光学辅助装置及测试方法与流程

1.本技术涉及显示技术领域，尤其涉及一种光学辅助装置及测试方法。


背景技术：

2.现有显示面板的表面粗糙度通常是利用相机拍照或录像，同时配合光源在待测物件的正面、背面或侧面进行打光，使待测物件的表面不良位置凸显，以被相机获取。
3.现有的测试系统一般先进行光源安装，然后在根据相机获取的图片调节相机和光源的角度，以使光源能照射到异常物的最佳位置，同时相机能拍摄高质量的相片；因此，该调试过程需要相机和光源反复的调整角度，以及相机多次的采图，调节时间冗长。


技术实现要素：

4.本技术提供一种光学辅助装置及测试方法，以解决现有显示面板的粗糙度的测试系统调试时间较长的的技术问题。
5.为解决上述方案，本技术提供的技术方案如下：
6.本技术提供一种光学辅助装置，应用于显示面板，其包括：
7.辅助主体，所述辅助主体和目标摄像模组固定连接，以及所述辅助主体的第一端和目标摄像模组的入光面对应，所述辅助主体的第二端和待测构件的表面对应；
8.第一光源组件，所述第一光源组件设置于所述辅助主体内，以及所述第一光源组件和所述辅助主体固定连接，所述第一光源组件发出的辅助光线经所述辅助主体的第二端入射至所述待测构件的表面；
9.其中，所述辅助光线和所述目标摄像模组的入光面的中轴线重合，所述辅助主体的第一端至所述辅助主体的第二端的方向和所述辅助光线平行。
10.在本技术的光学辅助装置中，所述辅助主体包括具有第一导光面和第二导光面的导光通道，所述第一导光面和目标摄像模组的入光面对应，所述第二导光面和待测构件的表面对应；
11.所述第一光源组件设置于所述导光通道内，所述第一光源组件发出的辅助光线经所述第二导光面入射至所述待测构件的表面；
12.其中，所述导光通道的第一中轴线、所述辅助光线、以及所述目标摄像模组的入光面的第二中轴线重合，所述第一中轴线和所述第一导光面至所述第二导光面的方向平行。
13.在本技术的光学辅助装置中，所述第一光源组件包括光源主体和连接件，所述光源主体从靠近所述第二导光面的一侧发出所述辅助光线，所述光源主体通过所述连接件和所述辅助主体的内壁固定连接。
14.在本技术的光学辅助装置中，所述辅助光线包括激光或红外线。
15.在本技术的光学辅助装置中，所述连接件包括至少一个连接叶片，所述连接叶片从所述光源主体延伸至所述辅助主体的内壁。
16.在本技术的光学辅助装置中，所述辅助主体的所述第一导光面的面积大于所述目
标摄像模组的入光面的面积。
17.在本技术的光学辅助装置中，所述光学辅助装置还包括设置于所述辅助主体和所述目标摄像模组之间的至少一个收缩接口；
18.所述收缩接口包括第一接口和第二接口，所述第一接口与所述辅助主体的第一导光面对接，所述第二接口和所述目标摄像模组的入光面对接，所述第一接口的内接圆直径和所述第一导光面的外接圆直径相等，所述第二接口的内接圆直径和所述目标摄像模组的入光面的外接圆直径相等。
19.在本技术的光学辅助装置中，所述辅助主体包括收缩段，所述收缩段靠近所述第一导光面一侧的面积小于所述收缩段靠近所述第二导光面一侧的面积。
20.在本技术的光学辅助装置中，所述收缩段的收光曲面在垂直于所述第一导光面或所述第二导光面上的截面轮廓为抛物线、多项式曲线、贝塞尔曲线和b样条曲线中的一种。
21.本技术还提出了一种测试方法，应用于显示面板，其包括：
22.提供一上述光学辅助装置；
23.将所述目标摄像模组的镜头和所述光辅助装置中辅助主体的第一端固定连接，以使所述辅助主体的第一导光面和所述目标摄像模组的入光面对应；
24.利用所述光学辅助装置中的第一光源组件发出辅助光线，以及使所述辅助光线经所述辅助主体的第二导光面入射至待测构件的表面；
25.提供第二光源组件，以及调节所述第二光源组件的位置和出光角度，以使所述辅助光线经所述待测构件反射光线入射至所述第二光源组件的出光面的中心，以及所述第二光源组件的发出的光线和所述辅助光线在所述待测构件上重合。
