所述第三输出引脚相连;所述第三输出引脚与所述矩阵开关的第二输出引脚相连;所述第三控制模块与所述第三开关相连,所述第三控制模块用于根据控制端的控制信号控制第三开关的通断。6.根据权利要求5所述的嵌入式硬件检测装置,其特征在于,所述测试套件卡槽包括第四控制模块、第四输入引脚和与第四输出引脚;所述第四输入引脚与测试套件连接,且通过第四开关与所述第四输出引脚连接;所述第四输出引脚与所述矩阵开关的第二输出引脚连接;
所述第四控制模块与所述第四开关连接,所述第四控制模块用于根据控制端的控制信号控制第四开关的通断。7.根据权利要求2所述的嵌入式硬件检测装置,其特征在于,所述检测仪器包括示波器、频谱仪、功率计、万用表和逻辑分析仪。8.一种嵌入式硬件检测方法,其特征在于,包括:接收控制端发送的控制信号;根据所述控制信号控制接通对应的硬件卡槽引脚、测试套件卡槽引脚和检测仪器卡槽引脚,以进行检测信号的传输;根据所述检测信号进行检测,得到检测结果信息;反馈所述检测结果信息给所述控制端,以供所述控制端根据所述检测结果信息输出对应的检测报告。9.一种电子设备,其特征在于,包括:存储器以及一个或多个处理器;所述存储器,用于存储一个或多个程序;当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求8所述的方法。10.一种包含计算机可执行指令的存储介质,其特征在于,所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行如权利要求8所述的方法。

技术总结
本申请实施例公开了一种嵌入式硬件检测装置、方法、电子设备及存储介质。本申请实施例提供的技术方案,包括控制终端、矩阵开关、硬件卡槽、检测仪器组件和测试组件;其中,所述控制终端与所述矩阵开关、所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件连接,所述控制终端用于发送控制信号给所述矩阵开关、所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件,并接收所述检测仪器组件反馈的检测结果信息,输出检测报告;所述矩阵开关分别与所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件连接,以传输检测信号;所述硬件卡槽外接待检测的嵌入式硬件;能够解决嵌入式硬件测试工作效率低问题,提升嵌入式硬件测试的自动化程度和测试工作效率。效率。效率。


技术研发人员:周立功 杨韬 王程 罗勇
受保护的技术使用者:广州致远电子有限公司
技术研发日:2022.02.14
技术公布日:2022/6/10
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