一种测试电路的制作方法

本公开涉及集成电路领域，具体而言，涉及一种测试电路。

背景技术：

1、sodimm(small outline dual in-line memory module)，小型双列直插式内存模块，应用在个人笔记本电脑等一些对尺寸要求较高的场合。

2、相关技术中，在进行内存测试时无法快速进行电压测试，无法完成平台以及内存模组的高低压极限测试，只能通过索要原厂产品设计文件，然后整机拆卸焊接测试，往返重复进行测试，效率低下且难度高，同时也无法对内存的电压进行稳定性问题分析。

3、需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

1、本公开的目的在于克服上述现有技术的不足，提供一种测试电路。

2、根据本公开的示例性实施例，提供一种测试电路，用于测试内存电压，所述内存连接于主板，且所述内存的电源信号引脚与主板的供电引脚不连接，所述测试电路包括：电源模块，用于输出至少一路供电信号；调节模块，连接所述电源模块的输出端、反馈端和主板的供电引脚，所述调节模块响应于主板供电信号根据预设电压比调节所述供电信号以输出目标电压信号至所述内存的电源信号引脚。

3、在本公开的示例性实施例中，所述调节模块包括：比例调节单元，输入端连接所述电源模块的输出端，输出端连接所述电源模块的反馈端，所述比例调节单元用于确定所述预设电压比，并基于所述预设电压比调节所述供电信号得到所述目标电压信号；开关单元，输入端接收所述目标电压信号，控制端连接所述主板的供电引脚以接收所述主板供电信号，所述开关单元响应于所述主板供电信号将所述目标电压信号输出至所述内存。

4、在本公开的示例性实施例中，所述电源模块用于通过第一输出端输出第一供电信号；所述主板供电信号包括第一主板供电信号；所述调节模块包括：第一比例调节单元，用于确定第一电压比并基于所述第一电压比调节所述第一供电信号得到第一目标电压信号；第一开关单元，与所述第一比例调节单元对应设置，所述第一开关单元响应于所述第一主板供电信号将所述第一目标电压信号输出至所述内存。

5、在本公开的示例性实施例中，所述第一比例调节单元包括：第一电阻，一端连接所述电源模块的第一输出端，另一端连接所述电源模块的第一反馈端；第二电阻，一端连接所述电源模块的第一反馈端，另一端接地。

6、在本公开的示例性实施例中，所述第一开关单元包括：第一晶体管，第一端接收所述第一目标电压信号，控制端接收第一控制信号，所述第一晶体管响应于所述第一控制信号通过第二端输出所述第一目标电压信号；第二晶体管，第一端接地，控制端接收所述第一主板供电信号，所述第二晶体管响应于所述第一主板供电信号输出所述第一控制信号；其中，所述第二晶体管与所述第三晶体管类型不同。

7、在本公开的示例性实施例中，所述第一晶体管为p型晶体管，所述第二晶体管为n型晶体管。

8、在本公开的示例性实施例中，所述第一开关单元包括：第七晶体管，第一端接收所述第一目标电压信号，控制端接收所述第一主板供电信号，所述第七晶体管响应于所述第一主板供电信号通过第二端输出所述第一目标电压信号。

9、在本公开的示例性实施例中，所述第七晶体管为n型晶体管。

10、在本公开的示例性实施例中，所述电源模块还用于通过第二输出端输出第二供电信号和通过第三输出端输出第三供电信号；所述主板供电信号还包括第二主板供电信号和第三主板供电信号；所述调节模块还包括：第二比例调节单元，用于确定第二电压比并基于所述第二电压比调节所述第二供电信号得到第二目标电压信号；第三比例调节单元，用于确定第三电压比并基于所述第三电压比调节所述第三供电信号得到第三目标电压信号；第二开关单元，与所述第二比例调节单元对应设置，所述第二开关单元响应于所述第二主板供电信号将所述第二目标电压信号输出至所述内存；第三开关单元，与所述第三比例调节单元对应设置，所述第三开关单元响应于所述第三主板供电信号将所述第三目标电压信号输出至所述内存。

11、在本公开的示例性实施例中，所述第二比例调节单元包括：第三电阻，一端连接所述电源模块的第二输出端，另一端连接所述电源模块的第二反馈端；第四电阻，第一端连接所述电源模块的第二反馈端，第二端接地；所述第三比例调节单元包括：第五电阻，一端连接所述电源模块的第三输出端，另一端连接所述电源模块的第三反馈端；第六电阻，第一端连接所述电源模块的第三反馈端，第二端接地。

12、在本公开的示例性实施例中，所述第二开关单元包括：第三晶体管，第一端接收所述第二目标电压信号，控制端接收第二控制信号，所述第三晶体管响应于所述第二控制信号通过第二端输出所述第二目标电压信号；第四晶体管，第一端接地，控制端接收所述第二主板供电信号，所述第四晶体管响应于所述第二主板供电信号输出所述第二控制信号；所述第三开关单元包括：第五晶体管，第一端接收所述第三目标电压信号，控制端接收第三控制信号，所述第五晶体管响应于所述第三控制信号通过第二端输出所述第三目标电压信号；第六晶体管，第一端接地，控制端接收所述第三主板供电信号，所述第六晶体管响应于所述第三主板供电信号输出所述第三控制信号；其中，所述第三晶体管与所述第四晶体管的类型不同，所述第五晶体管与所述第六晶体管类型不同，且所述第三晶体管与所述第五晶体管的类型相同，所述第四晶体管与所述第六晶体管的类型相同。

13、在本公开的示例性实施例中，所述第三晶体管、所述第五晶体管均为p型晶体管，所述第四晶体管、所述第六晶体管均为n型晶体管。

14、在本公开的示例性实施例中，所述第二开关单元包括：第八晶体管，第一端接收所述第二目标电压信号，控制端接收所述第二主板供电信号，所述第八晶体管响应于所述第二主板供电信号通过第二端输出所述第二目标电压信号；所述第三开关单元包括：第九晶体管，第一端接收经所述第三电压比调节后的所述第三供电信号，控制端接收所述第三主板供电信号，所述第九晶体管响应于所述第三主板供电信号通过第二端输出所述第三目标电压信号；其中，所述第八晶体管、所述第九晶体管类型相同。

15、在本公开的示例性实施例中，所述第八晶体管、所述第九晶体管均为n型晶体管。

16、在本公开的示例性实施例中，所述电源模块包括：电源芯片，用于输出所述供电信号；储能单元，连接于所述电源芯片的输出端，所述储能单元用于对所述供电信号进行稳压；所述测试电路还包括：噪音仿真模块，连接于所述调节模块的输出端，所述噪音仿真模块用于输出设定幅度和频率的电压信号作为噪音信号；控制模块，与所述调节模块和所述噪音仿真模块分别连接，所述控制模块用于控制所述噪音仿真模块输出噪音信号并获取所述内存的读、写数据，根据所述读、写数据的比对结果确定误码率；或者，控制所述噪音仿真模块停止输出电压信号，且根据获取的所述目标电压信号确定所述内存的电压极限。

17、本公开提供的测试电路，可通过电源模块输出对于内存的供电信号，再通过调节模块根据预设电压比调节该供电信号，得到电压可调的目标电压信号，将主板对于内存的供电信号作为本测试电路的控制信号，通过该测试电路改变主板对于内存的供电路径，进而在内存连接于主板的状态下，将电压可调的目标电压信号输出至内存，对内存进行电压极限测试。

18、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。