26.有益效果：本技术公开了一种光学辅助装置及测试方法，应用于显示面板的粗糙度测试系统；该光学辅助装置包括辅助主体和固定于辅助主体内的第一光源组件，辅助主体的第一端和目标摄像模组的入光面对应，辅助主体的第二端和待测构件的表面对应，第一光源组件发出的辅助光线经辅助主体的第二端入射至待测构件的表面，辅助光线和目标摄像模组的入光面的中轴线重合；本技术通过将发射辅助光线的第一光源组件固定于辅助主体内，使得辅助光线和目标摄像模组的入光面的中轴线重合，根据辅助光线经待测构件后的反射光线确定目标摄像模组的拍摄角度，同时利用辅助光线的反射原理，调节目标光源的位置和辅助光线的反射光线的匹配度，提高了显示面板的粗糙度的测试系统的调试效率。
附图说明
27.下面结合附图，通过对本技术的具体实施方式详细描述，将使本技术的技术方案及其它有益效果显而易见。
28.图1为现有技术中显示面板的粗糙度测试系统的结构图；
29.图2为本技术光学辅助装置的第一种结构图；
30.图3为本技术光学辅助装置的第二种结构图；
31.图4为图2的主视结构图；
32.图5为本技术光学辅助装置的第三种结构图；
33.图6为本技术利用光学辅助装置的测试方法步骤图。
具体实施方式
34.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
35.在现有的显示面板粗糙度测试系统中，当大部分光源被反射进入摄像模组的镜头时，摄像模组获取的图片中，凸起或异常部分较暗，其他区域为较亮，此种情况为明场；另外，而当较少光源被反射进入摄像模组的镜头时，光源经过异常部分时可能发生漫反射，使得异常部分较亮，其他区域较暗，此种情况为暗场。而在显示面板的粗糙测试中，请参阅图1，为了更好的获取异常部分的数据，需要摄像模组获取的图片为暗场，而暗场的图片获取的方式，需要相机和光源反复的调整角度，以及相机多次的采图，调节时间冗长。
36.请参阅图2，本技术提供一种应用于显示面板的光学辅助装置100，该光学辅助装置100主用于显示面板的粗糙度测试系统，所述光学辅助装置100可以包括辅助主体10和第一光源组件20。
37.在本实施例中，所述辅助主体10和目标摄像模组30固定连接，以及所述辅助主体10的第一端和目标摄像模组30的入光面对应，所述辅助主体10的第二端和待测构件40的表面对应。
38.在本实施例中，所述第一光源组件20设置于所述辅助主体10内，以及所述第一光源组件20和所述辅助主体10固定连接，所述第一光源组件20发出的辅助光线经所述辅助主体10的第二端入射至所述待测构件40的表面。
39.在本实施例中，所述辅助光线和所述目标摄像模组30的入光面的中轴线重合，所述辅助主体10的第一端至所述辅助主体10的第二端的方向和所述辅助光线平行。
40.需要说明的是，所述辅助光线以及所述目标摄像模组30的入光面的中轴线与图4中的中轴线o1o2重合。
41.本技术通过将发射辅助光线的第一光源组件20固定于辅助主体10内，使得辅助光线和目标摄像模组30的入光面310的中轴线重合，根据辅助光线经待测构件40后的反射光线确定目标摄像模组30的拍摄角度，同时利用辅助光线的反射原理，调节目标光源的位置和辅助光线的反射光线的匹配度，提高了显示面板的粗糙度的测试系统的调试效率。
42.需要说明的是，所述辅助主体10可以为空心的圆柱、空心的长方体、或者其他空心的立方体，例如图2和图4所示的空心的圆柱；或者，如图3所示，所述辅助主体10为一夹持装置，只要保证第一光源组件20的辅助光线和目标摄像模组30的入光面310的中轴线重合即可，下面实施例中以图2的结构为例进行说明。
43.需要说明的是，所述待测构件40可以为用于显示的显示屏幕，或者未切割的显示面板，或者衬底基板等其他平板，或需要表面平整度的构件。
44.需要说明的是，本技术的光学辅助装置100及测试方法，不限于应用在显示面板的粗糙度的相关测试，还可以用于显示面板的外观检测、点亮测试或其他检测项目等。
45.现结合具体实施例对本技术的技术方案进行描述。
46.请参阅图2和图4，所述辅助主体10可以包括具有第一导光面110和第二导光面120的导光通道130，所述第一导光面110和目标摄像模组30的入光面310对应，所述第二导光面
120和待测构件40的表面对应；所述第一光源组件20可以设置于所述导光通道130内，所述第一光源组件20发出的辅助光线经所述第二导光面120入射至所述待测构件40的表面。
47.在本实施例中，所述导光通道130的第一中轴线、所述辅助光线、以及所述目标摄像模组30的入光面310的第二中轴线重合，即上述三条线与图4中的中轴线o1o2重合，所述第一中轴线和所述第一导光面110至所述第二导光面120的方向平行。
48.在本实施例中，所述辅助主体10为空心的圆柱，空心的圆柱的中轴线和所述导光通道130的第一中轴线重合，即所述第一光源组件20固定在空心圆柱的第一中轴线上，而由于目标摄像模组30固定在所述辅助主体10的第一端，即与所述辅助主体10的第一导光面110那一侧的结构固定连接，由于第一导光面110和目标摄像模组30的入光面310对应，以及目标摄像模组30的入光面310的第二中轴线和所述辅助光线重合，即所述辅助光线的出射角度为所述目标摄像模组30的拍摄角度，所述辅助光线和待测构件40的接触点为所述目标摄像模组30的拍摄点，所述辅助光线和待测构件40的接触点的调节为所述目标摄像模组30的拍摄角度的调整。
49.在本技术的光学辅助装置100中，请参阅图2和图4，所述第一光源组件20包括光源主体210和连接件220，所述光源主体210从靠近所述第二导光面120的一侧发出所述辅助光线，所述光源主体210通过所述连接件220和所述辅助主体10的内壁固定连接。
50.在本实施例中，所述连接件220包括至少一个连接叶片221，所述连接叶片221从所述光源主体210延伸至所述辅助主体10的内壁。所述连接叶片221的数量本技术不作限制，只要保证光源主体210的中轴线和导光通道130的中轴线重合即可；例如图2的结构中，所述连接叶片221的数量为4个，相邻两个连接叶片221的角度为90
°
。
51.在本实施例中，所述辅助光线可以为激光或红外线中的一种。
52.在本技术的光学辅助装置100中，请参阅图5，所述辅助主体10的所述第一导光面110的面积大于所述目标摄像模组30的入光面310的面积。
53.在本实施例中，由于不同的目标摄像模组30具有不同大小的镜头，若第一导光面110的面积过小，将无法适配大尺寸的镜头。因此在初始设计时，本技术使得辅助主体10的所述第一导光面110的面积将大于目标摄像模组30的入光面310的面积，例如图2中的空心的圆筒，所述第一导光面110为一圆形，即第一导光面110的内接圆的直径可以大于目标摄像模组30的镜头的外接圆直径。
54.在本技术的光学辅助装置100中，请参阅图5，所述光学辅助装置100还包括设置于所述辅助主体10和所述目标摄像模组30之间的至少一个收缩接口50。
55.在本实施例中，所述收缩接口50包括第一接口510和第二接口520，所述第一接口510与所述辅助主体10的第一导光面110对接，所述第二接口520和所述目标摄像模组30的入光面310对接，所述第一接口510的内接圆直径和所述第一导光面110的外接圆直径相等，所述第二接口520的内接圆直径和所述目标摄像模组30的入光面310的外接圆直径相等。
56.在本实施例中，收缩接口50的设置可以使得本技术的辅助主体10可以适应不同尺寸的目标摄像模组30的镜头，辅助主体10的第二接口520的大小可以根据不同的目标摄像模组30进行调试。
57.在本技术的光学辅助装置100中，请参阅图5，所述辅助主体10包括一收缩段60，所述收缩段60靠近所述第一导光面110一侧的面积小于所述收缩段60靠近所述第二导光面
120一侧的面积，即所述第一导光面110的面积小于所述第二导光面120的面积。
58.在本实施例中，所述收缩段60可以靠近所述第二导光面120设置，所述收缩段60的一端可以为所述第二导光面120，所述收缩段60的另一端可以为所述辅助主体10中的任一截面，只要保证第二导光面120的面积大于第一导光面110即可。
59.在本实施例中，由于第二导光面120靠近待测构件40设置，目标光源在照射待测构件40后经反射的光线会通过辅助主体10的导光通道130进入目标摄像模组30的镜头，因此辅助主体10的第二导光面120足够大的情况下，可以接收更多的反射光线；同时，收缩段60的设置，对进入导光通道130的光线具有一定的聚光作用，使得目标摄像模组30的镜头能接收更多的小角度光线，提高目标摄像模组30的成像质量。
60.在本实施例中，所述收缩段60的收光曲面在垂直于所述第一导光面110或所述第二导光面120上的截面轮廓为抛物线、多项式曲线、贝塞尔曲线和b样条曲线中的一种。
61.请参阅图3和图6，本技术还提出了一种测试方法，其包括：
62.s10、提供一上述光学辅助装置100；
63.s20、将所述目标摄像模组30的镜头和所述光辅助装置中辅助主体10的第一端固定连接，以使所述辅助主体10的第一导光面110和所述目标摄像模组30的入光面310对应；
64.s30、利用所述光学辅助装置100中的第一光源组件20发出辅助光线，以及使所述辅助光线经所述辅助主体10的第二导光面120入射至待测构件40的表面；
65.s40、提供第二光源组件70，以及调节所述第二光源组件70的位置和出光角度，以使所述辅助光线经所述待测构件40反射光线入射至所述第二光源组件70的出光面的中心，以及所述第二光源组件70的发出的光线和所述辅助光线在所述待测构件40上重合。
66.需要说明的是，上述测试方法主要应用于显示面板的粗糙度的测量。
67.本技术将可发出辅助光线的第一光源组件20和目标摄像模组30组装在一起，同时所述辅助光线和目标摄像模组30的镜头的中轴线重合，即所述辅助光线的出射角度为所述目标摄像模组30的拍摄角度，所述辅助光线和待测构件40的接触点为所述目标摄像模组30的拍摄点，所述辅助光线和待测构件40的接触点的调节为所述目标摄像模组30的拍摄角度的调整。
68.其次，基于光路的可逆原理，根据所述第二光源组件70的发出的光线和所述辅助光线在所述待测构件40上是否重合以及所述辅助光线经所述待测构件40反射光线是否落在所述第二光源组件70的出光面的中心，即基于以上两点对所述第二光源组件70的位置和出光角度进行调节，以使得摄像模组能更快的获取暗场图片，减少了目标摄像模组30和第二光源组件70的调试次数，提高了显示面板的粗糙度的测试系统的调试效率。
69.最后，现有技术中的摄像模组需要被第二光源组件70发出的光线经反射后长时间照射，导致目标摄像模组30可能存在损伤，而本技术只需要根据所述第二光源组件70的发出的光线和所述辅助光线在所述待测构件40上是否重合以及所述辅助光线经所述待测构件40反射光线是否落在所述第二光源组件70的出光面的中心即可，降低了目标摄像模组30出现损伤的风险。
70.在本实施例中，所述第二光源组件70可以为led灯。
71.本技术公开了一种光学辅助装置及测试方法，应用于显示面板的粗糙度测试系统；该光学辅助装置包括辅助主体和固定于辅助主体内的第一光源组件，辅助主体的第一
端和目标摄像模组的入光面对应，辅助主体的第二端和待测构件的表面对应，第一光源组件发出的辅助光线经辅助主体的第二端入射至待测构件的表面，辅助光线和目标摄像模组的入光面的中轴线重合；本技术通过将发射辅助光线的第一光源组件固定于辅助主体内，使得辅助光线和目标摄像模组的入光面的中轴线重合，根据辅助光线经待测构件后的反射光线确定目标摄像模组的拍摄角度，同时利用辅助光线的反射原理，调节目标光源的位置和辅助光线的反射光线的匹配度，提高了显示面板的粗糙度的测试系统的调试效率。
72.在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
73.以上对本技术实施例所提供的一种光学辅助装置及测试方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本技术各实施例的技术方案的范围。